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1、基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)研究性報(bào)告基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)研究性報(bào)告晶體的電光效應(yīng)第一作者:周坤學(xué)號(hào):141511442016年5月12日摘要本文以“晶體電光效應(yīng)”實(shí)驗(yàn)為研究?jī)?nèi)容,先介紹了實(shí)驗(yàn)?zāi)康?,?shí)驗(yàn)儀器,實(shí)驗(yàn)的基本原理與實(shí)驗(yàn)步驟,進(jìn)行了數(shù)據(jù)處理與結(jié)果分析,并做了相對(duì)誤差分析,最后得出幾點(diǎn)自己對(duì)實(shí)驗(yàn)的感想。關(guān)鍵詞:晶體的電光效應(yīng) 激光調(diào)制 半波電壓目錄摘要1一 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?二 實(shí)驗(yàn)儀器2三 實(shí)驗(yàn)原理21.LN晶體的線性電光效應(yīng)22電光調(diào)制原理3四 實(shí)驗(yàn)步驟51.調(diào)整光路系統(tǒng)52. 依據(jù)3 LiNbo 晶體的透過(guò)率曲線(即T-V 曲線),選擇工作點(diǎn)。測(cè)半波電壓。61) 極值法62) 調(diào)制法63)改變直流偏壓,選擇不同的

2、工作點(diǎn),觀察正弦波電壓的調(diào)制特性。64) 用1/4波片來(lái)改變工作點(diǎn),觀察輸出特性。7五 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理與分析71.電光調(diào)制72.動(dòng)態(tài)法觀察調(diào)制器性能83.測(cè)量半波電壓9六 誤差討論與分析91.輸出波形畸變產(chǎn)生原因92.實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)誤差產(chǎn)生的原因10七 實(shí)驗(yàn)總結(jié)與感想10一 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?.掌握晶體電光調(diào)制的原理和實(shí)驗(yàn)方法; 2.了解電光效應(yīng)引起的晶體光學(xué)性質(zhì)的變化,觀察匯聚偏振光的干涉現(xiàn)象; 3.學(xué)習(xí)晶體半波電壓和光電常數(shù)的實(shí)驗(yàn)方法。二 實(shí)驗(yàn)儀器偏振片、擴(kuò)束鏡、鈮酸鋰電光晶體、光電二極管、光電池、晶體驅(qū)動(dòng)電源、光功率計(jì)、1/4玻片、雙蹤示波器三 實(shí)驗(yàn)原理1. LN晶體的線性電光效應(yīng)當(dāng)晶體處在一個(gè)外加電場(chǎng)

3、中時(shí)。晶體的折射率會(huì)發(fā)生變化,改變量的表達(dá)式為: (1)其中n是受外場(chǎng)作用時(shí)晶體的折射率,n0是自然狀態(tài)下晶體的折射率,E是外加電場(chǎng)強(qiáng)度,和p是與物質(zhì)有關(guān)的常數(shù)。(1)式右邊第一項(xiàng)表示的是線性電光效應(yīng),又稱為普克爾效應(yīng),因此叫做線性電光系數(shù);第二項(xiàng)表示的是二次電光效應(yīng),又稱為克爾效應(yīng),因此p也叫做二次電光系數(shù)。本實(shí)驗(yàn)只涉及到線性電光效應(yīng)。LN晶體通常采用橫向加壓,z向通光的運(yùn)用方式,即在主軸y方向加電場(chǎng)Ey而Ex = Ez = 0 ,有外電場(chǎng)時(shí)折射率橢球的主軸一般不再與原坐標(biāo)軸重合。將坐標(biāo)系經(jīng)過(guò)適當(dāng)?shù)男D(zhuǎn)后得到一個(gè)新的坐標(biāo)系(x,y,z),使折射率橢球變?yōu)椋?(2)這里、是有電場(chǎng)時(shí)的三個(gè)主折射

