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文檔簡介

1、標(biāo)準(zhǔn)超聲波檢測工藝規(guī)程制定2015/09/281、目的1目的本工藝規(guī)程是根據(jù)NB/T470132015承壓設(shè)備無損檢測的第1部分:通用要求和第3部分:超聲檢測,并結(jié)合我公司的實(shí)際情況進(jìn)行制定。凡按國內(nèi)規(guī)范設(shè)計(jì)、制造的鍋爐、壓力容器需作超聲檢測時(shí),均應(yīng)執(zhí)行本工藝。本工藝自實(shí)施之日起,代替CKM-163002/06C。2、適用范圍本工藝規(guī)定了鍋爐、壓力容器及承壓設(shè)備管子采用A型脈沖反射式超聲探傷儀檢測工件焊接接接頭的超聲檢測方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定要求。且適用于鋼板、鍛件超聲檢測以及超聲測厚方法。文件編制部門質(zhì)控部編制人校對(duì)人部門負(fù)責(zé)人會(huì)簽欄審批人 生效日期分發(fā)部門部門份數(shù)部門份數(shù)經(jīng)理部4管理部0技術(shù)部

2、2生產(chǎn)管理部0制造部1質(zhì)控部2采購部0財(cái)務(wù)部0營業(yè)部0修訂編號(hào) 年月日 修訂記錄 R0 2007.11.18 R1 2009.07.01 標(biāo)準(zhǔn)改版 R2 2010.06.01 換版 R3 2011.05.19 換版R4 2012.07.01 換版R5 2013.07.01 換版R6 2014.06.06 換版R6 2015.09.28 換版3本工藝依據(jù)下列標(biāo)準(zhǔn)、法規(guī)及技術(shù)文件GB/T12604.1 無損檢測術(shù)語 超聲檢測TSG Z8001-2013 特種設(shè)備無損檢測人員資格考核與監(jiān)督管理規(guī)則NB/T47013.1-2015 承壓設(shè)備無損檢測 第1部分:通用要求NB/T47013.3-2015

3、承壓設(shè)備無損檢測 第4部分:超聲檢測TSG G0001-2012 鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程GB/T 16507-2013 鍋殼鍋爐GB/T 16508-2013 水管鍋爐TSG R0004-2009 固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程TSG R0005-2011 移動(dòng)式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程GB 150-2011 壓力容器GB/T 11259 無損檢測 超聲波檢測用鋼參考試塊的制作與檢驗(yàn)方法 GB/T 27664.1 無損檢測 超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn) 第 1 部分:儀器GB/T 27664.2 無損檢測 超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn) 第 2 部分:探頭JB/T 8428 無損檢測 超聲檢測用試塊JB/

4、T 9214 無損檢測 A 型脈沖反射式超聲檢測系統(tǒng)工作性能測試方法JB/T 10062 超聲探傷用探頭性能測試方法4 術(shù)語和定義4.1底波降低量 BG/BF鍛件檢測時(shí),在靠近缺陷處的完好區(qū)域內(nèi)第一次底面回波波幅 BG 與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底面回波波幅 BF 的比值,用 dB 值來表示。4.2密集區(qū)缺陷 鍛件檢測時(shí),在顯示屏掃描線上相當(dāng)于 50 聲程范圍內(nèi)同時(shí)有 5 個(gè)或 5 個(gè)以上的缺陷反射信號(hào),或是在 50×50 的檢測面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有 5 個(gè)或 5 個(gè)以上的缺陷反射信號(hào),其反射波幅均大于等于某一特定當(dāng)量的缺陷。4.3基準(zhǔn)靈敏度和基準(zhǔn)靈敏度:一般指將對(duì)比試塊人工反射體回

5、波高度或被檢工件底面回波高度調(diào)整到某一基準(zhǔn)時(shí)的靈敏度。掃查靈敏度則主要指實(shí)際檢測靈敏度。掃查靈敏度:為了不漏掉記錄缺陷或某些特定的缺陷,確保鍋爐、壓力容器的安全,在基準(zhǔn)靈敏度基礎(chǔ)上,根據(jù)表面狀況、檢測缺陷要求及探頭類型等適當(dāng)提高 dB 數(shù)(增益)進(jìn)行實(shí)際檢測的靈敏度。4.4超聲標(biāo)準(zhǔn)試塊JB/ T47013.3規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測校準(zhǔn)的試塊。4.5超聲對(duì)比試塊用于檢測校準(zhǔn)的試塊。4.6缺陷自身高度缺陷在工件厚度方向上的尺寸。4.7端點(diǎn)衍射超聲波在傳播過程中,當(dāng)波陣面通過缺陷時(shí),波陣面會(huì)繞缺陷邊緣彎曲,并呈圓心展衍,這種現(xiàn)象稱之為端點(diǎn)衍射。4.8 端點(diǎn)最大反射波當(dāng)缺陷的端部回波的幅

6、度達(dá)到最大時(shí)(也即缺陷端部回波峰值開始降落前瞬時(shí)的幅度位置),該回波稱之為缺陷端點(diǎn)最大反射波。4.9 回波動(dòng)態(tài)波型回波動(dòng)態(tài)波形是探頭移動(dòng)距離與相應(yīng)缺陷反射體回波波幅變化的包絡(luò)線。4.10 工件厚度 t a)對(duì)于平板對(duì)接接頭,焊縫兩側(cè)母材厚度相等時(shí),工件厚度t為母材厚度;焊縫兩側(cè)母材厚度不等時(shí),工件厚度t為薄側(cè)母材公稱厚度;b)對(duì)于插入式接管角焊縫,工件厚度t為筒體或封頭公稱厚度;安放式接管角焊縫,工件厚度t為接管公稱厚度;c)對(duì)于T型焊接接頭,工件厚度t為腹板公稱厚度。5 檢測人員要求5.1超聲檢測人員必須按TSG Z8001-2013特種設(shè)備無損檢測人員資格考核與監(jiān)督管理規(guī)則要求進(jìn)行培訓(xùn)考核

