焊接質(zhì)量控制及評(píng)價(jià)實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書

1、焊接質(zhì)量控制與檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書郭玉波 崔琦編洛陽理工學(xué)院2014 年 02 月實(shí)驗(yàn)一 超聲波探傷儀探頭標(biāo)定實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、熟練掌握數(shù)字探傷儀的使用方法；2、掌握超聲波探傷儀探頭校準(zhǔn)方法3、理解探頭 K 值、探測靈敏度的含義。實(shí)驗(yàn)設(shè)備完成探頭如下標(biāo)定內(nèi)容：校距離、校 K 值、制作距離波幅曲線、確定檢測范圍、確定探傷靈敏度。1、PXUT-26OB 超聲波探傷儀2、CSK-IA 、 CSK-IIIA 試塊3、2.5PX13 K2 探頭六、實(shí)驗(yàn)方法1、校距離（或稱距離校準(zhǔn)） ：準(zhǔn)備好 CSK- A 型試塊和 2.5P 13 13K2 探頭,在儀器待命狀態(tài)下， 光標(biāo) 在 A 掃前閃動(dòng)， 按、鍵，推滾出“校

2、準(zhǔn)”功能 , 光標(biāo) 在掃查前閃動(dòng)，按 鍵進(jìn)入掃查，按 鍵，功能 窗顯示 ，按鍵，使顯示刻度變成 1:1，按鍵，功能窗顯示 ，按鍵，將 100mm左、右刻度移到觀察范圍內(nèi)。按兩次 鍵，功能窗顯示 ,按鍵將閘門拉寬到適當(dāng)寬度， 再按 鍵，功能窗顯示 ，按、鍵將閘門移動(dòng)套住 100mm 左、右的適當(dāng)范圍 ,見圖 1.圖1參考圖 2,移動(dòng)探頭 ,尋找 R100 圓弧的反射回波 ,按“峰值搜索”鍵，尋找最大反射回波，當(dāng)找到最大反射回波后，坐標(biāo)下方顯示S=××× mm，及×× %，此時(shí)， S 的值應(yīng)大于 100，大于的數(shù)既是超聲波在探頭楔塊中走過的距離，這

3、個(gè)數(shù)對(duì)我們計(jì)算被檢工件中的近場長度是非常重要的，×× %說明當(dāng)前回波高度，按 鍵退出掃查功能，光標(biāo)在掃查前閃動(dòng)按鍵，將光標(biāo)移至“校距離”前，按 鍵進(jìn)入校距離子功能，儀器自動(dòng)進(jìn)入閘門內(nèi)最大 回波搜索功能。移動(dòng)探頭，找到 R100 弧的反射波，按 dB 鍵，功能窗顯示“ dB ”，按、鍵， 將回波調(diào)至適當(dāng)高度 ,（注：也可用自動(dòng)增益鍵 ,將回波幅度自動(dòng)調(diào)到滿刻度的80%左、右）且回波一定要在閘門范圍以內(nèi)，否則需要重新調(diào)整閘門寬度及所在位置。輕微移動(dòng)探頭，找到最大 反射波。按 鍵退出“校距離”子功能。光標(biāo)重新在“校距離”前閃動(dòng)，表示已完成距離校準(zhǔn)。注：未完成距離校準(zhǔn)前， R100

4、 弧的反射波，在大于 100mm 刻度的某一位置出現(xiàn)，完成 上述操作后，其回波將自動(dòng)移至 100mm 刻度處見圖 3。圖 3按 鍵進(jìn)入校距離子功能，再按 鍵退出，坐標(biāo)下方同時(shí)顯示有關(guān)參數(shù)值。其中 S 表示對(duì) 已知 R100 弧的實(shí)測值，如果 100-S0.1mm，說明上述校準(zhǔn)精度不夠， 則需要重新校準(zhǔn)。 當(dāng)?shù)玫綕M意的精度時(shí)， 固定探頭， 用尺量出探頭至 R100 弧端點(diǎn)的距離， 并用 100 減去這個(gè)距離， 將差值輸入到探頭前 沿參數(shù)中。2、K 值校準(zhǔn)： 距離校準(zhǔn)結(jié)束后，將校準(zhǔn)參數(shù)設(shè)置為 15mm，坐標(biāo)選擇 H （垂直深度） ，其他參數(shù)不變。 在“校準(zhǔn)”功能中，按、鍵，將閃動(dòng)的光標(biāo)移到“掃查”

