HALT測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)---完整

1、精選優(yōu)質(zhì)文檔-傾情為你奉上1.范 圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范規(guī)定了-的平板電腦的HALT試驗(yàn)技術(shù)要求、試驗(yàn)方法.適用于-實(shí)驗(yàn)中心在新產(chǎn)品開發(fā)階段及生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量監(jiān)控，確保產(chǎn)品的可靠性。2.測(cè)試內(nèi)容HALT（Highly accelerated life test高加速壽命試驗(yàn)）是一種利用階梯應(yīng)力加諸于產(chǎn)品，快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷、操作邊際及結(jié)構(gòu)強(qiáng)度極限的方法，并加以改善和提高，從而增加產(chǎn)品的極限值，提高其堅(jiān)固性及可靠性。施加于試品的應(yīng)力，包括振動(dòng)、高低溫、溫度循環(huán)、綜合應(yīng)力等。 高加速壽命試驗(yàn)的具體測(cè)試內(nèi)容包括以下幾點(diǎn)： 1). 逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)故障； 2). 采取臨時(shí)措施，修正產(chǎn)品的失效或故

2、障； 3). 繼續(xù)逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障，并再次加以修正； 4). 重復(fù)以上試驗(yàn)失效改進(jìn)的步驟； 5). 找出產(chǎn)品的基本操作界限和基本破壞界限。3.測(cè)試目的HALT以連續(xù)的測(cè)試、失效分析、缺陷改進(jìn)及驗(yàn)證構(gòu)成了整個(gè)程序，而且可能是個(gè)閉環(huán)循環(huán)過(guò)程。往往一個(gè)測(cè)試計(jì)劃，需要重復(fù)進(jìn)行幾次，除非一次性能經(jīng)受加速應(yīng)力試驗(yàn)。其關(guān)鍵在于分析失效的根本原因。試驗(yàn)的主要目的如下： 1)利用高環(huán)境應(yīng)力將產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷激發(fā)出來(lái)，并加以改善； 2). 了解產(chǎn)品的設(shè)計(jì)能力及失效模式； 3). 作為高應(yīng)力篩選及制定品質(zhì)核查規(guī)格的參考； 4). 快速找出產(chǎn)品制造過(guò)程的瑕疵； 5). 增加產(chǎn)品的可靠性，減少維修成本

3、； 6). 建立產(chǎn)品設(shè)計(jì)能力數(shù)據(jù)庫(kù)，為研發(fā)提供依據(jù)并縮短設(shè)計(jì)制造周期。4.名詞解析操作極限（OL）：產(chǎn)品的工作狀態(tài)不再滿足技術(shù)條件要求的極限應(yīng)力，但應(yīng)力消除后，產(chǎn)品仍能恢復(fù)正常工作。LOL（Lower Operating Limit）:下操作極限UOL（Upper Operating Limit）:上操作極限破壞極限（DL）：產(chǎn)品的工作狀態(tài)不再滿足技術(shù)條件要求的極限應(yīng)力，且應(yīng)力降低后，產(chǎn)品仍然不能能恢復(fù)正常工作（硬故障）。LDL（Lower Destruct Limit）下破壞極限UDL（Upper Destruct Limit）上破壞極限Bypass失效：用如隔離，局部加熱，局部固定等手法使

4、得某失效暫時(shí)不發(fā)生，測(cè)試可以繼續(xù)進(jìn)行。LDLLOLUOLUDL產(chǎn)品規(guī)格操作裕操作裕破壞裕破壞裕Stress圖-1：產(chǎn)品規(guī)格與產(chǎn)品極限關(guān)系圖5.測(cè)試項(xiàng)目5.1 初始檢驗(yàn)測(cè)試樣機(jī)數(shù)量：5臺(tái)試驗(yàn)要求：試驗(yàn)樣品所有的項(xiàng)目檢測(cè)結(jié)果需要符合設(shè)計(jì)要求且沒有不正常和用戶感受不良問(wèn)題。試驗(yàn)方法：檢查驅(qū)動(dòng)是否正常安裝，運(yùn)行工程模式檢查各功能模塊是否正常1)：外觀檢查（包含烤漆，絲印等）2)：縫隙和斷差檢查（有無(wú)超出規(guī)格）3)：LCD 檢查4)：IO接口功能檢查5)：按鍵和開關(guān)功能和手感的檢查， 6)：揚(yáng)聲器（音量調(diào)節(jié)到最大，播放音樂(lè)確認(rèn)是否存在回音，雜音等異常）7)：LED 檢測(cè)8)：其他（環(huán)境測(cè)試前后需進(jìn)行基本

