膜厚測試儀操作MINITEST說明書

1、目錄1.概述51.1應(yīng)用51.2儀器概述51.2.1MINITEST110061.2.2MINITEST210061.3配置61.4速查卡61.5測頭71.5.1測頭結(jié)構(gòu)71.5.2MINITEST測頭一覽72.MINITEST1100，2100使用前準(zhǔn)備82.1檢查電源82.2更換電池82.3選擇測頭92.4啟動功能和儀器基本設(shè)置92.4.1總復(fù)位92.4.2LCD液晶顯示器測試，檢測LC顯示的每一段92.4.3顯示/調(diào)整時間和日期92.5儀器的基本設(shè)置102.5.1選擇測量單位: 公制 / 英制112.5.2自動關(guān)機(jī)與非自動關(guān)機(jī)的選擇112.5.3浮點(diǎn)小數(shù)和定點(diǎn)小數(shù)的選擇112.5.4單值

2、和批組統(tǒng)計之間的轉(zhuǎn)換122.5.5數(shù)據(jù)存儲的人工和自動模式之間的轉(zhuǎn)換122.5.6連續(xù)模式中，測量穩(wěn)定后數(shù)據(jù)才被顯示和存儲122.5.7ZERO，CAL，CTC，OFFSET鎖定，鎖定校準(zhǔn)鍵122.5.8背景光照明選擇(可選)122.5.9在連續(xù)模式下，保留最小測量值132.5.10單次測量和連續(xù)測量模式的轉(zhuǎn)換133.校準(zhǔn)及測量133.1校準(zhǔn)133.1.1校準(zhǔn)方式133.1.2保存校準(zhǔn)值143.1.3校準(zhǔn)舉例143.1.4基體厚度的影響143.1.5提高校準(zhǔn)精度153.1.6清潔測點(diǎn)153.1.7“嘀嘀”聲鳴響信號153.1.8溫度補(bǔ)償特性153.2校準(zhǔn)分述153.2.1使用標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)153.2

3、.2無箔的一點(diǎn)校準(zhǔn)163.2.3兩點(diǎn)校準(zhǔn)(帶有一片校準(zhǔn)箔的零校準(zhǔn))173.2.4兩點(diǎn)校準(zhǔn)(用兩片箔)183.2.5透過鍍層校準(zhǔn)193.2.6用FN2兩用智能型探頭的校準(zhǔn)和測量203.2.7用N10和N20探頭校準(zhǔn)和測量203.2.8用N100探頭校準(zhǔn)和測量213.2.9用F20探頭測量和校準(zhǔn)233.2.10用F50探頭測量和校準(zhǔn)233.2.11用內(nèi)孔探頭F2/90等校準(zhǔn)和測量233.2.12銅、鋁、黃銅上的鍍鉻層的校準(zhǔn)和測量243.2.13用CN02探頭校準(zhǔn)和測量243.2.14在噴丸表面校準(zhǔn)和測量243.2.15調(diào)整基礎(chǔ)校準(zhǔn)值253.3測量和誤差253.4使用腳踏開關(guān)264.測量統(tǒng)計264.

4、1統(tǒng)計值的定義274.2為統(tǒng)計分析輸入測量值284.3刪除不正確的讀數(shù)(參見12)284.4存儲溢出284.5顯示和打印統(tǒng)計值(無測量值)284.5.1單值統(tǒng)計模式284.5.2組統(tǒng)計模式294.6打印統(tǒng)計值和讀數(shù)304.6.1單值統(tǒng)計模式304.6.2組統(tǒng)計模式305.刪除315.1刪除最后一個讀數(shù)315.2刪除統(tǒng)計值(對MINITEST 2100)325.3刪除所有讀數(shù)和相關(guān)的統(tǒng)計值、極限值、校準(zhǔn)值326.在未接探頭的情況下使用儀器327.MINIPRINT 4100數(shù)據(jù)打印機(jī)327.1換紙337.2更換色帶337.3鎳鉻電池的快速充電347.4打印機(jī)自檢348.連接個人電腦PC359.用

5、個人電腦PC控制測厚儀3510.組合接口(連接腳踏開關(guān),蜂嗚器或提示燈,選件)3511.MINITEST與MINIPRINT接口3512.可選件3513.維護(hù)和保養(yǎng)3614.售后服務(wù)3615.其它儀表3616.故障排除3617.EC確認(rèn)聲明37操作手冊涂層測厚儀MINITEST1100MINITEST2100打印機(jī)MINIPRINT4100MINITEST1100和2100型測厚儀，根據(jù)測頭類型的不同，分別運(yùn)用磁感應(yīng)和渦流原理測量覆層厚度，并符合以下工業(yè)標(biāo)準(zhǔn):DIN 50981、50982、50984；ASTM B499、B244；ISO 2178、2360；BS 5411。DIN 50981

6、和50984已經(jīng)被DIN EN ISO 2178和DIN EN ISO 2360所代替。1. 概述1.1 應(yīng)用MINITEST1100和2100型測厚儀，是便攜式、無損、快速、精確測量覆層厚度的精密儀器。主要應(yīng)用于防腐、電鍍、化工、汽車、造船、航空、輕工等行業(yè)，適合實(shí)驗室、工廠和戶外現(xiàn)場使用。配置不同的測頭，適用于不同場合。與MINIPRINT打印機(jī)連接，可打印出所有讀數(shù)和統(tǒng)計數(shù)據(jù)。MINITEST 1100 只能即時打印所有讀數(shù)。F型測頭根據(jù)磁感應(yīng)原理，測量鋼或鐵基體上的非磁性覆層。例如:鋁、鉻、銅、鋅、涂料、琺瑯、橡膠等，也適合于合金和硬質(zhì)鋼。N型測頭根據(jù)渦流原理，測量非鐵磁性金屬和奧氏體

7、不銹鋼上的涂層。FN兩用測頭同時利用磁感應(yīng)原理和渦流原理，一支測頭既可以用在鐵磁性基體上，也可用在非鐵磁性金屬基體上。所有MINITEST1100/2100“智能型”測頭能適合一些特殊要求，比如可適用于曲面結(jié)構(gòu)或有特殊性質(zhì)的材料。測頭根據(jù)儲存的相應(yīng)信息，自動適應(yīng)所需的條件。1.2 儀器概述在鋼上測量時，MINITEST1100/2100利用電磁感應(yīng)原理，在非鐵磁性基體上測量時，基于渦流原理。鍵盤控制可轉(zhuǎn)移至PC電腦，使之進(jìn)入自動控制網(wǎng)絡(luò)。測量值和用戶信息顯示在大型液晶顯示器上。弱光時，顯示器可選背景照明，確保閱讀屏幕數(shù)據(jù)。1.2.1 MINITEST1100MINITEST 1100型可以方便

