IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范

1、文件類別：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次1 of 35IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范批準(zhǔn)記錄擬制審核批準(zhǔn)受控文件專用章登錄印章受控印章報(bào)廢印章發(fā)行記錄 董事長(zhǎng) 生產(chǎn)部（PDA） 品質(zhì)部（QD） 運(yùn)作部（OD） 董事總經(jīng)理 生產(chǎn)工程部（PIE） 文件控制中心（DCC） 人力資源部（HR） 廠務(wù)經(jīng)理 元件貼裝部（SMT） 進(jìn)料檢驗(yàn)部（IQC） 財(cái)務(wù)部（FIN） 管理者代表 產(chǎn)品組裝部（PD） 過(guò)程檢驗(yàn)部（IPQC） 銷售部（SD） 研發(fā)部（RD） 物料計(jì)劃部（PMC） 出貨檢驗(yàn)部（QA） 報(bào)關(guān)部（CUS） 倉(cāng)管部（WH）

2、 技術(shù)支持部（FAE） 電腦部（MIS） 成品維修部（RMA） 驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室（VL） 采購(gòu)部（PUR）文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次2 of 35修改記錄次數(shù)版本升級(jí)記錄修改時(shí)間修改類別修改頁(yè)次修改內(nèi)容簡(jiǎn)述修改人員審核批準(zhǔn)1生效時(shí)間2生效時(shí)間3生效時(shí)間4生效時(shí)間5生效時(shí)間6生效時(shí)間7生效時(shí)間8生效時(shí)間9生效時(shí)間10生效時(shí)間11生效時(shí)間12生效時(shí)間FM-QM-XX-01 Ver: A0文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-

3、04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次3 of 35(一) PCB檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC檢驗(yàn)PCB物料之依據(jù) 。2. 適用范圍適用于本公司所有之PCB檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4. 職責(zé)供應(yīng)商負(fù)責(zé)PCB品質(zhì)之管制執(zhí)行及管理，IQC負(fù)責(zé)供應(yīng)商之管理及進(jìn)料檢驗(yàn)。5. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.6. 參考文件1. IPC A - 600E, Acceptability of Printed Circuits Boards. 2. IPC R -

4、700C, Rework Methods & Quality Conformance.7. 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)定義： 檢驗(yàn)項(xiàng)目缺點(diǎn)名稱缺點(diǎn)定義檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)方式備注線 路線路凸出MAa. 線路凸出部分不得 大于成品最小間距30%。帶刻度放大鏡殘銅MAa. 兩線路間不允許有殘銅。b. 殘銅距線路或錫墊不得小于0.1mm。c. 非線路區(qū)殘銅不可大于2.5mm×2.5mm，且不可露銅。帶刻度放大鏡線路缺口、凹洞MAa. 線路缺口、凹洞部分不可大于最小線寬的30%。帶刻度放大鏡斷路與短路CRa. 線路或錫墊之間絕不容許有斷路或短路之現(xiàn)象。放大鏡、萬(wàn)用表線路裂痕MAa. 在線路或線路終端部分的裂痕

5、，不可超過(guò)原線寬1/3。帶刻度放大鏡線路不良MAa. 線路因蝕銅不良而呈鋸齒狀部分不可超過(guò)原線寬的 1/3。帶刻度放大鏡線路變形MAa. 線路不可彎曲或扭折。放大鏡線路變色MAa. 線路不可因氧化或受藥水、異物污染而造成變色。目檢線路剝離CRa. 線路必須附著性良好，不可翹起或脫落。目檢補(bǔ)線MAa. 補(bǔ)線長(zhǎng)度不得大于5mm，寬度為原線寬的80%100%。b. 線路轉(zhuǎn)彎處及BGA內(nèi)部不可補(bǔ)線。c. C/S面補(bǔ)線路不得超過(guò)2處，S/S面補(bǔ)線不得超過(guò)1處。帶刻度放大鏡目檢板邊余量MAa. 線路距成型板邊不得少于0.5mm。帶刻度放大鏡刮傷MAa. 刮傷長(zhǎng)度不超過(guò)6mm，深度不超過(guò)銅鉑厚度的1/3。放

