UT-I講義設(shè)備ppt課件

1、核工業(yè)無損檢測中心核工業(yè)無損檢測中心NUCLEAR NDT CENTERNUCLEAR NDT CENTER超聲超聲-I -I 講義講義( (三、設(shè)備三、設(shè)備) )鐘志民鐘志民zhongzhiminnncshzhongzhiminnncsh1 超聲儀器超聲儀器n1.1超聲波探傷儀的作用超聲波探傷儀的作用n 產(chǎn)生電脈沖激發(fā)超聲探頭發(fā)射超聲波，產(chǎn)生電脈沖激發(fā)超聲探頭發(fā)射超聲波，同時接收來自探頭的電信號并顯示，得到顯同時接收來自探頭的電信號并顯示，得到顯示的幅度、位置等信息。示的幅度、位置等信息。 n 主要使用主要使用A型脈沖反射式超聲探傷儀。型脈沖反射式超聲探傷儀。n 1.2分類分類n 波的連續(xù)性

2、，顯示，通道，聲波傳播波的連續(xù)性，顯示，通道，聲波傳播 n 1 超聲儀器超聲儀器n1.3 A型脈沖反射式超聲探傷儀型脈沖反射式超聲探傷儀n 主要有以下五種基本電路：主要有以下五種基本電路：n 同步電路同步電路n 發(fā)射電路發(fā)射電路n 掃描電路掃描電路n 接納接納/放大電路放大電路n 顯示電路顯示電路 n 和各種輔助電路，如延遲、報警、閘門、和各種輔助電路，如延遲、報警、閘門、補償?shù)?。補償?shù)取?1.4 A型脈沖反射式超聲探傷儀框圖型脈沖反射式超聲探傷儀框圖n 1.5 工作原理工作原理n同步電路產(chǎn)生同步脈沖，觸發(fā)掃描電路和發(fā)射電路。同步電路產(chǎn)生同步脈沖，觸發(fā)掃描電路和發(fā)射電路。此時，掃描電路產(chǎn)生鋸齒

3、波電壓，加于示波管的水此時，掃描電路產(chǎn)生鋸齒波電壓，加于示波管的水平偏轉(zhuǎn)板上，示波管電子束作水平掃描，形成水平平偏轉(zhuǎn)板上，示波管電子束作水平掃描，形成水平的時基線。的時基線。n 此外，發(fā)射電路產(chǎn)生高壓脈沖，加于探頭晶片，此外，發(fā)射電路產(chǎn)生高壓脈沖，加于探頭晶片，電能轉(zhuǎn)化為聲能。電能轉(zhuǎn)化為聲能。n 超聲波在工件中傳播，遇到缺陷或界面產(chǎn)生反超聲波在工件中傳播，遇到缺陷或界面產(chǎn)生反射波。其被探頭接收，聲能轉(zhuǎn)化為電能輸入接收電射波。其被探頭接收，聲能轉(zhuǎn)化為電能輸入接收電路。路。n 放大電路將微弱信號放大加于示波管的垂直偏放大電路將微弱信號放大加于示波管的垂直偏轉(zhuǎn)板上，示波管電子束作垂直移動，形成回波顯

4、示。轉(zhuǎn)板上，示波管電子束作垂直移動，形成回波顯示。n 顯示的位置反映了缺陷的聲程，波高反映缺陷顯示的位置反映了缺陷的聲程，波高反映缺陷的當(dāng)量大小。的當(dāng)量大小。1.6 調(diào)整調(diào)整1調(diào)節(jié)顯示器的旋鈕調(diào)節(jié)顯示器的旋鈕 輝度輝度/聚焦聚焦/程度零位調(diào)節(jié)）程度零位調(diào)節(jié)）/垂直時基垂直時基線上下移動）線上下移動） 2調(diào)節(jié)發(fā)射器的旋鈕調(diào)節(jié)發(fā)射器的旋鈕 工作方式單發(fā)單收工作方式單發(fā)單收/一發(fā)一收）一發(fā)一收） 發(fā)射強度發(fā)射強度 3調(diào)節(jié)接收器的旋鈕調(diào)節(jié)接收器的旋鈕 衰減器衰減器 增益增益 深度補償深度補償/顯示選擇檢波）顯示選擇檢波）/抑制抑制1.6 調(diào)整調(diào)整4調(diào)節(jié)時基器的旋鈕調(diào)節(jié)時基器的旋鈕 深度粗調(diào)深度粗調(diào) 深

