可靠性鑒定試驗(yàn)指南

1、Q / ZX深圳市中興通訊股份有限公司企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)( 可靠性技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)) Q/ZX 23.002 - 1999 可靠性鑒定試驗(yàn)指南1999-08-26 發(fā)布 1999-09-01 實(shí)施深圳市中興通訊股份有限公司 發(fā) 布前 言本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范了產(chǎn)品的的可靠性鑒定試驗(yàn)(壽命為指數(shù)分布的產(chǎn)品)所進(jìn)行的工作，并提出了相關(guān)工作的方法。作為各相關(guān)部門(mén)進(jìn)行可靠性鑒定試驗(yàn)的主要依據(jù)之一，在具體工作中可以根據(jù)情況參照進(jìn)行。本標(biāo)準(zhǔn)由Q/ZX 23.002-1998修訂而成，針對(duì)原標(biāo)準(zhǔn)中的加速系數(shù)的計(jì)算作了詳細(xì)的說(shuō)明，規(guī)定了試驗(yàn)報(bào)告的形式和內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起代替Q/ZX 23.002-1998。本標(biāo)準(zhǔn)由深圳市中興通訊股份

2、有限公司質(zhì)量企劃中心可靠性部提出，技術(shù)中心技術(shù)管理部歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草部門(mén)：質(zhì)量企劃中心可靠性部。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：林國(guó)勇。 本標(biāo)準(zhǔn)于1998年6月首次發(fā)布，于1999年8月第一次修訂。Q/ZX 23.002 - 1999 深圳市中興通訊股份有限公司企業(yè)標(biāo)準(zhǔn) （可靠性技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)）可靠性鑒定試驗(yàn)指南 Q/ZX 23.002 1999代替 Q/ZX 23.002 19981 范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了深圳市中興通訊股份有限公司產(chǎn)品可靠性鑒定試驗(yàn)(壽命為指數(shù)分布的產(chǎn)品)的方法和要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于深圳市中興通訊股份有限公司的電子產(chǎn)品的可靠性鑒定試驗(yàn)。注：從理論上說(shuō)，包含未篩選剔除早期故障的產(chǎn)品壽命不是指數(shù)分布，因此

3、使用本指南的產(chǎn)品應(yīng)經(jīng)過(guò)較嚴(yán)格的篩選才投入試驗(yàn)。2 引用標(biāo)準(zhǔn)GJB 451-1990 可靠性維修性術(shù)語(yǔ)（MILSTD721C）GJB 813-1990 可靠性模型的建立與可靠性預(yù)計(jì)（MILSTD756B）GJB 899-1992 可靠性鑒定與驗(yàn)收試驗(yàn)（MILSTD781D及MILHDBK781）GJB/Z299B-1997 電子設(shè)備可靠性預(yù)計(jì)手冊(cè)（MILSTD217F）YD 282-1982 郵電通信設(shè)備可靠性通用試驗(yàn)方法。YD/T 642-1993 載波通信設(shè)備可靠性指標(biāo)及試驗(yàn)方法。3 定義 本標(biāo)準(zhǔn)采用下列定義。3.1 可靠性試驗(yàn)（reliability test）為分析、評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性而進(jìn)

4、行的試驗(yàn)。3.2 可靠性鑒定試驗(yàn)（reliability compliance test）為確定產(chǎn)品可靠性與設(shè)計(jì)要求可靠性的一致性，用有代表性的產(chǎn)品在規(guī)定條件下所作的試驗(yàn)，并以此作為批準(zhǔn)定型的依據(jù)及主要設(shè)計(jì)、工藝更改的鑒定。3.3 定時(shí)截尾試驗(yàn)達(dá)到規(guī)定的累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間就截止的試驗(yàn)。3.4 截尾序貫試驗(yàn)在試驗(yàn)過(guò)程中，將累計(jì)的相關(guān)試驗(yàn)時(shí)間和累積的相關(guān)失效數(shù)與規(guī)定的判斷接收、拒收或繼續(xù)試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，作出判決。3.5 環(huán)境應(yīng)力篩選（Environmental Stress Screening） 是在電子產(chǎn)品上施加隨機(jī)振動(dòng)及溫度循環(huán)等應(yīng)力，以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期故障的一種工序或方法，簡(jiǎn)