7、,取得超聲檢測資格證書。并且由公司向中國特種設(shè)備檢驗(yàn)協(xié)會(huì)進(jìn)行執(zhí)業(yè)注冊(cè)后,方能從事超聲檢測工作方法與等級(jí)的無損檢測工作。5.3超聲檢測人員資格級(jí)別分為級(jí)(初級(jí))、級(jí)(中級(jí))和級(jí)(高級(jí))。5.4質(zhì)量等級(jí)評(píng)定及檢測報(bào)告簽發(fā)應(yīng)有取得級(jí)或級(jí)資格證的人員擔(dān)任,且資格證應(yīng)在有效期內(nèi)。5.5超聲檢測人員應(yīng)具有一定的金屬材料、設(shè)備制造安裝、焊接及熱處理等方面的基本知識(shí),應(yīng)熟悉被檢工件的材質(zhì)、幾何尺寸及透聲性等,對(duì)檢測中出現(xiàn)的問題能作出分析、判斷和處理。6 檢測設(shè)備和器材6.1檢測儀器、探頭和系統(tǒng)性能6.1.1檢測儀器 采用型脈沖反射式超聲波探傷儀PXUT350+及PXUT390,其工作頻率范圍為0.510Hz,

8、儀器至少在熒光屏滿刻度的80范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器,步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB,其精度為任意相鄰12dB誤差在±1dB以內(nèi),最大累計(jì)誤差不超過1dB。超聲儀器各性能的測試條件和指標(biāo)要求應(yīng)滿足附錄 N 的要求并由制造廠家提供證明文件,測試方法按GB/T27664.1的規(guī)定。6.1.2探頭a 超聲檢測常用探頭有直探頭、單斜探頭、雙晶直探頭和其他適用性探頭,其性能應(yīng)滿足各種檢測工件的檢測需要,以最大可能有效地檢測出不允許存在缺陷為原則。b 圓形晶片直徑一般不應(yīng)大于40mm,方形晶片任一邊長一般不應(yīng)大于40mm。其性能指標(biāo)應(yīng)符合附錄 O 的要求,測試方法應(yīng)按

9、GB/T 27664.2 的規(guī)定。c 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2°,主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。6.1.3 超聲探傷儀和探頭的組合性能6.1.3.1儀器和探頭的組合性能包括水平線性、垂直線性、組合頻率、靈敏度余量、盲區(qū)(僅限直探頭)和遠(yuǎn)場分辨力,測試方法按附錄C、附錄D、附錄E規(guī)定執(zhí)行。6.1.3.2以下情況時(shí)應(yīng)測定儀器和探頭的組合性能:a) 新購置的超聲檢測儀器和探頭;b)儀器和探頭在維修或更換主要部件后;c)檢測人員有懷疑時(shí)。6.1.3.3水平線性偏差不大于1%,垂直線性偏差不大于5%。6.1.3.4儀器和探頭的組合頻率與探頭標(biāo)稱頻率之間偏差不得大于±10

10、%。 儀器-直探頭組合性能應(yīng)滿足以下要求:a) 靈敏度余量應(yīng)不小于32dB.b)在基準(zhǔn)靈敏度下,對(duì)于標(biāo)稱頻率為5Hz的探頭,盲區(qū)不大于10 mm;對(duì)于標(biāo)稱頻率為2.5Hz的探頭,盲區(qū)不大于15 mm;c)直探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于20dB。6.1.3.6 儀器-斜探頭組合性能應(yīng)滿足以下要求:a) 靈敏度余量應(yīng)不小于42dB。b)斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于12dB。 儀器和探頭組合頻率的測試方法按JB/T10062的規(guī)定,其他組合性能的測試方法參照J(rèn)B/T9214的規(guī)定?,F(xiàn)有的探頭 單位:mm探頭類別探頭K值晶片尺寸探頭頻率直探頭/14D、20D1.0Hz、2.5Hz、5Hz雙晶探頭/20D5

11、Hz斜探頭K110×10、13×132.5 HzK210×10、13×132.5 HzK36×6、10×10、13×132.5 Hz、5 Hz7 試塊和耦合劑7.1標(biāo)準(zhǔn)試塊 標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本工藝規(guī)程規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測的試塊,本工藝采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有:CSK-IA(入射點(diǎn)、K值、分辨力測試) 、CSK-IIA 、CSK-IIIA 、DZ1(直探頭盲區(qū)測試) 、DBP Z20-2和 DBP Z20-4(垂直線性測試、水平線性測試、靈敏度余量測試)。7.1.1標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或近似的材料制成。該材

12、料內(nèi)不得有影響人工缺陷顯示的自然缺陷,當(dāng)用直探頭檢測時(shí),不得有大于2平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。7.1.2校準(zhǔn)用反射體可采用長橫孔、短橫孔、平底孔、線切割槽和型槽等。校準(zhǔn)時(shí),探頭主聲束應(yīng)與反射體的反射面相垂直。7.1.3標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合本工藝要求,并經(jīng)計(jì)量部門檢定合格。7.1.4標(biāo)準(zhǔn)試塊的其他制造要求應(yīng)符合JBT8428的規(guī)定。7.2 對(duì)比試塊對(duì)比試塊是指與被檢件或材料化學(xué)成分相似,含有意義明確參考反射體的試塊,用以調(diào)節(jié)超聲檢測設(shè)備的幅度和(或)時(shí)間分度,以將所檢出的不連續(xù)信號(hào)與已知反射體所產(chǎn)生的信號(hào)相比較,即用于檢測校準(zhǔn)的試塊。本工藝采用的對(duì)比試塊有:階梯平底試塊,鋼板超聲檢測對(duì)比試塊、奧氏

13、體不銹鋼焊縫對(duì)比試塊、鋼管環(huán)向?qū)咏宇^GS試塊、鍛件CS試塊、承壓設(shè)備曲面縱向?qū)咏宇^RB-L-1和RB-L-2試塊、承壓設(shè)備曲面環(huán)向?qū)咏宇^RB-C試塊。 對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征,試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測,試塊的厚度應(yīng)由最大厚度來確定。7.2.3對(duì)比試塊應(yīng)采用與被檢材料聲學(xué)性能相同或相似的材料制成,試塊用直探頭檢測時(shí),不得有大于或等于2mm 平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。對(duì)比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本規(guī)程的規(guī)定。7.3 耦合劑7.3.1 應(yīng)采用透聲性好,且不損傷檢測表面的耦合劑,如機(jī)油、化學(xué)漿糊、甘油和水等。7.

