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1、稱 名 位 單I線無損探傷工中級(jí)理論知識(shí)復(fù)習(xí)題I名姓號(hào)證考準(zhǔn)一;、單項(xiàng)選擇(第1題第160題。選擇一個(gè)正確的答案, 將相應(yīng)的;字母填入題內(nèi)的括號(hào)中。)1此焊接的優(yōu)點(diǎn)是()。A、節(jié)省金屬材料、減輕結(jié)構(gòu)重量且經(jīng)濟(jì)效益好B、焊接工藝易實(shí)現(xiàn)機(jī)械化和自動(dòng)化C、結(jié)構(gòu)強(qiáng)度高,接頭密封性好D、A,B 和 C2.;焊接接頭具有()的缺點(diǎn)。A、組織性能不均勻B、存在應(yīng)力集中和殘余理力C、容易產(chǎn)生各種焊接缺陷D、A,B和C3.;按工藝特點(diǎn)對(duì)焊接進(jìn)行分類,可分為 ()。A、熔焊B、壓焊C、釬焊D、1A湘和C4.;利用物理作用,使兩個(gè)連接表面上的原子相互接近到晶格距離, 1從何在固態(tài)條件下實(shí)現(xiàn)連接的方法統(tǒng)稱為()。A、
2、固相焊接B 、熔焊C、釬焊D、xfW5.;常用的手工電弧焊設(shè)備有()。A、交流電焊機(jī)B、旋轉(zhuǎn)式直流電焊機(jī)C、硅整流式電焊機(jī)D、A,B和C6牛焊條中藥皮的作用是()。A、穩(wěn)弧和保護(hù)作用B、冶金作用和摻和作用C、改善焊接的工性能作用D、A,B和C7芯手工電弧焊的缺點(diǎn)是()。A、生產(chǎn)效率低B、勞動(dòng)強(qiáng)度大C、對(duì)焊工的技術(shù)水平要求高D、A,B 和 C8.m弧焊的焊接規(guī)范參數(shù)主要啟()。A、焊接電流、電弧電壓B、焊接速度、焊絲直徑C、僦氣流量、噴嘴直徑D、A,B 和 C9.僦弧焊的優(yōu)點(diǎn)是()。A、電弧穩(wěn)定、飛濺小B、焊縫致密C、成型美觀D、A,B 和 C10.二氧化碳?xì)怏w保護(hù)焊的缺點(diǎn)是()。A、米用較大電
3、流焊接時(shí)飛濺大B、焊接時(shí),煙霧多、弧光強(qiáng)C、焊縫表面成型不光滑、不美觀11 .僦弧焊的焊接規(guī)范參數(shù)主要有(A、焊接電流、電弧電壓BC、僦氣流量、噴嘴直徑D12 .電渣焊的特點(diǎn)是()。A、宜在垂直位置焊接B焊接C、焊后必須進(jìn)行正火和回火熱處理D 、A,B 和 C)。、焊接速度、焊絲直徑、A,B 和 C、適用于大厚度工件的D 、A,B 和 C13.電渣焊的過程可分為以下三個(gè)階段 ()。A、引出階段一引弧造渣階段一正常焊接階段B、引弧造渣階段一正常焊接階段一引出階段C、焊接階段一引出階段一冷卻階段D、冷卻階段一焊接階段一引出階段14 .等離子弧是借助水冷噴嘴對(duì)電弧拘束的,通常認(rèn)為水冷噴嘴具 有()作
4、用。A、機(jī)械壓縮B 、熱收縮 C 、磁收縮 DA,B 和 C15 .焊接接頭通常分為()形式。A、對(duì)接接頭B、角接接頭3 / 13稱 名 位 單名姓縱波聲速分別為()。A、3 200 m/s 和 3 200 m/s m/s B、3 200 m/s 和 5 900C、5 900 m/s 和 5 900 m/s 1D、以上都不止確20 .超聲波的衰減主要取決于 (A、聲程傳播的距離BC、材料的粘滯性D21 .超聲波檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)是()。)。、材料的晶粒度、A,B 和 C19.頻率分別為2.5 MHz和5 MHz的直探頭發(fā)射的超聲波在鋼中的A、探測(cè)深度大 B 、檢測(cè)速度快C 、費(fèi)用低 DA,B和C 22
5、.超聲波探傷用的橫波具有的特性是()。C、搭接接頭和 T形接頭D、A,B和C16 .等離子弧是借助水冷噴嘴對(duì)電弧拘束的,通常認(rèn)為水冷噴嘴具 面)作用。A、機(jī)械壓縮B 、熱收縮 C 、磁收縮 DA,B 和 C17 .焊接接頭包括()。A、焊縫 B 、熔合區(qū) C 、熱影響區(qū) DA,B 和 C18 .波長(zhǎng)入、聲速c、頻率f之間的關(guān)系是()。A、= =c/fB、= =f/cIC、c=f/入D、以上都不正確號(hào)證考準(zhǔn)A、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向垂直于傳播方向,傳播速度約為縱波速度的1/2B、在水中傳播因波長(zhǎng)較長(zhǎng)、衰減小,故有很高的靈敏度C、因?yàn)闄M波對(duì)表面變化不敏感,故從耦合液體傳遞到被檢物體時(shí) 有扁的耦合率D、上述三
