曲線制作和在鋼軌焊縫探傷中的使用

1、DAC曲線制作和在一、9002制作DAC曲線流程：以中華人民共和國行業(yè)標準 JB4730為例說明DAC曲線的制作流程（一）、進入設定參數(shù)界面在主菜單界面中，按【設定】進入?yún)?shù)的設定界面，調節(jié)參數(shù)。標定好探頭的參數(shù)，在設定參數(shù)界面中按【回車鍵】，進入檢測界面。（二）、開始制作DAC曲線 在檢測界面時，按面板上的【功能】鍵，顯示【功能1】 移動光標到【DAC】，按【回車鍵】，進入DAC曲線的編輯 移動光標到【制作DAC】，按【回車鍵】，開始制作DAC曲線（三）、DAC曲線的參數(shù)進入DAC曲線的相關參數(shù)設置界面。按照探傷工藝調節(jié)DAC曲線參數(shù)，上圖以中華人民共和國行業(yè)標準 JB4730為例設置。（四

2、）、記錄試塊人工傷的反射波的峰值點耦合探頭到試塊CSK-IIIA上去，先測量10MM深短橫孔的反射波： 前后移動探頭，找到10mm深孔的最高反射波；調節(jié)【衰減】，將波高調到90-80左右。 移動光標到【A門位】，使用萬用旋鈕調節(jié)【A門位】，鎖住反射回波，按面板上的【回車鍵】，則第一點（10mm深1*6短橫孔）記錄下來了。 從現(xiàn)在開始，直到60mm深的橫孔記錄完。只能調節(jié)【A門位】。 耦合探頭到試塊CSK-IIIA上去，測量20MM深短橫孔的反射波。前后移動探頭，找到該孔的最高反射回波。移動光標到【A門位】，使用萬用旋鈕調節(jié)【A門位】，鎖住反射回波。 按面板上的【回車鍵】，記錄第二點（20mm深

3、1*6短橫孔） 以此類推，記錄第三點、第四點、第五點、第六點（分別為30mm、40mm、50mm、60mm深的1*6短橫孔） 待第六點記錄完后，將光標從【A門位】上移出（到任意位置），按儀器面板上的【下頁鍵】，則三條DAC曲線全部顯示出來。 可改變補償值，補償耦合損失（本實例不用補償）。 DAC曲線制作好后，如果改變儀器的參數(shù)，如衰減、范圍、移位等，儀器會提示“參數(shù)已改動 請按下頁鍵”，操作后，DAC曲線會相應的變化。（五)、 保存DAC曲線及其參數(shù)按【功能鍵】，兩次，顯示數(shù)據(jù)處理菜單【存儲】、【打印】、【通訊】。光標移動到【存儲】，按【回車鍵】，保存DAC曲線，及參數(shù)。1、 雙探頭的DAC曲

4、線無法9002在儀器上制作，可以在坐標圖上以測得的dB值為縱坐標，深度值為橫坐標標出各平底孔所對應的點。進入DAC曲線的相關參數(shù)設置界面；調整：標準為評定線 +6dB； 定量線 0dB；判廢線 -6dB；（衰減型儀器）（1） 耦合探頭到試塊 A上去，先測量20MM深橫通孔的反射波前后移動探頭，找到20mm深孔的最高反射波；調節(jié)【衰減】，將波高調到90-80左右。（2） 移動光標到【A門位】，使用萬用旋鈕調節(jié)【A門位】，鎖住反射回波，按面板上的【回車鍵】，則第一點（20mm深5*6橫通孔）記錄下來了。從現(xiàn)在開始，直到160mm深的橫通孔記錄完。只能調節(jié)【A門位】。（3） 耦合探頭到試塊CSK-A

5、區(qū)上去，測量30MM深橫通孔的反射波。前后移動探頭，找到該孔的最高反射回波。移動光標到【A門位】，使用萬用旋鈕調節(jié)【A門位】，鎖住反射回波。（4） 按面板上的【回車鍵】，記錄第二點（30mm深5*6橫通孔）以此類推，記錄第三點、第四點、第五點、第六點、（分別為40mm、80mm、120mm、160mm深的5*6橫通孔）（5） 待第六點記錄完后，將光標從【A門位】上移出（到任意位置），按儀器面板上的【下頁鍵】，則三條DAC曲線全部顯示出來可改變補償值，補償耦合損失。DAC曲線制作好后，如果改變儀器的參數(shù)，如衰減、范圍、移位等，儀器會提示“參數(shù)已改動 請按下頁鍵”，操作后，DAC曲線會相應的變化。

6、（7） 保存DAC曲線及其參數(shù)按【功能鍵】，兩次，顯示數(shù)據(jù)處理菜單【存儲】、【打印】、【通訊】。光標移動到【存儲】，按【回車鍵】，保存DAC曲線，及參數(shù)。進入DAC曲線的相關參數(shù)設置界面；調整：標準為評定線 +6dB； 定量線 0dB；判廢線 -6dB；（衰減型儀器）（1） 耦合探頭到試塊 B上去，先測量10MM深橫通孔的反射波前后移動探頭，找到10mm深孔的最高反射波；調節(jié)【衰減】，將波高調到90-80左右。（2） 移動光標到【A門位】，使用萬用旋鈕調節(jié)【A門位】，鎖住反射回波，按面板上的【回車鍵】，則第一點（10mm深3*8橫通孔）記錄下來了。從現(xiàn)在開始，直到160mm深的橫通孔記錄完。只

