S.M.A.R.T 參數(shù)解析

1、S.M.A.R.T 參數(shù)解析S.M.A.R.T(Self Monitoring Analysis and Reporting Technology /自我監(jiān)測、分析與報告技術(shù)是為了提高硬盤數(shù)據(jù)的安全性而開發(fā)的。它可以使硬盤實時檢查自身的狀態(tài),通過一定機理及時分析出潛在的問題,報告給系統(tǒng),有時甚至能給出預(yù)計的硬盤故障日期,實際就是一種預(yù)警技術(shù)。這個功能可以比較客觀的反映硬盤目前的健康狀況。 提示:該硬盤沒有任何損壞。因為SATA數(shù)據(jù)線曾經(jīng)被多次拔插過,造成SATA數(shù)據(jù)線接口處,金屬彈簧觸片磨損氧化、彈性下降引起的接觸不良。使(C7值上升。故障表現(xiàn):電腦卡死、藍屏、無法開機。甚至硬盤丟失(BIOS

2、里也沒有硬盤信息運行一些程序時會彈出警告: (C7值也不再增加。后來網(wǎng)上查看資料,SATA 數(shù)據(jù)線有弊端:就是SATA 數(shù)據(jù)線拔插次數(shù)有限,質(zhì)量差的,拔插幾次就沒用了。Value/Current(當(dāng)前值 當(dāng)前硬盤該屬性的值。Worst(最壞值 該屬性出現(xiàn)過的峰值。Threshold/Warn(閾值/臨界/極限值 硬盤廠商所規(guī)定的該屬性峰值。如果某個屬性超過Threshold 規(guī)定的極限值時,就表示你的硬盤可能出現(xiàn)了問題。Raw Values/Data (Raw 值/數(shù)據(jù)。和該屬性有關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)總值。怎么看這類屬性?主要是看Raw 和Worst 的值是否還在臨界值之內(nèi)(>或<臨界值一般

3、使用軟件如HDTune 、CrystalDiskInfo 等,一般屬性中有黃色或者紅色你就要注意了,硬盤可能快壞了,要是還在保修期內(nèi),就趕緊備份數(shù)據(jù),送去檢修。下面我們來介紹各個屬性(按2010年2月11日 維基百科 上的解釋 指從磁盤表面讀取數(shù)據(jù)時發(fā)生的硬件讀取錯誤的比率,Raw 值對于不同的廠商有著不同的體系,單純看做1個十進制數(shù)字是沒有任何意義的。*以上為Wiki 上的英文翻譯版本,此屬性貌似存在分歧,有的說值高了好,有的說低了好,此處我們還是按照Wiki 上的吧,反正只要 Worst 不小于 Threshold 就行了。*這里的Raw 值也可能不同,比如我筆記本上的ST 硬盤就Raw

4、為0,而臺式機上1.5T 的ST 就為227901540。 Raw 值越高越好整體(普通的硬盤驅(qū)動器的吞吐性能。如果這個屬性的值一直在下降有很大的可能性是硬盤有問題了。* 一般在進行了人工 Offline S.M.A.R.T. 測試以后才會有值。 Raw 值越低越好主軸旋轉(zhuǎn)加速的平均時間(從零轉(zhuǎn)速到完全運轉(zhuǎn)(標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)速毫秒。單位也可能為秒。 如果是0的話證明這一項沒有讀對,或者是這一項的數(shù)據(jù)生成錯誤。不應(yīng)該出現(xiàn)0的結(jié)果。 馬達 啟動/停止 周期的計數(shù)。當(dāng)馬達啟動或硬盤完全停止工作后(斷開電源啟動和硬盤從睡眠模式回復(fù)到先前狀態(tài),計數(shù)都會增加。*一般來說開機一次這個就加1,也可以看做是通電次數(shù),這一