6、大鏡孔孔塞MAa. 零件孔不允許有孔塞現(xiàn)象。目檢孔黑MAa. 孔內(nèi)不可有錫面氧化變黑之現(xiàn)象。目檢變形MAa. 孔壁與錫墊必須附著性良好，不可翹起，變形或脫落。目檢PAD，RING錫墊缺口MAa. 錫墊之缺口、凹洞、露銅等，不得大于單一錫墊之總 面積1/4。目檢、放大鏡文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次4 of 35檢驗(yàn)項(xiàng)目缺點(diǎn)名稱缺點(diǎn)定義檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)方式備注PAD，RING錫墊氧化MAa. 錫墊不得有氧化現(xiàn)象。目檢錫墊壓扁MAa. 錫墊之錫面厚度力求均勻，不可有錫厚壓扁之現(xiàn)象或 造成間距不

7、足。目檢錫墊MAa. 錫墊不得脫落、翹起、短路。目檢防焊線路防焊脫落、起泡、漏印。MAa. 線路防焊必須完全覆蓋，不可脫落、起泡、漏印，而 造成沾錫或露銅之現(xiàn)象。目檢防焊色差Minor a. 防焊漆表面顏色在視覺(jué)上不可有明顯差異。目檢防焊異物Minora. 防焊面不可沾附手指紋印、雜質(zhì)或其他雜物而影響外 觀。目檢防焊刮傷MAa. 不傷及線路及板材(未露銅）之防焊刮傷，長(zhǎng)度不可大于 15mm，且C/S面不可超過(guò)2條，S/S面不可超過(guò)1條。目檢防焊補(bǔ)漆MAa. 補(bǔ)漆同一面總面積不可大于30mm2，C/S面不可超過(guò)3 處；S/S面不可超過(guò)2處且每處面積不可大于20mm2 。b. 補(bǔ)漆應(yīng)力求平整，全面

8、色澤一致，表面不得有雜質(zhì)或 涂料不均等現(xiàn)象。目檢防焊氣泡MAa. 防焊漆面不可內(nèi)含氣泡而有剝離之現(xiàn)象。目檢防焊漆殘留MAa. 金手指、SMT PAD&光學(xué)定位點(diǎn)不可有防焊漆。目檢防焊剝離MAa. 以3M scotch NO.600 0.5"寬度膠帶密貼于防焊面,密貼 長(zhǎng)度約25mm,經(jīng)過(guò)30秒,以90度方向垂直拉起,不可有 脫落或翹起之現(xiàn)象。目檢BGABGA防焊MAa. 在BGA部分，不得有油墨覆蓋錫墊之現(xiàn)象，線路防焊 必需完全覆蓋。放大鏡BGA區(qū)域 導(dǎo)通孔塞孔MAa. BGA區(qū)域要求100%塞孔作業(yè)。放大鏡BGA區(qū)域 導(dǎo)孔沾錫MAa. BGA區(qū)域?qū)撞坏谜村a。目檢BGA區(qū)

9、域線 路沾錫、露銅MAa. BGA區(qū)域線路不得沾錫、露銅。目檢BGA區(qū)域補(bǔ)線MAa. BGA區(qū)域不得有補(bǔ)線。目檢BGA PADMAa. BGA PAD不得脫落、缺口、露銅、沾附防焊油墨及異物。目檢外觀 內(nèi)層黑（棕）化MAa. 內(nèi)層采用黑化處理，黑化不足或黑化不均，不可超過(guò) 單面總面積0.5%（棕化亦同）。目檢空泡&分層MAa.空泡和分層完全不允許。目檢文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次5 of 35檢驗(yàn)項(xiàng)目缺點(diǎn)名稱缺點(diǎn)定義檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)方式備注外觀板角撞傷MAa. 因制作不良或外力撞