6、種都不適用于橫波23.對(duì)試樣進(jìn)行接觸法斜角探傷時(shí),如果入射角達(dá)到第二臨界角, 分則會(huì)發(fā)生()。A、橫波全反射B、縱波全反射C、表面波全反射D、以上都不正確24 .同一固體材料中縱波聲速大于橫波聲速,橫波聲速大于表面聲 速,對(duì)于鋼材來說()。A、Cl : Cs : Cr= 1.8 : 2.0 : 1B、Cl : Cs : Cr= 1 : 1 : 1C、Cl : Cs: CR= 1.8 : 1.0 : 0.9D、Cl : Cs : Cr= 1 : 2.0 : 425 .波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和所通過的介質(zhì)中聲波波長(zhǎng)的函數(shù),并 且()。A、頻率或晶片直徑減少時(shí)增大B 、頻率或晶片直徑減少時(shí)減少C、頻率
7、增加而晶片直徑減少時(shí)減少D 、以上都不正確26 .半波透聲層是指使耦合層厚度為其半波長(zhǎng)的()。A、整數(shù)倍 B 、奇數(shù)倍 C 、二次方 D 三次方27 .()是指同一介質(zhì)中傳播的幾個(gè)聲波,若同時(shí)到達(dá)某一質(zhì)點(diǎn),則該質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)是各個(gè)聲波所引起振動(dòng)的合成。A、波的衍射B、波的干涉C、波的繞射D、波的疊加原理28 .()的特征量通常用聲壓、聲強(qiáng)、聲阻抗等來描述。A、頻率 B 、波長(zhǎng) C 、聲場(chǎng) D 周期29 . ()Qm較小能獲得較高的分辨力和較小的盲區(qū)。A、機(jī)電耦合系數(shù)B、機(jī)械品質(zhì)因子C、壓電應(yīng)變常數(shù)D、壓電電壓常數(shù)30 .采用雙晶直探頭檢驗(yàn)鍋爐大口徑“管座角焊縫”時(shí),調(diào)節(jié)探傷 靈敏度應(yīng)采用()。A、
8、底波計(jì)算法B、試塊法C、通用AVG曲線法D、以上都可以31.垂直線性的好壞影響缺陷定量的精度,一般規(guī)定垂直線性誤差( )。A > <2% B > <8% C 、< 16% D 、 <33% 32.試塊的最小幾何尺寸根據(jù)()oA、探頭耦合面幾何尺寸來決定B、試塊材料決定C、幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到4入以上D、以上都不正確 33.探頭指向角是晶片尺寸和介質(zhì)中波長(zhǎng)的函數(shù),它隨 ( )oA、頻率增加、晶片直徑減小而減小B 、頻率或直徑減小而增C、頻率或直徑增大而增大減小而增大34.缺陷定量的依據(jù)是(A、垂直線性C、缺陷的水平距離D、頻率增加、晶片
9、直徑)°B、動(dòng)態(tài)范圍D、缺陷反射回波幅度35 .直探頭接觸法探傷時(shí),底面回波降低或消失的原因是( )oA、耦合不良B、存在與聲束不垂直的缺陷C、存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷D、A.B 和 C36 .鍛件接觸法探傷時(shí),如果探傷儀的“重復(fù)頻率”調(diào)得過高,可能發(fā)生()OA、熒光屏“噪聲”信號(hào)過高B、時(shí)基線傾斜C、始脈沖消失D、容易出現(xiàn)“幻像波”, 會(huì)造成發(fā)射脈沖幅度不夠,從而影響探傷的靈敏度37 .射線照相法是利用 X、T射線穿透工件,以()作為記錄信息的無損檢測(cè)方法。A、像質(zhì)計(jì) B 、膠片 C 、評(píng)定尺 D 增感屏38 .特征X射線又稱為()。A、本征X射線 B 、示性X射線 C 、
10、標(biāo)識(shí)X射線 D A.B 和 C39 .對(duì)射線衰減的敘述正確的是 (A、與材料中的散射強(qiáng)度成正比律變化C、與距離的二次方成正比40 .光電效應(yīng)就是()的過程。A、顯像BC、轉(zhuǎn)變成可見電磁波譜)°B 、隨材料厚度以指數(shù)規(guī)D、與材料厚度成正、完全吸收一個(gè)光子D、以上都不正確41 .透照厚度差別較大的工件時(shí),為了增大寬容度,可以采用()的方法。A、提高管電流B、提高管電壓C、降低管電壓D、選用微粒膠片42 .顯影時(shí)間延長(zhǎng),會(huì)使膠片特性曲線形狀變陡,且在坐標(biāo)上的位置()。A、左移 B 、右移 C 、上移 D下移43 .為了減少來自工件本身散射線對(duì)底片質(zhì)量的影響,經(jīng)常采取的 措施是()。A、改用