5、般是個壽命參考值,本身不具有任何指標(biāo)性,購買硬盤時可以參考此值。 Raw 值越低越好對重新分配的扇區(qū)的計數(shù),當(dāng)硬盤發(fā)現(xiàn)一個 讀取/寫入/校驗 錯誤時它將這個扇區(qū)標(biāo)示為“重新分配”,并且將數(shù)據(jù)傳輸?shù)揭粋€特殊的保留區(qū)(空閑區(qū)。這個過程也稱為是“重定向”,這個重新分配的扇區(qū)叫做“重新映射”。這就是為什么,現(xiàn)在的硬盤當(dāng)進行表面測試的時候是找不到“壞塊”的,所有的壞塊都被隱藏在重新分配的扇區(qū)中。然而,隨著重新定位的扇區(qū)增加,讀取/寫入速度趨向于降低。Raw 值通常代表一系列已經(jīng)發(fā)現(xiàn)和重映射的壞扇區(qū),因此,這個屬性值越高,硬盤就有越多的扇區(qū)被重定位,所以這個值是越小越好。* 理想情況下這個值應(yīng)該為0,如果

6、不為0也不要太驚慌,而是應(yīng)該比較密切的關(guān)注這個值的變化情況:如果連續(xù)幾周沒有變化,那你應(yīng)該可以放心的繼續(xù)使用比較長的一段時間;如果這個值持續(xù)攀升,那么請盡快備份所有數(shù)據(jù),并考慮購買新硬盤。 磁頭尋道錯誤的比率,如果機械定位系統(tǒng)中有局部的故障,那么尋道錯誤率會增加,這種故障是多種因素造成的。Raw 值對于不同的廠商有著不同的體系,單純看做1個十進制數(shù)字是沒有任何意義的 磁頭尋道操作的平均性能,如果這個屬性的值持續(xù)下降,這是機械子系統(tǒng)有問題的標(biāo)志 通電時間計數(shù),Raw 值顯示在通電狀態(tài)下的總小時數(shù)(或者是 分鐘,秒,取決于制造商 磁盤加電時間。初始值的字段顯示為此裝置總開機時間的累計。* 參考磁盤

7、廠家給的該款硬盤的 MTBF(平均故障間隔時間 可以估計故障概率。但是也有可能超過MTBF 而不會出現(xiàn)故障,因為統(tǒng)計數(shù)據(jù)對于個體來說是不精確的,是一個壽命參考值,本身不具任何指標(biāo)性。*購買硬盤時可以看此值,新的硬盤一般為0或者幾十以內(nèi),過分大的可能就是被人用過了。 Raw 值越低越好馬達重試啟動嘗試的的總數(shù),這個屬性存儲馬達嘗試啟動的到全速運轉(zhuǎn)(第一次嘗試失敗的情況的總數(shù),這個屬性的值的上升,是硬盤機械子系統(tǒng)有問題的標(biāo)志 * 理想情況應(yīng)該為0,在某些情況下可能人為造成這個值的非故障升高,比如電壓供給不足。 Calibration_Retry_Count / 校準(zhǔn)重試計數(shù)Raw 值越低越好這個屬

8、性指被要求重新校驗的次數(shù)(第一次嘗試失敗的情況下。這個屬性的值的上升,是硬盤機械子系統(tǒng)有問題的標(biāo)志 這個屬性是指這個硬盤電源 開/關(guān) 周期的總數(shù)。 Raw 值越低越好報告給操作系統(tǒng)的未修正的讀取錯誤。 高值暗示有扇區(qū)不穩(wěn)定。 Raw 值越低越好這個屬性是HP 的SMART IV 技術(shù)的一部分,它表示傳輸通過高速緩存內(nèi)存數(shù)據(jù)緩沖區(qū)后主機和硬盤驅(qū)動器間的校驗數(shù)據(jù)不匹配。 西部數(shù)據(jù)的屬性。 不能使用硬件ECC 恢復(fù)的錯誤總數(shù)。 Raw 值越低越好因為HDD 超時導(dǎo)致放棄操作的數(shù)量,通常情況下,這個屬性值應(yīng)該等于0,如果這個只遠遠高于0,那么,很可能電源供應(yīng)有很嚴(yán)重的問題,或者數(shù)據(jù)線被氧化。 Raw

9、值越低越好HDD 生產(chǎn)商實現(xiàn) 一個飛行高度監(jiān)視器來嘗試對于檢測到記錄頭正在飛出它的正常操作范圍時的寫入操作提供額外的保護,如果發(fā)生不安全的飛行高度條件,寫入進程停止工作,信息將被重寫或者重定向到磁盤上一個安全的區(qū)域。這個顯示在硬盤生命周期內(nèi)檢測到的這些錯誤的總數(shù)。這個特性實現(xiàn)在大多數(shù)現(xiàn)代的希捷驅(qū)動器和一些西部數(shù)據(jù)的驅(qū)動器中,西部數(shù)據(jù)驅(qū)動器開始于 WD 企業(yè)級WDE18300和WDE9180 Ultra2 SCSI 硬盤驅(qū)動器,它將被包含在未來所有西部數(shù)據(jù)企業(yè)級產(chǎn)品中。 Raw 值越低越好西部數(shù)據(jù)硬盤上的氣流溫度(和C2的 Temperature 數(shù)值一樣,但是在有些型號上臂當(dāng)前值會少50.此值