8、地測量，測量值不存儲、不統(tǒng)計。1.2.2 MINITEST2100MINITEST2100型的存儲器陣列可自動存儲10,000個以上讀數(shù)。數(shù)據(jù)可打印和統(tǒng)計評估。1.3 配置主機(jī)、測頭、零點(diǎn)樣板、標(biāo)準(zhǔn)箔、堿電池和多語言操作手冊。可選附件:· 特殊功能的測頭· MINIPRIN2100便攜打印機(jī)(帶串行電纜)· 皮盒，或防塵罩· 程序軟盤MSOFT41，運(yùn)行于WINDOWS 95，用來處理MINITEST數(shù)據(jù)、統(tǒng)計值和直方圖· MINITEST/PC的9/25針串行接口電纜· MINITEST/Mitutoyo打印機(jī)的串行電纜·

9、 精密支架，用于高精度測量和小樣本測量· 220VAC/12VDC電源· 110VAC/12VDC電源· 蓄電池和充電器(220VAC或110VAC)1.4 速查卡鍵盤說明和指令舉例，見封二1.5 測頭1.5.1 測頭結(jié)構(gòu)所有的測頭(CNO2和特殊測頭除外)都安裝在套管里，以確保測頭安全穩(wěn)定地定位，并保持測頭適當(dāng)?shù)慕佑|壓力。套管前端的V型槽可保證在凸面上準(zhǔn)確測量。測量時須握住測頭上套管，保持測頭軸線與被測面垂直(見圖)。測頭的頂端，由耐用的硬質(zhì)材料制成。1.5.2 MINITEST測頭一覽下表所列測頭都可與MINITEST1100，2100連接區(qū)分測頭類型的標(biāo)志有

10、:保護(hù)套顏色黑=F頭紅=N頭綠=FN頭測頭說明書識別型號，代碼，如F1(A1)測頭的標(biāo)識代碼須與主機(jī)內(nèi)存的數(shù)據(jù)相對應(yīng)，當(dāng)定購、更換測頭時，須報出識別代碼。切記:MINITEST1100/2100和測頭是可以更換的。若用戶有幾臺MINITEST主機(jī)和多只測頭，則可根據(jù)需要進(jìn)行各種組合。測頭類型表型號量程適別代碼F060600mmA0鐵基體F1.601600mmA1F303000mmA1F1.6/9001600mmA4F2/9002000mmA4F10010mmA6F20020mmA8F50050mmAAFN1.601600mm80鐵、非鐵基體FN202000mm80N020200mmA2非鐵基體

11、N1.601600mmA3N202000mmA3N1.6/9001600mmA5N2/9002000mmA5N10010mmA7N20020mmA9N1000100mmB1CN0210200mmB4絕緣體上金屬2. MINITEST1100，2100使用前準(zhǔn)備2.1 檢查電源1. 9V堿性電池、9V蓄電池或直流電源2. 按ON鍵，檢查電池· 無LC顯示，表示無電池，或蓄電池充電電壓低，無法顯示。須充電。· 無BAT顯示，電池已充足電· BAT顯示，主機(jī)1秒鐘后自動關(guān)機(jī)。請迅速更換電池。如果在測量時，BAT不斷地閃爍，表示電池電壓低，須更換。否則LC顯示屏?xí)@示BA

12、T，并在1秒后自動關(guān)機(jī)。注意：即使在電壓低的時候，也不會作錯誤測量。2.2 更換電池1) 將主機(jī)翻轉(zhuǎn)2) 用十字螺絲刀松下電池盒的螺絲3) 揭下盒蓋4) 取出電池5) 置入新電池注意:確保正、負(fù)極無誤，否則所有存儲數(shù)據(jù)將會丟失。換電池時間間隔超過10秒也會使數(shù)據(jù)丟失(包括讀數(shù)、校準(zhǔn)值、時間和日期)6) 裝上螺絲2.3 選擇測頭根據(jù)任務(wù)選擇測頭(請閱技術(shù)指標(biāo))，安上并擰緊。2.4 啟動功能和儀器基本設(shè)置MINITEST1100和2100有些功能，只有在啟動的時候才能起用:初始功能表功能按鍵組合總復(fù)位FUNC+CLEAR+ONLCD測試ñ+ON批處理目錄列表APPL+ON調(diào)整時鐘CAL+

13、ON儀器選項設(shè)置FUNC+ON2.4.1 總復(fù)位總復(fù)位將消除所有存儲數(shù)據(jù)，包括讀數(shù)和統(tǒng)計數(shù)據(jù)，極限值，校準(zhǔn)值。還將消除所有臨時設(shè)置，并恢復(fù)到基本的Modi-設(shè)置。重新啟動前須插上測頭1) 關(guān)機(jī)2) 同時按CLEAR+FUNC+ON鍵，長長一聲“嘀”表明功能已確認(rèn)。2.4.2 LCD液晶顯示器測試，檢測LC顯示的每一段1) 關(guān)機(jī)2) 同時按ñ+ON鍵，直到“嘀”一聲，一直摁住ñ鍵即顯示LC顯示屏的所有部分。2.4.3 顯示/調(diào)整時間和日期儀器的石英計時器，可將時鐘信息轉(zhuǎn)到MINIPRIN2100上，打印統(tǒng)計數(shù)據(jù)時即附有當(dāng)時日期和時間。如需顯示，調(diào)整日期和時間，其步驟如下:1)

14、 關(guān)機(jī)。2) 同時摁CAL+ON鍵，直到嘀的一聲。如使用的是FN頭，還需接一個箭頭鍵。3) TIME字樣閃爍，并顯示年份，形如Y=954) 用箭頭鍵調(diào)節(jié)至正確的年份。5) 按CAL顯示出月份。6) 用箭頭鍵調(diào)節(jié)至正確的月份。7) 按CAL顯示出日期。8) 用箭頭鍵調(diào)節(jié)至正確的日期。9) 按CAL顯示出小時。10) 用箭頭鍵調(diào)節(jié)至正確的小時。11) 按CAL顯示出分鐘。12) 用箭頭鍵調(diào)節(jié)至正確的分鐘。13) 再按CAL鍵保存新的日期和時間，秒鐘重置為0。儀器自動返回至測量模式。注意:在顯示和調(diào)整時，時鐘停走。如無須調(diào)整，則按CLEAR，儀器回至測量模式。例如開機(jī)時為4月1日，會有一段音樂。音樂