4、率。叫感應(yīng)主折射率,坐標(biāo)系(x,y,z)叫感應(yīng)主軸坐標(biāo)系。在( )坐標(biāo)系中,折射率橢球的方程為:(3)將(3)式同(2)式比較,就可得出:, 一般情況下有<<,于是 (4)上述結(jié)果表明,在LN晶體的y軸方向上加電場(chǎng)時(shí),原來(lái)的單軸晶體(nx= ny = n0,nz = ne)變成了雙軸晶體(nx ny nz),折射率橢球在xy平面上的截線由原來(lái)的圓變成了橢圓,橢園的短軸x(或y)與x軸(或y軸)平行,感應(yīng)主軸的長(zhǎng)短與Ey的大小有關(guān),這就顯示了晶體的線性電光效應(yīng)。2電光調(diào)制原理LN晶體橫向電光調(diào)制器的結(jié)構(gòu)如圖所示。當(dāng)光經(jīng)過(guò)起偏器P后變成振動(dòng)方向?yàn)镺P的線偏振光,進(jìn)入晶體 (z = 0)

5、 后被分解為沿x和y軸的兩個(gè)分量,因?yàn)镺P與x軸、y軸的夾角都是45º,所以位相和振幅都相等。即,于是入射光的強(qiáng)度為:當(dāng)光經(jīng)過(guò)長(zhǎng)為的LN晶體后,x和y分量之間就產(chǎn)生位相差,即: (5)從檢偏器A(它只允許OA方向上振動(dòng)的光通過(guò))出射的光為和在OA軸上的投影之和 (6)于是對(duì)應(yīng)的輸出光強(qiáng)為: (7)將輸出光強(qiáng)與輸入光強(qiáng)比較,再考慮(11)式和(12)式,最后得到: (8)為透射率,它與外加電壓V之間的關(guān)系曲線就是光強(qiáng)調(diào)制特性曲線。本實(shí)驗(yàn)就是通過(guò)測(cè)量透過(guò)光強(qiáng)隨加在晶體上電壓的變化得到半波電壓V。由圖3可知,透過(guò)率與V的關(guān)系是非線性的,若不選擇合適的工作點(diǎn)會(huì)使調(diào)制光強(qiáng)發(fā)生畸變,但在V =

6、V/2附近有一直線部分(即光強(qiáng)與電壓成線性關(guān)系),這就是線性調(diào)制部分。為此,我們?cè)谡{(diào)制光路中插入一個(gè)/4波片,其光軸與OP成45º角,它可以使x和y兩個(gè)分量間的位相有一個(gè)固定的/2位相延遲,這時(shí)若外加電場(chǎng)是一個(gè)幅度變化不太大的周期變化電壓,則輸出光波的光強(qiáng)變化與調(diào)制信號(hào)成線性關(guān)系,即 (9)其中V是外加電壓,可以寫(xiě)成,但是如果Vm太大,就會(huì)發(fā)生畸變,輸出光強(qiáng)中將包含奇次高次諧波成份。當(dāng)時(shí)四 實(shí)驗(yàn)步驟1.調(diào)整光路系統(tǒng)1. 調(diào)節(jié)三角導(dǎo)軌底角螺絲,使其穩(wěn)定于調(diào)節(jié)臺(tái)上。在導(dǎo)軌上放置好半導(dǎo)體光源部分滑塊,將小孔光欄置于導(dǎo)軌上,在整個(gè)導(dǎo)軌上拉動(dòng)滑塊,近場(chǎng)遠(yuǎn)場(chǎng)都保證整個(gè)光路基本處于一條直線,即使光

7、束通過(guò)小孔。放上起偏振器,使其表面與激光束垂直,且使光束在元件中心穿過(guò)。再放上檢偏器,使其表面也與激光束垂直,轉(zhuǎn)動(dòng)檢偏器,使其與起偏器正交,即,使檢偏器的主截面與起偏器的主截面垂直,這時(shí)光點(diǎn)消失,即所謂的消光狀態(tài)。2. 將鈮酸鋰晶體置于導(dǎo)軌上,調(diào)節(jié)晶體使其x軸在鉛直方向,使其通光表面垂直于激光束(這時(shí)晶體的光軸與入射方向平行,呈正入射),這時(shí)觀察晶體前后表面查看光束是否在晶體中心,若沒(méi)有,則精細(xì)調(diào)節(jié)晶體的二維調(diào)整架,保證使光束都通過(guò)晶體,且從晶體出來(lái)的反射像與半導(dǎo)體的出射光束重合。3. 拿掉四分之一波片,在晶體盒前端插入毛玻璃片,檢偏器后放上像屏。光強(qiáng)調(diào)到最大,此時(shí)晶體偏壓為零。這時(shí)可觀察到晶