10、擊而造成板邊（角）損壞時(shí)，則 依成型線往內(nèi)推不得大于0.5mm或板角以45度最大 值1.3mm為允收上限。目檢及帶刻度放大鏡章記MAa. 焊錫面上應(yīng)有制造廠之UL號(hào)碼、生產(chǎn)日期、Vendor Mark；生產(chǎn)日期YY（年）、WW（周）采用蝕刻方式標(biāo)示。目檢外觀尺寸MAa. 四層板及金手指的板子，量板子最厚的部分（銅箔及鍍金處）厚度為1.60mm±0.15mm，板長(zhǎng)和寬分別參考不同Model的SPEC?？ǔ甙鍙?amp;板翹MAa. 板彎，板翹與板扭之允收百分比最大值為0.5%。塞規(guī) 平板玻璃板面污染MAa. 板面不得有外來(lái)雜質(zhì)，指印，殘留助焊劑，標(biāo)簽， 膠帶或其他污染物。目檢基板變色M

11、Aa.基板不得有焦?fàn)钭兩?。目檢絲印文字清晰度Minora. 所有文字、符號(hào)均需清晰且能辨認(rèn)，文字上線條之中 斷程度以可辨認(rèn)該文字為主。目檢重影或漏印MAa.文字，符號(hào)不可有重影或漏印。目檢印錯(cuò)MAa.極性符號(hào)、零件符號(hào)及圖案等不可印錯(cuò)。目檢文字脫落MAa.文字不可有溶化或脫落之現(xiàn)象。目檢 異丙醇文字覆蓋 錫墊MAa.文字油墨不可覆蓋錫墊（無(wú)論面積大?。?。目檢Model No.MAa. MODEL NO不可印錯(cuò)或漏印。目檢焊錫性焊錫性MAa. 鍍層不可有翹起或脫落現(xiàn)象且焊錫性應(yīng)良好。用供 應(yīng)商提供的試錫板分別過(guò)回流爐和波峰焊，上錫不良 的點(diǎn)不可大于單面錫墊點(diǎn)數(shù)的0.3%。目檢金手指G/F刮傷MA

12、a.金手指不可有見(jiàn)內(nèi)層之刮傷。放大鏡G/F變色MAa.金手指表面層不得有氧化變色現(xiàn)象。目檢 放大鏡G/F鍍層剝離MAa. 以3M scotch NO.600 0.5"寬度膠帶密貼于G/F鍍層上,密貼長(zhǎng)度約25mm,經(jīng)過(guò)30秒,以90度方向垂直拉起,不可有脫落或翹起之現(xiàn)象。目檢G/F污染MAa. 金手指不可沾錫、沾漆、沾膠或?yàn)槠渌廴疚?。目檢金手指G/F凹陷MAa. 金手指凹陷、凹洞見(jiàn)底材或銅面刮傷，不得在金手指中間3/5的關(guān)鍵位置，唯測(cè)試探針之針點(diǎn)可允收，凹陷長(zhǎng)度不可超過(guò)0.3mmMAX。放大鏡 G/F露銅MAa.金手指上不可有銅色露出。放大鏡文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-0

13、1IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次6 of 358. 板彎、板翹與板扭之測(cè)量方法8.1. 板彎：將PCB凸面朝上，放置于平板玻璃上，用塞規(guī)測(cè)量其凸起的高度。(如圖一)8.2. 板翹與板扭：將PCB翹曲面朝上，放置于平板玻璃上，用塞規(guī)測(cè)量其翹起的高度。 (如圖二)文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次7 of 35(二)IC類檢驗(yàn)規(guī)范(包括BGA)1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)IC類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有IC（包

14、括BGA）之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。b. 包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Ma