10、已經(jīng)廢棄了。 值和 (100 溫度°C相同, 允許制造商對于符合的最高溫度設(shè)置一個最小限制(可能是希捷專有?。 Raw 值越低越好因外來的沖擊和震動導(dǎo)致的錯誤數(shù)。 Emergency Retract Cycle Count (Fujitsu / 緊急回縮周期計數(shù)(富士通Raw值越低越好磁頭被載離媒體的次數(shù)計數(shù)。磁頭能在沒完全斷電的前縮回。*這個屬性所顯示的數(shù)字表示這塊磁盤自動關(guān)機(突然斷電的次數(shù)。 Raw值越低越好從磁頭零區(qū)域加載/卸載(升降周期的次數(shù)。通常的便攜式電腦(2.5英寸加載(伸出周期的壽命為200,000到600,000 ,一些便攜式電腦的驅(qū)動器被設(shè)計成當(dāng)5秒內(nèi)沒有任何活

11、動時就卸載(縮回磁頭。許多Linux安裝程序后臺1分鐘內(nèi)只寫入文件系統(tǒng)幾次。因此,每小時可能有100或更多次的磁頭加載(伸出周期,并且可能在1年之內(nèi)就超出磁頭伸出周期額定值。*這是一個壽命參考值,本身不具任何指標(biāo)性。 Raw值越低越好當(dāng)前的內(nèi)部溫度。* 具體溫度極限參考硬盤廠家各款硬盤的技術(shù)指標(biāo)。 Raw值越低越好重新映射操作的計數(shù)。這個屬性的Raw值顯示了總的嘗試從重新分配扇區(qū)轉(zhuǎn)移數(shù)據(jù)到空閑空間的次數(shù)。不管成功與否都會被記錄。* 這個計數(shù)就包含了上次讀操作有錯誤的不穩(wěn)定扇區(qū)。如果下次這些扇區(qū)讀操作無錯誤,這個值可能減少。 Raw值越低越好“不穩(wěn)定”扇區(qū)總數(shù)(因為讀取錯誤,等待重新映射。如果一

12、個不穩(wěn)定的扇區(qū)隨后能成功寫入或讀取,這個值將降低,這個扇區(qū)將不被重新映射。一個讀寫錯誤的扇區(qū)不會被重新映射(因為以后它有可能又能讀寫;取而代之的是,驅(qū)動器固件將記住此扇區(qū)需要被重新映射。并且會在當(dāng)其被寫入時重新映射。*這里有個問題,即當(dāng)被固件記錄后,有些文章寫到只有在寫入出錯的時候它才會被重新映射,而Wiki上的原文是“and remaps it the next time it's written.”故這里標(biāo)記一下。 通Raw值越低越好讀寫錯誤不能被校正的扇區(qū)總數(shù)。這個屬性值的升高意味著盤片表面有缺陷或者是機械子系統(tǒng)有問題。* 這些扇區(qū)目前已經(jīng)不能讀取， 如果有文件使用這些扇區(qū)， 則

13、操作系統(tǒng)會返回讀取錯誤； 當(dāng)下一次寫操作發(fā)生時硬盤會對扇區(qū)自動重定位； 同時， 重定位扇區(qū)計數(shù) (Reallocated Sector Count增加，這個值減少。 199 C7 =UltraDMA CRC Error Count / Ultra DMA CRC 錯誤計數(shù) Raw 值越低越好 在數(shù)據(jù)傳輸錯通過接口電纜時被 ICRC(接口循環(huán)冗余校驗所確定的錯誤總數(shù)。 * 如果這個值不為 0，而且繼續(xù)增加，則表示 硬盤控制器-數(shù)據(jù)線-硬盤接口 有錯誤發(fā) 生?？梢詸z查一下接口和數(shù)據(jù)線。 200 C8 =Multi-Zone Error Rate (Western Digital / 多區(qū)域錯誤率(