14、3.2 耦合劑污染物含量的控制7.3.2.1 鎳基合金上使用的耦合劑含硫量不應(yīng)大于 250mg/L。7.3.2.2 奧氏體不銹鋼或鈦材上使用的耦合劑鹵素(氯和氟)的總含量不應(yīng)大于 250mg/L。8超聲檢測設(shè)備和器材的測定、核查、運(yùn)行核查和復(fù)核要求8.1一般要求系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行,校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面,以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號(hào)。8.2校準(zhǔn)或核查8.2.1每年至少對(duì)超聲儀器和探頭組合性能中的水平線性、垂直線性、組合頻率、盲區(qū)(僅限直探頭)、靈敏度余量、分辨力以及儀器的衰減器精度,進(jìn)行一次校準(zhǔn)并記錄,測試要求應(yīng)滿足6.1.3的規(guī)定。8.2.2每年至少對(duì)標(biāo)準(zhǔn)試塊與對(duì)比

15、試塊的表面腐蝕與機(jī)械損傷,進(jìn)行一次核查。8.3儀器和探頭運(yùn)行核查每隔6個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測定,測定方法按GB/T27664.1的規(guī)定。(見附錄C)對(duì)實(shí)際使用中探頭每3個(gè)月至少對(duì)盲區(qū)(僅限直探頭)、靈敏度余量和分辨力進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄,測試要求應(yīng)滿足6.1.3的規(guī)定。8.4使用前儀器和探頭系統(tǒng)測定 每次檢測前應(yīng)檢查儀器設(shè)備器材外觀、線纜連接和開機(jī)信號(hào)顯示情況是否正常。 斜探頭在使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值測定。測定應(yīng)按附錄D有關(guān)規(guī)定進(jìn)行。8.5檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核:a 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí);b 檢測人員懷疑掃

16、描量程和掃查靈敏度有變化時(shí);c 連續(xù)工作4h以上時(shí);d 工作結(jié)束時(shí)。8.6檢測結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核a 每次檢測結(jié)束前,應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的10,則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整,并對(duì)檢測結(jié)果進(jìn)行復(fù)核;b 每次檢測結(jié)束前,應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。對(duì)距離-波幅曲線的校核不少于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB,則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核后所檢測的部位進(jìn)行復(fù)檢;如幅度上升2dB,則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。8.7注意事項(xiàng)校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測時(shí),任何影響儀器線性的控制器(如抑制或?yàn)V波開關(guān)等)都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。9 超聲檢測操作指導(dǎo)書。9

17、.1應(yīng)根據(jù)通用工藝規(guī)程的內(nèi)容以及被檢對(duì)象的檢測要求操作指導(dǎo)書,其內(nèi)容應(yīng)包括:a) 檢測技術(shù)要求:檢測技術(shù)(直接接觸法-直探頭檢測、斜探頭檢測、)和檢測波形;b) 檢測對(duì)象:承壓設(shè)備類別,檢測對(duì)象的名稱、規(guī)格、材質(zhì)和熱處理狀態(tài)、檢測部位等;c) 檢測設(shè)備器材:儀器型號(hào)、探頭規(guī)格、耦合劑、試塊種類。d) 檢測工藝相關(guān)技術(shù)參數(shù):掃查方向及掃查范圍、缺陷定量方法、檢測記錄和評(píng)定要求、檢測示意圖等。9.2操作指導(dǎo)書在首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證,驗(yàn)證方式可在相關(guān)對(duì)比試塊上進(jìn)行,驗(yàn)證內(nèi)容包括檢測范圍內(nèi)靈敏度、信噪比等是否滿足檢測要求。10 檢測實(shí)施10.1檢測準(zhǔn)備10.1.1承壓設(shè)備的制造、安裝和在用檢驗(yàn)中,

18、超聲檢測的檢測時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。10.1.2所確定檢測面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。10.1.3焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。檢測面(探頭經(jīng)過的區(qū)域)上所有影響檢測的油漆、銹蝕、飛濺和污物等均應(yīng)予以清除,其表面粗糙度應(yīng)符合檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不應(yīng)影響檢測結(jié)果的有效性。10.2 檢測時(shí)應(yīng)盡量掃查到工件的整個(gè)被檢查區(qū)域是應(yīng)保證足夠的復(fù)蓋率(應(yīng)大于探頭直徑的15)。10.3探頭的掃查速度應(yīng)當(dāng)不成超過150/s,以防止漏檢。10.4掃查靈敏度不低于基準(zhǔn)靈敏度。10.5應(yīng)采用透聲性好,且不損傷檢測表面的耦合劑,如機(jī)油、漿糊等。10.6靈敏度補(bǔ)償

19、在檢測和缺陷定量時(shí),對(duì)引起檢測靈敏度下降和缺陷當(dāng)量誤差的因素應(yīng)進(jìn)行補(bǔ)償,這些因素包括耦合、材質(zhì)衰減和曲面的差異造成的靈敏度變化。a) 耦合補(bǔ)償:在檢測和缺陷定量時(shí),應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償;b) 衰減補(bǔ)償:在檢測和缺陷定量時(shí),應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償;c) 曲面補(bǔ)償:在檢測和缺陷定量時(shí),對(duì)檢測面是曲面的工件,應(yīng)對(duì)由工件和試塊曲率半徑不同引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。10.7檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核:a 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí);b 檢測人員懷疑掃描量程和掃查靈敏度有變化時(shí);c 連續(xù)工作4h以上時(shí);d 工作結(jié)

20、束時(shí)。10.8 掃描量程的復(fù)核如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線該點(diǎn)讀數(shù)的 10%或全掃描量程的 5%,則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整,并對(duì)上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢。10.9 掃查靈敏度的復(fù)核復(fù)核時(shí),如發(fā)現(xiàn)掃查靈敏度或距離波幅曲線上任一深度人工反射體回波幅度下降 2dB,則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢;如幅度上升 2dB,則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。10.10 不允許存在的缺陷應(yīng)返修。返修的部位及返修影響的部位均應(yīng)復(fù)探,復(fù)探部位的質(zhì)量亦應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。返修后進(jìn)行復(fù)驗(yàn)時(shí),按原探傷條件進(jìn)行。11 超聲檢測記錄和報(bào)告11.1 檢測設(shè)備器材:a ) 檢測儀器型號(hào)及編號(hào);b )

