手機最新可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)

1、正氣 進取 專業(yè)文件名稱 文件編號 發(fā)布日期 意見同意同意同意同意同意同意同意文件說明質(zhì)量中心-綜合測試部可靠性實驗室負責(zé)實施。版本號V1.0增加高頻振動、沙塵、滾筒跌落、酒精摩擦、鉛筆硬度、膠觸摸屏劃線次數(shù)由100000次（反復(fù)一個來回記為一次）改為1.需測RF 參數(shù)的測試項取消，綜測儀設(shè)備不要2.中試階段測試，由工程部提出申請改為由中試部提出申請增加觸感鍵壽命測試項目第 1 頁 共 58 頁 1. 增加高低溫運行中、恒溫恒濕，跌落、高頻振動、溫度沖擊、軟壓、滾筒跌落、重復(fù)跌落、扭曲測試前后進行RF 參數(shù)測試；4. 環(huán)境測試（與溫度及濕度相關(guān)的測試）后，手機在常溫下 統(tǒng)一放置12小時后進行外

2、觀、結(jié)構(gòu)、功能的檢驗；5.增加7不良等級分類細則；第 2 頁 共 58 頁高低溫儲存：時間由24h，改為16h沖擊：條件改為加速度25g，脈沖6ms，每個軸的沖擊次數(shù)改為1000次沖擊/恒溫恒濕/溫度沖擊/自由跌落的測試 樣機數(shù)目：改為8pcs自由跌落：高度統(tǒng)一為1.2m，跌落面為混凝土板面鹽霧的試驗條件變更為：共三個噴霧周期，每次噴霧2h，每次噴霧后有一個為期22h 的濕熱儲存周期。儲存條件為(40±2,相對濕度為9095翻蓋標(biāo)準(zhǔn)：由5W 次更新為8W 次滑蓋標(biāo)準(zhǔn)：由5W 次更新為8W 次按鍵壽命：由10W 次改為20W 次微動開關(guān)（hold鍵）壽命：由1W 次改為2W 次充電器插

3、拔測試條件改為：3合一的充電器，充電器插拔2000次，數(shù)據(jù)線和耳機各1500次，共5000次電池蓋拆裝：由1000次改為500次SIM 卡拆裝：由1000次改為500次觸摸屏點擊測試：測試速率由2次/S，改為1次/S五向鍵壽命：由3W 次改為5W 次重復(fù)跌落：跌落高度統(tǒng)一為8cm，跌落次數(shù)由20000次改為10000次摩擦測試：棱摩擦標(biāo)準(zhǔn)由150圈改為100圈；橡膠漆測試標(biāo)準(zhǔn)由140圈改為70圈百格：膠帶的粘貼次數(shù)由2次改為3次鉛筆硬度：載荷由1Kg 改為0.5Kg滾筒：測試次數(shù)由1000次改為500次軟壓：測試標(biāo)準(zhǔn)由3000次改為2000次扭曲：測試標(biāo)準(zhǔn)由1000次改為500次增加人工汗液測

4、試項第 3 頁 共 58 頁1. 增加包裝重量和跌落高度的對應(yīng)關(guān)系表2. 增加包裝跌落測試手法,包括跌落棱/角/面的規(guī)定鹽霧實驗的樣機測試后干燥條件改為:用吹風(fēng)機吹干表面殘留液體后放置與通風(fēng)干燥處干燥48H修正筆誤：4.1溫度沖擊測試（P10）: 一處寫12cycles，一處寫循環(huán)4次，前后不一致4.2滑蓋壽命測試（P15）： 以4045次/分的速率滑蓋5萬次 > 應(yīng)該是8萬次筆誤4.4 沖擊測試（P7）：脈沖持續(xù)時間18ms> 應(yīng)該是6ms X,Y,Z六個軸向> 應(yīng)該是X,Y,Z 三個軸向4.5 人工汗測試（P14）：PH值=8.5> 應(yīng)該是PH 值=10.8電池/電