11、熒光增感屏B、暗袋后加鋁墊板C、清除工件周圍的雜物D 、鉛板遮蓋工件非透照部分44 .與低能射線透照相比,高能射線透照具有的特點(diǎn)是( )o3 / 13稱 名 位 單A、寬容度大B、對(duì)比度較高C、感光速度快D、散射線影響大45.觀片時(shí),透過底片到達(dá)眼睛的光線亮度最好超過100 cd/m2,當(dāng)透過光亮度低于約()時(shí),眼睛識(shí)別微小細(xì)節(jié)和低襯度的能力即迅博降低。A、30 cd/m 2B、100 cd/m 2C、1 000 cd/m 2D、3 000 cd/m 246t當(dāng)一束射線透過某金屬時(shí)得到的衰減系數(shù)=3 cm1,其半價(jià)層厚;度為()。A、它與物體至膠片的距離成正比,與焦點(diǎn)大小成反比B、它與放射源至
12、物體的距離成反比,與焦點(diǎn)大小成正比C、它與物體至膠片的距離成反比,與放射源至物體的距離成正比D、它與焦點(diǎn)大小和物體至膠片的距離成反比52.底片對(duì)比度與工件對(duì)比度和A、感光度C、膠片反差系數(shù)53.在用針孔測(cè)量法測(cè)量)有關(guān)。、管電流、A,B 和 C射線管的有效焦點(diǎn)尺寸時(shí),應(yīng)使用名姓A、2.3 mmB、1.5 mmC、4.1 mmD、以上都不正確超47.膠片特性曲線斜率可判別膠片的下列特性()。A、感光度 B 、梯度 C 、灰霧度 D以,上都正確48t在定影中,()起防止大蘇打被分解的作用。A、米吐爾 B 、澳化鉀 C 、亞硫酸鈉D對(duì),二酚49.連續(xù)寬束X射線透照試件,試件的厚度越大,則散射比越大,
13、A、增感型膠片增感屏C、快速非增感型膠片、非增感型膠片+鉛箔、非增感型微粒膠片54. X射線的穿透能力主要取決于A、管電流B 、管電壓、曝光時(shí)間D焦距55.在膠片特性曲線上連接給定兩點(diǎn)密度的直線的斜率稱為()。A、曝光量C、底片黑度的對(duì)數(shù)號(hào)證考準(zhǔn)56.射線探傷時(shí),使用像質(zhì)計(jì)的主要目的是平%衰減系數(shù)()。A、越小 B 、越大 C 、無變化 D以!±全正確50.對(duì)大晶粒金屬零件進(jìn)行射線照相時(shí),利用提高管電壓和使用鉛 土檄屏可以()。A、增大衍射斑紋的影響B(tài) 、減少或消除衍射斑紋的憾響C、增大焦距的影響D、以上任何一種5f關(guān)于底片不清晰度,下面的敘述正確的是()。A、測(cè)量缺陷的大小C、缺陷
14、的幾何不清晰度、平均梯度、以上都不是()。、缺陷的位置、確定透照底片上的影像質(zhì)量57.轟擊X射線管陽極靶的電子速度取決于A、陽極靶材料的密度C、管電流()。、燈絲材料的密度、管電壓58.直線加速器與旋轉(zhuǎn)加速器相比最主要的優(yōu)點(diǎn)在于(A、價(jià)格低BC、高能射線輸出劑量高、電子束流速小、不需微波裝置6 / 13稱 名 位 單名姓號(hào)證考準(zhǔn)59 .產(chǎn)生高能X射線的設(shè)備有()。A、靜電加速器B 、加旋加速器 C 、直線加速器D 、A,B 和 C60 . X光管保持高真空度的原因是 ()。A、可使電子聚焦此、提高射線轉(zhuǎn)換效率C、可不受氣體分子阻擋而消耗能量,并保持燈絲不被氧化D、可以減小x射線的生物效應(yīng)61
15、.下列有關(guān)退磁的敘述中()是正確的。A、所謂退磁就是將試件上的剩磁減小到不妨礙使用的程度 IB、退磁是把試件放入通直流電的線圈中,不切換電流方向,使試件,逐漸遠(yuǎn)離線圈C、圓形截面的試件用軸向通電磁化后,不需要進(jìn)行退磁D、退磁是使磁場(chǎng)交替 180反轉(zhuǎn)磁化62 .手持電極法磁粉探傷使用的安培數(shù)依據(jù)()確定。A、材料類型B、電極間的距離C、零件長(zhǎng)度D、零件直徑63 .磁粉探傷時(shí),被檢零件中的磁場(chǎng)在()最強(qiáng)。A、交流電磁化時(shí)在切斷電流反向以前B、磁化電流切斷以后C、通電過程中D、施加磁粉時(shí)64 .用直接通電法時(shí),觸頭前加銅墊、鋁錫合金或金屬絲編織網(wǎng)帶 出與工件接觸通電,是為了 ()。A、使接觸點(diǎn)電阻增