21、探頭 ( 類型、晶片尺寸、 K 值、標(biāo)稱頻率等 ) ;c ) 試塊型號(hào);d ) 耦合劑。11.2 檢測工藝參數(shù):a) 檢測范圍、掃查位置(面、側(cè)等) ;b) 掃描比例;c) 掃查方式;d) 檢測靈敏度;e) 耦合補(bǔ)償量等。11.3 檢測情況:a ) 檢測部位示意圖;b ) 缺陷位置、尺寸、回波波幅等;c ) 缺陷評(píng)定級(jí)別;d ) 缺陷類型、缺陷自身高度(在用承壓設(shè)備檢測時(shí)) 。11.4 檢測人員和復(fù)核人員簽字。11.5 應(yīng)依據(jù)檢測記錄出具檢測報(bào)告。超聲檢測報(bào)告除符合 NB/T 47013.1 的規(guī)定外,還至少應(yīng)包括以下內(nèi)容:a ) 委托單位;b ) 檢測技術(shù)等級(jí);c ) 檢測設(shè)備器材:儀器型號(hào)

22、及編號(hào)、探頭、試塊、耦合劑;d ) 檢測示意圖:檢測部位、檢測區(qū)域以及所發(fā)現(xiàn)的缺陷位置、尺寸和分布。11.6 記錄、報(bào)告應(yīng)有相應(yīng)責(zé)任人員簽名認(rèn)可,保存期不得少于7年。7年后,若用戶需要可轉(zhuǎn)交用戶保管。11.7 缺陷類型識(shí)別和性質(zhì)估判(見附錄A)12 承壓設(shè)備用原材料鋼板超聲檢測和質(zhì)量分級(jí)本工藝適用于板厚6250的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測及其缺陷等級(jí)評(píng)定。奧氏體鋼板材的超聲檢測可參照?qǐng)?zhí)行。12.1探頭的選用見下表:(表1)承壓設(shè)備用板材超聲檢測直探頭選用板厚()采用探頭公稱頻率(Hz)探頭晶片尺寸()620雙晶直探頭45圓形晶片直徑1030圓形晶片邊長10302060雙晶直探頭

23、或單晶直探頭2560單晶直探頭2512.1.1雙晶直探頭性能應(yīng)符合附錄F的要求。12.2標(biāo)準(zhǔn)試塊的選用12.2.1當(dāng)檢測厚度20的鋼板時(shí)(用雙晶直探頭),采用圖1所示的階梯平底試塊。圖 1 階梯平底試塊12.2.2檢測厚度大于 20 的板材時(shí),對(duì)比試塊形狀和尺寸應(yīng)符合表 2 和圖 2 的規(guī)定。對(duì)比試塊人工反射體為5 平底孔,反射體個(gè)數(shù)至少 3 個(gè)。圖2 板厚大于20檢測用試塊(單直探頭)表2 承壓設(shè)備用板材超聲檢測用對(duì)比試塊 單位:mm13 基準(zhǔn)靈敏度a 板厚不大于20時(shí),用圖1所示的試塊將與工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50,再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。b 板厚大于 20 時(shí),應(yīng)

24、按圖2按所用探頭和儀器在5 平底孔試塊上繪制距離-波幅曲線,并以此曲線作為基準(zhǔn)靈敏度。c 板厚不小于探頭的三倍近場區(qū)時(shí),如能確定板材底面回波與不同深度5平底孔反射波幅度之間的關(guān)系,也可取鋼板無缺陷的完好部位的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度。13.1 掃查靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。14 檢測方法14.1.1檢測面可選鋼板的任一軋制平面進(jìn)行檢測。若檢測人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí),也可對(duì)鋼板的上下兩軋制平面分別進(jìn)行檢測。14.1.2耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。14.1.3靈敏度補(bǔ)償 檢測時(shí)應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行耦合補(bǔ)償和衰減補(bǔ)償。14.1.3掃查方式a) 在板材周邊或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)

25、應(yīng)作 100%掃查,掃查區(qū)域?qū)挾纫姳? 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求,也可進(jìn)行其它形式的掃查。b) 在板材中部區(qū)域,探頭沿垂直于板材壓延方向,間距不大于 50 的平行線進(jìn)行掃查,或探頭沿垂直和平行板材壓延方向且間距不大于 100 格子線進(jìn)行掃查。掃查示意圖見圖 3;c) 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求,也可采用其他形式的掃查;d) 雙晶直探頭掃查時(shí),探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。表3 板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)區(qū)域?qū)挾?單位:圖3 探頭掃查示意圖15缺陷的測定與記錄15.1在檢測基準(zhǔn)靈敏度條件下,發(fā)現(xiàn)下列二種情況之一即作為缺陷:a) 缺陷第一次反射波(F 1 )波幅高于距離-波幅曲

26、線,或用雙晶探頭檢測板厚小于 20 板材時(shí),缺陷第一次反射波(F 1 )波幅大于或等于顯示屏滿刻度的 50%;b) 底面第一次反射波(B 1 )波幅低于顯示屏滿刻度的 50%,即 B 1 50%。15.2缺陷邊界范圍的確定a) 檢出缺陷后,應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測,以確定缺陷的范圍;b) 板材厚度小于 20mm 用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí),探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直,并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下顯示屏滿刻度的 25%,探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn);c) 板材厚度 2060mm 用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍時(shí),探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直,并使缺陷波下降到距

27、離-波幅曲線,探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn);d) 用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí), 移動(dòng)探頭使缺陷第一次反射波波高下降到距離-波幅曲線,探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn);e) 確定15.1b)中缺陷的邊界范圍時(shí),移動(dòng)探頭(單直探頭或雙直探頭)使底面第一次反射波升高到顯示屏滿刻度的 50%。此時(shí)探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)16缺陷尺寸的評(píng)定方法 16.1缺陷指示長度的評(píng)定規(guī)則用平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷,其長邊作為該缺陷的指示長度。16.2單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定規(guī)則a) 一個(gè)缺陷按其指示的矩形面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積;b) 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長度時(shí), 按單個(gè)缺陷處理