5、稱(chēng)ESS。3.6 試驗(yàn)剖面（testing profile）可靠性試驗(yàn)所用各種試驗(yàn)條件（工作條件與環(huán)境條件）的組合順序。在試驗(yàn)剖面的一個(gè)周期內(nèi)，應(yīng)明確諸工作條件。環(huán)境條件存在于哪一段時(shí)間區(qū)間內(nèi)及它們之間的相互關(guān)系。3.7 關(guān)聯(lián)故障（relevant failure）及非關(guān)聯(lián)故障（nonrelevant failure）已經(jīng)證實(shí)是未按規(guī)定的條件使用而引起的故障，或是已經(jīng)證實(shí)僅屬某項(xiàng)將不采用的設(shè)計(jì)所引起的故障叫“非關(guān)聯(lián)故障”；否則叫“關(guān)聯(lián)故障”。關(guān)聯(lián)故障用來(lái)評(píng)估產(chǎn)品的可靠性，包括：a） 設(shè)計(jì)或工藝故障，即由于產(chǎn)品或零部件設(shè)計(jì)缺陷或工藝不可靠造成的故障。例如電路在規(guī)定容許的高溫下性能漂移超過(guò)容許限，

6、電裝的焊點(diǎn)虛焊等等；b） 零部件故障，即由于零部件故障引起的產(chǎn)品故障。例如CMOS電路由于閂鎖效應(yīng)使電路不能完成規(guī)定功能等等。在可靠性試驗(yàn)中，如果有幾個(gè)相同型號(hào)的元器件一起出故障，如果判定它們不是從屬故障，則應(yīng)算作出現(xiàn)了幾個(gè)獨(dú)立的關(guān)聯(lián)故障；c） 耗損零件故障，某些有規(guī)定使用壽命的零件，例如磁控管，如果試驗(yàn)前已明確使用壽命，在試驗(yàn)中，在使用壽命期間出現(xiàn)故障算關(guān)聯(lián)故障（在使用壽命期后出現(xiàn)故障是非關(guān)聯(lián)故障）；d） 多重故障。如果在可靠性試驗(yàn)中有多種零件一起出故障，如能判定其中任一個(gè)零件的故障均能獨(dú)立地阻礙產(chǎn)品正常工作，則每個(gè)故障應(yīng)計(jì)為關(guān)聯(lián)故障；e） 間歇故障（有時(shí)是瞬間故障）。任一產(chǎn)品的間歇故障在第

7、一次出現(xiàn)時(shí)應(yīng)算作關(guān)聯(lián)故障，但在產(chǎn)品同一部位相繼出現(xiàn)的同一間歇故障不應(yīng)把關(guān)聯(lián)故障重復(fù)計(jì)數(shù)；f） BITE（機(jī)內(nèi)測(cè)試設(shè)備）故障。BITE的每一次虛警，如果是獨(dú)立的應(yīng)計(jì)為一個(gè)關(guān)聯(lián)故障。注:對(duì)于可靠性試驗(yàn)中出現(xiàn)的關(guān)聯(lián)故障，如果采取了有效的針對(duì)性糾正措施，試驗(yàn)證明措施已消除了這種故障，則可不算關(guān)聯(lián)故障。3.8 預(yù)計(jì)值（preview）P是產(chǎn)品研制中按照設(shè)備的設(shè)計(jì)使用環(huán)境，用可靠性預(yù)計(jì)的方法確定的MTBF值。3.9 門(mén)限值（threshold）T是產(chǎn)品達(dá)到的使用指標(biāo)。它能滿(mǎn)足產(chǎn)品的使用需求，它是確定最低可接受值的依據(jù)。注:可信性指標(biāo)應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的類(lèi)型在論證時(shí)提出目標(biāo)值和門(mén)限值。3.10 規(guī)定值（specif

8、ied value）0 是合同和研制任務(wù)書(shū)中規(guī)定的期望產(chǎn)品達(dá)到的合同指標(biāo)。它是承制方進(jìn)行可信性設(shè)計(jì)的依據(jù)。3.11 最低可接受值（minimum acceptable value）1 是合同和研制任務(wù)書(shū)中規(guī)定的產(chǎn)品必須達(dá)到的合同指標(biāo)，它是考核和驗(yàn)證的依據(jù)。注:應(yīng)在制訂合同和研制任務(wù)書(shū)時(shí)，提出可信性指標(biāo)規(guī)定值和最低可接受值。3.12 點(diǎn)估計(jì)值 根據(jù)對(duì)產(chǎn)品的樣本試驗(yàn)后觀測(cè)得到的樣本值，估計(jì)出總體參數(shù)的某個(gè)具體值，稱(chēng)為點(diǎn)估計(jì)值。它是某一個(gè)試驗(yàn)的統(tǒng)計(jì)值，對(duì)于電子產(chǎn)品，其壽命服從指數(shù)分布。 = T/r = （1/r）ti+(n-r)trr 故障數(shù)；T 總試驗(yàn)時(shí)間ti 第i個(gè)產(chǎn)品故障前的工作時(shí)間；tr 第