5、度微調(diào)深度微調(diào) 延遲延遲5調(diào)節(jié)脈沖重復(fù)頻率的旋鈕調(diào)節(jié)脈沖重復(fù)頻率的旋鈕1.7 維護維護1.不可錯誤使用不可錯誤使用2.長期不使用的過程中，定期通電長期不使用的過程中，定期通電3.運輸?shù)淖⒁馐马椷\輸?shù)淖⒁馐马?.故障的處理故障的處理1.8 數(shù)字超聲探傷儀的特點數(shù)字超聲探傷儀的特點1.速度快速度快2.精度高精度高3.可靠性高，穩(wěn)定性好可靠性高，穩(wěn)定性好4.體積小重量輕體積小重量輕5.記錄與存檔方便記錄與存檔方便6.易于擴展。易于擴展。7.成像。成像。2 超聲探頭超聲探頭2.1 壓電效應(yīng)壓電效應(yīng) 某些晶體材料在交變應(yīng)力作用下形變時某些晶體材料在交變應(yīng)力作用下形變時產(chǎn)生交變電場的現(xiàn)象叫正壓電效應(yīng)。產(chǎn)生

6、交變電場的現(xiàn)象叫正壓電效應(yīng)。 反之，晶體材料在交變電場作用下產(chǎn)生反之，晶體材料在交變電場作用下產(chǎn)生交變應(yīng)力和形變的現(xiàn)象叫逆壓電效應(yīng)。交變應(yīng)力和形變的現(xiàn)象叫逆壓電效應(yīng)。 壓電效應(yīng)壓電效應(yīng):正逆壓電效應(yīng)正逆壓電效應(yīng) 壓電晶體壓電材料）壓電晶體壓電材料）. 2.1 壓電效應(yīng)壓電效應(yīng) 2.2 超聲探頭超聲探頭 發(fā)射超聲波和接收超聲波的電聲換能器。發(fā)射超聲波和接收超聲波的電聲換能器。 普通，超聲探頭晶片是利用壓電效應(yīng)工普通，超聲探頭晶片是利用壓電效應(yīng)工作的。作的。2.3 探頭的種類探頭的種類 (1)波型分類：波型分類： 縱波探頭縱波探頭 橫波探頭橫波探頭 表面波探頭表面波探頭 (2)接觸方式：接觸式接觸

7、方式：接觸式/液浸式液浸式 (3)聲束聚焦：聚焦和非聚焦聲束聚焦：聚焦和非聚焦 (4)晶片數(shù)量：單晶片探頭晶片數(shù)量：單晶片探頭/雙晶片探頭雙晶片探頭 (5)聲束入射：直探頭聲束入射：直探頭/斜探頭斜探頭/可變角探頭可變角探頭2.4 直探頭縱波接觸式直探頭）直探頭縱波接觸式直探頭）主要特點：主要特點： 1適宜探測基本與探測面相平行的缺陷適宜探測基本與探測面相平行的缺陷 2廣泛應(yīng)用于鍛件、板材、鑄件的探傷廣泛應(yīng)用于鍛件、板材、鑄件的探傷 3測厚的應(yīng)用。測厚的應(yīng)用。 4探測近表面盲區(qū)大，分辨力低。探測近表面盲區(qū)大，分辨力低。2.4.1 直探頭主要結(jié)構(gòu)直探頭主要結(jié)構(gòu) 1.晶片晶片 2. 阻尼塊和吸聲材

8、料阻尼塊和吸聲材料 3.保護膜保護膜 4.外殼外殼 5.接線柱接線柱2.4.1直探頭主要結(jié)構(gòu)直探頭主要結(jié)構(gòu) 1.晶片晶片: 以逆壓電效應(yīng)發(fā)射超聲波以逆壓電效應(yīng)發(fā)射超聲波 以正壓電效應(yīng)接收超聲波以正壓電效應(yīng)接收超聲波 特點：特點： 尺寸越大，發(fā)射能量越大尺寸越大，發(fā)射能量越大 指向性越好，靈敏度高但近場長度大指向性越好，靈敏度高但近場長度大 2.4.1直探頭主要結(jié)構(gòu)直探頭主要結(jié)構(gòu) 2. 阻尼塊和吸聲材料阻尼塊和吸聲材料 粘附在晶片后面具有阻尼作用的塊狀物。粘附在晶片后面具有阻尼作用的塊狀物。 作用：作用：1阻尼晶片振動，減小脈沖寬度持續(xù)振阻尼晶片振動，減小脈沖寬度持續(xù)振動時間），提高分辨力，減小