15、停止后，可變更日期。2.5 儀器的基本設(shè)置1) 關(guān)機(jī)。同時按FUNC+ON鍵。2) 直到聽到信號，儀器此時顯示一對數(shù)字:1:0或1:1注意:如使用FN2頭，則用ñ轉(zhuǎn)到F方式，用ò轉(zhuǎn)到N方式。3) 按FUNC鍵可在1-8功能中移動，用箭頭鍵來設(shè)置0或1。4) 再按FUNC鍵，返回到測量模式。FUNCñ ò模式設(shè)定10單位選擇公制/mm1英制/inch20關(guān)機(jī)模式延時自動關(guān)機(jī)1非自動關(guān)機(jī)30數(shù)字模式浮點(diǎn)小數(shù)1定點(diǎn)小數(shù)40統(tǒng)計模式單測值統(tǒng)計1批測值統(tǒng)計50統(tǒng)計輸入方式*手動1自動60等待讀值穩(wěn)定*穩(wěn)定的讀值1每個讀值70ZERO,CAL,CTC各鍵的鎖定開鎖1

16、鎖定80背景光無背景光1有背景光90存儲最小值*不存儲1存儲100無此功能12.5.1 選擇測量單位: 公制 / 英制將測量單位從公制(m，mm，cm)轉(zhuǎn)換至英制(密耳，英寸)，步驟如下:1) 關(guān)機(jī)2) 同時按FUNC+ON鍵。3) 聽到'嘀'一聲，儀器會顯示一對數(shù)字(如1:0)4) 用箭頭鍵調(diào)節(jié)所需的測量單位，0=公制，1=英制5) 按FUNC鍵8次，返回測量模式。測量即使用新的測量單位，以前存儲的讀數(shù)也會自動轉(zhuǎn)換成新的測量單位(僅對MINITEST 2100)。2.5.2 自動關(guān)機(jī)與非自動關(guān)機(jī)的選擇儀器可設(shè)置為90秒自動關(guān)機(jī)，和非自動關(guān)機(jī)。參閱2.5節(jié)的設(shè)置表，用FUNC鍵

17、和ñ、ò箭頭鍵調(diào)至所需模式。2.5.3 浮點(diǎn)小數(shù)和定點(diǎn)小數(shù)的選擇參閱2.5節(jié)的設(shè)置表，用FUNC鍵和ñ、ò箭頭鍵調(diào)至所需模式。2.5.4 單值和批組統(tǒng)計之間的轉(zhuǎn)換(僅對MINITEST 2100)單值統(tǒng)計給出讀數(shù)的平均值，批組統(tǒng)計則給出均值的均值(平均值的平均值)。批組統(tǒng)計時,每組通常為5個讀數(shù),讀值的個數(shù)也可通過PC電腦選定。統(tǒng)計計算結(jié)果可打印,或送至PC電腦。參閱2.5節(jié)的設(shè)置表，用FUNC鍵和ñ、ò箭頭鍵調(diào)至所需模式。2.5.5 數(shù)據(jù)存儲的人工和自動模式之間的轉(zhuǎn)換(僅對MINITEST 2100)0:人工存儲，用ñ鍵實(shí)

18、現(xiàn)。1:自動存儲。自動模式下，讀數(shù)以每秒5個的速度輸入內(nèi)存。連續(xù)模式測量時，測量值自動進(jìn)入內(nèi)存。如果要有選擇地使讀數(shù)進(jìn)入內(nèi)存，即采用人工存儲模式。人工存儲模式下，用ñ鍵或腳踏開關(guān)(另購)輸入數(shù)據(jù)(請閱)。參閱2.5節(jié)的設(shè)置表，用FUNC鍵和ñ、ò箭頭鍵調(diào)至所需模式。2.5.6 連續(xù)模式中，測量穩(wěn)定后數(shù)據(jù)才被顯示和存儲標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置下，通過數(shù)字濾波器，只有當(dāng)測量信號穩(wěn)定在給定的范圍之內(nèi)后，讀數(shù)才被顯示，稱為“等待讀數(shù)穩(wěn)定”。在連續(xù)測量模式中，“等待讀數(shù)穩(wěn)定”過程可被取消。這樣可以簡便地識別最大和最小厚度值。(見4.2.8和4.2.14)僅2100可以傳輸統(tǒng)計數(shù)據(jù)。參閱2.

19、5節(jié)的設(shè)置表，用FUNC鍵和ñ、ò箭頭鍵調(diào)至所需模式。2.5.7 ZERO，CAL，CTC，OFFSET鎖定，鎖定校準(zhǔn)鍵利用KEYLOCK鎖定功能，可避免錯誤的校準(zhǔn)。CTC僅對2100。參閱2.5節(jié)的設(shè)置表，用FUNC鍵和ñ、ò箭頭鍵調(diào)至所需模式。2.5.8 背景光照明選擇(可選)LC照明燈可選。設(shè)定時，讀取讀數(shù)后燈亮2秒種。照明燈需耗電。參閱2.5節(jié)的設(shè)置表，用FUNC鍵和ñ、ò箭頭鍵調(diào)至所需模式。2.5.9 在連續(xù)模式下，保留最小測量值該功能可以確定一次連續(xù)測量中的最小值。測量時顯示當(dāng)前值，抬起探頭后則顯示這一串讀值中的最小值5秒

20、鐘。用ñ鍵或腳踏開關(guān)，可以把該值送去統(tǒng)計。該最小值在送去統(tǒng)計或顯示5秒后即被刪除。在5秒內(nèi)又作下一次測量，則已存在的最小值也被保留。這一功能用來在連續(xù)測量中，觀察最小值。參閱2.5節(jié)的設(shè)置表，用FUNC鍵和ñ、ò箭頭鍵調(diào)至所需模式。2.5.10 單次測量和連續(xù)測量模式的轉(zhuǎn)換連續(xù)測量模式下，探頭無須在每次測量后抬起。1) 開機(jī)2) 按FUNC，然后CONTINUE鍵，一聲"嘀"，即確認(rèn)了模式轉(zhuǎn)換。3) 連接模式下，測量單位(m，mils)閃爍。讀值超出量程將標(biāo)明-。連續(xù)測量模式下，無伴隨的"嘀"聲，無背景燈照明。4) 用

21、41;鍵或腳踏開關(guān)(另購)控制，讀數(shù)是否進(jìn)入統(tǒng)計內(nèi)存。5) 按照中方法，只要內(nèi)存足夠，讀數(shù)即可連續(xù)、自動地進(jìn)入統(tǒng)計程序。6) 要返回標(biāo)準(zhǔn)單次測量模式，或者重復(fù)步驟1和2，或者關(guān)機(jī)、開機(jī)一次(關(guān)、開機(jī)不適合探頭F2/90，N2/90，N100)3. 校準(zhǔn)及測量3.1 校準(zhǔn)3.1.1 校準(zhǔn)方式MINITEST1100/2100有以下五種不同的校準(zhǔn)方式：· 標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn):適合平整光滑的表面和大致的測量。例如，低于一點(diǎn)校準(zhǔn)精度要求的場合。· 一點(diǎn)校準(zhǔn):置零，不用標(biāo)準(zhǔn)箔。用于允許誤差超過3%的場合。· 二點(diǎn)校準(zhǔn):置零，用一片標(biāo)準(zhǔn)箔。用于誤差范圍在1-3%(最大)之間的測量。探頭