16、加B、在工件中獲得較高的磁場(chǎng)C、增加表面接觸面積,避免接觸點(diǎn)高溫而燒壞試件表面D、避免因發(fā)熱而引起的導(dǎo)磁不良65 連續(xù)法磁粉檢驗(yàn)時(shí),磁化應(yīng)在 ()。A、實(shí)際應(yīng)用中對(duì)切斷磁化時(shí)間沒有多大關(guān)系B、完成噴灑磁懸液的同時(shí)終止C、噴灑磁懸液后1s內(nèi)終止D、噴灑磁懸液前1s終止66 .用交流磁軻對(duì)大型結(jié)構(gòu)件對(duì)接焊縫進(jìn)行磁粉探傷時(shí),需要注意的事項(xiàng)是()。A、磁粉探傷部位的厚度B、磁極對(duì)焊縫相對(duì)位置的安置及磁極間距C、反磁場(chǎng)的影響D、以上都是67 .用于磁粉探傷的磁粉應(yīng)具備的性能是()。A、無毒 B 、磁導(dǎo)率高 C 、頑磁性低 DA,B 和 C68 . A型靈敏度試片正確的使用為()。A、用來估價(jià)磁場(chǎng)的大小是
17、否滿足靈敏度的要求B、需將有槽的一面朝向工件貼于探傷表面上C、施加磁粉時(shí)必須使用連續(xù)法D、A,B 和 C69 .下列有關(guān)磁粉探傷用設(shè)備裝置的敘述()是正確的。A、用線圈法磁化時(shí),線圈的形狀與磁場(chǎng)強(qiáng)度無關(guān)B、噴嘴噴灑磁懸液時(shí)的壓力對(duì)缺陷磁痕的形成有很大影響C、交流磁化裝置不易發(fā)現(xiàn)表面缺陷,但能發(fā)現(xiàn)近表面缺陷D、以上都不正確70 .固定式水洗熒光滲透檢測(cè)設(shè)備的清洗槽中應(yīng)有()。A、溫度計(jì) B 、壓力計(jì) C 、黑光燈 DA,B 和 C71 .黑光燈的操作正確的是()。A、可隨時(shí)關(guān)掉再開B、不可中途關(guān)掉,應(yīng)待工作告一段落再關(guān)c、無需預(yù)熱D、以上都正確72 .不潤(rùn)濕液體的液面高度在毛細(xì)管內(nèi)()oA、上升
18、B、下降C、不變D、以上都不正確73 . 一般說來,表面張力小的液體對(duì)固體表面的浸潤(rùn)作用()oA、強(qiáng) B 、弱 C 、無關(guān) D不能浸潤(rùn)74 .用來描述滲透液在工件表面分布狀況的常用術(shù)語是( )oA、毛細(xì)管作用B 、潤(rùn)濕作用 C 、表面張力D滲透作用75 .含有乳化劑的滲透劑是( )oA、溶劑去除型B 、后乳化型 C 、可水洗型D著色型76 .各國(guó)滲透探傷用的人工裂紋對(duì)比試塊有()oA、鋁合金淬火裂紋試塊、鍍銘裂紋試塊C、不銹鋼壓痕裂紋試塊D 、上述 A.B.G77 .熒光滲透檢驗(yàn)用的帶有合適濾光片的黑光燈會(huì)對(duì)()產(chǎn)生永久性傷害。A、細(xì)胞組織 B 、眼睛 C 、血細(xì)胞 D 、 以上都不會(huì)78 .
19、用懸臂彎曲模彎曲鍍層朝下的試片,產(chǎn)生的裂紋( )oA、間隔和寬度相等B、間隔相等,深度不同C、聚集在一起,接近夾持端的裂紋較密集D、聚集在一起,接近夾持端的裂紋較稀疏79 .()對(duì)滲透劑進(jìn)入裂紋的速度和程度有影響。、試樣表面狀態(tài)、染料的顏色A、試樣的厚度C、試樣的重量80 .滲透探傷法的靈敏度按逐漸減小的順序排列為( )oA、后乳化型熒光滲透檢驗(yàn)法、水洗型熒光滲透檢驗(yàn)法、溶劑去除 型著色滲透檢驗(yàn)法B、溶劑去除型著色滲透檢驗(yàn)法、后乳化型熒光滲透檢驗(yàn)法、水洗型熒光滲透檢驗(yàn)法C、水洗型熒光滲透檢驗(yàn)法、后乳化型熒光滲透檢驗(yàn)法、溶劑去除 型著色滲透檢驗(yàn)法D、水洗型熒光滲透檢驗(yàn)法、溶劑去除型著色滲透檢驗(yàn)法
20、、后乳化型熒光滲透檢驗(yàn)法81 .在企業(yè)的經(jīng)營(yíng)活動(dòng)中,下列選項(xiàng)中的()不是職業(yè)道德功能的表現(xiàn)。A、激勵(lì)作用 B 、決策能力C 、規(guī)范行為 D遵紀(jì)守法82 .焊接工藝適用于()材料。A、金屬 B 、塑料 C 、陶瓷 DA.B 和 C83 .斷裂韌度是用來反映材料()的指標(biāo)。A、抵抗裂紋失穩(wěn)擴(kuò)展B、抵抗彈性極限C、抵抗殘余應(yīng)力D、屈強(qiáng)比)無關(guān)。、冷卻速度、冷卻后放置時(shí)間的長(zhǎng)84 .焊縫金屬二次結(jié)晶組織和性能與焊縫A、化學(xué)成分BC、焊后熱處理D85 .利用物理作用,使兩個(gè)連接表面上的原子相互接近到晶格距離, 從而在固態(tài)條件下實(shí)現(xiàn)連接的方法統(tǒng)稱為()。A、固相焊接B 、熔焊 C 、釬焊 D對(duì)焊86 .通