15、rking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b. 來(lái)料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c. 本體變形，或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受；d. 元件封裝材料表面因封裝過(guò)程中留下的沙孔，其面積不超 過(guò)0.5mm2,且未露出基質(zhì), 可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；f. 元件腳彎曲，偏位, 缺損或少腳，均不可接受；目檢或10倍以上 的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。 備注：凡用于真空完全密閉方式包裝的IC，由于管理與防護(hù)的特殊要求不能現(xiàn)場(chǎng)打開(kāi)封裝的，IQC僅進(jìn)行包裝檢驗(yàn)，并加蓋免檢印章；該IC在SMT上拉前IQC須進(jìn)行拆封檢驗(yàn)。拆封后首先確認(rèn)包裝袋內(nèi)的濕度顯示卡20%R

16、H對(duì)應(yīng)的位置有沒(méi)有變成粉紅色，若已變?yōu)榉奂t色則使用前必須按供應(yīng)商的要求進(jìn)行烘烤。文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次8 of 35（三） 貼片元件檢驗(yàn)規(guī)范(電容,電阻,電感)1. 目的便于IQC人員檢驗(yàn)貼片元件類物料。2. 適用范圍適用于本公司所有貼片元件（電容,電阻,電感）之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5.

17、參考文件LCR數(shù)字電橋操作指引數(shù)字萬(wàn)用表操作指引檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是 否都正確,任何有誤,均不可接受。 b. 包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b. 來(lái)料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c. 本體變形，或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受；d. 元件封裝材料表面因封裝過(guò)程中留下的沙孔，其面積不超過(guò)0.

18、5mm2,且未露出基質(zhì), 可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受； 目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。電性檢驗(yàn)MA元件實(shí)際測(cè)量值超出偏差范圍內(nèi).LCR測(cè)試儀數(shù)字萬(wàn)用表檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。二極管類型檢 測(cè) 方 法LED 選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔，正向測(cè)量，LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光，而反向測(cè)量不發(fā)光；否則該二極 管不合格。 注：有標(biāo)記的一端為負(fù)極。其它二極管 選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔，正向測(cè)量，讀數(shù)需小于1，而反向測(cè)量讀數(shù)需無(wú)窮大；否則該二極管不合格。 注：有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。備注 抽樣計(jì)劃說(shuō)明：對(duì)于CHIP二極管，執(zhí)行抽樣計(jì)劃時(shí)來(lái)料數(shù)量以盤

19、為單位，樣本數(shù)也以盤為單位；從抽檢的每 盤中取35pcs元件進(jìn)行檢測(cè)；AQL不變。檢驗(yàn)方法見(jiàn)LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀操作指引 和 數(shù)字萬(wàn)用表操作指引。文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次9 of 35（四） 插件用電解電容.1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)插件用電解電容類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA)

20、: 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件LCR數(shù)字電橋操作指引、數(shù)字電容表操作指引。檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 極性等標(biāo)記符號(hào)印刷不清，難以辨認(rèn)不可接受；b. 電解電容之熱縮套管破損、脫落，不可接受；c. 本體變形，破損等不可接受；d.Pin生銹氧化，均不可接受。目檢可焊性檢驗(yàn)MAa.Pin上錫不良

21、，或完全不上錫不可接受。(將PIN沾上現(xiàn)使 用之合格的松香水，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收)實(shí)際操作每LOT取510PCS在 小錫爐上驗(yàn) 證上錫性尺寸規(guī)格檢驗(yàn)MA a. 外形尺寸不符合規(guī)格要求不可接受?？ǔ呷粲糜谛碌腗odel，需在PCB上對(duì)應(yīng)的位置進(jìn)行試插電性檢驗(yàn)MAa. 電容值超出規(guī)格要求則不可接受。用數(shù)字電容表或LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀量測(cè)文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次10 of 35（五） 晶體類檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)晶體

22、類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件數(shù)字頻率計(jì)操作指引檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都 正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)M