8、體的單軸錐光干涉圖,即一個(gè)清楚的暗十字線,它將整個(gè)光場(chǎng)分成均勻的四瓣,如果不均勻可調(diào)節(jié)晶體上的調(diào)整架。4. 旋轉(zhuǎn)起偏器和檢偏器,使其兩個(gè)相互平行,此時(shí)所出現(xiàn)的單軸錐光圖與偏振片垂直時(shí)是互補(bǔ)的。5. 晶體加上偏壓時(shí)呈現(xiàn)雙軸錐光干涉圖,說(shuō)明單軸晶體在電場(chǎng)作用下變成雙軸晶體,即電致雙折射。6.改變晶體所加偏壓極性,錐光圖旋轉(zhuǎn)90度。7.只改變偏壓大小時(shí),干涉圖形不旋轉(zhuǎn),只是雙曲線分開(kāi)的距離發(fā)生變化。這一現(xiàn)象說(shuō)明,外加電場(chǎng)只改變感應(yīng)主軸方向的主折射率的大小、折射率橢球旋轉(zhuǎn)的角度和電場(chǎng)大小無(wú)關(guān)。2. 依據(jù)3 LiNbo 晶體的透過(guò)率曲線(即T-V 曲線),選擇工作點(diǎn)。測(cè)半波電壓。1) 極值法晶體上只加直

9、流電壓,不加交流信號(hào),并把直流偏壓從小到大逐漸改變時(shí),示波器上可看到輸出光強(qiáng)出現(xiàn)極小值和極大值。具體做法:取出毛玻璃,撤走白屏,接收器對(duì)準(zhǔn)出光點(diǎn),加在晶體上的電壓從零開(kāi)始,逐漸增大這時(shí)可看到示波器上光強(qiáng)極大和極小有一明顯起落,直流偏壓值由電源面板上的三位半數(shù)字表上讀出。先測(cè)對(duì)應(yīng)于V0>0時(shí),當(dāng)光強(qiáng)最大時(shí),測(cè)一組最大值,然后改變極性,最大時(shí)再測(cè)一組數(shù)據(jù),兩個(gè)極大之間對(duì)應(yīng)的電壓之和就是半波電壓的兩倍,多次測(cè)量取平均值,可以減少誤差。2) 調(diào)制法晶體上直流電壓和交流正弦信號(hào)同時(shí)加上,當(dāng)直流電壓調(diào)到輸出光強(qiáng)出現(xiàn)極小值或極大值對(duì)應(yīng)時(shí),輸出的交流信號(hào)出現(xiàn)倍頻失真,通過(guò)示波器可看出。出現(xiàn)相鄰倍頻失真對(duì)

10、應(yīng)的直流電壓之差就是半波電壓。具體做法是:把電源前面板上的調(diào)制信號(hào)“輸出”接到雙蹤示波器的y1上,經(jīng)放大后的調(diào)制器的輸出信號(hào)接到示波器的y2上,把y1,y2上的信號(hào)做比較,將檢偏器旋轉(zhuǎn)90度,當(dāng)晶體上加的直流電壓緩慢增加到半波電壓時(shí),輸出出現(xiàn)倍頻失真;改變晶體上電壓的極性后,電壓加到半波電壓時(shí),又出現(xiàn)倍頻失真,相繼兩次出現(xiàn)倍頻失真時(shí)對(duì)應(yīng)的直流電壓值之差就是半波電壓。這種方法比極值法更精確,因?yàn)橛脴O值法測(cè)半波電壓時(shí),視覺(jué)很難準(zhǔn)確的定位極大和極小值,因而誤差較大。3)改變直流偏壓,選擇不同的工作點(diǎn),觀察正弦波電壓的調(diào)制特性。電源面板上的信號(hào)選擇琴鍵開(kāi)關(guān)可以提供三種不同的調(diào)制信號(hào),按下“正弦”鍵,機(jī)