28、, 缺陷指示面積為各缺陷面積之和。16.3缺陷面積占有率的評(píng)定規(guī)則在任一1m×m1檢測面積內(nèi),按缺陷面積所占的百分比來確定。如鋼板面積小于1m×1m,可按比例折算。16.4鋼板質(zhì)量分級(jí)鋼板質(zhì)量分級(jí)見表 4 和表 5。在具體進(jìn)行質(zhì)量分級(jí)要求時(shí),表 4 和表 5 應(yīng)獨(dú)立使用。16.5 在檢測過程中,檢測人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí),應(yīng)評(píng)為V級(jí)。16.6 在鋼板中部檢測區(qū)域,按最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一 1m×1m 檢測面積內(nèi)缺陷最大允許個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級(jí)。如整張板材中部檢測面積小于 1m×1m,缺陷最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。16.7 在鋼

29、板邊緣檢測區(qū)域,按最大允許單個(gè)缺陷指示長度、最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一 1m檢測長度內(nèi)最大允許缺陷個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級(jí)。如整張板材邊緣檢測長度小于 1m,缺陷最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。16.8斜探頭檢測a 在檢測過程中對(duì)缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí),可采用斜探頭檢測。b 承壓設(shè)備用鋼板斜探頭檢測應(yīng)按附錄 B 進(jìn)行。表 4 承壓設(shè)備用鋼板中部檢測區(qū)域質(zhì)量分級(jí)注:使用單晶直探頭檢測并確定15.1 b)所示缺陷的質(zhì)量分級(jí)(級(jí)和級(jí))時(shí),與雙晶直探頭要求相同表 5 承壓設(shè)備用鋼板邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)檢測區(qū)域質(zhì)量分級(jí)注:使用單晶直探頭檢測并確定15.1 b)所示缺陷的質(zhì)量分級(jí)(級(jí)和級(jí))時(shí),與雙晶

30、直探頭要求相同17 承壓設(shè)備焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級(jí)17.1檢測范圍和一般要求本章規(guī)定了鋼制承壓設(shè)備焊接接頭的超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí),其適用范圍和使用原則見表617.1.2奧氏體不銹鋼承壓設(shè)備對(duì)接接頭超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)按附錄 H 的規(guī)定進(jìn)行。17.1.3與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測可參照本章的規(guī)定進(jìn)行。 表 6 鋼制承壓設(shè)備焊接接頭的超聲檢測適用范圍和使用原則 單位:承壓設(shè)備類別焊接接頭類型工件厚度t檢測面直徑焊接接頭分類檢測技術(shù)等級(jí)要求檢測方法質(zhì)量分級(jí)鍋爐、壓力容器筒體(或封頭)對(duì)接接頭6200500,縱向?qū)咏宇^時(shí),內(nèi)外徑比70%型17.2100500的縱向?qū)咏宇^且內(nèi)外

31、徑比70%型附錄J159500的環(huán)向?qū)咏宇^型附錄K接管與筒體(或封頭)角接接頭6200插入式:筒體(或封頭)500且內(nèi)外徑比70%,接管公稱直徑80安放式:筒體(或封頭)300且接管公稱直徑100型附錄L管子環(huán)向?qū)咏宇^6150外徑500型17.26150外徑159500型附錄K650外徑32159型17.346外徑32型17.3管子縱向?qū)咏宇^6150外徑500,內(nèi)外徑比70%型17.2外徑100500,內(nèi)外徑比70%型附錄J17.2承壓設(shè)備型焊接接頭超聲檢測方法17.2.1范圍本條適用型焊接接頭的超聲檢測,型焊接接頭范圍見表 6探頭探頭頻率選用2Hz5Hz。試塊采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-A

32、、CSK-A、CSK-A。其形狀和尺寸應(yīng)分別符合圖4、圖5、圖6規(guī)定。圖4 CSK-A 試塊 圖5 CSK-A 試塊 單位:圖6 CSK-A 試塊超聲檢測技術(shù)等級(jí) 17. 超聲檢測技術(shù)等級(jí)分為A、B、C三個(gè)檢測級(jí)別。17.2.4.2 超聲檢測技術(shù)等級(jí)的選擇超聲檢測技術(shù)等級(jí)的選擇應(yīng)符合制造、安裝等有關(guān)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。承壓設(shè)備焊接接頭的制造、安裝時(shí)的超聲檢測,一般應(yīng)采用B級(jí)超聲檢測技術(shù)等級(jí)進(jìn)行檢測。對(duì)重要設(shè)備的焊接接頭,可采用C級(jí)超聲檢測技術(shù)等級(jí)進(jìn)行檢測。 不同檢測技術(shù)等級(jí)的一般要求不同類型焊接接頭超聲檢測的具體要求見附錄 G(規(guī)范性附錄)。 A級(jí)檢測A 級(jí)適用于工件厚度為640mm 焊

33、接接頭的檢測。 可用一種K值斜探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面單側(cè)或單面雙側(cè)進(jìn)行檢測。一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測。17.2.4.5 B級(jí)檢測a ) B 級(jí)適用于工件厚度為6200mm焊接接頭的檢測;b ) 焊接接頭一般應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測;c ) 對(duì)于按附錄 G (規(guī)范性附錄)要求進(jìn)行雙面雙側(cè)檢測的焊接接頭,如受幾何條件限制或由于堆焊層(或復(fù)合層)的存在而選擇單面雙側(cè)檢測時(shí),還應(yīng)補(bǔ)充斜探頭作近表面缺陷檢測。17.2.4.6 C級(jí)檢測a ) C 級(jí)適用于工件厚度大于等于 6500mm焊接接頭的檢測;b ) 采用C級(jí)檢測時(shí)應(yīng)將焊接接頭的余高磨平。對(duì)焊接接頭斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域要