21、常金屬的實(shí)際結(jié)晶溫度總是低于理論結(jié)晶溫度,兩者之差稱 為()。7 / 13稱 名 位 單處;理工藝不當(dāng)外,還有 ()的影響。A、零件過燒B、鍛件尺寸大小C、零件幾何形狀D、零件含碳量過高88.手工電弧焊的缺點(diǎn)是()。A、生產(chǎn)效率低B、勞動(dòng)強(qiáng)度大C、對(duì)焊工的技術(shù)水平要求局D、A,B 和 C8, 埋弧自動(dòng)焊與手工焊相比其優(yōu)點(diǎn)是()。A、熱量集中B、焊接金屬?zèng)]有飛濺損A、經(jīng)驗(yàn)溫差B、恒溫差C 、梯度 D或度87.鋼在熱處理過程中形成裂紋的主要原因,除了原材料缺陷和熱失1名姓號(hào)證考準(zhǔn)C、沒有廢棄的焊條頭D、A,B和C超907與手工焊相比,埋弧自動(dòng)焊的優(yōu)點(diǎn)是 ()。A、可采用大的焊接電流,電弧熱量集中,
22、熔深大B、焊絲可連續(xù)遞送,生產(chǎn)效率比手工電弧焊高傕、焊接規(guī)范穩(wěn)定、外型光滑美觀D、A,B 和 C91 .超聲波在波板中傳播時(shí),因受表面影響,能產(chǎn)生縱波與橫波相組合的一種復(fù)合波,即是()。A、板波 B 、蘭姆波 C 、萊姆波 DA,B 和 C92 .僦弧焊的缺點(diǎn)是()。1A、僦氣成本較高B、僦弧焊的設(shè)備和控制系統(tǒng)比較復(fù)雜C、鴇極僦弧焊的生產(chǎn)效率較低,且只能用于薄壁工件的焊接D、A,B 和 C9壬 超聲波射到界面上,在同一介質(zhì)中改變其傳播方向的現(xiàn)象叫做(;)。II I III生IA、散射 B 、繞射 C 、反射 D折射94 .表征材料聲學(xué)特性的材質(zhì)衰減,主要是由()引起的。A、散射和吸收B、擴(kuò)散衰
23、減C、材質(zhì)晶粒的大小D、聲阻抗95 .電渣焊的過程可分為以下三個(gè)階段()。A、引出階段一引弧造渣階段一正常焊接階段B、引弧造渣階段一正常焊接階段一引出階段C、焊接階段一引出階段一冷卻階段D、冷卻階段一焊接階段一引出階段96 .介質(zhì)的彈性性能越好,密度越大,則聲波在介質(zhì)中的傳播速度()。A、不變 B 、越低 C 、越高 D以上都正確97 .探測(cè)狹長(zhǎng)工件時(shí),超聲波會(huì)產(chǎn)生()。A、遲到波 B 、61反射波 C 、界面回波DB和C98 .充滿聲波的空間稱為聲場(chǎng)。通常用 ()特征量來描述聲場(chǎng)的特性。A、聲壓 B 、聲強(qiáng) C 、聲阻抗 DA,B 和 C99 .晶體的電極上施加高頻交變電壓時(shí),晶體按電壓的交
24、變頻率和大小在厚度方向上相應(yīng)地伸長(zhǎng)或縮短,產(chǎn)生機(jī)械振動(dòng),從而輻射出高頻聲波。這種現(xiàn)象稱為 ()。A、波的傳播 B 、波的粘滯性 C 、正壓電效應(yīng)D逆壓電效應(yīng)100 .超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),任一點(diǎn)的聲壓和該點(diǎn)的振動(dòng)速度之比稱為()。A、聲阻抗 B 、介質(zhì)密度C 、聲速 D8 / 13以上都是稱 名 位 單101.()是指兩個(gè)振幅和頻率都相同的相干波,在同一直線上沿相促方向傳播時(shí)疊加而成的波。A、應(yīng)力波 B 、剪切波W102.用橫槽作為參考反射體,探測(cè) (A、滾軋板材中的疏松BC、焊縫中的氣孔DC 、壓縮波 D)最適宜。、焊縫根部的未焊透、內(nèi)部夾雜物108.A、109.兩個(gè)不同聲強(qiáng)間的分貝差表示式
25、為((dB) (dB) (dB) (dB)二20lg=10lg=20lg=10lg(I1/I 2)(I 1/ I 2)(I 2/I1)(I 2/I1)超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí),反射波與透過波聲能的分配比名姓103 .壓電效應(yīng)是指:在某些物體上施加壓力時(shí),在其表面上產(chǎn)生電荷柒集的現(xiàn)象,稱為正壓電效應(yīng)。反之,把這種物體放在電場(chǎng)中,它自身產(chǎn)生形變,稱為()。A、正壓電效應(yīng)B 、逆壓電效應(yīng) C 、壓電常數(shù)D 、超A,B 和 C104 .下列不能表示5P6 6K2探頭參數(shù)的是()。A、頻率為5 MHzB、矩形晶片尺寸為 6 mmI例取決于()。A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速系數(shù)C、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗110.
