地質(zhì)羅盤(pán)測(cè)量巖層產(chǎn)狀要素_第1頁(yè)
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1、地質(zhì)羅盤(pán)測(cè)量巖層產(chǎn)狀要素(2011-11-03 22:41:43 標(biāo)簽: 雜談分類: 全國(guó)礦產(chǎn)資源利用現(xiàn)狀調(diào)查 測(cè)量巖層產(chǎn)狀要素測(cè)量的工具地質(zhì)羅盤(pán)儀        一般的地質(zhì)測(cè)量,如測(cè)量目的物的方位、巖層空間位置、山的坡度等,均用地質(zhì)羅盤(pán)儀。這是地質(zhì)工作者必須掌握的工具。地質(zhì)羅盤(pán)儀式樣較多,但其原理和構(gòu)造大體相同。地質(zhì)羅盤(pán)儀的基本構(gòu)造        一般都由磁針、磁針制動(dòng)器、刻度盤(pán)、測(cè)斜器、水準(zhǔn)器和瞄準(zhǔn)器等幾部分組成,并安裝在一非磁性物質(zhì)的底盤(pán)上(如圖5-1)。圖5-1地質(zhì)羅

2、盤(pán)儀構(gòu)造圖1反光鏡;2瞄準(zhǔn)覘板3磁針;4水平刻度盤(pán);5垂直刻度盤(pán);6測(cè)斜指示針(或懸錘);7長(zhǎng)方形水準(zhǔn)器;8圓形水準(zhǔn)器;9磁針制動(dòng)器;10頂針;11杠桿;12玻璃蓋;13羅盤(pán)底盤(pán)磁針為一兩端尖的磁性鋼針,其中心放置在底盤(pán)中央軸的頂針上,以便靈活地?cái)[動(dòng)。由于我國(guó)位于北半球,磁針兩端所受地磁場(chǎng)吸引力不等,產(chǎn)生磁傾角。為使磁針處于平衡狀態(tài),在磁針的南端繞上若干圈銅絲,用來(lái)調(diào)節(jié)磁針的重心位置,亦可以此來(lái)區(qū)分指南和指北針。磁針制動(dòng)器是在支撐磁針的軸下端套著的一個(gè)自由環(huán),此環(huán)與制動(dòng)小螺紐以杠桿相連,可使磁針離開(kāi)轉(zhuǎn)軸頂針并固結(jié)起來(lái),以便保護(hù)頂針和旋轉(zhuǎn)軸不受磨損,保持儀器的靈敏性,延長(zhǎng)羅盤(pán)的使用壽命。刻度盤(pán)分

3、內(nèi)(下)和外(上)兩圈,內(nèi)圈為垂直刻度盤(pán),專作測(cè)量?jī)A角和坡度角之用,以中心位置為0°,分別向兩側(cè)每隔10°一記,直至90°。外圈為水平刻度盤(pán),其刻度方式有兩種,即方位角和象限角,隨不同羅盤(pán)而異,方位角刻度盤(pán)是從0°開(kāi)始,逆時(shí)針?lè)较蛎扛?0°一記,直至360°。在0°和180°處分別標(biāo)注N和S(表示北和南);90°和270°處分別標(biāo)注E和W(表示東和西)如圖所示。象限角刻度盤(pán)與它不同之處是S、N兩端均記作0°,E和W處均記作90°,即刻度盤(pán)上分成0°90°的

4、四個(gè)象限。必須注意:方位角刻度盤(pán)為逆時(shí)針?lè)较驑?biāo)注。兩種刻度盤(pán)所標(biāo)注的東、西方向與實(shí)地相反,其目的是為了測(cè)量時(shí)能直接讀出磁方位角和磁象限角,因測(cè)量時(shí)磁針相對(duì)不動(dòng),移動(dòng)的卻是羅盤(pán)底盤(pán)。當(dāng)?shù)妆P(pán)向東移,相當(dāng)于磁針向西偏,故刻度盤(pán)逆時(shí)針?lè)较驑?biāo)記(東西方向與實(shí)地相反)所測(cè)得讀數(shù)即所求。在具體工作中,為區(qū)別所讀數(shù)值是方位角或象限角,可按下述方法區(qū)分:如圖A與B的測(cè)線位置相同,在方位角刻度盤(pán)上讀作285°、記作NW285°或記作285°,在象限角刻度盤(pán)上讀作北偏西75°,記作N75°W。如果兩者均在第一象限內(nèi),例如50°,而后者記作N50°

5、E以示區(qū)別(圖5-2 A、B,表51)。測(cè)斜指針(或懸錘)是測(cè)斜器的重要組成部分,它放在底盤(pán)上,測(cè)量時(shí)指針(或懸錘尖端)所指垂直刻度盤(pán)的度數(shù)即為傾角或坡度角的值。圖5-2A 方位角刻度盤(pán) 圖5-2B 象限角刻度盤(pán)表51 象限角與方位角之間關(guān)系換算表象限 方位角度數(shù)象限角()與方位角(A)之關(guān)系  象限名稱 090° =A NE象限 90°180° =180°A  SE象限 180°270° =A180°  SW象限 270°360° =360&#