34、用直探頭進(jìn)行檢測,檢測方法按以下的規(guī)定進(jìn)行: 對(duì)于C檢測或必要時(shí),斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域,應(yīng)先用直探頭檢測,以便檢測是否有影響斜探頭檢測結(jié)果的分層或其他類型缺陷存在。該項(xiàng)檢測僅作記錄,不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測。母材檢測的要點(diǎn)如下:1) 掃查靈敏度:將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為顯示屏滿刻度的 100 %;2) 凡缺陷信號(hào)幅度超過顯示屏滿刻度 20 %的部位,應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記,并予以記錄。c ) 工件厚度大于15mm的焊接接頭一般應(yīng)在雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測,如受幾何條件限制或由于堆焊層(或復(fù)合層)的存在而選擇單面雙側(cè)檢測時(shí),還應(yīng)補(bǔ)充斜探頭作近表面缺陷檢測;d ) 工件厚度大于40mm的對(duì)接焊接接頭

35、,還應(yīng)增加直探頭檢測;e ) 焊接接頭應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。 用兩種或兩種以上 K 值斜探頭檢測時(shí),探頭間折射角相差不應(yīng)小于 10°。檢測準(zhǔn)備檢測區(qū) 檢測區(qū)由焊接接頭檢測區(qū)寬度和焊接接頭檢測區(qū)厚度表征。 焊接接頭檢測區(qū)寬度應(yīng)是焊縫本身,再加上焊縫兩側(cè)各10mm確定。對(duì)接接頭檢測區(qū)示意見圖 7 。 對(duì)接焊接接頭檢測區(qū)厚度應(yīng)為工件厚度加上焊縫余高。 超聲檢測應(yīng)覆蓋整個(gè)檢測區(qū)。若增加檢測探頭數(shù)量或增加檢測面(側(cè))還不能完全覆蓋,應(yīng)增加輔助檢測,包括采用其他無損檢測方法。圖 7 檢測區(qū)示意圖 注:a表示焊接接頭檢測區(qū)寬帶 檢測面準(zhǔn)備 探頭移動(dòng)區(qū)寬度 探頭移動(dòng)區(qū)寬度應(yīng)能滿足檢測到整個(gè)檢測區(qū)。見

36、圖 8 。圖 8 探頭移動(dòng)區(qū)寬帶示意圖 采用一次反射法檢測時(shí),探頭移動(dòng)區(qū)寬度應(yīng)大于或等于 1.25 P :P=2Kt 或 P=2t×tan式中:P 跨距,;T 工件厚度,;K 探頭 K 值;探頭折射角, (°) 。 采用直射法檢測時(shí),探頭移動(dòng)區(qū)寬度應(yīng)大于或等于 0.75P 。檢測面應(yīng)清除油漆、焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他異物,以免影響聲波耦合和缺陷判斷。檢測面應(yīng)平整,檢測面與探頭楔塊底面或保護(hù)膜間的間隙不應(yīng)大于 0.5mm,其表面粗糙度 Ra 值應(yīng)小于或等于 25m。檢測面一般應(yīng)進(jìn)行打磨。去除余高的焊縫,應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫,如果焊縫表面有咬邊、較大的

37、隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?,并作圓滑過渡以免影響檢測結(jié)果的評(píng)定。探頭K值(角度)采用一次反射法檢測時(shí),斜探頭 K 值(角度)的選取應(yīng)盡可能使主聲束與檢測面相對(duì)的底面法線夾角在35°70°之間,當(dāng)使用兩個(gè)或兩個(gè)以上 K 值(角度)探頭檢測時(shí),應(yīng)至少有一種K值(角度)的探頭滿足這一要求。斜探頭值(角度)選取可參照表6的規(guī)定。條件允許時(shí),應(yīng)盡量采用較大值探頭。直探頭標(biāo)稱頻率的選取可參照表 7 的規(guī)定。(表6)推薦采用的斜探頭 K 值和標(biāo)稱頻率(表7)推薦采用的直探頭標(biāo)稱頻率母材的檢測對(duì)于C級(jí)檢測,斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域,應(yīng)先用直探頭檢測,以便檢測是否有影響斜探頭檢測結(jié)果

38、的分層或其他種類缺陷存在。該項(xiàng)檢測僅作記錄,不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測。母材檢測規(guī)程要點(diǎn)如下:a 檢測方法:接觸式脈沖反射法,采用25Hz的直探頭,晶片尺寸1025。b 檢測靈敏度:用接觸式脈沖反射法,將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100。c 凡缺陷信號(hào)幅度超過熒光屏滿刻度20的部位,應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記,并予以記錄。17.2.7儀器調(diào)節(jié)17.2.7.1斜探頭入射點(diǎn)、折射角斜探頭入射點(diǎn)、折射角的測量應(yīng)選擇在 CSK-IA 、 CSK-IIA 或 CSK-IIIA 上進(jìn)行。17.2.7.2儀器時(shí)基線儀器時(shí)基線的調(diào)整應(yīng)選擇在 CSK-IA 、 CSK-IIA 或 CSK-IIIA 上進(jìn)行。距

39、離波幅曲線繪制17.2.8.1 距離 - 波幅曲線應(yīng)按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測的數(shù)據(jù)繪制而成,該曲線族由評(píng)定線、定量線和判廢線組成。評(píng)定線與定量線之間(包括評(píng)定線)為 I 區(qū),定量線與判廢線之間(包括定量線)為 II區(qū),判廢線及其以上區(qū)域?yàn)?III 區(qū),如圖 9 所示。如果距離 - 波幅曲線繪制在顯示屏上,則在檢測范圍內(nèi)曲線任一點(diǎn)高度不低于顯示屏滿刻度的 20 %。圖9 距離波幅曲線0距離,mm波幅dB判廢線(RL)定量線(SL)評(píng)定線(EL)距離波幅曲線的靈敏度選擇 工件厚度為 6200mm的焊接接頭,斜探頭或直探頭檢測時(shí),用 CSK-IIA 試塊制作的距離 - 波幅曲線靈敏度按表 6 的

40、規(guī)定。表6 斜探頭或直探頭檢測距離-波幅曲線的靈敏度試塊型式工件厚度t/評(píng)定線定量線判廢線CSK-IIA64040100100200f2×40-18dBf2×60-14dBf2×60-10dB 2×40-12dB2×60-8dB2×60-4dBf2×40-4dBf2×60+2dBf2×60+6dB工件厚度為 8120mm的焊接接頭,斜探頭檢測時(shí),用 CSK-IIIA 試塊制作的距離-波幅曲線靈敏度按表7的規(guī)定。表7 距離波幅曲線的靈敏度工件厚度大于 200500 的焊接接頭,斜探頭或直探頭檢測時(shí)距離 -