5、池蓋拆裝：由500次改為2000次增加低頻振動測試：位移參數(shù)量：5mm取消5.4其它測試（電池充放電測試和電池內(nèi)阻測試）第 4 頁 共 58 頁1.自由跌落測試增加四個角的定向跌落2.掛繩孔拉力測試中增加對拉斷掛繩孔的要求3.增加USB 推力測試4.增加USB 外部逆插要求5.增加按鍵拉拔力測試6.增加高低溫充電測試7.SIM 卡壽命測試由500增加到20008.存儲卡壽命測試由500增加到20009.重復(fù)跌落測試中增加側(cè)面和頂部、底部的測試11.手寫筆插拔測試增加對伸縮性手寫筆的要求12.增加Mic 和Receiver 的壽命測試13.增加天線插拔測試14.增加天線彎折測試15.增加手寫筆（

6、天線）的拉力測試16.增加加嚴(yán)測試項序列（可選測試項）17.增加整機智能機測試項序列18.增加完整可靠性測試項目歸類第 5 頁 共 58 頁目 錄1、目的.92、適用范圍.93、定義.94、職責(zé).95、 可靠性試驗測試方法和判定標(biāo)準(zhǔn).95.1 環(huán)境試驗.95.2壽命試驗. 195.3機械測試. 286、 特殊加嚴(yán)測試序列（可選測試項，建議亞熱帶區(qū)域產(chǎn)品必做）. 396.1 長周期濕熱存儲.396.2翻/滑蓋（濕熱環(huán)境）. 406.3 軟壓（濕熱環(huán)境）.406.4 Speaker壽命（高溫環(huán)境）. 417.整機智能機測試序列.417.1 振動摩擦.417.2 硬壓.417.3 LCM擠壓. 42

7、7.4 結(jié)露測試.427.5 觸摸屏點擊（電容屏）.437.6 觸摸屏劃線（電容屏）.437.7 鹽霧測試（電容屏）.447.8 高溫高濕（電容屏）.447.9鉛筆硬度（電容屏）. 447.10 Lens耐摩（電容屏）. 457.11 水霧干擾測試(電容屏.457.12 低溫運行（電容屏）.458、可靠性測試實施計劃.469、不良等級分類細則：.5410、相關(guān)/支持性文件.5811、質(zhì)量記錄.581、目的為保證龍旗控股份設(shè)計、委托制造的手機及相關(guān)產(chǎn)品品質(zhì)符合國家、行業(yè)、企業(yè)可靠性標(biāo)準(zhǔn)要求，特制定此文件；2、適用范圍本文件適用于龍旗控股設(shè)計、委托制造、采購的手機及相關(guān)產(chǎn)品（零部件）在研發(fā)、中試、

8、量產(chǎn)階段的可靠性試驗，由綜合測試部負責(zé)實施；3、定義無4、職責(zé)4.1 可靠性測試工程師4.2可靠性測試技術(shù)員5、 可靠性試驗測試方法和判定標(biāo)準(zhǔn)5.1 環(huán)境試驗在做溫度沖擊、跌落、恒溫恒濕、低溫運行、高溫運行、高頻振動、軟壓、滾筒跌落、重復(fù)跌落、沖擊和扭曲測試前的手機先進行常溫下的RF 參數(shù)測試；a. 存入5個電話，5條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放MP3，MPEG4；b. 一半手機帶滿電電池，不插卡，設(shè)置為關(guān)機狀態(tài)；一半手機不放電池，放入高低溫箱內(nèi)，手機間的間距大于等于10cm，調(diào)節(jié)溫度控制器到-40；c. 持續(xù)16個小時之后，在常溫下放置12小時，然后進行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查

9、；d. 測試時間以試驗箱達到所需溫度條件時開始計算；e. 對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件，logo，LENS等無開膠以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：殼體表面無裂紋以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；a. 功能測試：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音

10、，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等級下的射頻參數(shù)；b. 結(jié)構(gòu)測試：殼體配合，結(jié)構(gòu)件配合，天線，Lens，顯示屏，裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)；c. 外觀檢測：噴漆，印刷，電鍍等以及未描述到的外觀；a. 存入5個電話，5條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放MP3，MPEG4；b. 手機帶滿電電池并插卡（測試RF 參數(shù)時取下SIM Card），設(shè)置為開機狀態(tài)后，放入高低溫箱內(nèi)，手機間的距離大于等于10cm，調(diào)節(jié)溫度控制器到-20，并將所測樣機同CMU200/CMD55和電源連接好；c. 持續(xù)1小時后，使用穩(wěn)壓電源給待測手機供電，用延