9、盲區(qū)。動時間），提高分辨力，減小盲區(qū)。2吸收晶片背面雜波，提高信噪比。吸收晶片背面雜波，提高信噪比。3支撐晶片。支撐晶片。 2.4.1直探頭主要結(jié)構(gòu)直探頭主要結(jié)構(gòu)3.保護膜：保護晶片不致磨損或損壞。保護膜：保護晶片不致磨損或損壞。硬保護膜硬保護膜 （剛玉適用于光潔度高的表面（剛玉適用于光潔度高的表面如鍛件表面）；如鍛件表面）；軟保護膜適用于光潔度低或表面較軟的工件軟保護膜適用于光潔度低或表面較軟的工件表面如軸瓦合金）。表面如軸瓦合金）。2.5 斜探頭斜探頭1.類型：類型：主要有縱波（主要有縱波（ L 1 ） 橫波（橫波（1 L II ） 表面波（表面波（L II ） 板波探頭板波探頭2.特點：

10、聲束傾斜入射特點：聲束傾斜入射 適用于探測與探測面成一定角度的缺陷，如適用于探測與探測面成一定角度的缺陷，如焊縫、管材、鍛件的探傷。焊縫、管材、鍛件的探傷。2.5.3 斜探頭主要結(jié)構(gòu)斜探頭主要結(jié)構(gòu)橫波斜探頭與直探頭的主要區(qū)別：橫波斜探頭與直探頭的主要區(qū)別：1多透聲斜楔：實現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換，使工件中多透聲斜楔：實現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換，使工件中只存在折射橫波只存在折射橫波 特點：縱波聲速小于工件縱波聲速特點：縱波聲速小于工件縱波聲速 衰減系數(shù)適當(dāng)衰減系數(shù)適當(dāng) 耐磨宜加工耐磨宜加工 加工吸聲槽，減少反射雜波加工吸聲槽，減少反射雜波2少保護膜少保護膜 晶片不與工件直接接觸晶片不與工件直接接觸2.5.4橫波斜探頭的標(biāo)稱

11、方式橫波斜探頭的標(biāo)稱方式1.縱波入射角標(biāo)稱縱波入射角標(biāo)稱 30 ，45 等等2.橫波折射角標(biāo)稱橫波折射角標(biāo)稱 45 60 70等等3.橫波折射角的正切值橫波折射角的正切值K標(biāo)稱標(biāo)稱 k=1,1.5,2,2.5,3等等2.6 雙晶探頭雙晶探頭1.類型：一個發(fā)射類型：一個發(fā)射/一個接收一個接收雙晶縱波雙晶縱波雙晶橫波雙晶橫波2.特點：靈敏度高；雜波少盲區(qū)小特點：靈敏度高；雜波少盲區(qū)小 近場長度小延遲塊的采用）近場長度小延遲塊的采用） 探測范圍可調(diào)探測范圍可調(diào)主要用于探傷近表面缺陷。主要用于探傷近表面缺陷。 制作成本高，覆蓋深度有限。制作成本高，覆蓋深度有限。2.6.3 雙晶探頭結(jié)構(gòu)雙晶探頭結(jié)構(gòu)2.

12、7聚焦探頭聚焦探頭1.類型：點聚焦，線聚焦類型：點聚焦，線聚焦/水浸聚焦，接觸水浸聚焦，接觸聚焦聚焦2.特點：特點：點聚焦：靈敏度高，分辨力高；點聚焦：靈敏度高，分辨力高； 但覆蓋范圍??；但覆蓋范圍??；線聚焦：靈敏度高，線聚焦：靈敏度高， 覆蓋范圍略大。覆蓋范圍略大。2.8超聲探頭的型號超聲探頭的型號基本頻率基本頻率 晶片材料晶片材料 晶片尺寸晶片尺寸 探頭種類探頭種類 特征特征 MHz 元素縮寫符號元素縮寫符號 mm 拼音縮寫拼音縮寫 K，MM(1) 直探頭型號舉例直探頭型號舉例 2.5B20Z(2.5MHz,鈦酸鋇晶片，直徑鈦酸鋇晶片，直徑20mm，直探頭）直探頭）(2)斜探頭型號舉例斜探