9、r個(gè)故障發(fā)生的時(shí)間（即定數(shù)截尾時(shí)間），如果是定時(shí)截尾試驗(yàn)，則用t0替代ti ；n 樣本數(shù)。3.13 溫度加速系數(shù)（temperature accretion factor）設(shè)某產(chǎn)品于溫度T1下的故障率為1，在溫度T2下的故障率為2，則溫度T2下對(duì)溫度T1的故障率加速系數(shù)為AT=2/1如今T1為常溫標(biāo)準(zhǔn)值為25，此時(shí)的最低可接受值為1，則于環(huán)境溫度為T(mén)2時(shí)的最低可接受值應(yīng)為1/AT 由于產(chǎn)品各元器件的激活能不同，結(jié)溫不同，應(yīng)分別計(jì)算后綜合出產(chǎn)品的加速系數(shù)，產(chǎn)品以可靠性預(yù)計(jì)得加速系數(shù)后修正為宜。3.14 接收概率（probability of acceptance）具有一定質(zhì)量的批，按給定的抽樣方

10、案接收的概率。3.15 拒收概率（probability of rejection）具有一定質(zhì)量的批，按給定的抽樣方案拒收的概率。3.16 極限質(zhì)量（limiting quality）比極限質(zhì)量更差的質(zhì)量水平是不能接收的。因此，極限質(zhì)量是能接受的質(zhì)量水平的極限值。3.17 使用方風(fēng)險(xiǎn)（consumers risk）,記為當(dāng)產(chǎn)品的質(zhì)量水平為極限質(zhì)量時(shí)，產(chǎn)品被接收的概率。注:比極限質(zhì)量再差一點(diǎn)的批產(chǎn)品是不能接受的，所以必須相應(yīng)的接受概率比較小，但因OC曲線(xiàn)是連續(xù)的，所以極限質(zhì)量點(diǎn)的接收概率L（1）也應(yīng)比較小的，它是比1更差的批產(chǎn)品被接收概率的上限。3.18 可接收質(zhì)量水平（acceptable q

11、uality level）,記為AQL 當(dāng)產(chǎn)品的質(zhì)量水平為可接受質(zhì)量水平時(shí)，批產(chǎn)品以高概率被接收，如以平均壽命為質(zhì)量指標(biāo)，則可接受質(zhì)量水平記為0。3.19 生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)（producers risk）,記為當(dāng)產(chǎn)品的質(zhì)量水平為可接受質(zhì)量水平時(shí)，產(chǎn)品被拒收的概率。注:生產(chǎn)方從生產(chǎn)成本等各方面權(quán)衡后，選定一個(gè)生產(chǎn)方認(rèn)為可接受的質(zhì)量水平0，它不一定是目標(biāo)值?？山邮召|(zhì)量水平點(diǎn)0的接收概率L（0）是較高的，即1-L（0）=是較低的。3.20 鑒別比（discrimination ratio）,記為d0與1之比，d =0/1。4 技術(shù)要求4.1 前期技術(shù)要求 電子元器件均符合設(shè)計(jì)要求的質(zhì)量等級(jí)，規(guī)定元器件的篩

12、選測(cè)試均已通過(guò)。 電子產(chǎn)品在進(jìn)行可靠性鑒定試驗(yàn)之前，必須經(jīng)過(guò)可靠性試驗(yàn)，暴露出設(shè)計(jì)、工藝、生產(chǎn)、管理中的可靠性薄弱環(huán)節(jié)，并采取必要的糾正措施；或者已確定電子產(chǎn)品在可靠性試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)的所有故障已經(jīng)解決并得到改正。 元器件（或單板/組件）必須100經(jīng)過(guò)高溫加電老煉，對(duì)暴露出來(lái)的早期故障率高的批次性元器件已采取糾正措施。 產(chǎn)品單板/組件（或整機(jī)）應(yīng)經(jīng)過(guò)ESS，對(duì)暴露出來(lái)的系統(tǒng)性、批次性可靠性缺陷已采取糾正措施。（對(duì)決定采取但還來(lái)不及采取的措施列單說(shuō)明）對(duì)暴露出來(lái)的偶然性可靠性缺陷已予補(bǔ)救。對(duì)進(jìn)行ESS的時(shí)間不計(jì)入鑒定試驗(yàn)的總時(shí)間內(nèi)。 通過(guò)產(chǎn)品的可靠性預(yù)計(jì)提供產(chǎn)品在常溫T0下的故障率0及在高溫環(huán)境溫度T