5、功能檢測(cè)、外觀及裝配檢測(cè)、射頻性能檢測(cè)（典型信道靜態(tài)條件下的射頻性能檢測(cè)），所有檢測(cè)應(yīng)正常.5.2低溫1) 沒有包裝的待測(cè)產(chǎn)品一臺(tái)，插入SIM卡，在待機(jī)的狀態(tài)下，插上充電器，耳機(jī)，播放能支持的最大分辨率的電影，并設(shè)置重復(fù)播放；2) 從10開始，溫度駐留20min，透過(guò)視窗和耳機(jī)檢查樣品畫面和音樂(lè)是否正常。3) 溫度下降10，駐留20min, 透過(guò)視窗和耳機(jī)檢查樣品畫面和音樂(lè)是否正常.4) 重復(fù)步驟3，直到樣品顯示或音樂(lè)異常，記錄此溫度。5) 停止測(cè)試，恢復(fù)到常溫20,駐留10分鐘后，對(duì)樣品進(jìn)行功能檢查，并分析失效原因，對(duì)失效部位加以改進(jìn)。6) 測(cè)試從失效溫度+10繼續(xù)進(jìn)行，重復(fù)步驟3，直到產(chǎn)品

6、失效，雖然常溫下可以樣品恢復(fù)正常，但此失效無(wú)法改善，則記錄失效溫度為L(zhǎng)OL.7) 從LOL繼續(xù)測(cè)試，重復(fù)步驟3-5，直至產(chǎn)品失效，常溫下樣品仍無(wú)法工作，且此失效無(wú)法bypass,記錄此失效溫度為L(zhǎng)DL.時(shí)間(min)溫度() 圖-2：低溫步進(jìn)曲線圖5.3 高溫1) 沒有包裝的待測(cè)產(chǎn)品1臺(tái)，插入SIM卡，在待機(jī)的狀態(tài)下，插上充電器，耳機(jī)，播放能支持的最大分辨率的電影，并設(shè)置重復(fù)播放；2) 從30開始，溫度駐留20min，透過(guò)視窗和耳機(jī)檢查樣品畫面和音樂(lè)是否正常。3) 溫度上升10，駐留20min, 透過(guò)視窗和耳機(jī)檢查樣品畫面和音樂(lè)是否正常.4) 重復(fù)步驟3，直到樣品顯示或音樂(lè)異常，記錄此溫度。5

7、) 停止測(cè)試，恢復(fù)到常溫20,駐留10分鐘后，對(duì)樣品進(jìn)行功能檢查，并分析失效原因，對(duì)失效部位加以改進(jìn)。6) 測(cè)試從失效溫度-10繼續(xù)進(jìn)行，重復(fù)步驟3，直到產(chǎn)品失效，雖然常溫下可以樣品恢復(fù)正常，但此失效無(wú)法改善，則記錄失效溫度為UOL.7) 從UOL繼續(xù)測(cè)試，重復(fù)步驟3-5，直至產(chǎn)品失效，常溫下樣品仍無(wú)法工作，且此失效無(wú)法bypass,記錄此失效溫度為UDL.時(shí)間(min)溫度()圖-3：高溫步進(jìn)曲線圖5.4 快速熱循環(huán)試驗(yàn) 1) 沒有包裝的待測(cè)產(chǎn)品一臺(tái)，插入SIM卡，在待機(jī)的狀態(tài)下，插上充電器，耳機(jī)，播放能支持的最大分辨率的電影，并設(shè)置重復(fù)播放。2) 從20開始，溫度駐留10min，透過(guò)視窗和

8、耳機(jī)檢查樣品畫面和音樂(lè)是否正常。3) 溫度上升到UOL-10，溫度上升速率為60/min,駐留30min, 透過(guò)視窗和耳機(jī)檢查樣品畫面和音樂(lè)是否正常.4) 溫度下降到LOL-10，溫度下降速率為60/min,駐留30min, 透過(guò)視窗和耳機(jī)檢查樣品畫面和音樂(lè)是否正常.5) 重復(fù)測(cè)試步驟3-4四次，一共5個(gè)循環(huán)。6) 如測(cè)試過(guò)程中樣品失效，對(duì)樣品進(jìn)行功能檢查，并分析失效原因，對(duì)失效部位加以改進(jìn)。如仍然失效則先降低溫度變化速率，如果過(guò)速率降至40/min仍然失效，則嘗試改變上限和下限溫度。7) 恢復(fù)到常溫20,駐留20分鐘后，對(duì)樣品進(jìn)行功能檢查。時(shí)間(min)溫度()圖-4：快速溫變曲線圖5.5