22、誤差范圍應(yīng)另考慮。· 二點(diǎn)校準(zhǔn):置零，用二片標(biāo)準(zhǔn)箔。用于以下場合:A). 在粗糙表面測讀;B). 厚度在兩片箔厚之間的平滑表面的精確測量。透過厚度未知涂層的校準(zhǔn):用箔校準(zhǔn)(僅適用于F06、F1.6、F3、作F用的FN2測頭,以及F1.6/90、F2/90、F10、F20、F50探頭)。如果被測樣本在校準(zhǔn)時，沒有無涂層的用于比較的樣本，應(yīng)當(dāng)采用此法校準(zhǔn)。注意:校準(zhǔn)箔是指所有的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，包括2mm，5mm，10mm厚的標(biāo)準(zhǔn)板。3.1.2 保存校準(zhǔn)值儀器在指定條件下校準(zhǔn)，其校準(zhǔn)值即存入內(nèi)存，直到再次校準(zhǔn)(見)。若使用同一個探頭，要改變校準(zhǔn)值，只需重新做一次校準(zhǔn)，這樣就自動刪除先前的校準(zhǔn)值，

23、存入新值備用。注意:在校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)下列情況必須重新校準(zhǔn)：· 讀入錯誤讀數(shù)· 輸入錯誤命令· 儀器關(guān)機(jī)3.1.3 校準(zhǔn)舉例精確的測量必須校準(zhǔn)，校準(zhǔn)樣本越接近被測樣本，校準(zhǔn)和測量就越準(zhǔn)確。例如:如果被測樣本是一個直徑為6mm的低碳鋼柱，那么無涂層校準(zhǔn)樣本的直徑和材料也必須相同。校準(zhǔn)樣本必須在下列幾點(diǎn)上與被測樣本相符:· 表面曲率半徑· 基體材料· 基體厚度· 被測面積校準(zhǔn)樣本上，校準(zhǔn)點(diǎn)位置必須與產(chǎn)品的測量點(diǎn)一致。如果測量小樣本或邊角位置，最好用精密支架定位。3.1.4 基體厚度的影響只要鋼基體厚度大于探頭的量程，對測量就沒有影

24、響。對于有色金屬，基體厚度大于40m就足夠了。但要保證基體在探頭接觸壓力下不變形，例如可以把一塊薄鋁片放在硬質(zhì)基體上測量。隨附的鋼、鋁零板僅用于測試，一般不用于校準(zhǔn)。除非待測樣本表面平滑并具備以下條件，零板方可用于校準(zhǔn):1) 鋼部件厚度超過1mm，可以把零板放在被測樣本上校準(zhǔn)。2) 鋁部件厚度超過40m，所附鋁箔可用于校準(zhǔn)。測量時要把鋁箔緊貼在一塊硬質(zhì)基體上。3.1.5 提高校準(zhǔn)精度為得到高精度校準(zhǔn)，有必要將校準(zhǔn)值(零值和校準(zhǔn)箔值)逐次存入多次。這樣，儀器會自動形成一個平均校準(zhǔn)值，詳見的校準(zhǔn)，這種方式在非平滑，例如噴丸表面校準(zhǔn)特別有利。3.1.6 清潔測點(diǎn)校準(zhǔn)前，測量點(diǎn)和探頭頂部的油漬，金屬碎

25、屑須清除干凈。少量的雜質(zhì)也會影響測量，改變讀數(shù)。3.1.7 “嘀嘀”聲鳴響信號校準(zhǔn)和測量中，儀器嗚響之前探頭都不得移位。嗚響后探頭才能離開。3.1.8 溫度補(bǔ)償特性在不同的環(huán)境溫度下儀器無需重新校準(zhǔn)。儀器自動對溫度變化補(bǔ)償(見技術(shù)數(shù)據(jù))。3.2 校準(zhǔn)分述按照校準(zhǔn)時，基本步驟如下:1) 按相關(guān)的校準(zhǔn)鍵(ZERO，CAL或CTC)開始校準(zhǔn);2) 將探頭置于試板上;3) 再按校準(zhǔn)鍵(ZERO，CAL，CTC)停止校準(zhǔn)。3.2.1 使用標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)適用于除CN02外的所有探頭。方法如下：12ZEROOCLEARR標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)ZERO閃爍清除1) 按ZERO鍵2) 按CLEAR鍵3) 讀數(shù)存儲在儀器中的

26、標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)僅只適用于平滑表面的測量，例如:a).生鐵，b).鋁材上。注意:重要的是記錄下多個物涂層樣本上的精確的零讀數(shù)。否則，須使用一點(diǎn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn).3.2.2 無箔的一點(diǎn)校準(zhǔn)(只校零，適用于除CNO2外的所有探頭)，步驟如下:123êZEROZERO無箔的單點(diǎn)校準(zhǔn)ZERO閃爍多次測量ZERO不閃爍1） 按ZERO鍵，啟動零校準(zhǔn)。顯示屏將顯示ZERO(閃)和MEAN(不閃)字樣。MEAN表示顯示的是平均值。2） 將探頭置于無涂層樣本上(即零測厚)，嘀一聲后再抬起探頭。重復(fù)多次，顯示器始終顯示先前讀數(shù)的平均值。3） 按ZERO鍵，ZERO字樣停止閃爍。4） 校準(zhǔn)完成，開始測量。5） 若要消

27、除零校準(zhǔn)，方法有二：a) 按ZERO+CLEAR鍵，即刪除零校準(zhǔn)和任何存在的校準(zhǔn)值。注意:這樣須重新使用平滑表面的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)。b) 重復(fù)以上1-3步，重新開始零校準(zhǔn)。3.2.3 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(帶有一片校準(zhǔn)箔的零校準(zhǔn))1234567êZEROZEROCALCALê用零板和校準(zhǔn)箔進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)ZERO閃爍多次測量ZERO不閃爍CAL閃爍用箔進(jìn)行多次測量調(diào)整數(shù)值CAL不閃爍適用于所有探頭(CNO2除外)的高精度測量，小部件測量和硬的低合金鋼。兩點(diǎn)校準(zhǔn)步驟如下:1) 按ZERO鍵，開始零校準(zhǔn)，顯示屏將顯示ZERO(閃)和MEAN(不閃)，MEAN'表示讀數(shù)是平均值。2) 將探頭置于