5、子功能前，按 鍵進(jìn)入“掃查” 子功能，按 鍵，功能顯示窗變成 ，按鍵將 15mm 刻度移到屏幕適當(dāng)位置，移動(dòng)探 頭在 15mm座標(biāo)附近找到 15mm 深的人工孔反射波， （ CSK- A 上的橫通孔）按 dB鍵，功能窗 變成 dB，按、鍵，將反射波幅度調(diào)至適當(dāng)高度（也可用自動(dòng)增益鍵直接調(diào)節(jié)）移動(dòng)并調(diào)節(jié) 閘門使其套住該反射波， 閘門移動(dòng)、 調(diào)節(jié)過程與距離校準(zhǔn)過程中閘門移動(dòng)調(diào)節(jié)相同。 按 鍵退出 “掃查”，光標(biāo)將在“掃查”前重新閃動(dòng)。按鍵將閃動(dòng)的光標(biāo)移到“校 K 值”子功能前，按 鍵進(jìn)入，找到最大反射波，按 鍵退 出校 K 值子功能，光標(biāo)將重新閃動(dòng)，表示 K 值校準(zhǔn)完畢，此時(shí)，被測探頭的實(shí)際 K

6、值顯示在坐 標(biāo)軸的左下方，參數(shù)表中的探頭 K 值同時(shí)被修改，見圖 4。圖43、制作距離波幅曲線： 距離波幅曲線在實(shí)際探傷中，可以直接同反射波進(jìn)行當(dāng)量大小比較。由于同一規(guī)格型號(hào)的 探頭其靈敏度、 K 值等項(xiàng)指標(biāo)均存有差別，所以在制作曲線時(shí)，一只探頭只能對(duì)應(yīng)一組曲線， 也就是說， 對(duì)于不同的探頭，需用不同的曲線圖， 彼此間不能互用。為方便現(xiàn)場探傷， QKS-958 型探傷儀可予先存入四組不同探頭分別制作的曲線。準(zhǔn)備好 CSK- A 標(biāo)準(zhǔn)試塊，在圖四狀態(tài)下，按鍵，推滾出波幅曲線功能，光標(biāo)在選 擇“ O”前閃動(dòng)，按 鍵進(jìn)入選擇子功能，光標(biāo)“ -”在選擇后閃動(dòng)，選擇范圍由“ 1-4”，如選擇 “ 1”，

7、按“ 1”鍵，再按 鍵，選擇結(jié)束，光標(biāo)重新在選擇前閃動(dòng)，按將閃動(dòng)的光標(biāo)移至制作 前， 按 鍵進(jìn)入， 閃動(dòng)的光標(biāo)“ -”在制作后閃動(dòng)，提示準(zhǔn)備用幾個(gè)不同深度的橫孔做制作點(diǎn)（要求最少三個(gè)點(diǎn)，最多九個(gè)點(diǎn)） ,如選用 3 個(gè)制作點(diǎn)，則按“ 3”鍵，再按 鍵。儀器進(jìn)入準(zhǔn)備制作 狀態(tài)，第 01 次提示可制作第一點(diǎn)，按 鍵，功能窗顯示 ，按或鍵，將 10mm 坐標(biāo) 移至整刻度，把探頭放在 10mm 深橫孔一側(cè)輕微移動(dòng)，找出該孔反射回波，調(diào)節(jié)閘門使其套住 該回波，按“ dB”鍵和、鍵將波高調(diào)至滿刻度的 80%（也可用自動(dòng)增益鍵調(diào)節(jié)波高 ），按“峰 值搜索”鍵，再輕微移動(dòng)探頭尋找最大反射波。確認(rèn)波高無誤后，按

8、鍵，第一點(diǎn)測試結(jié)束，儀 器自動(dòng)將測試結(jié)果記錄，此時(shí)第 02次提示可做第 2點(diǎn)，即用 20mm 深橫孔做測試點(diǎn)。按上述操 作步驟，將20mm、30mm 深橫孔的深度坐標(biāo)移至整刻度， 波高分別調(diào)至滿刻度的 80%進(jìn)行測試， 當(dāng)測試結(jié)束后， 儀器自動(dòng)繪制出一組曲線， 這組曲線就是在 CSK- A 試塊上，利用 10mm、20mm 、 30mm 深度 1×6 三個(gè)橫孔制作的，由上至下分別為判廢線、定量線、評(píng)定線，三條曲線形成 三個(gè)區(qū)域，“1、2、3”區(qū)，至此，曲線制作完畢，并自動(dòng)存入儀器內(nèi)，可長期掉電保存，見圖5。說明： 如執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)不同，即使用的試塊不同，則選用做測試點(diǎn)的橫孔深度不同，如使