9、振動(dòng)1) 沒有包裝的待測(cè)產(chǎn)品1臺(tái)，插入SIM卡，在待機(jī)的狀態(tài)下，插上充電器，耳機(jī)，播放能支持的最大分辨率的電影，并設(shè)置重復(fù)播放；固定于振動(dòng)平臺(tái)上。2) 測(cè)量樣品上振動(dòng)響應(yīng)值，振動(dòng)響應(yīng)值在輸入值50%150%中間為最佳。如不在此區(qū)間范圍，嘗試改變樣品固定方式。3) 從10GRMS開始（根據(jù)樣品耐振動(dòng)能力不同，初始振動(dòng)值可以從2GRMS,5GRMS開始），駐留10min，透過(guò)視窗和耳機(jī)檢查樣品畫面和音樂(lè)是否正常。4) 振動(dòng)上升5GRMS（根據(jù)樣品耐振動(dòng)能力不同，振動(dòng)上升幅度可以為 2.5GRMS），駐留10min, 透過(guò)視窗和耳機(jī)檢查樣品畫面和音樂(lè)是否正常.5) 重復(fù)步驟3，直到樣品顯示或音樂(lè)異常

10、，記錄此振動(dòng)值。6) 停止測(cè)試，對(duì)樣品進(jìn)行功能檢查，并分析失效原因，對(duì)失效部位加以改進(jìn)。7) 測(cè)試從失效振動(dòng)值上一步繼續(xù)進(jìn)行，重復(fù)步驟4，直到產(chǎn)品失效，雖然停止測(cè)試樣品恢復(fù)正常，但此失效無(wú)法改善，則記錄失效振動(dòng)值為UOL.8) 從UOL繼續(xù)測(cè)試，重復(fù)步驟4-6，直至產(chǎn)品失效，停止測(cè)試仍無(wú)法正常工作，且此失效無(wú)法bypass,記錄此失效振動(dòng)值為UDL.振動(dòng)(GRMS)時(shí)間(min)圖-5：振動(dòng)測(cè)試曲線圖5.6 綜合應(yīng)力試驗(yàn) 1) 沒有包裝的待測(cè)產(chǎn)品一臺(tái)，插入SIM卡，在待機(jī)的狀態(tài)下，插上充電器，耳機(jī)，播放能支持的最大分辨率的電影，并設(shè)置重復(fù)播放；2) 從20開始，溫度駐留10min，透過(guò)視窗和耳

11、機(jī)檢查樣品畫面和音樂(lè)是否正常。3) 溫度上升到溫度UOL-10，溫度上升速率為60/min,駐留30min, 同時(shí)設(shè)備開始振動(dòng)，振動(dòng)值為振動(dòng)（UOL-5）/5，透過(guò)視窗和耳機(jī)檢查樣品畫面和音樂(lè)是否正常.4) 溫度下降到LOL-10，溫度下降速率為60/min,駐留30min, 振動(dòng)值仍然為（UOL-5）/5，透過(guò)視窗和耳機(jī)檢查樣品畫面和音樂(lè)是否正常.5) 重復(fù)測(cè)試步驟3-4四次，一共5個(gè)循環(huán)，從第二個(gè)循環(huán)開始到第五個(gè)循環(huán)振動(dòng)值依次為（UOL-5）*2/5，（UOL-5）*3/5，（UOL-5）*4/5，（UOL-5）。6) 如測(cè)試過(guò)程中樣品失效，對(duì)樣品進(jìn)行功能檢查，并分析失效原因，對(duì)失效部位加

12、以改進(jìn)。如仍然失效則根據(jù)失效分析情況適量降低溫度上下限值，溫沖速率或振動(dòng)值。7) 恢復(fù)到常溫20,停止振動(dòng)，駐留20分鐘后，對(duì)樣品進(jìn)行功能檢查。時(shí)間(min)圖-6：綜合測(cè)試曲線圖6 參考文獻(xiàn)1、 IPC-9592-20082、 MIL2HDBK2217 , Reliability Prediction ofElectronic Equipment , U. S. Departmentof Defense S .3、 Barry Ma and Mekonen Buzuayene ,MIL2HDBK2217 vs. HALT/ HASS , Anritu ,2000.4、 Michael Pecht ,Why the traditional reliabil2ity prediction models do not work2is therean alternative ? ,CALCE Electronic Packaging Research Center ,2000.5、 Leonard , C. T. and Pecht , M. ,“HowFailure Prediction Methodo