41、波幅曲線靈敏度按表 8 的規(guī)定。表8 斜探頭或直探頭檢測距離-波幅曲線的靈敏度檢測橫向缺陷時(shí),應(yīng)將掃查靈敏度至少再提高 6dB 進(jìn)行檢測。 工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同,否則應(yīng)按附錄 I (規(guī)范性附錄)的規(guī)定測量聲能傳輸損耗差并進(jìn)行補(bǔ)償,補(bǔ)償量應(yīng)計(jì)入距離-波幅曲線。17.2.9.6 掃查靈敏度不應(yīng)低于評(píng)定線靈敏度,此時(shí)在檢測范圍內(nèi)最大聲程處的評(píng)定線高度不應(yīng)低于熒光屏滿刻度的 20%。掃查方法 斜探頭掃查檢測焊接接頭縱向缺陷時(shí),斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測面上,作鋸齒型掃查,見圖 10 。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面。在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí),掃查時(shí)

42、還應(yīng)作 10 ° 15 °的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。為觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號(hào)或偽缺陷信號(hào),確定缺陷的位置、方向和形狀,可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式,見圖 11 。圖10 鋸齒型掃查前后左右轉(zhuǎn)角環(huán)繞圖 11 四種基本掃查方法檢測焊接接頭橫向缺陷時(shí),可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使斜探頭與焊接接頭中心線成不大于10° 作兩個(gè)方向斜平行掃查,見圖 12 。如焊接接頭余高磨平,探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查,見圖 13 圖 12 斜平行掃查 圖 13 平行掃查對(duì)電渣焊焊接接頭還應(yīng)增加與焊縫中心線成 45 °的斜向掃查。 直探頭掃查直探頭掃

43、查時(shí),應(yīng)確保超聲聲束能掃查到焊接接頭的整個(gè)被檢區(qū)域。 檢測面曲率半徑小于或等于 250mm對(duì)接焊接接頭超聲檢測的一般原則 檢測曲面工件時(shí),如檢測面曲率半徑 R W2/4 時(shí)( W 為探頭接觸面寬度,環(huán)縫檢測時(shí)為探頭寬度,縱縫檢測時(shí)為探頭長度) ,應(yīng)采用與檢測面曲率相同對(duì)比試塊,反射孔的位置可參照對(duì)比試塊確定。試塊寬度 b 一般應(yīng)滿足:b 2s/D0式中:b試塊寬度,mm超聲波波長,mmS聲程,mmD0-聲源有效直徑,mm曲面工件對(duì)接焊接接頭的檢測檢測面為曲面時(shí),可盡量按平板對(duì)接焊縫的檢測方法進(jìn)行檢測外。對(duì)于受幾何形狀限制,無法檢測的部位應(yīng)予以記錄??v縫檢測時(shí),對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)為工件檢測面曲

44、率半徑的 0.9 1.1 倍。a 根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭值,并考慮幾何臨界角的限制,確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫。b 探頭接觸面修磨后,應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和值的變化,并用曲率試塊作實(shí)際測定。c 應(yīng)注意到熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的差異,必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行定位修正。.環(huán)縫檢測時(shí),對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測面曲率半徑的0.91.5倍。17.2.11 缺陷定量檢測 靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度。對(duì)所有反射波幅超過定量線的缺陷,均應(yīng)明確其位置、最大反射波幅和缺陷當(dāng)量。缺陷位置測定應(yīng)以獲得缺陷最大反射波的位置為準(zhǔn)。缺陷定量應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)量直徑或缺陷指

45、示長度L。缺陷指示長度L的測定采用以下方法:1)當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn),且位于 II 區(qū)或 II 區(qū)以上時(shí),用 -6dB 法測量其指示長度。2)當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化,有多個(gè)高點(diǎn),且位于 II 區(qū)或 II 區(qū)以上時(shí),應(yīng)以端點(diǎn) -6dB法測量其指示長度。3)當(dāng)缺陷波幅位于 I 區(qū),將探頭左右移動(dòng),使波幅降到評(píng)定線,以評(píng)定線靈敏度測量缺陷指示長度。缺陷評(píng)定 17.2.12.1 超過評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征,如有懷疑時(shí),應(yīng)采取改變探頭值、增加檢測面、觀察動(dòng)態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定,或輔以其它檢測方法作綜合判定。17.2.12.2 沿缺陷長度方向相鄰的兩缺陷,其長度方

46、向間距小于其中較小的缺陷長度且兩缺陷在與缺陷長度相垂直方向的間距小于 5 時(shí),應(yīng)作為一條缺陷處理,以兩缺陷長度之和作為其指示長度(間距計(jì)入) 。如果兩缺陷在長度方向投影有重疊,則以兩缺陷在長度方向上投影的左、右端點(diǎn)間距離作為其指示長度。17.3 承壓設(shè)備型焊接接頭超聲檢測方法17.3.1 范圍本條適用于型焊接接頭超聲檢測,型焊接接頭范圍見表 6。17.3.2 探頭.1 推薦采用線聚焦斜探頭和雙晶斜探頭,其性能應(yīng)能滿足檢測要求。 探頭標(biāo)稱頻率一般采用 4Hz 5Hz ,當(dāng)管壁厚度大于 15mm 時(shí),采用 2Hz2.5Hz 的探頭。探頭主聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于 2 °。.3 斜探頭

47、K 值的選取可參照表 9 的規(guī)定。如有必要,也可采用其他 K 值的探頭。.4 探頭楔塊的曲率應(yīng)加工成與接管外徑相吻合的形狀。加工好曲率的探頭應(yīng)對(duì)其 K 值和前沿值進(jìn)行測定,要求一次波至少掃查到焊接接頭根部。表 9 斜探頭 K 值的選擇17.3.3 對(duì)比試塊17.3.3.1 采用的對(duì)比試塊型號(hào)為GS-1 、 GS-2 、 GS-3 、 GS-4,其形狀和尺寸應(yīng)分別符合圖14和表10的規(guī)定。圖 14 GS試塊形狀和尺寸表 10 試塊圓弧曲率半徑17.3.4 檢測位置及探頭移動(dòng)區(qū) 一般要求從焊接接頭兩側(cè)進(jìn)行檢測,確因條件限制只能從焊接接頭一側(cè)檢測時(shí),應(yīng)采用兩種或兩種以上的不同值探頭進(jìn)行檢測,并在報(bào)告