13、頭型號舉例 5P86K1(5MHz,鋯鈦酸鉛晶片，鋯鈦酸鉛晶片，86mm，斜探頭，斜探頭，K=1）3試塊試塊3.1 定義：超聲檢測中，特定材料設(shè)計制定義：超聲檢測中，特定材料設(shè)計制作的有專門用途的試樣。作的有專門用途的試樣。3.2主要用途：主要用途： 1測試儀器和探頭性能測試儀器和探頭性能 2調(diào)節(jié)掃描速度和靈敏度調(diào)節(jié)掃描速度和靈敏度 3判定缺陷大小判定缺陷大小 4測定材料聲學(xué)性質(zhì)聲速，衰減等）測定材料聲學(xué)性質(zhì)聲速，衰減等）3.3試塊分類試塊分類1.來歷來歷 (1)標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊STB） 如如IIW和和IIW2試塊試塊 (2)參考試塊參考試塊/對比試塊對比試塊RB） 各部門依據(jù)具體檢測對象的探

14、傷需要制各部門依據(jù)具體檢測對象的探傷需要制定的試塊。定的試塊。 如如CS-I，CSK-IIA3.3試塊分類試塊分類2.反射體反射體 (1)平底孔試塊平底孔試塊 (2)橫孔試塊橫孔試塊(RB-3) (3)槽形試塊矩形槽，槽形試塊矩形槽，V形槽，形槽，U形槽）形槽） (4)自然缺陷試塊自然缺陷試塊 3.3試塊分類試塊分類4.用途用途 (1)鋼管試塊鋼管試塊 (2)鋼板試塊鋼板試塊(CB-II5平底孔）平底孔） (3)焊縫試塊焊縫試塊 (4)葉根試塊葉根試塊 1352309-22556.6414414全部6.320919919153R1R210 10 鋼、鋁壓力管道和管子焊接接頭超聲檢測對比試塊鋼、

15、鋁壓力管道和管子焊接接頭超聲檢測對比試塊3.4常用試塊常用試塊1.IIW試塊國際焊接協(xié)會試塊國際焊接協(xié)會/荷蘭荷蘭/船形）船形） (1)材質(zhì)：材質(zhì)：20g (2)用途用途 測定儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)測定儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍范圍 調(diào)節(jié)掃描速度和范圍調(diào)節(jié)掃描速度和范圍 測定直探頭與儀器的分辨力、盲區(qū)、測定直探頭與儀器的分辨力、盲區(qū)、最大穿透能力最大穿透能力 測定斜探頭的入射點、折射角測定斜探頭的入射點、折射角K值）、聲束偏斜。值）、聲束偏斜。1955年荷蘭人提出；1958年國際焊接學(xué)會通過并命名為IIW試塊；ISO組織推薦使用。 3.4常用試塊常用試塊2.CSK-IA (1)

16、臺階孔臺階孔 (2)階梯圓弧階梯圓弧 (3)折射角改為折射角改為K值值 (4)材質(zhì)一般同工件材質(zhì)一般同工件 有機玻璃CSK-IA 試塊3.4常用試塊常用試塊3.IIW2測定儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范測定儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍圍調(diào)節(jié)掃描速度和范圍調(diào)節(jié)掃描速度和范圍測定斜探頭的入射點、折射角測定斜探頭的入射點、折射角K值）值）調(diào)節(jié)靈敏度調(diào)節(jié)靈敏度3.4常用試塊常用試塊4.半圓試塊中心切槽半圓試塊中心切槽/不切槽）不切槽）測定儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范測定儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍圍調(diào)節(jié)掃描速度和范圍調(diào)節(jié)掃描速度和范圍測定斜探頭的入射點測定斜探頭的入射點調(diào)節(jié)靈敏度調(diào)節(jié)

17、靈敏度6 5 7 0400.40.4圖B.13 GD-23.4常用試塊常用試塊5.CS-1(26)，CS-2(66)試塊試塊（平底孔試塊）（平底孔試塊）儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍儀器的水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍測定平底孔測定平底孔AVG調(diào)節(jié)靈敏度，缺陷定量定位調(diào)節(jié)靈敏度，缺陷定量定位測定直探頭與儀器組合性能測定直探頭與儀器組合性能3.4常用試塊常用試塊6.CSK-A，CSK-A,CSK-A焊縫超聲探傷用橫孔試塊焊縫超聲探傷用橫孔試塊材質(zhì)與工件相同或相近。材質(zhì)與工件相同或相近。適用的厚度范圍不同適用的厚度范圍不同（8-120mm；120mm以上）以上）3.4常用試塊常用試塊7.RB試塊