6、176;A  NW象限水準(zhǔn)器羅盤(pán)上通常有圓形和管形兩個(gè)水準(zhǔn)器,圓形者固定在底盤(pán)上,管狀者固定在測(cè)斜器上,當(dāng)氣泡居中時(shí),分別表示羅盤(pán)底盤(pán)和羅盤(pán)含長(zhǎng)邊的面處于水平狀態(tài)。但如果測(cè)斜器是擺動(dòng)式的懸錐,則沒(méi)有管狀水準(zhǔn)器。瞄準(zhǔn)器 包括接目和接物覘板、反光鏡中的細(xì)絲及其下方的透明小孔,是用來(lái)瞄準(zhǔn)測(cè)量目的物(地形和地物)的。 地質(zhì)羅盤(pán)儀的使用方法        在使用前需作磁偏角的校正,因?yàn)榈卮诺哪?、北兩極與地理的南、北兩極位置不完全相符,即磁子午線與地理子午線不重合,兩者間夾角稱磁偏角。地球上各點(diǎn)的磁偏角均定期計(jì)算,并公布以備查

7、用。當(dāng)?shù)厍蛏夏滁c(diǎn)磁北方向偏于正北方向的東邊時(shí),稱東偏(記為+);偏于西邊時(shí),稱西偏(記為)。如果某點(diǎn)磁偏角()為已知,則一測(cè)線的磁方位角(A磁)和正北方位角(A)的關(guān)系為A=A磁±。如圖5-3 A表示東偏30°,且測(cè)線所測(cè)的角亦為NE30°時(shí),則A=30°+30°=NE60°;圖5-3 B表示西偏20°,測(cè)線所測(cè)角為SE110°,則A=110°-20°=90°。為工作上方便,可以根據(jù)上述原理進(jìn)行磁偏角校正,磁偏角偏東時(shí),轉(zhuǎn)動(dòng)羅盤(pán)外壁的刻度螺絲,使水平刻度盤(pán)順時(shí)針?lè)较蜣D(zhuǎn)動(dòng)一磁偏角值則可(

8、若西偏時(shí)則逆時(shí)針?lè)较蜣D(zhuǎn)動(dòng))。經(jīng)校正后的羅盤(pán),所測(cè)讀數(shù)即為正確的方位。        在對(duì)方向或目的物方位進(jìn)行測(cè)量時(shí)即測(cè)定目的物與測(cè)者兩點(diǎn)所連直線的方位角。方位角是指從子午線順時(shí)針?lè)较蛑翜y(cè)線的夾角(如圖5-3 C所示)。首先放松磁針制動(dòng)小螺紐,打開(kāi)對(duì)物覘板并指向所測(cè)目標(biāo),即用羅盤(pán)的北(N)端對(duì)著目的物,南(S)端靠近自己進(jìn)行瞄準(zhǔn)。使目的物、對(duì)物覘板小孔、蓋玻璃上的細(xì)絲三者連成一直線,同時(shí)使圓形水準(zhǔn)器的氣泡居中,待磁針靜止時(shí),指北針?biāo)傅亩葦?shù)即為所測(cè)目標(biāo)的方位角。圖5-3A 磁偏角東偏示意圖 圖5-3B 磁偏角西偏示意圖 圖5-3C羅盤(pán)儀

9、測(cè)量目的物的方位 巖層產(chǎn)狀要素的測(cè)定        巖層的空間位置決定于其產(chǎn)狀要素,巖層產(chǎn)狀要素包括巖層的走向、傾向和傾角(見(jiàn)圖5-4)。圖5-4 巖層產(chǎn)狀要素極其測(cè)量方法巖層走向的測(cè)量巖層走向是巖層層面與水平面相交線的方位,測(cè)量時(shí)將羅盤(pán)長(zhǎng)邊的底棱緊靠巖層層面,當(dāng)圓形水準(zhǔn)器氣泡居中時(shí)讀指北或指南針?biāo)付葦?shù)即所求(因走向線是一直線,其方向可兩邊延伸,故讀南、北針均可)。巖層傾向的測(cè)量巖層傾向是指巖層向下最大傾斜方向線(真傾向線)在水平面上投影的方位。測(cè)量時(shí)將羅盤(pán)北端指向巖層向下傾斜的方向,以南端短棱靠著巖層層面,當(dāng)圓

10、形水準(zhǔn)器氣泡居中時(shí),讀指北針?biāo)付葦?shù)即所求。巖層傾角的測(cè)量巖層傾角是指層面與假想水平面間的最大夾角,稱真傾角。真傾角可沿層面真傾斜線測(cè)量求得,若沿其他傾斜線測(cè)得的傾角均較真傾角小,稱為視傾角。測(cè)量時(shí)將羅盤(pán)側(cè)立,使羅盤(pán)長(zhǎng)邊緊靠層面,并用右手中指撥動(dòng)底盤(pán)外之活動(dòng)扳手,同時(shí)沿層面移動(dòng)羅盤(pán),當(dāng)管狀水準(zhǔn)器氣泡居中時(shí),測(cè)斜指針?biāo)缸畲蠖葦?shù)即巖層的真傾角。若測(cè)斜器是懸錘式的羅盤(pán),方法與上基本相同,不同之處是右手中指按著底盤(pán)外的按紐,懸錘則自由擺動(dòng),當(dāng)達(dá)最大值時(shí)松開(kāi)中指,懸錘固定所指的讀數(shù)即巖層的真傾角。巖層產(chǎn)狀的記錄方法如用方位角羅盤(pán)測(cè)量,測(cè)得某地層走向是330°、傾向?yàn)?40°、傾角為50°,記做330°/SW50°,或記做240°50°(即只記傾向與傾角即可)。如果用方位角羅盤(pán)測(cè)量但要用象限角記錄時(shí),則需把方位角換算成象限角,再作記錄。如上述地層產(chǎn)狀其走向應(yīng)為=360°330°=30°,傾向=240°180°=60

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