23、Aa. 字體模糊不清，難以辨認(rèn)不可接受；b. 有不同規(guī)格的晶體混裝在一起，不可接受；c. 元件變形，或受損露出本體等不可接受；d. Pin生銹氧化、上錫不良，或斷Pin，均不可接受。目檢每LOT取510PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性電性檢驗(yàn)MAa. 晶體不能起振不可接受；b. 測(cè)量值超出晶體的頻率范圍則不可接受。測(cè)試工位 和數(shù)字頻率計(jì)電性檢測(cè)方法晶體檢 測(cè) 方 法32.768KHz 16.934MHz25.000MHz 在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體, 再接通電源開(kāi)機(jī); 在正常開(kāi)機(jī)后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看 測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開(kāi)機(jī)或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。

24、24.576MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體、CPU、內(nèi)存條等，再接通電源開(kāi)機(jī)，看能否正常開(kāi)機(jī)顯示；在正常開(kāi)機(jī)顯示后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開(kāi)機(jī)顯示或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次11 of 35（六） 三極管檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)三極管類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有三極管之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參

25、考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。b. 包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b. 來(lái)料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c. 本體變形，或

26、有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受；d. 元件封裝材料表面因封裝過(guò)程中留下的沙孔，其面積不超 過(guò)0.5mm2,且未露出基質(zhì), 可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受。目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。電性檢驗(yàn)無(wú)文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次12 of 35（七） CPU Scoket檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)CPU Socket類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有類型CPU Scoket之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，

27、LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA a. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)；b. 塑料與針腳不能緊固連接；c. 塑料體破損，體臟，變形，明顯色差，劃傷，縮水；d

28、. 過(guò)錫爐后塑料體外觀變色，變形，脫皮;e. 針腳擰結(jié)，彎曲，偏位, 缺損，斷針或缺少；f. 針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹;g. 內(nèi)部端子變形，不貼壁，氧化;h. 拉桿松緊不適，或產(chǎn)生較大的磨擦聲目檢放大鏡焊錫性檢驗(yàn)MAa.PIN上錫不良，或完全不上錫,均不可接受；(將零件腳插入現(xiàn)使用之合格松香水內(nèi)，全部浸潤(rùn)，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收)實(shí)際操作每LOT取510PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性安裝檢驗(yàn)MAa. 針腳不能與標(biāo)準(zhǔn)PCB順利安裝;b. 上蓋過(guò)松不可接受;c. 針腳露出機(jī)板長(zhǎng)度小于0.5mm或大于2.0mm;將拉桿扳至卡位處稍用力繼續(xù)下壓，

29、檢查上蓋是否松脫,若過(guò)松易脫落不可接受. 針腳露出機(jī)板長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)為0.5mm2.0mm范圍內(nèi)。文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次13 of 35(八) 排針&插槽(座)類檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)排針&插槽(座)類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有排針&插槽(座)之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;

30、次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA a. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不能辯認(rèn)；b. 塑料與針腳不能緊固連接；c. 塑料體破損，體臟，變形，明顯色差，劃傷，縮水；d. 過(guò)錫爐后塑料體外觀變色，變形，脫皮;e. 針腳擰結(jié)，彎曲，偏位, 缺損，斷針或缺少；f. 針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹;g. 針腳

31、端部成蘑菇狀影響安裝.目檢焊錫性檢驗(yàn)MAa. PIN上錫不良，或完全不上錫,均不可接受；(將零件腳插入 現(xiàn)使用之合格松香水內(nèi)，全部浸潤(rùn)，再插入小錫爐5秒鐘 左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收)實(shí)際操作每LOT取510PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性安裝檢驗(yàn)MAa. 針腳不能與標(biāo)準(zhǔn)PCB順利安裝;b. 針腳露出機(jī)板長(zhǎng)度小于0.5mm或大于2.0mm;卡尺針腳露出機(jī)板長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)為0.5mm2.0mm范圍內(nèi)。文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次14 of 35(九) 電池檢驗(yàn)規(guī)范1