18、試塊GB11345-89）焊縫超聲探傷用焊縫超聲探傷用3橫孔試塊橫孔試塊材質(zhì)與工件相同或相近。材質(zhì)與工件相同或相近。RB-1RB-2RB-33.5試塊的要求與維護試塊的要求與維護1.標(biāo)準(zhǔn)試塊、對比試塊的要求標(biāo)準(zhǔn)試塊、對比試塊的要求形狀要求：小，輕，宜加工，攜帶，適用；形狀要求：小，輕，宜加工，攜帶，適用；材質(zhì)要求：均勻，無雜質(zhì)，無影響使用的材質(zhì)要求：均勻，無雜質(zhì)，無影響使用的缺陷；缺陷； 標(biāo)準(zhǔn)試塊具有廣泛的代表性；標(biāo)準(zhǔn)試塊具有廣泛的代表性； 對比試塊材料聲學(xué)特性應(yīng)盡可對比試塊材料聲學(xué)特性應(yīng)盡可能與工件一致。能與工件一致。精度要求：平行度精度要求：平行度/垂直度垂直度/尺寸公差尺寸公差粗糙度：標(biāo)

19、準(zhǔn)試塊粗糙度：標(biāo)準(zhǔn)試塊/對比試塊對比試塊3.5試塊的要求與維護試塊的要求與維護2.試塊的維護試塊的維護1編號登記管理；編號登記管理；2運用、運輸中注意保護；運用、運輸中注意保護；3防銹的問題；防銹的問題；4使用時，清除反射體內(nèi)的油污；使用時，清除反射體內(nèi)的油污；5妥善保管，防止重壓和火烤，防止變形。妥善保管，防止重壓和火烤，防止變形。3.5試塊的要求與維護試塊的要求與維護2.試塊的維護試塊的維護1編號登記管理；編號登記管理；2運用、運輸中注意保護；運用、運輸中注意保護；3防銹的問題；防銹的問題；4使用時，清除反射體內(nèi)的油污；使用時，清除反射體內(nèi)的油污；5妥善保管，防止重壓和火烤，防止變形。妥善

20、保管，防止重壓和火烤，防止變形。3.6常用耦合劑及要求常用耦合劑及要求1.耦合耦合耦合的好壞影響超聲能量傳入工件的高低。耦合的好壞影響超聲能量傳入工件的高低。2.耦合劑的作用耦合劑的作用(1)排出空氣排出空氣(2)減小摩擦，便于操作減小摩擦，便于操作(3)保護探頭保護探頭3.6常用耦合劑及要求常用耦合劑及要求3.常用耦合劑的要求常用耦合劑的要求(1)潤濕工件和探頭表面，流動性、粘度和潤濕工件和探頭表面，流動性、粘度和附著力適當(dāng)，不難清洗；附著力適當(dāng)，不難清洗；(2)聲阻抗高，透聲性好；聲阻抗高，透聲性好；(3)來源廣，價格便宜；來源廣，價格便宜；(4)對工件、人體、環(huán)境無害；對工件、人體、環(huán)境

21、無害；(5)性能穩(wěn)定，容易保存。性能穩(wěn)定，容易保存。常用耦合劑常用耦合劑(1)水水 (2)甘油甘油 (3)機油機油 (4)化學(xué)化學(xué)漿糊漿糊3.6常用耦合劑及要求常用耦合劑及要求3.常用耦合劑的要求常用耦合劑的要求(1)潤濕工件和探頭表面，流動性、粘度和潤濕工件和探頭表面，流動性、粘度和附著力適當(dāng)，不難清洗；附著力適當(dāng)，不難清洗；(2)聲阻抗高，透聲性好；聲阻抗高，透聲性好；(3)來源廣，價格便宜；來源廣，價格便宜；(4)對工件、人體、環(huán)境無害；對工件、人體、環(huán)境無害；(5)性能穩(wěn)定，容易保存。性能穩(wěn)定，容易保存。常用耦合劑常用耦合劑(1)水水 (2)甘油甘油 (3)機油機油 (4)化學(xué)化學(xué)漿糊