7、能調節(jié)【A門位】。（3） 耦合探頭到試塊CSK-B區(qū)上去，測量20MM深橫通孔的反射波。前后移動探頭，找到該孔的最高反射回波。移動光標到【A門位】，使用萬用旋鈕調節(jié)【A門位】，鎖住反射回波。（4） 按面板上的【回車鍵】，記錄第二點（20mm深3*8橫通孔）以此類推，記錄第三點、第四點、第五點、第六點、第七點、第八點（分別為30mm、40mm、60mm、100mm、140mm、160mm深的3*8橫通孔）（5） 待第八點記錄完后，將光標從【A門位】上移出（到任意位置），按儀器面板上的【下頁鍵】，則三條DAC曲線全部顯示出來可改變補償值，補償耦合損失。DAC曲線制作好后，如果改變儀器的參數(shù)，如衰減

8、、范圍、移位等，儀器會提示“參數(shù)已改動 請按下頁鍵”，操作后，DAC曲線會相應的變化。（7） 保存DAC曲線及其參數(shù)按【功能鍵】，兩次，顯示數(shù)據(jù)處理菜單【存儲】、【打印】、【通訊】。光標移動到【存儲】，按【回車鍵】，保存DAC曲線，及參數(shù)。進入DAC曲線的相關參數(shù)設置界面；調整：標準為評定線 +6dB； 定量線 0dB；判廢線 -6dB；（衰減型儀器） 耦合探頭到試塊 C上去，1號豎孔的反射波（一次波）前后移動探頭，1號豎孔的最高反射波；調節(jié)【衰減】，將波高調到90-80左右，移動光標到【A門位】，使用萬用旋鈕調節(jié)【A門位】，鎖住反射回波，按面板上的【回車鍵】，則第一點（1號豎孔）記錄下來了。

9、（4）耦合探頭到試塊CSK-C區(qū)上去，2號孔的反射波（一次波）。前后移動探頭，找到該孔的最高反射回波。移動光標到【A門位】，使用萬用旋鈕調節(jié)【A門位】，鎖住反射回波，移動光標到【A門位】，使用萬用旋鈕調節(jié)【A門位】，鎖住反射回波，按面板上的【回車鍵】，則第二點（2號豎孔）記錄下來了（5）耦合探頭到試塊CSK-C區(qū)上去，1號孔的反射波（二次波）。前后移動探頭，找到該孔的最高反射回波，移動光標到【A門位】，使用萬用旋鈕調節(jié)【A門位】，鎖住反射回波，按面板上的【回車鍵】，則第三點（1號豎孔）記錄下來了；（6）耦合探頭到試塊CSK-C區(qū)上去，2號孔的反射波（二次波）。前后移動探頭，找到該孔的最高反射回

10、波，移動光標到【A門位】，使用萬用旋鈕調節(jié)【A門位】，鎖住反射回波，按面板上的【回車鍵】，則第四點（2號豎孔）記錄下來了；（7）待第4點記錄完后，將光標從【A門位】上移出（到任意位置），按儀器面板上的【下頁鍵】，則三條DAC曲線全部顯示出來可改變補償值，補償耦合損失。DAC曲線制作好后，如果改變儀器的參數(shù)，如衰減、范圍、移位等，儀器會提示“參數(shù)已改動 請按下頁鍵”，操作后，DAC曲線會相應的變化。（8） 保存DAC曲線及其參數(shù)按【功能鍵】，兩次，顯示數(shù)據(jù)處理菜單【存儲】、【打印】、【通訊】。光標移動到【存儲】，按【回車鍵】，保存DAC曲線，及參數(shù)。三、DAC曲線在（一）判廢線、定量線、評定線的

11、定義。（衰減型儀器）1、判廢線： 以0.5dB步進，在DAC基準線位置-20dB12dB范圍內自由調節(jié)，默認狀態(tài)為DAC基準線位置上方6dB，即DAC-6.0dB；注：DAC三條線由上至下，分別為判廢線、定量線和評定線，三線位置在一定范圍內可自由移動調節(jié)。但不能改變三曲線之間次序。DAC基準線是指已記錄的參數(shù)點回波的峰值所連成的一條曲線。2、 定量線： 以0.5dB步進，在DAC基準線位置-20dB12dB范圍內自由調節(jié)，但不能低于評定線或高于判廢線、默認狀態(tài)為DAC 0.0dB（即基準線位置）；3、 評定線： 以0.5dB步進，在DAC基準線位置-20dB12dB范圍內自由調節(jié)，默認狀態(tài)為DAC基準線位置下方6dB，即DAC+6.0dB；（二）（三）傷損的計算1、利用三條曲線通過平底孔當量計算公式分別求出三條線的平底孔當量：平底孔當量計算公式：df=da×(Xa÷Xf)×10 402若缺陷回波高出或低于三條曲線并要求計算當量時，請按下頁鍵” 操作后，屏幕右上角顯示“幅度dB值”