11、內(nèi)單一頻率的正弦波振蕩器工作,此信號(hào)經(jīng)放大后,加到晶體上。同時(shí),通過(guò)面板上的“輸出”孔,輸出此信號(hào),把它接到雙蹤示波器的y1上,作為參考信號(hào)。改變直流偏壓,使調(diào)制器工作在不同的狀態(tài),把被調(diào)制信號(hào)經(jīng)光電轉(zhuǎn)換,放大后接到雙蹤示波器y2上,和y1上的參考信號(hào)比較。工作點(diǎn)選定在曲線的直線部分,即附近時(shí)線性調(diào)制;工作點(diǎn)選在曲線的極小值(或極大值)附近時(shí),輸出信號(hào)“倍頻”失真;工作點(diǎn)選定在極小值(或極大值)附近時(shí)輸出信號(hào)失真,觀察時(shí)調(diào)制信號(hào)幅度不能太大,否則調(diào)制信號(hào)本身失真,輸出信號(hào)的失真無(wú)法判斷有什么原因引起,把觀察到的波形描下來(lái),并和前面的理論分析做比較。做這步實(shí)驗(yàn)時(shí)把電源上的調(diào)制幅度、調(diào)制器上的輸入

12、光強(qiáng)、放大器的輸出、示波器的增益(或衰減)這四部分調(diào)好,才能觀察到很好的輸出波形。4) 用1/4波片來(lái)改變工作點(diǎn),觀察輸出特性。在上述實(shí)驗(yàn)中,去掉晶體上加的直流偏壓,把1 4波片置入晶體和偏振片之間,繞光軸緩慢旋轉(zhuǎn)時(shí),可以看到輸出波形隨著發(fā)生變化。當(dāng)波片的快慢軸平行于晶體的感應(yīng)軸方向時(shí),輸出光線性調(diào)制;當(dāng)波片的快慢軸分別平行于晶體的x,y軸時(shí),輸出光失真,出現(xiàn)“倍頻”失真。因此,把波片旋轉(zhuǎn)一周時(shí),出現(xiàn)四次線性調(diào)制和四次“倍頻”失真。實(shí)驗(yàn)證明,通過(guò)晶體上加直流偏壓可以改變調(diào)制器的工作點(diǎn),也可以用1 4波片選擇工作點(diǎn),其效果是一樣的,但兩種方法的機(jī)理是不同的。五 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理與分析1.電光調(diào)制項(xiàng)目

13、最大功率對(duì)應(yīng)電壓/V最小功率對(duì)應(yīng)電壓/V數(shù)值690-7231347-1352取值706.51349.5最大功率對(duì)應(yīng)的倍頻失真波形圖最小功率對(duì)應(yīng)的倍頻失真波形圖由極值法可得半波電壓 V=1349.5-706.5=643 V晶體基本物理量:dln0V5mm30mm632.8nm2.286649.2V由此計(jì)算得出晶體的電光系數(shù)為:22=2Vn03(dl)=632.8×52×643×2.2863×30×10-9=6.86×10-12 m/V2.動(dòng)態(tài)法觀察調(diào)制器性能原始數(shù)據(jù)第一次722V303°213°128°35

14、°最大振幅時(shí)714V335°257°168°82°由上表可知:去掉直流偏壓后把1/4波片放上后,繞光軸緩慢旋轉(zhuǎn),可以看到輸出信號(hào)隨著發(fā)生變化,其現(xiàn)象與改變直流偏壓效果相同。每次實(shí)驗(yàn)中相鄰兩次倍頻失真的角度差大約為90°,可知1/4波片的=2,與理論值比較接近,可以驗(yàn)證。當(dāng)?shù)诙稳∠虏ㄆ?,調(diào)到最大振幅后再放上波片后,相鄰的角度差依然很接近90°,而且與第一次對(duì)應(yīng)的度數(shù)差很接近45°。這與計(jì)算結(jié)果符合的很好,驗(yàn)證了推導(dǎo)。3.測(cè)量半波電壓原始數(shù)據(jù)V1/V164281361428513V2/V904102011101186