32、. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)電池類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所用電池之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件數(shù)字萬(wàn)用表操作指引。檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA a. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不

33、吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 表面要光滑，若有明顯劃痕不可接受；b. 電池表面腐蝕、生銹等，不可接受；c. 電池極性標(biāo)記要清晰，否則不可接受；d. 來(lái)料品名錯(cuò)或混裝不同規(guī)格的電池均不可接受。目檢尺寸規(guī)格檢驗(yàn)MAa.池外徑：D=2.0cm，若不符不可接受?？ǔ唠娦詸z驗(yàn)MAa. 字萬(wàn)用表指向直流電壓檔20V，兩表筆分別接在電池兩端(即正負(fù)極)，電壓的讀數(shù)需在3.1V以上。若電池電壓小于3.10V則不可接受。用數(shù)字萬(wàn)用表量測(cè)檢驗(yàn)時(shí)不能短路電池兩端文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次1

34、5 of 35(十) CABLE類檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為C人員檢驗(yàn)CABLE類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有CABLE類之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5 參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 料數(shù)量與送檢單上的

35、數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 五金件變形、劃傷、生銹、起泡、發(fā)黃或其它電鍍不良；b.塑料體變形、劃傷、毛邊、破（斷）裂、異色等不良；c.排線破損、斷裂、變形、異色、露銅絲、切口不齊等均不 可接受；d.排線與支架等組裝不牢，易松脫；e.標(biāo)識(shí)CABLE接插方向的顏色不能明確分辯；c. 排線接頭的顏色不符合規(guī)格要求;g.排線表面的絲印錯(cuò).1.目檢2.按前后左右上下各輕搖3次排線接頭處，看有無(wú)松脫現(xiàn)象參考Mechanical Drawing of Cable尺寸檢驗(yàn)MAa.長(zhǎng)度不符合規(guī)格要求不可接受.卷尺尺寸參考Mechanical Drawing of Cable電性測(cè)試

36、檢驗(yàn)MAa. 排線的接線方式錯(cuò)不可接受;b. 排線接觸不良或不能運(yùn)行不可接受;c. IDE排線的傳輸速率不符合要求不可接受.每批取10pcs送QA,請(qǐng)QA的同事幫助測(cè)試?yán)y(cè)試檢驗(yàn)MAa. 與公端對(duì)插,插拔力不符合規(guī)格要求的不可接受.( 拉力測(cè)試: 用標(biāo)準(zhǔn)Box Header與排線對(duì)插好，用拉力計(jì)測(cè)出其CABLE完全被拉出后的最大拔出力。)實(shí)際操作備注 1. 要求如下(低于20PIN 的不作要求)： 80PIN: 4.07.0Kgf ; 40PIN:3.56.0kgf : 34PIN:3.05.0kgf ;26PIN:2.04.0kgf ;20PIN:1.43.4kg2.接插CABLE要輕插，

37、不可插壞主板之插座；3.測(cè)拉力時(shí)，必需沿水平方向拔出，如果拉拔力均不符合要求，須重測(cè)三次；如有一次符合，則此CABLE拉拔 力合格；如三次均不符合要求，需轉(zhuǎn)換另一BOX HEADER (可連續(xù)轉(zhuǎn)換三次新的BOX HEADER)，以同樣的 方式測(cè)試。更換三次后仍不符合，則拒收退貨。文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次16 of 35(十一) 散熱片檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)散熱片類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有散熱片之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEV

38、EL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 將散熱片的正面朝向檢驗(yàn)員，若可見(jiàn)表面的鍍漆脫落且露 出內(nèi)部基材，則不可接受；b. 若正表面有“TOMATO”LO

