新型讀卡器主要問(wèn)題及解決方法

1、 CHDV2X新型讀卡器主要問(wèn)題及解決方法 作者：caobo （原創(chuàng)） 主要問(wèn)題:1. 進(jìn)卡口左車側(cè)開(kāi)關(guān)組件的金屬容易磨穿最終導(dǎo)致插不進(jìn)卡2. 預(yù)讀磁頭和上方的距離會(huì)越來(lái)越大導(dǎo)致插不進(jìn)卡(上方的材料不耐磨及預(yù)讀磁頭組件上下彈性不夠好)3. 讀卡器磁頭表面容易發(fā)生斷裂從而引起磁卡某磁道讀不出導(dǎo)致ATM無(wú)法正常交易 第一點(diǎn)是最容易發(fā)生的問(wèn)題,現(xiàn)解決方法如下: 利用光電傳感器的特點(diǎn),在左側(cè)上下房放置一紅外線接收管和一紅外線接收管(接收管應(yīng)該放在上方原因是避免各種光線對(duì)其產(chǎn)生干擾).當(dāng)紅外線接收發(fā)射管間有磁卡插入時(shí)磁卡會(huì)阻斷紅外線從而接收管的狀態(tài)從導(dǎo)通轉(zhuǎn)為截止(沒(méi)有磁卡插入時(shí)接收管的狀態(tài)為導(dǎo)通),所以

2、利用這樣的特點(diǎn)可以對(duì)進(jìn)卡的開(kāi)關(guān)進(jìn)行改造. 紅外線光電開(kāi)關(guān)的優(yōu)點(diǎn):沒(méi)有機(jī)械式的磨插,可以很大的程度提高讀卡器的使用時(shí)間,降低左側(cè)金屬的磨損導(dǎo)致的不進(jìn)卡的問(wèn)題. 紅外線光電傳感器的缺點(diǎn):由于光電開(kāi)關(guān)的特點(diǎn),灰塵對(duì)整個(gè)光電開(kāi)關(guān)的穩(wěn)定性的影響還是很大的,因此使用一段時(shí)間后需要用毛刷對(duì)其表面的灰塵做清潔,來(lái)保障其穩(wěn)定性.不過(guò)紅外線還是有較強(qiáng)的穿透性.本人在對(duì)其改造時(shí)用兩張白紙擋在紅外線接收發(fā)射管間整個(gè)讀卡器不作反應(yīng),說(shuō)明灰塵的影響相對(duì)比較小了.解決灰塵的影響還可以通過(guò)電路上的改進(jìn)從而達(dá)到穩(wěn)定的效果! 改進(jìn)過(guò)程中調(diào)試還是相當(dāng)重要的,紅外線組件的穿透力越強(qiáng),灰塵的影響會(huì)越小.但是足夠能量的紅外線穿過(guò)磁卡就會(huì)使整個(gè)開(kāi)關(guān)失效,所以這是一個(gè)比較矛盾的問(wèn)題.可以在電路上改進(jìn)來(lái)解決這個(gè)問(wèn)題! 下面圖片為實(shí)拍！已經(jīng)改裝好的模樣（對(duì)主要問(wèn)題1的改進(jìn)）。 可以看到左側(cè)的金屬片已經(jīng)沒(méi)有了，下方是紅外線發(fā)射管，上方是紅外線接收管。 加了一極反相電路，一只NPN三極管和一電阻 紅外線發(fā)射管的供電