48、中加以說明。 探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質(zhì),其表面粗糙度 Ra 25 ,探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于 1.5 P , P 的計(jì)算按17.2.6.3的規(guī)定17.3.5 距離-波幅曲線的繪制。17.3.5 1 按表 10 選擇與實(shí)際工件曲率相對(duì)應(yīng)的對(duì)比試塊。17.3.5 2 距離 - 波幅曲線按所用探頭和儀器在所選擇的試塊上實(shí)測的數(shù)據(jù)繪制而成,該曲線族圖由評(píng)定線、定量線和判廢線組成。評(píng)定線與定量線之間(包括評(píng)定線)為 I 區(qū),定量線與判廢線之間(包括定量線)為 II 區(qū),判廢線及其以上區(qū)域?yàn)?III 區(qū),如圖 15 所示。圖 15 距離-波幅曲線示意圖17.3.5 2 不同管壁厚度的距離 -

49、 波幅曲線靈敏度應(yīng)符合表 11 的規(guī)定。表 11 距離-波幅曲線的靈敏度17.3.6 檢測時(shí)聲能傳輸損耗差可參照附錄 I (規(guī)范性附錄) ,并根據(jù)實(shí)測結(jié)果對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行補(bǔ)償,補(bǔ)償量應(yīng)計(jì)入距離 - 波幅曲線。 掃查靈敏度不應(yīng)低于評(píng)定線靈敏度。17.3.8掃查方法 一般將探頭從對(duì)接焊接接頭兩側(cè)垂直于焊接接頭進(jìn)行掃查,探頭前后移動(dòng)距離應(yīng)符合要求,探頭左右移動(dòng)應(yīng)使得掃查覆蓋大于探頭寬度的 15%。 為了觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形或區(qū)分偽缺陷信號(hào)以確定缺陷的位置、方向、形狀,可采用前后、左右等掃查方法。 缺陷定量檢測17.3.11 對(duì)所有反射波幅位于 I 區(qū)或 I 區(qū)以上的缺陷,均應(yīng)對(duì)缺陷位置、缺陷最大反射波幅

50、和缺陷指示長度等進(jìn)行測定。 缺陷位置測定應(yīng)以獲得缺陷最大反射波的位置為準(zhǔn)。 缺陷最大反射波幅的測定。將探頭移至缺陷出現(xiàn)最大反射波信號(hào)的位置,測定波幅大小,并確定它在距離-波幅曲線中的區(qū)域。 缺陷指示長度的測定按下述方法進(jìn)行。a ) 缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn),且位于 II 區(qū)或 II 區(qū)以上時(shí),用定量線的絕對(duì)靈敏度法測其指示長度;b ) 缺陷反射波峰值起伏變化,有多個(gè)高點(diǎn),且位于 II 區(qū)或 II 區(qū)以上時(shí),應(yīng)以定量線的絕對(duì)靈敏度法測其指示長度;c ) 當(dāng)缺陷最大反射波幅位于 I 區(qū),應(yīng)以評(píng)定線絕對(duì)靈敏度法測其指示長度。17.3.15 缺陷的實(shí)際指示長度l應(yīng)按以下公式計(jì)算l=L*(R-H)/R式中

51、:L-測定的缺陷指示長度,R-管子外半徑,H-缺陷深度,。 缺陷的評(píng)定17.3.16.1超過評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋、未熔合等類型缺陷特征,如有懷疑時(shí),應(yīng)采取改變探頭 K 值、觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形并結(jié)合焊接工藝等進(jìn)行綜合分析。 相鄰兩缺陷在一直線上,其間距小于其中較小的缺陷長度時(shí),應(yīng)作為一條缺陷處理,以缺陷長度之和作為其單個(gè)缺陷指示長度(間距計(jì)入缺陷長度)。17.4 質(zhì)量分級(jí)17.4.1 鍋爐、壓力容器本體焊接接頭質(zhì)量分級(jí)17.4.1.1 鍋爐、壓力容器本體焊接接頭包括筒體(或封頭)對(duì)接接頭、接管與筒體(或封頭)角接接頭。17.4.1.2 鍋爐、壓力容器本體焊接接頭不允許存在裂紋、未熔合和

52、未焊透等缺陷。17.4.1.3 評(píng)定線以下的缺陷均評(píng)為I級(jí)。17.4.1.4 鍋爐、壓力容器本體焊接接頭質(zhì)量分級(jí)按表 12 的規(guī)定執(zhí)行。 表 12 鍋爐、壓力容器本體焊接接頭超聲檢測質(zhì)量分級(jí) 單位:mm注1:當(dāng)焊縫長度不足9t(級(jí))或4.5t(級(jí))時(shí),可按比例折算。當(dāng)折算后的多個(gè)缺陷累計(jì)長度允許值小于該級(jí)別允許的單個(gè)缺陷指示長度時(shí),以允許的單個(gè)缺陷指示長度作為缺陷累計(jì)長度允許值。注2:用17.2.11.6規(guī)定的測量方法,使聲束垂直于缺陷的主要方向移動(dòng)探頭測得的缺陷長度。17.4.2 鍋爐、壓力容器管子環(huán)向或縱向焊接接頭質(zhì)量分級(jí)17.4.2.1 鍋爐、壓力容器管子環(huán)向或縱向焊接接頭不允許存在裂紋、未熔合和未焊透等缺陷。17.4.2.2 評(píng)定線以下的缺陷均評(píng)為I級(jí)。17.4.2.3 鍋爐、壓力容器管子環(huán)向或縱向焊接接頭質(zhì)量分級(jí)按表13的規(guī)定執(zhí)行。表 13 鍋爐、壓力容器管子環(huán)向或縱向焊接接頭超聲檢測質(zhì)量分級(jí)18 承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)18.1 范圍18.1.1 本條適用于承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)。18.1.2 本條不適用不適用于內(nèi)外半徑之比小于 65%的環(huán)形和筒形鍛件的周向斜探頭檢測。檢測原則檢測一般應(yīng)安排在

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