28、無涂層樣板上，“嘀”一聲后抬起探頭。如此若干次。顯示器總是顯示先前讀數(shù)的平均值。按CLEAR中止零校準(zhǔn)。3) 按ZERO鍵，“ZERO”停止閃爍。4) 按CAL鍵開始用箔校準(zhǔn)，顯示器上出現(xiàn)CAL(閃)和MEAN(不閃)字樣。MEAN'表示讀數(shù)是平均值。5) 將校準(zhǔn)箔置于無涂層樣本上，放上探頭，“嘀”聲后抬起探頭。如此數(shù)次。所選箔的厚度應(yīng)大致與被測涂層厚度相當(dāng)。按CLEAR鍵中止校準(zhǔn)。6) 用ñ，ò箭頭鍵將讀數(shù)調(diào)節(jié)至表明的箔厚。7) 按CAL鍵，“CAL”停止閃爍。校準(zhǔn)完畢，開始測量。8) 將探頭置于未知涂層上測讀，“嘀”一聲后抬起探頭。9) 必要時候，例如輸入了錯誤

29、的數(shù)據(jù)，可刪除CAL校準(zhǔn)值。方法有二:a) 按CAL，CLEAR鍵，清除校準(zhǔn)和所有零校準(zhǔn)。注意:這將重新激活用于平滑表面的默認(rèn)的校準(zhǔn)值。b) 重復(fù)以上步驟4-7，重新啟動CAL校準(zhǔn)。這樣就可以自動覆蓋老的校準(zhǔn)值，存入新值。注意:無論是在直接或是批處理方式測讀，箔校準(zhǔn)都可根據(jù)需要隨時進(jìn)行。老的校準(zhǔn)值將被覆蓋，零校則保存在內(nèi)存中。特別注意，用F10，F(xiàn)20探頭測量金屬覆層，校準(zhǔn)時，校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)必須與實(shí)際覆層是同種金屬。3.2.4 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(用兩片箔)適用于除CN02外的所有探頭兩點(diǎn)校準(zhǔn)僅適用于非連續(xù)測量模式。測量模式可用中的方式轉(zhuǎn)換。這種方法要用兩片厚度至少相差2倍的校準(zhǔn)箔。被測樣本覆層預(yù)計厚度最好在

30、這兩片校準(zhǔn)箔之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴砂表面和高精度測量。校準(zhǔn)時采用多次測讀取平均值的方法，可以大大地減少高低值校準(zhǔn)時出現(xiàn)的波動帶來的影響。兩點(diǎn)校準(zhǔn)(用兩片箔)步驟如下:12345678CALCALêCALCALê用兩片校準(zhǔn)箔進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)CAL閃爍用箔1進(jìn)行多次測量調(diào)整數(shù)值CAL不閃爍CAL閃爍用箔2進(jìn)行多次測量*調(diào)整數(shù)值CAL不閃爍1) 按ZERO鍵，置探頭于無覆層的樣本上，再按ZERO鍵。得到一個大概的零點(diǎn)。校準(zhǔn)箔可以任何順序使用。2) 按CAL鍵開始用箔校準(zhǔn)，顯示器上出現(xiàn)CAL(閃)和MEAN(不閃)字樣。MEAN'表示讀數(shù)是平均值。3) 用較薄的一片校

31、準(zhǔn)箔(比如,大約10-30u)置于無涂層樣本上，置上探頭，"嘀"聲后抬起探頭。如此若干次。按CLEAR鍵，終止校準(zhǔn)。4) 用ñ、ò鍵調(diào)整讀數(shù)至標(biāo)準(zhǔn)箔厚度。5) 按CAL鍵，“CAL”停止閃爍。儀器接受了第一個校準(zhǔn)值。6) 按CAL鍵開始校準(zhǔn)。此步須緊跟第5步以后，儀器在按CAL鍵以前不接受讀數(shù)。顯示器上出現(xiàn)CAL(閃)和MEAN(不閃)字樣。'MEAN'表示讀數(shù)是平均值。7) 用較厚的一片校準(zhǔn)箔(至少是薄的2倍)置于無涂層樣本上，置上探頭，"嘀"聲后抬起探頭。如此若干次。按CLEAR鍵，終止校準(zhǔn)。8) 用ñ、

32、ò鍵調(diào)整讀數(shù)至標(biāo)準(zhǔn)箔厚度。9) 按CAL鍵，“CAL”停止閃爍。10) 校準(zhǔn)完畢，開始測量。11) 需要時(例如輸入錯誤數(shù)據(jù))可刪除CAL校準(zhǔn)值。方法有二:a) 按CAL，CLEAR鍵，清除校準(zhǔn)值。注意:這將重新激活用于平滑表面的默認(rèn)的校準(zhǔn)值。b) 重復(fù)2-9步驟，重新開始CAL校準(zhǔn)。將會自動覆蓋老的校準(zhǔn)值，存入新值。3.2.5 透過鍍層校準(zhǔn)(Calibration Through CoatingCTC方式，專利號DE3404720C2)若校零時鍍層不能移開，用CTC方式特別方便。CTC僅適用于F06，F(xiàn)N2(F部分)，F(xiàn)2，F(xiàn)2/90，F(xiàn)10，F(xiàn)20和F50等探頭。CTC模式僅適用

33、于校準(zhǔn)點(diǎn)涂層光滑，并且測量值可重現(xiàn)的場合。CTC不能用于有織構(gòu)的酥松的覆層。FUNCCTCCTCCTCêê在有涂層表面上進(jìn)行校準(zhǔn)統(tǒng)計CTC閃爍多次測量用箔進(jìn)行多次測量調(diào)整數(shù)值CTC不閃爍1) 按FUNC+CAL/CTC鍵，開始CTC校準(zhǔn)。顯示CTC(閃)和MEAN(不閃)字樣。MEAN'表示讀數(shù)是平均值。2) 測讀。將探頭置于被測樣本的校準(zhǔn)點(diǎn)，'嘀'一聲后抬起探頭。如此數(shù)次。3) 按CAL鍵。4) 將校準(zhǔn)箔置于同一點(diǎn)，置探頭其上，'嘀'一聲后抬起探頭。如此數(shù)次。按CLEAR鍵，終止校準(zhǔn)。所選箔厚應(yīng)該大致等同于預(yù)計的覆層厚度。5) 用&

34、#241;、ò鍵調(diào)整讀數(shù)至標(biāo)準(zhǔn)箔厚度。6) 按CAL鍵，CTC停止閃爍。7) 校準(zhǔn)完畢，開始測量8) 必要時，可刪除CTC校準(zhǔn)。方法有二。a) 按FUNC+CAL / CTC+CLEAR鍵，刪除CTC校準(zhǔn)。注意:這將會激活用于平滑表面的默認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)值。b) 重復(fù)以上1-6步，重新開始CTC校準(zhǔn)，老的校準(zhǔn)值被自動覆蓋，新值存入。3.2.6 用FN2兩用智能型探頭的校準(zhǔn)和測量FN2智能型測頭，既可用磁感應(yīng)原理工作，又可用渦流原理工作。選擇F方式和N方式,方法如下:按ON鍵開機(jī)，測量方式FERRONS'字樣會閃現(xiàn)在屏幕上。用ñ鍵，選擇Ferrous'電磁感應(yīng)法。