9、用 SGB 試 塊則第一橫孔深度為 5mm，做出曲線的起始點(diǎn)對(duì)應(yīng)的深度坐標(biāo)H 值為 5mm，其它操作過程如上述。對(duì)“波幅曲線”功能中，選擇子功能有如下解釋：（1）選擇“ 1-4”，是對(duì)準(zhǔn)備使用的 4 只探頭制作的曲線進(jìn)行編號(hào)，并相互對(duì)應(yīng)。做完的曲 線已分別存入儀器內(nèi)部的曲線存儲(chǔ)區(qū)，與其它存儲(chǔ)方式不能混用。探傷時(shí)，使用哪一只探頭則 用選擇子功能調(diào)出與之相對(duì)應(yīng)的曲線。（2）對(duì)使用過的探頭需要重新測試或探頭已報(bào)廢，需要更換新的時(shí)，需重新做距離和值 校準(zhǔn)，并要重新制作曲線。如此時(shí)，其它探頭和與之對(duì)應(yīng)的曲線還沒有使用，而且不想將其報(bào) 廢，在選擇曲線存儲(chǔ)區(qū)時(shí)則要有針對(duì)性，因?yàn)槿魏我粋€(gè)存儲(chǔ)區(qū)只記憶最后一次存

10、入的信息，先 前存入的將被取消。（ 3）用準(zhǔn)備使用的探頭做完距離校準(zhǔn)、 K 值校準(zhǔn)和制作完曲線后，參數(shù)表中設(shè)置過的所有 參數(shù)都將隨曲線一起存儲(chǔ)起來，使用時(shí)調(diào)出與使用的探頭對(duì)應(yīng)的曲線則相應(yīng)的參數(shù)同時(shí)調(diào)出。（4）利用選擇子功能鍵調(diào)出要用的曲線，準(zhǔn)備探傷時(shí)，由于實(shí)際探傷過程中被檢工件的厚 度經(jīng)常變化，因此，參數(shù)表中工件厚度這項(xiàng)參數(shù)要隨之進(jìn)行修改，使之與實(shí)際被檢工件厚度相 同，否則，在利用焊縫判傷圖形確定缺陷在焊縫中具體位置時(shí)，將出現(xiàn)錯(cuò)誤。實(shí)際探傷中，有 時(shí)需要用 L（水平）或 H（深度）做坐標(biāo)，用“選擇”子功能調(diào)出曲線后，也要將參數(shù)中的坐標(biāo)一項(xiàng) 做相應(yīng)的設(shè)置 .4、確定檢測范圍： 在圖五狀態(tài)下，按鍵

11、，儀器顯示圖 6。圖6光標(biāo) 在 A 掃前閃動(dòng)，按 鍵進(jìn)入 A 掃，此時(shí)坐標(biāo)顯示 H（深度），現(xiàn)場探傷使用深度（ H） 坐標(biāo)較為方便，這里不做變化，觀看圖六坐標(biāo)顯示最大范圍為24.2mm ，實(shí)際探傷時(shí)坐標(biāo)顯示的最大范圍應(yīng)大于被檢工件厚度的兩倍。按 鍵，功能顯示 ，按鍵，坐標(biāo)顯示最大范 圍為 48.4mm ，按鍵，功能窗顯示 ，按或鍵，將閘門 的左側(cè)起點(diǎn)移至曲線的起點(diǎn)一齊，再按 鍵，功能窗顯示 ，按鍵，將閘門拉寬到 H 坐標(biāo) 40mm 的位置，檢測 范圍確定完畢。5、確定探傷靈敏度：在圖 6 基礎(chǔ)上，按 dB 鍵，功能窗顯示 dB ，按鍵，將定量線起點(diǎn)升高至滿屏的80%,見圖七，探傷靈敏度確定完畢