22、漿糊4儀器和探頭性能及測試儀器和探頭性能及測試4.1儀器的性能儀器的性能1)垂直線性；垂直線性； 儀器的垂直線性是指儀器屏幕上的波高與探頭接收的儀器的垂直線性是指儀器屏幕上的波高與探頭接收的信號之間成正比的程度。垂直線性的好壞影響缺陷定信號之間成正比的程度。垂直線性的好壞影響缺陷定量精度。量精度。 垂直線性誤差垂直線性誤差5% （JB4730-2019）4.1儀器的性能儀器的性能2)水平線性水平線性 儀器水平線性是指儀器屏幕上時基線顯示的水平刻度儀器水平線性是指儀器屏幕上時基線顯示的水平刻度值與實際聲程之間成正比的程度，或者說是屏幕上多值與實際聲程之間成正比的程度，或者說是屏幕上多次底波等距離

23、的程度。儀器水平線性的好壞直接影響次底波等距離的程度。儀器水平線性的好壞直接影響測距精度，進而影響缺陷定位。測距精度，進而影響缺陷定位。水平線性誤差水平線性誤差1% （JB4730-2019）3)動態(tài)范圍動態(tài)范圍 動態(tài)范圍是指儀器屏幕容納信號大小的能力。動態(tài)范圍是指儀器屏幕容納信號大小的能力。 一般不得小于一般不得小于26dB。4.2探頭的性能探頭的性能1)斜探頭的入射點和前沿距離斜探頭的入射點和前沿距離斜探頭的入射點是指其主聲束軸線與探測面的交斜探頭的入射點是指其主聲束軸線與探測面的交點。入射點至探頭前沿的距離稱為探頭的前點。入射點至探頭前沿的距離稱為探頭的前沿長度。沿長度。 測定探頭的入射

24、點和前沿長度是為了便于對測定探頭的入射點和前沿長度是為了便于對缺陷定位和測定探頭的缺陷定位和測定探頭的K值。值。4.2探頭的性能探頭的性能2斜探頭斜探頭K值和折射角值和折射角斜探頭斜探頭K值是指被探工件中橫波折射角的正切值是指被探工件中橫波折射角的正切值。值。 （注意測定斜探頭的（注意測定斜探頭的K值或折射角也應(yīng)在近場值或折射角也應(yīng)在近場區(qū)以外進行。）區(qū)以外進行。）4.2探頭的性能探頭的性能3探頭主聲束偏離和雙峰探頭主聲束偏離和雙峰 探頭實際主聲束與其理論幾何中心軸線探頭實際主聲束與其理論幾何中心軸線的偏離程度稱為主聲束的偏離。的偏離程度稱為主聲束的偏離。 平行移動探頭，同一反射體產(chǎn)生兩個波平

25、行移動探頭，同一反射體產(chǎn)生兩個波峰的現(xiàn)象稱為雙峰。峰的現(xiàn)象稱為雙峰。 探頭主聲束偏離和雙峰，將會影響對缺探頭主聲束偏離和雙峰，將會影響對缺陷的定位和判別。陷的定位和判別。4.2探頭的性能探頭的性能n探頭聲束特性探頭聲束特性n探頭聲束特性是指探頭發(fā)射聲束的擴散探頭聲束特性是指探頭發(fā)射聲束的擴散情況，常用軸線上聲壓下降情況，常用軸線上聲壓下降6dB時探頭時探頭移動距離即某處的聲束寬度來表示。移動距離即某處的聲束寬度來表示。4.2綜合性能綜合性能1.靈敏度余量靈敏度余量 a)靈敏度一般是指整個探傷系統(tǒng)儀器和探頭發(fā)現(xiàn)最靈敏度一般是指整個探傷系統(tǒng)儀器和探頭發(fā)現(xiàn)最小缺陷的能力。發(fā)現(xiàn)缺陷愈小，靈敏度就愈高。小缺陷的能力。發(fā)現(xiàn)缺陷愈小，靈敏度就愈高。 b)儀器和探頭的靈敏度常用靈敏度余量來衡量。儀器和探頭的靈敏度常用靈敏度余量來衡量。 c)靈敏度余量，又叫儀器與探頭的綜合靈敏度；是指儀靈敏度余量，又叫儀器與探頭的綜合靈敏度；是指儀器最大輸出時增益、發(fā)射強度最大，衰減和抑制為器最大輸出時增益、發(fā)射強度最大，衰減