11、長射頻線與CMU200/CMD55連接并進行通話，在電壓設(shè)置為3.6V 和4.2V 的情況下進行RF 參數(shù)測試；并保存測試數(shù)據(jù)（測試方法：參照第一事業(yè)部整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；d. 持續(xù)4個小時之后，在常溫下放置12小時，然后進行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查；e. 測試時間以試驗箱達到所需溫度條件時開始計算；f. 對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：結(jié)構(gòu)無異常（殼體無變形、配

12、合縫隙無變大；轉(zhuǎn)軸無松動或變緊，無異常手感等）以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：樣品外觀無異常（表面噴漆、電鍍無裂紋等）以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象； d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；e. RF參數(shù)符合規(guī)格要求（參考整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范（TDMA制式）；a. 存入5個電話，5條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放MP3，MPEG4；b. 將手機裝上帶滿電電池，插上測試卡，設(shè)置為開機狀態(tài)后，固定在振動臺上夾緊；參數(shù)設(shè)置：加速度25 g，脈沖持續(xù)時間 6 ms ；波形: ½ 正弦波；啟動振動系統(tǒng)，X、Y、Z六個軸向各

13、沖擊1000次，每個軸向沖擊后都要對手機進行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查；c. 所有檢查完成后，使用穩(wěn)壓電源給待測手機供電，用射頻線與CMU/CMD連接并進行通話，在電壓設(shè)置為3.8V 的情況下進行RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：無零件松動、脫落，晃動無異常以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：外觀無異常；d. 內(nèi)存檢查：樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；e. RF參數(shù)

14、符合規(guī)格要求（參考整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范（TDMA制式）；a. 存入5個電話，5條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放MP3，MPEG4；b. 將手機裝上帶滿電電池，插上測試卡，設(shè)置為開機狀態(tài)后，固定在振動臺上夾緊。將振動參數(shù)設(shè)置為520Hz；c. 啟動振動系統(tǒng)，X、Y、Z三個軸向分別進行1小時測試，每個軸向振動后都要對手機進行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：無零件松動、脫落，晃動無異常以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：外觀

15、無異常；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；a. 存入5個電話，5條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放MP3，MPEG4；b. 一半手機帶滿電電池，不插卡，設(shè)置為關(guān)機狀態(tài)；一半手機不放電池，放入高低溫箱內(nèi)，手機間的距離大于等于10cm，調(diào)節(jié)溫度控制器到+70；c. 持續(xù)16個小時之后，在常溫下放置12小時，然后進行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查；d. 測試時間以試驗箱達到所需溫度條件時開始計算；e. 對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵

16、，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件，logo，LENS等無開膠以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：殼體表面無裂紋以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；a. 功能測試：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等級下的射頻參數(shù)；b. 結(jié)構(gòu)測試：殼體配合，結(jié)構(gòu)件配合，天線，Lens，顯示屏，裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)；c. 外觀檢測：噴

17、漆，印刷，電鍍等以及未描述到的外觀；a. 存入5個電話，5條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放MP3，MPEG4；b. 手機帶滿電電池并插卡，設(shè)置為開機狀態(tài)后，放入高低溫箱內(nèi)，手機間的距離大于等于10cm，調(diào)節(jié)溫度控制器到+55，持續(xù)1 小時后，使用穩(wěn)壓電源給待測手機供電，用延長射頻線與CMU 連接并進行通話，在電壓設(shè)置為3.6V 和4.2V 的情況下進行RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；c. 持續(xù)4個小時之后，在常溫下放置12小時，然后進行功能、結(jié)構(gòu)、外觀檢查；d. 測試時間以試驗箱達到所需溫度條件時開始計算；e. 對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品閉合為初

18、始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：結(jié)構(gòu)無異常（殼體無變形、配合縫隙無變大；轉(zhuǎn)軸無松動或變緊，無異常手感等）以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：樣品外觀無異常（表面噴漆、電鍍無裂紋等）以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象； d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；e. RF參數(shù)符合要求（參考整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范（TDMA制式）；a. 存入5個電話，5條短信息