12、。圖7七、思考題 （任選一題 ）1、為何進(jìn)行探頭校準(zhǔn)？校準(zhǔn)的主要方法是什么？ 2、超聲波探傷儀的使用需注意哪些問題？ 3、何為 K 值校準(zhǔn)？實(shí)驗(yàn)二： 焊縫超聲波探傷實(shí)驗(yàn)一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康氖炀氄莆?PXUT26OB+ 數(shù)字型超聲波探傷儀使用方法。熟練掌握橫波探測焊縫缺陷的方法。三、實(shí)驗(yàn)設(shè)備1、PXUT260B+ 數(shù)字超聲波探傷儀2、橫波斜探頭 : 2.5M13 1×3K2 3、標(biāo)準(zhǔn)試塊 :CSK-IB 、 CSK-3A4、 20mm 厚鋼板的對(duì)接焊縫5、耦合劑 （如 :機(jī)油等 ）四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及步驟（一） .探傷檢測前的準(zhǔn)備1.PXUT260B+ 數(shù)字超聲波探傷儀2.橫波斜探頭 : 2.5M1

13、3 1×3K273. 標(biāo)準(zhǔn)試塊 :CSK-IB 、CSK-3A4.30mm 厚鋼板的對(duì)接焊縫5.DAC 參數(shù) :（1）DAC 點(diǎn)數(shù):d=5、10、15、20（mm）的 4 點(diǎn)（2）判廢線偏移量 :+5dB（3）定量線偏移量 :-3dB（4）評(píng)定線偏移量 :-9dB6. 耦合劑 （如:機(jī)油等 ）（二）.探測面的選擇焊縫一側(cè)（三）.開機(jī)1. 將探頭和超聲探傷儀連接2. 開啟面板開關(guān) ，開機(jī)自檢，約 5 秒鐘進(jìn)入探傷界面。3. 快速基本設(shè)置 :1）按鍵，使屏幕下方顯示 “基本”、 “收發(fā)”、 “閘門”、 “通道”、 “探頭”五個(gè)功能主菜單。2）按“ F1鍵”，進(jìn)入“基本”功能組，將“基本”

14、功能內(nèi)的“探測范圍”調(diào)為“ 150，”將“材料聲速” 調(diào)為“3230，”將“脈沖移位”調(diào)為“0.，0 將“探頭零點(diǎn)”調(diào)為“0.00?！?）按下 F2鍵，進(jìn)入“收發(fā)”功能組，將“收發(fā)”功能內(nèi)的“探頭方式”調(diào)為“單晶”，將“回波抑 制”調(diào)為“0%”。4）按下 F3 鍵，進(jìn)入“閘門”功能組，將“閘門報(bào)警”調(diào)為“關(guān)”，將“閘門寬度”調(diào)為“ 20.0，” 將“閘門高度”調(diào)為“50%”。（此條內(nèi)容的調(diào)整可根據(jù)使用者的習(xí)慣而定）。5）按下 F4鍵，進(jìn)入“通道”功能組，將“探傷通道”調(diào)為所需的未存儲(chǔ)曲線的通道， 如“ No.1，” 此時(shí)“設(shè)置調(diào)出”、“設(shè)置保存”和“設(shè)置刪除”均默認(rèn)顯示為“關(guān)”。6）按下 F5

15、鍵，進(jìn)入“探頭”功能組，將“探頭 K值”調(diào)為“ 0.00，”將“工件厚度”調(diào)為“ 50.0，” 將“探頭前沿”調(diào)為“0.00，”將“標(biāo)度方式”調(diào)為“聲程”。7）按一下鍵，使屏幕下方顯示 “增益”、 “ DAC1”、 “ DAC2”“VGA1”“AVG2”五個(gè)功能主菜 單。8）按下 F1 鍵，進(jìn)入“增益”功能組，將全部內(nèi)容均調(diào)為 “關(guān)”。9）按下 F2鍵，進(jìn)入“ DAC1”功能組，將“ DAC曲線”調(diào)為“開”，將“ DAC標(biāo)定點(diǎn)”調(diào)為“ 0，” 將“顯示標(biāo)定”調(diào)為“開”。此時(shí)對(duì)應(yīng) F3鍵的“DAC2”、對(duì)應(yīng) F4 鍵的“AVG1”和對(duì)應(yīng) F5鍵的“AVG2”三個(gè)菜單均不需 做任何設(shè)置 ;如果此時(shí)

