LED芯片進料檢驗標準

1、修訂記錄日期版次修訂條款修訂內(nèi)容簡述修訂人備注編制/日期：審核/日期：批準/日期：會簽總經(jīng)辦財務(wù)中心營銷中心市場部研發(fā)資材中心選購倉庫體系課項目辦人力資源行政事業(yè)部品保工程設(shè)備處OJT運營中心照明（SMD）燈絲插件COB工程設(shè)備IE本資料為源磊科技有限公司之全部財產(chǎn)，未經(jīng)書面許可不準透露或使用本資料，亦不準復印、復制或轉(zhuǎn)變成其它形式使用。1. 目的 規(guī)范公司內(nèi)LED正裝芯片檢驗判定標準。避開不合格原材料流入產(chǎn)線，提高生產(chǎn)良率。2. 范圍 適用于公司LED正裝芯片類產(chǎn)品3. 定義CR：功能不正常嚴峻影響信任性或嚴峻影響成品規(guī)格或嚴峻影響客戶作業(yè)等。MA：成品質(zhì)量有明顯性或潛在性的影響而不能正常使

2、用。 MI：使用上有肯定的影響，但不是功能上的影響。4. 權(quán)責 品保部：品質(zhì)標準的建立、修改、執(zhí)行及相關(guān)品質(zhì)記錄。5.內(nèi)容5.1抽樣依據(jù)：依照MIL-STD-105E并結(jié)合實際狀況。5.2必需是合格供應(yīng)商，承認書和環(huán)保資料齊全，才可進行下一步，否則拒絕檢驗。5.3檢驗標準:檢驗項目檢驗內(nèi)容及標準不良圖示及說明抽樣水準檢驗方法、工具缺陷資料檢查1.型號、數(shù)量、參數(shù)與送貨單據(jù)全都無全檢 目視 送貨單CR包裝標識1. 包裝完好，紙盒整齊、芯片靜電袋、藍膜完好無破損，無受潮現(xiàn)象2.可使用期限必需在保質(zhì)期內(nèi)一半及以上無包裝全檢，藍膜抽10張檢查目視CR外觀檢測電極變色芯片正負極氧化變色允收標準：不行有1

3、0張藍膜/批顯微鏡*20MA電極色差同一片中不同芯片間和一顆芯片正負電極間顏色差異大允收標準：不行有10張藍膜/批顯微鏡*20MA探針痕跡電極上探針痕跡不得超過電極面積的1/3，不行露底材，不行偏移超過電極范圍 10張藍膜/批顯微鏡*20MA檢驗項目檢驗內(nèi)容及標準不良圖示及說明抽樣水準檢驗方法、工具缺陷外觀檢測切割不良芯片破損、增生、外形大小不規(guī)章、裂紋，允收標準：芯片破損（增生）面積1/5芯片面積,裂紋不行有。10張藍膜/批顯微鏡*20MA電極刮花芯片表面的電極區(qū)域有刮傷的痕跡允收標準：電極區(qū)：芯片任一電極刮傷面積該電極面積的1/5非電極區(qū)：非電極區(qū)刮傷面積該芯片面積的1/4且不行損傷到PN

4、結(jié)。10張藍膜/批顯微鏡*20MA芯片表面臟污芯片表面有污染痕跡允收標準：電極區(qū)：污染面積該電極面積的1/5非電極區(qū)：污染面積該芯片面積的1/410張藍膜/批顯微鏡*20MA掉電極1.電極脫落，有缺口允收標準：不行有2. 金手指脫落允收標準：距離電極1/2以內(nèi)脫落不行接受10張藍膜/批顯微鏡*20CR排列方向錯誤芯片中有一排（列）或幾排（列）與其他多數(shù)材料排列方向相反，排列不整齊10張藍膜/批顯微鏡*20CR檢驗項目檢驗內(nèi)容及標準不良圖示及說明抽樣水準檢驗方法、工具缺陷外觀檢測表面多金芯片表面任何地方有多出的殘金允收標準：不行有10張藍膜/批顯微鏡*20CR外表漏洞芯片任何部位有漏洞、燒黑或其

5、他疑似擊穿現(xiàn)象允收標準：不行有10張藍膜/批顯微鏡*45CR尺寸檢測芯片尺寸每批抽10PCS檢驗芯片的長、寬，及電極正負極尺寸是否在規(guī)格范圍內(nèi)無10PCS二次元CR性能檢測DVF校正過的廠商芯片每批抽0.5K測試DVF，VFM11和VFM12設(shè)置1uA，DVF1設(shè)置為規(guī)格電流，時間設(shè)置為5ms，未校正的廠商芯片暫無法測試。允收標準：-0.1V<DVF<0.1V無0.5K裸晶測試儀CR閘流體校正過的廠商芯片每批進料抽0.5K測試VFD2，未校正的廠商芯片暫無法測試允收標準：電流5mA時3V檔芯片VFD2<0.05V9V檔芯片VFD2<0.1V18V檔芯片VFD2<0

6、.15V無0.5K裸晶測試儀CR正向電壓校正過的廠商芯片每批進料抽0.5K測試；未校正的廠商芯片每批進料抽10PCS測試。允收標準：標簽電壓±0.1V，且平均值在標簽范圍內(nèi)；無0.5K/10PCS裸晶測試儀/積分球/IS機CR檢驗項目檢驗內(nèi)容及標準不良圖示及說明抽樣水準檢驗方法、工具缺陷反向電流校正過的廠商芯片每批進料抽0.5K測試；未校正的廠商芯片每批進料抽10PCS測試，測試條件和判定按規(guī)格書標準。無0.5K/10PCS裸晶測試儀/積分球/IS機CR波長校正過的廠商芯片每批進料抽0.5K測試；未校正的廠商芯片每批進料抽10PCS測試。允收標準：標簽波長±1nm，且平均值

7、在標簽范圍內(nèi)無0.5K/10PCS裸晶測試儀/積分球/IS機CR亮度檢測正裝雙電極芯片每批進料抽0.5K測試PO值（mw），其它類型的芯片暫無法測試允收標準：實測平均值在標簽范圍內(nèi)，最小值不低于芯片標簽下限的5%，且低于標簽下限的數(shù)量占測試數(shù)量比例不得超過10%，不管控上限。無0.5K裸晶測試儀MA靜電檢測每批進料抽10PCS用反向2000V擊打，然后測試IR允收標準：按承認書標準判定IR2，通過率不低于80%無10PCS靜電測試儀裸晶測試儀/啟動電壓靜電檢測后的芯片用小電流再測試啟動電壓；其中3V檔、6V檔和9V檔芯片用1uA測試VF5，18V檔和24V檔芯片用10uA測試VF4允收標準：3V檔芯片：VF5：2-2.8V6V檔芯片：VF5：4-5.5V9V檔芯片：VF5：6-8V18V檔芯片：VF4：12-16V24V檔芯片：VF4：16-21V無10PCS裸晶測試儀CR6