35、按ò鍵，選擇non-ferrous'電渦流方法。如果不按鍵，則儀器在5秒后自動顯示Ferrous'電磁感應(yīng)原理。校準(zhǔn)和測量方法，請見、或。3.2.7 用N10和N20探頭校準(zhǔn)和測量使用N10和N20探頭校準(zhǔn)和測量，校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)和涂層必須是非導(dǎo)電材料。1) 標(biāo)準(zhǔn)化 1 2 3êZEROFUNC乙烯塊將探頭放在兩片箔中厚的一片上，箔下面無任何金屬。為避免任何外部非導(dǎo)電性影響，校準(zhǔn)箔的最有效的基體是至少3cm厚的聚笨乙烯塊。按FUNC+ZERO鍵。2) 校零和校準(zhǔn) 4 5 6 7 8 9 10ZEROZEROêCALêCAL ZERO閃 零板 ZE

36、RO不閃 CAL閃 多次測量 CAL停閃按3.2.2、3.2.3或3.2.4的方法校準(zhǔn)和測量。3）消除涂層材料的非導(dǎo)電性影響置探頭于涂層上，無金屬基體。按FUNC+ZERO鍵。 11 12 13ZEROFUNCê 多次測量注意:這會消除自動溫度補(bǔ)償性能，萬一溫度變化時需重新校準(zhǔn)。3.2.8 用N100探頭校準(zhǔn)和測量用N100探頭測量材料或涂層厚度，基體材料可為鐵磁性的或非鐵磁性的?；w面積至少30×30cm。在面積較小,但不小于15×15cm時，測量誤差增大(見表)。要將誤差減至最小，請注意以下兩點(diǎn):(a). 校準(zhǔn)時，選擇標(biāo)準(zhǔn)片厚度應(yīng)與材料厚度接近(見以下校準(zhǔn)方法

37、)。(b). 用兩個標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)。預(yù)期的厚度應(yīng)介于兩標(biāo)準(zhǔn)片厚度之間。校準(zhǔn)方法如所述。1) 開機(jī)，開機(jī)后，儀器自動進(jìn)入連續(xù)測量模式。連續(xù)模式有利于測量材料厚度。閃現(xiàn)的測量單值(um，mils)表示正在使用連續(xù)模式。厚度超過量程則顯示-。如需單值測量，可按FUNC+CONTINUE鍵2) 標(biāo)準(zhǔn)化 1 2 3ZEROFUNC將探頭懸空，并按FUNC+ZERO鍵3) 置零 4 5 6ZEROZERO將探頭置于無涂層表面，并按ZERO鍵，'ZERO'字樣閃現(xiàn)，并有連續(xù)的嘀聲。再按ZERO鍵，ZERO'停止閃爍，'嘀聲停止，顯示0.0mm。 7 8 9 10CALCA

38、L CAL閃 CAL停閃4) 校準(zhǔn)將提供的校準(zhǔn)片(例如大約50MM)置于探頭底部凹處。校準(zhǔn)片厚度應(yīng)接近被測物預(yù)計厚度。將兩者放于“反射”箔(即基體)上，探頭底部須與基體平行。按CAL，'CAL'字樣閃現(xiàn)并伴有連續(xù)的'嘀'聲。用箭頭鍵調(diào)整讀數(shù)至標(biāo)準(zhǔn)厚度。再按CAL，CAL停止閃爍。5) 消除涂層材料的非導(dǎo)電性影響 11 12 13ZEROFUNC輸入校準(zhǔn)值以后，將探頭置于無金屬基體的材料上(至少厚30mm)。按FUNC，ZERO鍵。此過程須在校準(zhǔn)a)、b)的前題下執(zhí)行。6) 儀器現(xiàn)在可以測量了注意:建議在以下情況下重新檢查、校準(zhǔn)1) 關(guān)機(jī)兩個多小時以后2) 溫度變

39、化10以上3) 儀器用于其它類型材料時，需重復(fù)第5點(diǎn)。3.2.9 用F20探頭測量和校準(zhǔn)接上探頭，開機(jī)。開機(jī)后儀器自動進(jìn)入連續(xù)測量模式，連續(xù)模式有利于測量材料厚度。連續(xù)模式下，mm、mm等單位在閃爍。厚度超出量程則顯示(-)。將探頭懸空，按FUNC+ZERO鍵。以消除溫度變化的影響。隨著一聲響，探頭和儀器校準(zhǔn)完畢。參見4.1、4.2。開始測量，可以用ñ鍵將該數(shù)取入統(tǒng)計。3.2.10 用F50探頭測量和校準(zhǔn) F50探頭必須與MlNlTEST1100/2100連用來校準(zhǔn)和測量。參見、4.2.4.校準(zhǔn)和測量。探頭位置對測量結(jié)果有影響。為此，儀器自動讀取無窮遠(yuǎn)值時探頭對被測物體的角度，和用探

40、頭測量時探頭對被測物體的角度必須相同。此外，測量時探頭接近被測物體的速度必須恒定。為消除磁滯誤差，每次測量后探頭必須遠(yuǎn)離被測物體，并確保遠(yuǎn)離任何金屬物體至少0.3m。注意：F50探頭的磁場可能干擾臨近的電子設(shè)備或儀器。要免除干擾，建議應(yīng)遠(yuǎn)離電腦、監(jiān)視器、或其它電磁數(shù)字信號至少1m。3.2.11 用內(nèi)孔探頭F2/90等校準(zhǔn)和測量包括F1.6/90、F2/90、N1.6/90，N2/90在單次測量模式下，校準(zhǔn)和測量方式如常。連續(xù)測量模式的測量和校準(zhǔn)過程稍有不同:1).按照3.2.2、3.2.3、3.2.4所述，用單次測量模式方法進(jìn)行。2).可按ñ鍵，或腳踏開關(guān)將最后一個讀數(shù)輸入內(nèi)存。用F

41、UNC+CONTINUE鍵在單次和連續(xù)測量之間轉(zhuǎn)換。3.2.12 銅、鋁、黃銅上的鍍鉻層的校準(zhǔn)和測量適用于FN1.6, FN2, N2, N1.6/90和N2/90探頭，需一個特殊的校準(zhǔn)箔。1) 必須使用的兩點(diǎn)校準(zhǔn)方式。2) 用標(biāo)明為“銅上鍍鉻”，“鋁上鍍鉻”或“黃銅上鍍鉻”等的特殊標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。3.2.13 用CN02探頭校準(zhǔn)和測量CN02是用于平滑表面，測量銅片或銅箔的厚度的探頭。CN02僅能用一點(diǎn)法校準(zhǔn):1) 按CAL開始校準(zhǔn)。LC顯示CAL(閃)和MEAN(不閃)，MEAN表明讀數(shù)是平均值。2) 將金屬校準(zhǔn)箔置于至少10mm厚的無涂層絕緣樣本表面。置探頭其上，嘀聲后抬起探頭，如此數(shù)次。按