13、之下的故障率T，得到故障率加速系數(shù)At=T/0。4.2 在可靠性鑒定試驗(yàn)中試驗(yàn)的應(yīng)力等級(jí)可靠性鑒定試驗(yàn)在高溫環(huán)境通電進(jìn)行。 電應(yīng)力產(chǎn)品所加的電應(yīng)力應(yīng)分為三個(gè)工作電壓，拉偏高電壓、拉偏低電壓和典型工作電壓。時(shí)間的選取一般拉偏時(shí)間分別為25%，鑒定試驗(yàn)可按照如下的方案順序調(diào)整電壓：典型工作電壓拉偏高電壓拉偏低電壓典型工作電壓。時(shí)間的分配可以為：25%25%25%25%。在整個(gè)鑒定試驗(yàn)的過(guò)程中，產(chǎn)品的負(fù)載和使用應(yīng)為典型的運(yùn)行狀態(tài)。 溫度應(yīng)力選定的高溫環(huán)境溫度可為：45±2，55±2，70±2也可以選其它溫度，但以不引起新故障機(jī)理為限。4.3 在高溫環(huán)境通電試驗(yàn)的累計(jì)時(shí)間

14、t高的選取t高=t試/AT -t可/ ATt試 為根據(jù)可靠性鑒定試驗(yàn)方案要求的累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間。t可 為投入可靠性試驗(yàn)設(shè)備中作可靠性試驗(yàn)的產(chǎn)品累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間（不計(jì)加速系數(shù)）。t高 為投入高溫環(huán)境中作鑒定試驗(yàn)的產(chǎn)品累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間。AT 為高溫環(huán)境的加速系數(shù)。AT 為進(jìn)行可靠性試驗(yàn)的加速系數(shù)。注:在產(chǎn)品已滿(mǎn)足4.1前期技術(shù)條件后，可以不進(jìn)行可靠性試驗(yàn)，此時(shí)t可=0,t高=t試/AT 。4.4 在高溫環(huán)境中的加速系數(shù)的選取由于電子元器件對(duì)溫度應(yīng)力均呈現(xiàn)相同的趨向，隨溫度的升高，元器件的失效率增大，壽命減少。因此在鑒定產(chǎn)品的壽命或者產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)時(shí)須先確定在高溫環(huán)境下的加速系數(shù)。對(duì)電應(yīng)力不考慮加速系數(shù)。 對(duì)

15、半導(dǎo)體微電路來(lái)說(shuō)，加速系數(shù)決定于激活能（Ea） AT =exp(1/T1-1/T2) T1常溫（25）+TJ+273T2試驗(yàn)溫度+TJ+273TJ 最壞情況下的結(jié)溫，它是相應(yīng)環(huán)境下的器件表面熱阻和功耗的發(fā)熱達(dá)到的溫度K=0.8617×10-4 eV/度（波爾茲曼常數(shù)）Ea 激活能（eV）不同的器件激活能不同，結(jié)溫不同，應(yīng)分別計(jì)算后綜合出產(chǎn)品的加速系數(shù)。對(duì)于產(chǎn)品中使用了不同類(lèi)型的器件，其溫度加速系數(shù)不同，一般選取時(shí)取加速系數(shù)較小的或者其均值來(lái)計(jì)算。加速系數(shù)應(yīng)與產(chǎn)品應(yīng)用統(tǒng)計(jì)的可靠性指標(biāo)相對(duì)比并予修正。表1是不同微電路的Ea。表1 不同微電路的Ea電路Ea（eV）TTL、ASTTL、CML

16、、HTTL、FTTL、DTL、ECL、ALSTTL0.4F、LTTL、STTL0.45BiCMOS、LSTTL0.5TIL、I3L、ISL0.6數(shù)字MOS、VHSIC、CMOS0.35線(xiàn)性（雙極與MOS）0.65存貯器（雙極與MOS）、MNOS0.6GaAs MMIC 有源器件 TA1.5GaAs 數(shù)字型 有源器件 TA1.4示例：產(chǎn)品的主要器件是MOS電路，可選取TJ =80,此時(shí)因Ea=0.35，故在50的環(huán)境下AT=1.95通過(guò)可靠性預(yù)計(jì)可得到在不同溫度下的MTBF預(yù)計(jì)值，兩個(gè)預(yù)計(jì)值之比也可以得到加速系數(shù)AT。如在常溫環(huán)境下的預(yù)計(jì)值為，在高溫環(huán)境下的預(yù)計(jì)值是T，則AT=/T。示例：某產(chǎn)品