15、1286V/V740739749758773用線性回歸處理數(shù)據(jù):令y=V2,x=V1,經(jīng)SPSS分析得到線性回歸方程為:a=717.957 b=1.097 y=1.097x+717.957由此可知:V=717.957 Vua(b)=s(b)=b1k-2(1r2-1)=0.02004ua(a)=s(a)=15x2*ua(b)=7.404因此ua(V)= ua(a)= 7.404最終結(jié)果表示為:V±ua(V)=(717±7) V相對(duì)誤差:=717-649.2649.2×100%=10.4%六 誤差討論與分析1.輸出波形畸變產(chǎn)生原因根據(jù)理論計(jì)算,當(dāng)V=0時(shí),T應(yīng)當(dāng)為極小

16、值(T=0),然而從實(shí)驗(yàn)測(cè)量出的T-V圖中可以發(fā)現(xiàn),當(dāng)V=o時(shí),T不為零,且極小值也不出現(xiàn)在V=0處,對(duì)此我們可以歸納出以下幾種可能原因:1)光路調(diào)節(jié)存在缺陷,沒(méi)有嚴(yán)格的與導(dǎo)軌平行,使光嚴(yán)格沒(méi)有垂直入射。所以,有一部分光線透過(guò),使曲線右移。2)由于在調(diào)試前后兩個(gè)偏振片過(guò)程中,難以保證其起偏方向完全垂直,這就導(dǎo)致了極小值點(diǎn)偏離V=0點(diǎn)。3)由于工藝上的原因,前后兩個(gè)偏振片即使在完全垂直的情況下,也不可能完全消光,總會(huì)有光線透過(guò),因此,極小值點(diǎn)之值大于零。4)晶體自身生長(zhǎng)不均勻,入射光通過(guò)時(shí)光路改變?cè)斐闪阒迭c(diǎn)右移。2.實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)誤差產(chǎn)生的原因1)光路調(diào)節(jié)不好,偏振片偏正方向在正交時(shí)消光不完全,使實(shí)驗(yàn)

17、結(jié)果產(chǎn)生誤差; 2)儀器引起的誤差。如電壓源輸出電壓不穩(wěn)定,在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中(個(gè)人,不知道是不是普遍現(xiàn)象),在不受控制的情況下,有不斷退回的情況(有一次從620v一直退回到100v,并且還有退回的趨勢(shì))。在電壓退回后,調(diào)節(jié)電壓到原電壓值,所測(cè)得的功率值較退回前明顯偏低,造成實(shí)驗(yàn)誤差。3)測(cè)量誤差。在動(dòng)態(tài)法觀測(cè)調(diào)制器調(diào)制特性試驗(yàn)中,最小失真點(diǎn)、振幅最大點(diǎn)、倍頻失真點(diǎn)的測(cè)量存在一個(gè)波動(dòng)范圍,造成測(cè)量誤差。=七 實(shí)驗(yàn)總結(jié)與感想通過(guò)本實(shí)驗(yàn),我基本掌握了晶體電光效應(yīng)的實(shí)驗(yàn)方法。剛開(kāi)始做實(shí)驗(yàn)的時(shí)候,因?yàn)樯蠈W(xué)期做過(guò)有關(guān)示波器的實(shí)驗(yàn)和這學(xué)期的電氣實(shí)驗(yàn)也熟悉過(guò)示波器,所以對(duì)基本的示波器原理還有一些經(jīng)驗(yàn),但對(duì)于光路調(diào)節(jié)沒(méi)只有在書(shū)上看到過(guò)示意圖,所以還不是很熟悉,對(duì)各種光路儀器的用處都不了解,但后來(lái)在老師的講解下才懂得了其使用方法。我覺(jué)得這是因?yàn)轭A(yù)習(xí)不夠充分引起的,一方面對(duì)儀器的原理了解不夠,一方面沒(méi)有考慮到儀器的具體使用。做物理實(shí)驗(yàn)首先要理解其原理,再者怎么樣利用實(shí)驗(yàn)儀器測(cè)出自己所需要的數(shù)

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