42、CLEAR鍵終止校準(zhǔn)。箔的厚度應(yīng)該大致等同于預(yù)計的樣本厚度。3) 用ñ、ò鍵調(diào)整讀數(shù)至標(biāo)準(zhǔn)箔厚度。4) 按CAL鍵，CAL停止閃爍。5) 校準(zhǔn)完畢，開始測量注意:· 對雙面覆層PC印刷電路板需用雙面敷銅標(biāo)準(zhǔn)板校準(zhǔn)。· 測量銅以外的非鐵磁性金屬箔時按1-5步驟進(jìn)行校準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)箔材料應(yīng)與實(shí)際覆層材料相同。3.2.14 在噴丸表面校準(zhǔn)和測量噴砂表面的物理性質(zhì)導(dǎo)致讀數(shù)偏大，其尖端上的覆層平均厚度可用下面的方法確定。統(tǒng)計程序在這里非常有用。方法一：用或的方法，將儀器在曲率半徑和基體材料相同的平滑表面校準(zhǔn)好。在無覆層的經(jīng)過同樣噴砂處理的表面測量10次左右，得到一個平均

43、值,記作。再在有涂層的噴砂的被測樣本上測次得到中值。Xm與Xo之差(Xm - Xo)±S就是復(fù)層厚度。其中S是Xm與Xo二個值的標(biāo)準(zhǔn)偏差。將Xo值作為一個負(fù)的OFFSET值輸入。方法二：此方式用于表面粗糙度20um的表面。1).在噴丸的無涂層基體上作一次用10個讀數(shù)的零校準(zhǔn)。2).然后在無涂層的基體上，用一片校準(zhǔn)箔測讀5-10次,用平均值校準(zhǔn)。該箔可由數(shù)片小于50um的箔組成，箔厚應(yīng)與預(yù)計涂層厚度相同。方法三(僅適合MINITEST 2100):用兩片校準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。按中的兩點(diǎn)法校準(zhǔn)，此法的結(jié)果更可靠。應(yīng)對每片校準(zhǔn)箔測讀5-10次,用平均值校準(zhǔn)。校準(zhǔn)箔可由數(shù)片小于50um的箔組成，箔厚應(yīng)

44、與預(yù)計涂層厚度相同。注意:以上方式在涂層厚度超過300um時，表面粗糙程度可被忽略。3.2.15 調(diào)整基礎(chǔ)校準(zhǔn)值以下情況下，要調(diào)整基礎(chǔ)校準(zhǔn)值:· 如果探頭磨損· 為特殊用途(必要時,請與生產(chǎn)廠家聯(lián)系)基礎(chǔ)校準(zhǔn)由PC電腦，用特殊軟件設(shè)置。3.3 測量和誤差如果校準(zhǔn)正確，所有讀數(shù)將保持在允許誤差范圍之內(nèi)(見技術(shù)數(shù)據(jù))。強(qiáng)磁場、大電流(如變壓器輸出端、母線附近)會使測量顯示延遲。用統(tǒng)計程序在一個點(diǎn)多次測讀，校準(zhǔn)和測量會更加精確。異常的讀數(shù)要用CLEAR鍵擦除。最后的結(jié)果是統(tǒng)計計算和允許誤差之和：ThX±s±uTh復(fù)層厚度；X平均值；s標(biāo)準(zhǔn)偏差；u儀器充許誤差。

45、例如：X153m，s±3mu±(1X+1m)±(1.5m+1m)±2.5mTh(153±(3+2.5)m(153±5.5)m3.4 使用腳踏開關(guān)連續(xù)測量模式下，操作員可以用ñ鍵或腳踏開關(guān)(選件)確定哪些讀數(shù)進(jìn)入統(tǒng)計程序。腳踏開關(guān)在操作員兩手同時操作時特別有用，比如用管內(nèi)測頭F1/90,N2/90時。4. 測量統(tǒng)計本節(jié)只適合于MINITEST 2100MINITESF 2100測厚儀有兩種統(tǒng)計程序。一種是讀數(shù)統(tǒng)計，一種是組統(tǒng)計(DIN 50982)。MINITES1100能從批存儲器的多至100個讀數(shù)中完成統(tǒng)計，MINITES

46、2100能從批存儲器的多至10000個讀數(shù)中完成統(tǒng)計。統(tǒng)計值和讀數(shù)可以打印(參見4.5,4.6,4.7)。· 讀數(shù)統(tǒng)計:該程序自動計算和存儲一系列讀數(shù)，每一組統(tǒng)計結(jié)果均可打印和顯示如下:n-values:讀值數(shù)mean(X):平均值st.d(s):標(biāo)準(zhǔn)偏差kvar:樣本變異系數(shù)max:最大值min:最小值· 組統(tǒng)計(另見):MINITST2100在直接模式下，只有讀數(shù)統(tǒng)計功能。組統(tǒng)計時，讀數(shù)記入組塊。組塊的大小可以由PC和軟件改變。默認(rèn)5個讀數(shù)為1組塊，逐組統(tǒng)計。其統(tǒng)計結(jié)果顯示和打印如下:N-Groups:組塊數(shù)MEAN(X):所有均值的均值ST.D(S):均值標(biāo)準(zhǔn)偏差KV

47、AR:均值變異系數(shù)MAX:最大均值MIN:最小均值注意:每組測量完成(一般是第5次測讀)之后，儀器發(fā)出兩聲"嘀嘀"，對MINITEST2100而言直接模式下無組統(tǒng)計功能。要產(chǎn)生統(tǒng)計結(jié)果，至少需要兩個讀數(shù)或組塊，還需要輸入極限。4.1 統(tǒng)計值的定義平均值:平均值是讀數(shù)之和除以讀數(shù)的個數(shù)。標(biāo)準(zhǔn)偏差:S標(biāo)準(zhǔn)偏差是讀數(shù)的分散。讀數(shù)越分散，標(biāo)準(zhǔn)偏差就越大。S是分散S2的正方根。分散S是讀數(shù)與算術(shù)平均值之差的平方和，除以讀數(shù)的個數(shù)減一。變異系數(shù)Kvar:變異系數(shù)是標(biāo)準(zhǔn)偏差除以平均值，并用百分?jǐn)?shù)表示。工序能力指數(shù)Cp4.2 為統(tǒng)計分析輸入測量值1). 測厚儀上電后即可用于測量。所有讀數(shù)自