26、(、界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減、以上全部)d33較大,可獲得較高的發(fā)射靈敏度。A、機(jī)電耦合系數(shù)C、機(jī)械品質(zhì)因子、焦點(diǎn)尺寸為6 mm 6111.A、B、采用水浸法探傷時(shí),根據(jù)、壓電應(yīng)變常數(shù)、壓電電壓常數(shù))產(chǎn)生的回波情況進(jìn)行缺陷評(píng)第一次表面回波之前和第二次表面回波之后 第一次表面回波和第二次表面回波之間C、多次回波號(hào) 證 考 準(zhǔn)D、以上都不正確112.鍛件探彳時(shí),(A、邊緣效應(yīng)C、遲到波一個(gè)頻率2.25 MHz ,在水中近場(chǎng)長(zhǎng)度等于 58.6 mm的直探頭,盟半擴(kuò)散角大約是()。A、1.5 B 、2.05 C 、3.75 D 、7.5106 .用()表示兩個(gè)擬比聲強(qiáng)的比值,再取以10為底的常用對(duì)鼎到聲強(qiáng)級(jí)
27、。A、分?jǐn)?shù) B 、負(fù)數(shù) C 、常數(shù) D 、 對(duì)加107 .靈敏度是指聲探傷系統(tǒng)所具有的探測(cè)()的能力。A、最小缺陷B 、最大缺陷 C 、任何缺陷D 、II;8 / 13I I生I)會(huì)在熒光屏上產(chǎn)生非缺陷回波。B、工件形狀及外形輪廓D、A,B 和 C113 .檢查焊縫中橫向裂紋的最好方法是()。A、探頭在前后移動(dòng)的同時(shí)兼作1015的擺動(dòng)B、選用折射角較小的探頭C、應(yīng)使用轉(zhuǎn)動(dòng)式掃查D、把焊縫打磨平,在焊縫上作平行于焊縫的掃查114 .采用底波高度法(F/B百分比法)對(duì)缺陷定量時(shí),下面說法正稱 名 位 單名姓、被檢材料種類和密度、被檢材料的原子序、射線質(zhì)量B 、利用熒光增感屏 +XD 、以上都不正確
28、)。C 、入=h y D 、C、抑制灰霧生成D、增加曝光量確的是()。A、F/B相同,缺陷當(dāng)量相同B 、該法不能給出缺陷心量尺寸C、適于對(duì)尺寸較小的缺陷定量D、適于對(duì)密集性缺陷的國(guó)旦 丐里115 .欲使用5 MHz。14 mmt探頭縱波卞測(cè)厚度 40 mmB勺鋼鍛件, 其艮敏度調(diào)試和定量評(píng)定的方法最好采用()。A、底波方式法B、AVG曲線圖法C、對(duì)比試塊法D、以上都不正確1帶.原子序數(shù)是標(biāo)志元素在元素周期表中次序的序號(hào),亦即是該元素帆子的()。A、核內(nèi)質(zhì)子數(shù) B 、核內(nèi)中子數(shù) C 、核外電子數(shù) DA粕C都正確117.放射性物質(zhì)原子數(shù)衰變到原來的()所需的時(shí)間稱為半衰期LIA、1/2 B 、1/
29、3 C 、1/4 DI號(hào)證 考 準(zhǔn)3/4.原子核中質(zhì)子的質(zhì)量約為()。、1.672 6 X 10-24 g、3.167 X 10-27 g、9.109 X 10-31 gD、5.478 X 10-24 g119.衰減系數(shù)科與()。A、射線源種類或管電壓有關(guān)B慨C、X光管陽極靶原子序數(shù)有關(guān)D數(shù)治關(guān)1*.工件對(duì)比度受()影響最大。A、試件厚度差BC、散射線D、以上均不正確121.當(dāng)射線能量范圍在 110 MeV時(shí),鋼鐵材料對(duì)射線的吸收起主 導(dǎo)作用的是()。A、光電效應(yīng)B 、康普頓效應(yīng)C 、湯姆遜效應(yīng)D電子對(duì)效應(yīng) 122.光子能量的數(shù)學(xué)表達(dá)式是 ()。A、E=h/vB、E=X /hcC、E= h y