16、再按一下 鍵，屏幕下方顯示 “B掃描”、“ 屏?！薄?“存儲(chǔ)”、 “ 設(shè)置”高“級(jí)” 五個(gè)功能主菜單，用傳統(tǒng)方法校準(zhǔn)斜探頭，這五個(gè)菜單也均不需做任何設(shè)置。注:進(jìn)入各項(xiàng)功能后利用 “方向鍵”，將亮條移動(dòng)到所需調(diào)整的項(xiàng)，利用“+”或“-”鍵調(diào)整數(shù)8 值?；驹O(shè)置調(diào)整完畢。(四) .校準(zhǔn)1. 探頭前沿校準(zhǔn)(1) 如圖 1所示，將探頭放在 CSK-1B 標(biāo)準(zhǔn)試塊的 0 位上(2) 前后移動(dòng)探頭，使試塊 R100 圓弧面的回波幅度最高，回波幅度不要超出屏幕，否則 需要減小增益。(3) 當(dāng)回波幅度達(dá)到最高時(shí)，保持探頭不動(dòng)，在與試塊“ 0刻”度對(duì)應(yīng)的探頭側(cè)面作好標(biāo)記，這點(diǎn)就是波束的入射點(diǎn)，從探頭刻度尺上直接

17、讀出試塊“0刻”度所對(duì)應(yīng)的刻度值，即為探頭的前沿值。(或用刻度尺測量圖 1所示 L值，前沿x=100-L 。)，將探頭前沿值輸入 “探頭”功能內(nèi)的 “探 頭前沿 ”中，探頭前沿測定完畢。(圖 1:CSK-IA 試塊校測零點(diǎn)和前沿示意圖 )2. 探頭零點(diǎn)的校準(zhǔn)按圖 1 的方法放置探頭，用閘門套住最高波，調(diào)整探頭零點(diǎn) 此時(shí)，保持探頭位置不動(dòng)，用閘門套住 R100 圓弧的反射波，調(diào)整基本功能組中的 “探頭 零點(diǎn)”的數(shù)值，直到聲程 S=100為止， “探頭零點(diǎn) ”調(diào)整完畢。3. 探頭 K 值校準(zhǔn) (折射角的校準(zhǔn) 由于被測物的材質(zhì)和楔塊的磨損會(huì)使探頭的實(shí)際 K 值與標(biāo)稱值有一些誤差。因此需要測 定探頭的

18、實(shí)際 K 值。校準(zhǔn)步驟如下 :(1)如圖 2 將探頭放在 CSK-1A 標(biāo)準(zhǔn)試塊的適當(dāng)?shù)慕嵌葮?biāo)記上。 (2)前后移動(dòng)探頭，找到試塊邊上大圓孔的回波波峰時(shí)，保持探頭不動(dòng)。(3) 在試塊上讀出入射點(diǎn)與試塊上對(duì)齊的K 值，這個(gè)角度為探頭的實(shí)際 K 值， (或者通過計(jì)算斜率校準(zhǔn) ,見下圖 2)，將此值輸入 “探頭 ”功能組中的 “K值”。（圖 2:折射角的校準(zhǔn) ）五、制作 DAC 曲線用 CSK-3A 試塊制作 DAC 曲線第一步 :移動(dòng)探頭找到孔深為 10mm 的最高回波，并將 A 閘門套住此波，按 “+”鍵，使標(biāo) 定點(diǎn)增加為 “1”;第二步 :移動(dòng)探頭找到孔深為 20mm 的最高回波，并將 A 閘

19、門套住此波，按 “+”鍵，使標(biāo) 定點(diǎn)增加為 “2”;此時(shí)已添加了 2 個(gè)標(biāo)定點(diǎn)， DAC 曲線已經(jīng)生成。 根據(jù)探傷需要， 可以繼續(xù)找到孔深為 30、40、 50mm等反射體的最高回波，使標(biāo)定點(diǎn)增加為3、4、5，DAC 曲線制作完畢。第三步 :輸入標(biāo)準(zhǔn)和補(bǔ)償在 DAC2 菜單上，將判費(fèi)線偏移量設(shè)置為 +5dB ，定量線偏移量設(shè)置為 -3dB ，評(píng)定線偏移 量設(shè)置為 -9dB 。試塊類型板 厚 mm評(píng)定線定量線叛廢線10CSK-II646 2 × 4-018dB 2 × 4-012dB 2 × 4-40dBA46120 2 × 4-014dB 2 ×