39、GO印刷要求的，則字體斷層、 模糊，或字體上有直徑大于0.2mm的漏漆等，不可接受;c. 散熱片的四個(gè)側(cè)面若有碰撞掉漆,其直徑大于1.0mm則不可 接受;對(duì)于兩個(gè)剪切側(cè)面的電鍍痕,若未延伸至正面則可接受;d. 表面、邊沿或凹槽內(nèi)殘留任何臟污、鐵屑及毛邊等，均不 可接受；e. 對(duì)于正表面上未露出基材的劃痕，可將散熱片置于檢驗(yàn)者的正前方約一臂遠(yuǎn)，與視線分別成90度和45度，若兩個(gè)角度均可見(jiàn)則不可接受；f. 散熱片正表面在拉鋁過(guò)程中留下的針孔，若其直徑大于 0.5mm則不可接受；g. 散熱片被切割不整齊不可接受；h. 散熱片背面的雙面膠須平整地貼在其內(nèi)部，若膠紙皺在一 起或伸出散熱片均不可接受。目檢

40、樣品比對(duì)尺寸檢驗(yàn)MAa. 用直尺或卷尺測(cè)量實(shí)際尺寸與規(guī)格尺寸是否相符,不符不可 接受。直尺或卷尺試貼檢驗(yàn)MAa. 按BOM要求，將散熱片貼到對(duì)應(yīng)的主板上的芯片上，若散熱片的尺寸小于芯片或散熱片過(guò)大而碰撞到芯片周圍的元件均不接受。試貼文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次17 of 35(十二) 海棉檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)海綿類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有海棉之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃

41、。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件表面阻抗測(cè)試儀操作指引。檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝LABEL上的P/N及實(shí)物是否都 正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 表面無(wú)明顯色差，或空洞，虛邊，劃傷，破裂等,否則不可 接受;b. 表面無(wú)明顯污跡等，否則不可接受；c. 表面無(wú)永久性折皺，否則不可接受。目檢尺寸

42、檢驗(yàn)CRa. 用直尺或卷尺測(cè)量實(shí)際尺寸與規(guī)格尺寸是否相符,不符不可接 受。直尺或卷尺表面阻抗檢測(cè)MAa. 表面阻抗要求達(dá)到1081011,否則不可接受。表面阻抗表試裝檢驗(yàn)MAa. 將對(duì)應(yīng)MODEL裝配后的主板與海棉配疊好，若海棉明顯小于機(jī)板或海棉尺寸過(guò)大均不接受;試裝文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次18 of 35(十三) 靜電袋檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)靜電袋類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有靜電袋之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正

43、常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件表面阻抗測(cè)試儀操作指引。檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝LABEL上的P/N及實(shí)物是否都 正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA a. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 表面光滑，無(wú)明顯折皺、破損、裂紋等,否則不可接受;b. 表面無(wú)明顯污跡、水跡等，否則不可接受；c. 兩

44、側(cè)邊的壓合須牢固，若壓合不牢，開(kāi)裂等不可接受。目檢尺寸檢驗(yàn)CRa. 用直尺或卷尺測(cè)量實(shí)際尺寸與規(guī)格尺寸是否相符,不符不可接 受。直尺或卷尺所測(cè)尺寸為內(nèi)部尺寸表面阻抗檢測(cè)MAa. 表面阻抗要求達(dá)到1081011,否則不可接受。表面阻抗表試裝檢驗(yàn)MAa. 將對(duì)應(yīng)MODEL裝配后的主板與海棉小心翼翼地裝入靜電袋，注意不要刮傷袋口,若不能順利裝入袋內(nèi)或袋的尺寸太大均不接受；實(shí)際操作文件名稱：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁(yè) 次19 of 35(十四) 說(shuō)明書(shū)檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)說(shuō)明書(shū)類物料之依

45、據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有說(shuō)明書(shū)之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 少頁(yè)，空白頁(yè)(指漏印了內(nèi)容)，內(nèi)容缺少等均不可