17、在常溫環(huán)境下25時(shí)的預(yù)計(jì)值為=10222（h），在高溫環(huán)境40時(shí)的預(yù)計(jì)值是T=5825（h），則在40的加速系數(shù)為 AT=T/=10222/5825=1.754.5 投入可靠性試驗(yàn)設(shè)備作試驗(yàn)的產(chǎn)品數(shù)一般不少于兩臺(tái)（最好三臺(tái)或三臺(tái)以上），投入高溫環(huán)境通電試驗(yàn)的產(chǎn)品數(shù)一般不少于兩臺(tái)（最好三臺(tái)以上）。5 試驗(yàn)方案的確定5.1 選定方案的、值。本公司產(chǎn)品的、值名義值選為=30，=30。注：如使用方有特定要求，、名義值可選為=20，=20。5.2 選定鑒別比da) 對(duì)新開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品選d=3；b) 對(duì)有相當(dāng)繼承性的產(chǎn)品，選d=2;c) 對(duì)改型不大的產(chǎn)品，選d=1.5。5.3 定時(shí)截尾試驗(yàn)試驗(yàn)方案如表2所示。

18、表2 定時(shí)截尾試驗(yàn)方案定時(shí)截尾方案號(hào) 名義、值 實(shí)際、值 鑒別比0/1累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間（單位：1）接收數(shù) 拒收數(shù)30 3030 3030 3028.8 31.328.8 28.530.7 33.31.52.03.08.03.71.16 72 30 120 2020 2020 2017.8 22.119.9 21.017.5 19.71.52.03.021.17.84.317 185 62 3 注：如未到累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間出現(xiàn)故障數(shù)已達(dá)拒收數(shù)，則試驗(yàn)停止，判為拒收。 示例： 設(shè)產(chǎn)品MTBF規(guī)定值0為2400（h）（按GJB367.187 軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件制造要求對(duì)地面通信設(shè)備的要求符合A），產(chǎn)品是

19、新設(shè)計(jì)的最低可接受值為1=800（h）。選定=30，高溫環(huán)境加速系數(shù)為T(mén) 為2.0。選用定時(shí)截尾試驗(yàn)方案 ,累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間為1.11=880（h），實(shí)際試驗(yàn)時(shí)間為880/2=440（h）。接收數(shù)為0，即在試驗(yàn)期間不出現(xiàn)故障不接收；拒收數(shù)為1，即在試驗(yàn)期間出現(xiàn)1個(gè)故障即拒收。5.4 截尾序貫試驗(yàn)試驗(yàn)方案如表3。表3 截尾序貫試驗(yàn)方案定時(shí)截尾方案號(hào) 名義、值 實(shí)際、值 鑒別比0/1累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間 （單位：1）接收數(shù) 拒收數(shù)IV20 2020 2030 3030 3022.3% 22.5%18.2 19.231.9 32.829.3 29.92.03.01.52.0見(jiàn)表4見(jiàn)表5見(jiàn)表6見(jiàn)表7表4 方案IV

20、的接受-拒收表故障數(shù)累計(jì)總試驗(yàn)時(shí)間（單位：1故障數(shù)累計(jì)總試驗(yàn)時(shí)間（單位：1拒收（tR）接收（tA）拒收（tR）接收（tA）0不適用2.854.869.741不適用4.1866.249.7420.705.5877.629.7432.086.9689.74不適用43.468.34表5 方案的接收拒收表故障數(shù)累計(jì)總試驗(yàn)時(shí)間（單位：1）拒收（） 接收（）故障數(shù) 累計(jì)總試驗(yàn)時(shí)間（單位：1）拒收（） 接收（）不適用012.674.32230.364.504.50不適用 表 6方案的接收拒收表故障數(shù)故障數(shù)累計(jì)總試驗(yàn)時(shí)間（單位：1） 拒收（） 接收（） 累計(jì)總試驗(yàn)時(shí)間（單位：1） 拒收（） 接收（）不適用01