48、動記入統(tǒng)計程序。2). 檢查是否需要校準(zhǔn)，是否要刪除多余的統(tǒng)計值。3). 重新校準(zhǔn)，改寫老的校準(zhǔn)值。4). 按FUNC和CLEAR+STATS鍵可以刪除統(tǒng)計值。4.3 刪除不正確的讀數(shù)(參見12)1. 刪除操作必須在測讀后，下一次測讀前完成。2. 按CLEAR鍵，隨著"嘀"的一聲，最后一個讀數(shù)已被刪除。4.4 存儲溢出如果超出存儲能力，測量仍可繼續(xù)進(jìn)行，但統(tǒng)計值不再刷新。若存儲器已滿，后續(xù)讀值不被統(tǒng)計程序接收。并記作E11錯誤信息。4.5 顯示和打印統(tǒng)計值(無測量值)4.5.1 單值統(tǒng)計模式單值統(tǒng)計模式下所有讀數(shù)均可顯示打印1) 顯示統(tǒng)計值(無打印機(jī))按STATS鍵，可即時

49、順序顯示統(tǒng)計值:N(values)，MEAN，ST.D.，Kvar，MAX，MIN。2) 打印單值統(tǒng)計結(jié)果若連接了打印機(jī)，統(tǒng)計結(jié)果可以打印，也可以通過串行接口送到PC計算機(jī)。按STATS鍵，可即時打印(或傳送)統(tǒng)計值:N(values)MEAN，ST.D.，Kvar，MAX，MIN。3) 統(tǒng)計直方圖打印按PRINT鍵，將打印所有讀數(shù)和日期，時間，測頭型號。若設(shè)置了極限值，在MINITEST2100的批處理模式下，還將打印直方圖。注意:單值統(tǒng)計打印，都冠以STATISTCS題頭。按下打印機(jī)的ON鍵可中止打印。測量中可隨時查閱、打印統(tǒng)計值。4.5.2 組統(tǒng)計模式組統(tǒng)計模式下(見)，統(tǒng)計值和讀值均可

50、隨時顯示、打印。1) 無打印機(jī)時顯示單值統(tǒng)計結(jié)果按STATS鍵，可即時順序顯示統(tǒng)計值:N(values)，MEAN，ST.D.，Kvar，MAX，MIN。2) 打印單值統(tǒng)計結(jié)果若連接了打印機(jī)，統(tǒng)計結(jié)果可以打印，也可以通過串行接口送到PC機(jī)。按STATS鍵，可即時打印(或傳送)統(tǒng)計值:N(values)MEAN，ST.D.，Kvar，MAX，MIN。3) 無打印機(jī)時顯示組統(tǒng)計值按PRINT鍵，將逐秒順序顯示統(tǒng)計值N(groups)，MEAN，SD.，Kvar，MAX，MIN。4) 顯示組統(tǒng)計結(jié)果，打印所有統(tǒng)計值和直方圖.按PRINT鍵，將逐秒顯示組統(tǒng)計值。若接有打印機(jī)，則將同時打印這些值以及日期

51、，時間和測頭型號。若設(shè)置了極限，則也打印直方圖。(僅在MINITEST的批處理模式)。注意:組統(tǒng)計打印，都冠以BLOCK-STATISTCS題頭。按下打印機(jī)的ON鍵可中止打印。測量中可隨時查閱、打印統(tǒng)計值。4.6 打印統(tǒng)計值和讀數(shù)4.6.1 單值統(tǒng)計模式單值統(tǒng)計模式下，可以顯示和打印所有讀數(shù)和統(tǒng)計值。按FUNC和PRINT-ALL鍵。若連接了打印機(jī)，將打印:· 所有讀數(shù)· 6個統(tǒng)計值注意:1) 按FUNC和PRINT-ALL鍵，打印讀數(shù)，統(tǒng)計值和直方圖。2) 按PRINT鍵將打印統(tǒng)計值和直方圖。3) 按打印機(jī)的OFF鍵可中止打印。4) 讀值在顯示和打印時均被四舍五入.而讀值

52、進(jìn)入直方圖時不作四舍五入。4.6.2 組統(tǒng)計模式組統(tǒng)計模式下，顯示和打印所有讀數(shù)和統(tǒng)計值1) 顯示組統(tǒng)計值(無打印機(jī))顯示內(nèi)容與.3完全相同。按FUNC和PRINT-ALL鍵，逐秒順序顯示N(groups)，MEAN，ST.D，Kvar，MAX，MIN，CP，CPK。2) 打印所有讀數(shù)，各組的統(tǒng)計值和組統(tǒng)計值按FUNC和PRINT-ALL鍵，將順序打印:· 所有讀數(shù)· 每組的平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，測量次數(shù)。· 組統(tǒng)計值注意:1) 按FUNC和PRINT-ALL鍵，打印讀數(shù)，統(tǒng)計值和直方圖。2) 按PRINT鍵將打印統(tǒng)計值和直方圖。3) 只有設(shè)置了極限才能打印直方圖。4

53、) 按打印機(jī)的OFF-LINE鍵可中止打印。5) 讀值在顯示和打印時均被四舍五入.而讀值進(jìn)入直方圖時不作四舍五入。統(tǒng)計結(jié)果打印顯示一覽表單值統(tǒng)計組統(tǒng)計顯示打印顯示打印按STATS鍵,直接和批處理模式僅單值統(tǒng)計僅單值統(tǒng)計僅單值統(tǒng)計僅單值統(tǒng)計按PRINT鍵批處理模式單值統(tǒng)計、直方圖、時間、日期逐秒顯示組統(tǒng)計值組統(tǒng)計值直方圖、時間、日期按PRINT-ALL鍵，批處理模式所有讀數(shù)、單值統(tǒng)計、直方圖、時間、日期.逐秒顯示組統(tǒng)計值直方圖、時間、日期所有讀數(shù)、組統(tǒng)計值、單值統(tǒng)計打印一例ELEKTRO-PHYSIKSTATS. PROGRAM14-MAR-98 09:08打印日期Probe F3測頭型號12-

54、MAR-98 11:29首次測量日期STATISTICSn-values97測量次數(shù)Mean199mm平均值st.d4.3mm標(biāo)準(zhǔn)偏差kver2.1%變異系數(shù)max206mm最大值min189mm最小值5. 刪除5.1 刪除最后一個讀數(shù)CLEAR刪除最后一個讀值清除讀取讀數(shù)后，緊接著按一下CLEAR鍵，“嘀”一聲表示讀數(shù)已被刪除。5.2 刪除統(tǒng)計值(對MINITEST 2100)FUNCCLEAR刪除統(tǒng)計數(shù)據(jù)統(tǒng)計清除5.3 刪除所有讀數(shù)和相關(guān)的統(tǒng)計值、極限值、校準(zhǔn)值統(tǒng)計值僅對MINITEST 2100CLEARFUNCON1) 關(guān)機(jī)2) 同時按下并保持CLEAR、FUNC、ON三鍵，一長聲“嘀”確認(rèn)刪除了所有數(shù)據(jù)。6. 在未接探頭的情況下使用儀器以下功能可在無探頭連接的情況下使用。