伽馬校深對(duì)比計(jì)算方法-2012

1、曹 海2012.12.26目 錄 人工標(biāo)圖平差法部分井段校深全井段校深人工標(biāo)圖 所謂人工標(biāo)圖，就是根據(jù)射孔通知單中射孔井段的油層頂部深度，在套后放磁測(cè)井圖上選擇標(biāo)準(zhǔn)接箍。并以測(cè)井電纜磁性記號(hào)的深度為依據(jù)，用1：200比例尺在標(biāo)準(zhǔn)接箍上下，標(biāo)出幾個(gè)套管接箍深度及相應(yīng)的套管接箍長(zhǎng)度。平差法 在套后放磁測(cè)井圖中，用1:200比例丈量出兩個(gè)電纜深度磁性記號(hào)的實(shí)測(cè)距離，求出實(shí)測(cè)距離與標(biāo)準(zhǔn)距離之間的差值，把差值平均地分配到兩個(gè)電纜深度磁性記號(hào)之間。 就是計(jì)算出單位長(zhǎng)度的誤差值，即平差法： 如：兩個(gè)電纜深度磁性記號(hào)之間的標(biāo)準(zhǔn)距離為25m，用1:200比例尺丈量出兩個(gè)電纜深度磁性記號(hào)間的實(shí)際距離。平差法1、實(shí)

2、測(cè)兩個(gè)電纜磁性深度記號(hào)間的距離大一標(biāo)準(zhǔn)距離。 | |-25米標(biāo)稱值- |=|- 900.20m| 實(shí)測(cè)是25.10m | 925.20m平差法 單位誤差值=（25.10-25.0）25=0.004m/m 即實(shí)測(cè)距離每米增加了0.004m | |-25米標(biāo)稱值- |=|- 900.20m| 實(shí)測(cè)是25.10m | 925.20m平差法 2 、實(shí)測(cè)兩個(gè)電纜磁性記號(hào)間實(shí)測(cè)距離小于標(biāo)準(zhǔn)距離 | |-25米標(biāo)稱值- |=|- 900.20m| 實(shí)測(cè)是24.90m | 925.20m單位誤差值=（24.90-25.0）25=-0.004m/m 即實(shí)測(cè)距離每米減少了0.004米 作用：在兩個(gè)電纜磁性記號(hào)間所

3、丈量（用比例尺）出的磁定位接箍長(zhǎng)度均要每米加上或減去單位誤差值。 套管接箍深度標(biāo)注 | |-25米標(biāo)稱值- |=|- 900.20m| 實(shí)測(cè)是25.10m | 925.20m |5m| |-10m-|接箍- - A-10.06m-B 套管接箍深度標(biāo)注接箍A的深度：900.02+（5-50.004）=900.20+4.98=905.18接箍B的深度：925.20-（10-100.004）=925.20-9.96=915.24套管長(zhǎng)度：AB=915.24-905.18=10.06米射孔校深射孔校深 由于射孔通知單上射孔層位的深度來(lái)源與完井組合圖的深度，而射孔時(shí)所用跟蹤曲線是下套管后測(cè)的防磁曲線圖，

4、兩張圖所使用的儀器、電纜、井下條件都不同，深度需要統(tǒng)一，這就是每口井需要校深的原因。 射孔校深 將套后防磁曲線圖套管接箍深度統(tǒng)一到完井組合圖深度上去，需要校正值：校正值：就是某口井完井組合圖某深度段（點(diǎn)）的深度對(duì)應(yīng)套后防磁曲線在這個(gè)深度段（點(diǎn)）的深度的差值滯后值。 滯后值：如果放射性測(cè)井地面儀器采用了積分電路進(jìn)行記錄，電容有一個(gè)充電時(shí)間，即：時(shí)間常數(shù)。記錄的脈沖數(shù)滯后了一段時(shí)間，在這段時(shí)間里儀器運(yùn)行的長(zhǎng)度叫滯后值。 數(shù)控記錄儀本身已經(jīng)考慮了滯后值，所測(cè)放射性曲線深度與磁定位曲線深度是同步的，統(tǒng)一的。 滯后值=測(cè)速（m/s）時(shí)間常數(shù)（s） 校深步驟全井段校深全井段校深 用套后防磁圖上的自然伽馬曲

5、線與完井綜合解釋成果圖上的裸眼自然伽馬曲線進(jìn)行分層對(duì)比，全井段沒100米讀取一個(gè)深度，若砂層對(duì)比性好，曲線形態(tài)一致，頂?shù)捉缑骘@示不清楚，可參照砂層厚度進(jìn)行分層對(duì)比，薄鈣質(zhì)夾層明顯，可以用其尖峰為深度對(duì)比層，層位對(duì)好后，讀出記號(hào)（每100米）在完井組合圖上的深度值，這個(gè)值減去記號(hào)（對(duì)應(yīng)每100米）在套后防磁圖上的深度值，取平均值即可得校正值。 校正值相差超過(guò)20cm時(shí)，就要分段確定。校深步驟針對(duì)某個(gè)目的層的校深針對(duì)某個(gè)目的層的校深 若果砂層對(duì)應(yīng)性好，曲線形態(tài)一致，而且頂?shù)捉缑骘@示比較清楚，可以用對(duì)比層曲線顯示幅度的半幅點(diǎn)，并參考砂層厚度來(lái)確定頂?shù)捉缑嫔疃?，讀取相應(yīng)的值。在目的層段范圍內(nèi)選取了3-

6、5個(gè)最具有代表性的對(duì)比層，以此來(lái)確定兩張圖的深度差值，取其平均值確定校正值。 以選取了3-5個(gè)對(duì)比層（薄砂層或薄致密層）的尖峰確定其深度差值，取其平均值確定校正值。 以選取了3-5個(gè)對(duì)比層（薄鈣質(zhì)層或薄砂層）曲線顯示幅度的半幅點(diǎn)確定其深度差值，取其平均值確定校正值。校深步驟校正值計(jì)算公式：校正值計(jì)算公式： hi h= i H H= =h+hh+h滯滯 i- i-所選對(duì)比深度值的數(shù)量所選對(duì)比深度值的數(shù)量 hi-hi-所選對(duì)比層深度差值所選對(duì)比層深度差值 H H- -最終的校正值（放射性）最終的校正值（放射性） h h滯滯- -滯后值滯后值 h-h-對(duì)比層深度差值的平均值對(duì)比層深度差值的平均值校深步驟對(duì)比校深公式：對(duì)比校深公式： hi=hhi=h后后-h-h完