30、D 、 E= h/v123.采用中子照相法時(shí),其曝光需要先經(jīng)過轉(zhuǎn)換屏轉(zhuǎn)換,然后()。A、直接在熒光屏上顯示缺陷圖像射線膠片曝光C、再使用X射線膠片曝光124 .電磁波波長(zhǎng)的數(shù)學(xué)計(jì)算式為(A、X= ch B 、入=c/v=c Y125 .定影液的配制順序?yàn)椋ǎ?。A、海波,無水亞硫酸鈉,醋酸,硼酸,澳化鉀B、海波,無水亞硫酸鈉,醋酸,硼酸,明磯C、米吐爾,無水亞硫酸鈉,醋酸,硼酸,明磯D、對(duì)苯二酚,無水碳酸鈉,醋酸,硼酸,明磯126 .澳化鉀在顯影液中的作用是 ()。A、堅(jiān)膜作用B、提高管電壓127 .用單壁外透法透照同一筒體時(shí)如不考慮焦點(diǎn)投影尺寸的變化,縱縫U與環(huán)縫U的重要區(qū)別是在一張底片的不同
31、部位()。A、縱縫U值各處都一樣,環(huán)縫 Ug值隨部位而變化9 / 13B 、對(duì)比度提高,感光速D 、對(duì)比度降低,感光速)°、保護(hù)顯影作用、堅(jiān)膜作用)、幾何因素與膠片粒度、A.B 和 CB、環(huán)縫U值各處都一樣,縱縫 U值隨部位而變化c、無論縱縫、環(huán)縫, u值在任何部位都相同,不發(fā)生變化D、A.B 和 C128 .未曝光的X射線膠片盒保存時(shí)應(yīng)()oA、平放 B 、直立 C 、堆放 D任意放置129 .在整理膠片特性曲線時(shí),若其他參數(shù)保持恒定,顯影時(shí)間延長(zhǎng),則膠片特性曲線將表現(xiàn)為 ( )oA、對(duì)比度提高,感光速度提高 度降低C、對(duì)比度降低,感光速度提高 度降低130 .澳化鉀在顯影液中的作
32、用是A、加速顯影作用BC、抑制灰霧生成D131 .射線照相的靈敏度受()影響A、射線的能量BC、膠片的反差系數(shù)D132.膠片對(duì)比度與黑度A、非增感型膠片D成正比,適用于BC、A和 BD)°、增感型膠片、A和B均不適用133 .下列問題中適于康普頓背散射成像技術(shù)檢驗(yàn)的是( )oA、金屬表面的腐蝕裂紋B、原子序數(shù)低、厚度小的物體的層析射線照相C、厚度很大物體的表面層內(nèi)部缺陷D、A.B 和 C134 .放射性同位素6七。中的60叫做質(zhì)量數(shù),其原子核中含有27個(gè) 質(zhì)子和()個(gè)中子。A、27 B 、33 C 、60 D 、87135,直線加速器中,電子以()加速。A、高頻電波B、加速磁鐵C、中
33、子轟擊D、改變交流電磁鐵的磁場(chǎng) 136.流線是常用來形容()的術(shù)語。A、磁場(chǎng)強(qiáng)度B、零件的形狀C、板材分層缺陷的磁粉圖形外觀D、使用過大的磁化電流而產(chǎn)生的磁粉圖形137.為使膠片易于感光,在射線照相時(shí)采用熒光增感屏,這是因?yàn)?它在射線激發(fā)下產(chǎn)生( )oA、可見光線B 、紅外線 C 、紫外線 D 、電子射線 138.利用距離防護(hù)所依據(jù)的原理是 ()oA、R=R 耳 / R;B、P尸的尼/R:C、D、以上都不止確139.掃描射線照相技術(shù)的主要優(yōu)點(diǎn)之一是( )。A、一次完成透照B、透照連續(xù)C、影像放大D、操作簡(jiǎn)單140.試件磁粉探傷必須具備的條件之一是( )。A、能順利通電B、探傷面能用肉眼觀察C、
34、探傷表面必須光滑D、試件必須有磁場(chǎng)141.下列能夠進(jìn)行磁粉探傷的材料是()°10 / 13稱 名 位 單名姓號(hào)證考準(zhǔn)A、碳鋼 B 、18-8不銹鋼 C 、硬鋁 D咚戔142 .下列關(guān)于漏磁場(chǎng)的敘述中,正確的是()。A、缺陷方向與磁力線平行時(shí),漏磁場(chǎng)最大B、漏磁場(chǎng)的大小與工件的磁化程度無關(guān)C、漏磁場(chǎng)的大小與缺陷的深度比有關(guān)D、工件表層下,缺陷所產(chǎn)生的漏磁場(chǎng)隨缺陷埋藏深度的增加而增143 .()磁化電流對(duì)檢測(cè)近表面裂紋效果最佳。A、半波整流 B 、全波整流C 、交流電 D 、穩(wěn)帆直流電144 .小型零件的退磁,應(yīng)()。A、堆放在零件筐里,從交流線圈中通過B、組裝以后退磁C、逐個(gè)通過退磁線