14、西部數(shù)據(jù) Raw 值越低越好 200 C8 =Write Error Rate (Fujitsu / 寫入錯誤率(富士通 Raw 值越低越好 當(dāng)寫入一個扇區(qū)時錯誤的總數(shù)。 * 一般不為零也不要緊，但是如果持續(xù)快速升高，暗示盤體/磁頭機械有問題。 201 C9 =Soft Read Error Rate / 軟讀出誤碼率(可校正讀出誤碼率 Raw 值越低越好 202 CA =Data Address Mark errors / 數(shù)據(jù)地址標(biāo)記錯誤 Raw 值越低越好 數(shù)據(jù)地址標(biāo)記錯誤(或供應(yīng)商特有 203 CB =Run Out Cancel / ECC 錯誤發(fā)生率 ECC Errors (Max

15、tor / ECC 錯誤 (邁拓 Raw 值越低越好 ECC 錯誤的數(shù)量。 204 CC =Soft ECC Correction / 軟件 ECC 校正 Raw 值越低越好 因軟件 ECC 導(dǎo)致的錯誤總數(shù)。 205 CD =Thermal Asperity Rate (TAR / 過溫率 Raw 值越低越好 因溫度過高導(dǎo)致的錯誤數(shù)量。 *溫度過高的頻率，代表主軸馬達可能受損，或是散熱不良。 206 CE =Flying Height / 飛行高度 磁頭離盤片表面的高度。太低將增加頭部撞擊機率，太高將增加讀取錯誤機率。 207 CF =Spin High Current / 旋上高電流 Raw

16、 值越低越好 當(dāng)前用來使驅(qū)動器馬達旋轉(zhuǎn)所用的電涌(電流量。 *也有資料寫：主軸馬達旋轉(zhuǎn)時所使用的電流量，耗電量變大意味著軸承可能磨損。 208 D0 =Spin Buzz 因電力不足所啟動馬達所需的重試次數(shù)。 209 D1 =Offline Seek Performance / 離線尋軌性能 驅(qū)動器內(nèi)部測試時的尋道性能。 211 D3 =Vibration During Write / 寫入時震動 寫入時震動。 212 D4 =Shock During Write / 寫入時受沖擊 寫入時受沖擊。 220 DC =Disk Shift / 磁盤移位 Raw 值越低越好 盤片對于軸心的位移距離(

17、通常是由于沖擊或者熱漲冷縮,衡量單位未知。 *通常由強烈的撞擊或墜落造成。 221 DD =G-Sense Error Rate / 加速度錯誤率(震動偵測錯誤率 Raw 值越低越好 因外來的沖擊和震動導(dǎo)致的錯誤數(shù)。 222 DE =Loaded Hours / 作業(yè)時間 數(shù)據(jù)加載操作時所花費的時間。 (磁頭電樞的運動 223 DF =Load/Unload Retry Count / 磁頭升降重試次數(shù) 磁頭改變位置的次數(shù)。 224 E0 =Load Friction / 加載摩擦 Raw 值越低越好 在運行時因機械部分的摩擦而產(chǎn)生的阻力。 225 E1 =Load/Unload Cycle

18、Count / 磁頭升降周期計數(shù) Raw 值越低越好 加載(伸出周期總數(shù)。 226 E2 =Load 'In'-time / 載入時間 加載磁頭的總時間(不計在停放區(qū)所花費的時間。 227 E3 =Torque Amplification Count /扭矩放大計數(shù) Raw 值越低越好 嘗試彌補盤片速度變化的次數(shù)。 228 E4 =Power-Off Retract Cycle / 斷電磁頭縮回周期 Raw 值越低越好 磁頭電樞因為斷電自動縮回的次數(shù)。 230 E6 =GMR Head Amplitude / 巨磁電阻頭振幅 “顛簸”(重復(fù)前進/后退磁頭動作的距離的振幅。 231 E7 =Temperature / 溫度 Raw 值越低越好 驅(qū)動器溫度。 240 F0 =Head Flying Hours / 磁頭飛行小時 磁頭在定位的時間。 *這是一個壽命參考值，但本身不具任何指標(biāo)性。 240 F0 =Transfer Error Rate (Fujitsu / 傳輸錯誤率(富士通 數(shù)據(jù)傳輸時