21、231.223.154.375.586.804562.433.656.806.806.80不適用表7 方案的接收拒收表故障數(shù)故障數(shù) 累計(jì)總試驗(yàn)時(shí)間（單位：1） 拒收（） 接收（） 累計(jì)總試驗(yàn)時(shí)間（單位：1） 拒收（） 接收（）不適用011.723.1023不適用4.504.50不適用示例： 設(shè)產(chǎn)品的MTBF規(guī)定值0為3500(h)（按GJB367.1-87對(duì)艦載通信設(shè)備要求）產(chǎn)品是有相當(dāng)繼承性的改型項(xiàng)目，最低可接受值1=2000(h)，選用序貫試驗(yàn)方案表8。當(dāng)累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間達(dá)1.721=3440(h)未出現(xiàn)故障時(shí)，接收。當(dāng)累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間達(dá)1.721=3440(h)內(nèi)已出現(xiàn)1個(gè)或1個(gè)以上故障時(shí)，試驗(yàn)

22、延長(zhǎng)到累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間3.101=6200(h)，當(dāng)累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間達(dá)3.101=6200(h)時(shí)只出現(xiàn)1個(gè)故障，接收。如到3.101=6200(h)時(shí)已出現(xiàn)2個(gè)或2個(gè)以上故障時(shí)，試驗(yàn)延長(zhǎng)到累計(jì)時(shí)間9000（h）。當(dāng)累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間達(dá)4.501=9000(h)時(shí)，只出現(xiàn)2個(gè)故障，接收。當(dāng)累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間達(dá)4.501=9000(h)時(shí)，已出現(xiàn)3個(gè)或3個(gè)以上故障，拒收。5.5 置信區(qū)間和置信度通過(guò)一次試驗(yàn)的點(diǎn)估計(jì)值，確定產(chǎn)品的平均壽命真值的估計(jì)區(qū)間，稱(chēng)為置信區(qū)間。選取1-2為雙邊置信區(qū)間的置信度，選取1-為單邊置信區(qū)間的置信度。當(dāng)=10%時(shí)，雙邊置信區(qū)間的置信度為80%，單邊置信區(qū)間的置信度為90%。查表8中的相

23、應(yīng)的MTBF下限因子L和上限因子U，用下限因子和上限因子分別乘以估計(jì)值，可以得出MTBF的下限值L和上限值U。L = L ； U = U也可通過(guò)下列公式計(jì)算下限因子L和上限因子U。 r 失效數(shù)；C 置信度；X2 X2分布。表8 驗(yàn)證的MTBF置信因子總失效數(shù)r置信區(qū)間40%60%70%下限70%上限80%下限80%上限10.4102.8040.3344.48120.5531.8230.4572.42630.6301.5680.5441.95440.6791.4470.5951.74250.7141.3760.6321.61860.7401.3280.6611.53770.7601.2940.6

24、841.47980.7771.2670.7031.4356 可靠性鑒定試驗(yàn)方法6.1 試驗(yàn)按產(chǎn)品技術(shù)條件進(jìn)行，并編制試驗(yàn)大綱，其內(nèi)容應(yīng)包括：a) 試驗(yàn)方框圖；b) 試驗(yàn)剖面（環(huán)境條件、電應(yīng)力）累計(jì)時(shí)間的選??；c) 對(duì)試驗(yàn)設(shè)備和測(cè)試儀器的要求；d) 試驗(yàn)檢查、測(cè)試項(xiàng)目及檢查、測(cè)試點(diǎn)（或連續(xù)檢測(cè)）；e) 數(shù)據(jù)收集格式及記錄要求。6.2 故障試驗(yàn)前，在常溫條件下測(cè)試受試設(shè)備的所有性能參數(shù)。7 故障判斷每項(xiàng)產(chǎn)品的試驗(yàn)計(jì)劃中根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)或?qū)嶋H情況制定關(guān)聯(lián)故障判據(jù)。非關(guān)聯(lián)故障只作記錄，轉(zhuǎn)有關(guān)部門(mén)參考，必要時(shí)采聯(lián)措施，但不計(jì)入鑒定用的故障數(shù)。8 故障統(tǒng)計(jì)及折算8.1 出現(xiàn)兩種或多種獨(dú)立關(guān)聯(lián)故障的情況下每一種關(guān)聯(lián)故障都應(yīng)記作關(guān)聯(lián)故障。8.2 由一種關(guān)聯(lián)故障引起另一種關(guān)聯(lián)故障時(shí)，只記前一種故障。8.3 由于元器件時(shí)好時(shí)壞，或因假焊、短路、開(kāi)路、接觸不良等造成設(shè)備故