35、圈進(jìn)行退磁D、為使磁場(chǎng)分布均勻,應(yīng)裝在鋼制的筐子里1屆.殘留的局部磁化極產(chǎn)生的不相關(guān)顯示會(huì)妨礙磁粉檢驗(yàn)。為成功 地世行檢驗(yàn),應(yīng)()。A、使用較高的安培值B、退磁,然后按預(yù)定的方:向磁化C、使用較低的安培值D、在另一個(gè)方向上磁化146 .對(duì)一個(gè)未加工的粗糙鍛件進(jìn)行磁粉探傷時(shí),發(fā)現(xiàn)一個(gè)向各個(gè)方向跡伸的顯示。顯示看起來垂直于表面,延伸至工件深處且非常清 M。這缺陷可能是()。A、鍛裂 B 、折疊 C 、變形 D冷!隔147 .干粉法探傷時(shí),關(guān)閉電流的時(shí)間應(yīng)在()。A、吹去多余的磁粉前B、吹去多余的磁粉后C、吹去多余磁粉的過程中D 、與吹磁粉無關(guān)148 .磁性材料在達(dá)到居里溫度時(shí),會(huì)變?yōu)椋ǎ、順磁
36、性的B 、抗磁性的 C 、非磁性的D放射性的149 .棒形磁鐵內(nèi)的磁力線沿磁鐵的長(zhǎng)度方向,這個(gè)棒形磁鐵的磁化叫作()。A、隨機(jī)磁化B 、永久磁化C 、周向磁化 D縱向磁化150 .檢查工件表面缺陷靈敏度最高,所采用的電流是()。A、直流電B、單相全波整流電C、交流電D、三相全波整流電151 .不是施加滲透劑白常用方法是()。A、擦涂 B 、刷涂 C 、噴涂 D浸涂152 .表面張力系數(shù)的單位是(),是滲透探傷常用的滲透劑。A、10-5 N/cmB、cm/ (10-5 N)C、10-5 ND、cm/s153 .同水洗方法相比,后乳化方法的優(yōu)點(diǎn)是()。A、由水噴洗去除多余的滲透劑B、靈敏度容易控制
37、,能獲得較好的檢驗(yàn)效果C、整個(gè)檢驗(yàn)時(shí)間縮短了D、對(duì)細(xì)小的裂紋有較高的靈敏度154 .顯像劑有助于發(fā)現(xiàn)著色滲透劑的檢驗(yàn)痕跡,是由于顯像劑()。A、提供了清潔的表面B、提供了背景反差C、提供了干燥的表面D、乳化了吸出的滲透劑155 .與其他著色滲透法相比,后乳化著色探傷法的不足之處是()。13 / 13稱名位單名姓7 .()只有橫波在固體中傳播。8 .() 鋼板探傷中可根據(jù)參考回波、缺陷回波、底波等判斷缺陷 是否存在。9 .()在分別含有氣孔、鴇粒和夾渣的鋼焊縫X射線底片上,比它們周圍其他地方看起來較亮的是鴇粒。10 .()同位素指的是質(zhì)量數(shù)相同、中子數(shù)不同的元素。11 .()如懷疑背散射線影響清
38、晰度,可在膠片背后放一鉛字來驗(yàn)證背散射線的存在。12 .()用濕粉連續(xù)法探傷,磁化電流停止時(shí)要立即停止噴灑磁懸液,以免流動(dòng)的磁懸液繼續(xù)在工件上作用,因?yàn)檫@會(huì)沖洗掉 細(xì)小的磁痕,使連續(xù)法變?yōu)槭4欧ā?3 .()從工件兩端采用直接通電磁化時(shí),磁化電流的大小應(yīng)按工件直徑來選擇。14 .()連續(xù)探傷過程中,應(yīng)在停止噴灑磁懸液之前切斷電流。15 .()鐵磁質(zhì)的磁導(dǎo)率是變量。16 .()液體滲透技術(shù)適用于檢驗(yàn)非多孔性材料的內(nèi)部缺陷。17 .()用顯像劑把滲入缺陷內(nèi)的滲透液吸附出來的原理是基于液體的毛細(xì)作用。18 .()用來描述滲透液在工件表面分布狀況的常用術(shù)語是潤(rùn)濕作用。19 .()液體滲透探傷時(shí),探測(cè)面和滲透劑的溫度以1050 c為宜。20 .()采用溶劑去除零件表面多余的滲透劑時(shí),溶劑的作用是溶解滲透液并將其去除。21 .()為保證安全性和經(jīng)濟(jì)性,所用材料應(yīng)有足夠的強(qiáng)度,即較高的屈服極限和強(qiáng)度極限。22 .()焊接生產(chǎn)過程中產(chǎn)生高溫、強(qiáng)光及一些有毒氣體,對(duì)人體有一定損害,因此要加強(qiáng)焊接操作人員的勞動(dòng)保護(hù)。2
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