20、; 4-08dB2× 40+2dBCSK-II815 1 ×-612dB 1 ×-66dB1× 6+2dBIA1546 1 ×-69dB 1 ×-63dB 1 × 6+5dB46120 1 ×-66dB 1 ×61× 6+10dBACSK-120400d-16dBd-10dBd六、現(xiàn)場探傷1. 開機(jī)后，選擇通道號(hào)，調(diào)出 dac 曲線，將標(biāo)度方式設(shè)置為深度 （或水平 ），設(shè)置表面補(bǔ)償 dB 數(shù)（一般輸入補(bǔ)償 24dB） 。2. 將“探頭”功能中的 “工件厚度 ”調(diào)為板厚的 2 倍，以保證屏幕能顯示

21、探頭的二次波掃查波形，避 免漏檢。3. 探傷時(shí)一般是使探頭垂直焊口走向并沿焊口走向做鋸齒型掃查（ 即探頭運(yùn)動(dòng)軌跡為鋸齒型）;計(jì)算方法 :起點(diǎn) （位置 2）:0終點(diǎn)（位置 2）:S=2KT=2×2×25=100mm （其中 K 表示探頭斜率， T 表示工件厚度 ） 5. 探頭沿焊口走向 （ 左右）移動(dòng)的速度 : 1.5米 /分七. 存儲(chǔ)探傷波形和數(shù)據(jù) 將探傷波形和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到相應(yīng)組號(hào)。八 .將 TUG500 與計(jì)算機(jī)連接，將探傷波形和數(shù)據(jù)上傳到計(jì)算機(jī)，生成探傷報(bào)告。11實(shí)驗(yàn)三：滲透探傷實(shí)驗(yàn)一、實(shí)驗(yàn)驗(yàn)?zāi)康?、掌握滲透探傷的方法和過程。2、了解滲透探傷靈敏度的控制方法。二、實(shí)驗(yàn)材料

22、1、著色滲透劑一瓶2、清洗劑一瓶3、顯象劑一瓶4、輻射狀滲透探傷靈敏度試塊一塊5、表面開裂的試件一個(gè)三、實(shí)驗(yàn)原理滲透探傷方法是利用具有高滲透性的液體作為滲透劑，將它噴或涂敷在工件表面時(shí)，若工 粹表面具有開口型的氣孔、裂紋等缺陷時(shí)，滲透劑就會(huì)滲透至缺陷的內(nèi)部。當(dāng)工件表面的滲透 劑被清洗之后，由于缺陷內(nèi)部有滲透劑殘留，所以在用顯象劑噴涂敷在工件表面上，進(jìn)行顯像 時(shí)，缺陷處的的滲透劑將被顯像劑吸附出來而顯示缺陷的大小及形象的方法。因此滲透探傷法 只能探測工件表面的開口型缺陷。依據(jù)滲透探傷時(shí)，所用滲透劑的特性不同，滲透探傷又分為 二種。 一種是使用摻有紅色染料的滲透劑 （稱為著色探傷 ）。另一種是使用

23、摻有熒光物質(zhì)的滲透劑 （ 稱為熒光探傷 ）。著色探傷在顯像后，可以在日光下依據(jù)紅色染料的痕跡來判定缺陷的有無，缺陷的大小及 形象。而熒光探傷在顯象后必須用紫外線燈照射，然后在黑暗處依據(jù)熒光物質(zhì)所發(fā)出的黃色或 綠色熒光的有無及痕跡來判定敏陷的有無及缺陷的大小及形象。四、實(shí)驗(yàn)方法及步驟12本實(shí)驗(yàn)采用著色滲透探傷法進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。探傷前首先應(yīng)清洗工件表面的銹、油漆、油漆、水 分等影響滲透劑滲透的障礙。可酸洗去銹，熱水煮去油或堿洗去油，噴砂去除氧化皮等，然后 干燥去水。工件表面清洗之后即可進(jìn)行探傷。l、滲透：在工件表面噴或涂敷滲透劑，并在室溫下l 540°C 保持 lO20 分鐘，以保證滲透劑能有足夠的時(shí)問滲透至缺陷中去。2、清洗：洗去工件外表面的滲透劑?？捎貌料?、水洗或者用溶劑洗。水洗時(shí)，可用水壓1.5 3kg cm2 的水進(jìn)行沖洗，洗凈為原則。溶劑洗時(shí)，因溶劑昂貴，可用沾有溶劑的棉紗擦洗，洗凈為原