19、，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放MP3，MPEG4；b. 一半手機裝上帶滿電電池，不插測試卡，設(shè)置為關(guān)機狀態(tài)；一半手機不放電池，放入恒溫恒濕箱內(nèi)，手機間的距離大于等于10cm，調(diào)節(jié)溫度控制器到+40，濕度控制為95%RH；c. 持續(xù)48個小時之后，取出手機，在常溫下放置12小時，然后進行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查，并使用穩(wěn)壓電源給待測手機供電，用延長射頻線與CMU/CMD連接并進行通話，在電壓設(shè)置為3.8V 的情況下進行RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；d. 測試時間以試驗箱達到所需溫度條件時開始計算；e. 對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開

20、到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件，logo，LENS等無開膠以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：殼體、lens表面無明顯掉漆，無裂紋，破損，沖擊痕以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；e. RF參數(shù)符合要求（參考整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范（TDMA制式）；a. 存入5個電話，5條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放MP3，M

21、PEG4;b. 一半手機帶滿電電池，不插卡，設(shè)置為關(guān)機狀態(tài)；一半手機不放電池，放入低溫箱內(nèi)；手機間的距離大于等于10cm;c. 樣機置于-40低溫箱內(nèi)持續(xù)1小時后，在5min 內(nèi)迅速移入+80高溫箱并持續(xù)1小時后，再在5min 內(nèi)迅速回到低溫箱。此為一個循環(huán)（一個循環(huán)用時2小時），共循環(huán)12次；d. 試驗結(jié)束后將樣機從高溫箱中取出，在常溫下放置12小時，然后進行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查； e. 所有檢查完成后，使用穩(wěn)壓電源給待測手機供電，用延長射頻線與CMU200/CMD55連接并進行通話，在電壓設(shè)置為3.8V 的情況下進行RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；f. 對于

22、翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：結(jié)構(gòu)無異常。轉(zhuǎn)軸無異響，彈性正常，開合角度無變化，無松動或變緊；殼體無變形，配合縫隙無變大；殼體無裂紋、斷裂；按鍵無翹起、脫出、脫落；lens無翹起、脫落；裝飾件無翹起、脫落以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：樣機外觀無異常。表面噴涂、絲印、電鍍無氣泡、褶皺、裂紋、起皮、脫落以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內(nèi)存

23、，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；e. RF參數(shù)符合要求（參考整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范（TDMA制式）；a. 將手機裝上帶滿電電池，插上測試卡，設(shè)置為開機狀態(tài)后，進行背面、正面、左側(cè)面、右側(cè)面、底面、頂面（天線面）6個面以及4個角相應(yīng)跌落高度的自由跌落試驗（對于翻蓋和滑蓋手機還需加跌打開正面、打開反面，共進行8個面的自由跌落試；對于翻蓋和滑蓋手機不需要打開翻滑蓋進行4個角的跌落時），每個面的跌落次數(shù)為1次；b. 每個面跌落后都要對手機進行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查；c. 跌落地面為20mm 混凝土板；d. 所有檢查完成后，使用穩(wěn)壓電源給待測手機供電，用延長射頻線與CMU 連接并

24、進行通話，在電壓設(shè)置為3.8V 的情況下進行RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；RF性能指標(biāo)合格；b. 結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件，logo及cover 等無脫落；殼體無卡鉤脫出，斷裂；LCD無破裂；天線無脫出，脫落；轉(zhuǎn)軸無松動、錯位、脫出或斷裂；滑蓋無松動、脫出、斷裂；晃動無異響，LENS無破裂，脫落以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：殼體、lens表面無明顯掉漆，無裂紋，破損，沖擊后以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d

25、. 備注：電池/電池蓋脫落、關(guān)機及掉卡等，如重啟無異常，不記錄為問題；當(dāng)?shù)溥^程中出現(xiàn)的問題點超過跌落總次數(shù)的50%以上時，才判為問題點；對于顯示屏可見面積不小于機殼正面表面積40%或者25cm的手持式MS 跌落時，允許液晶屏裂，但通話功能應(yīng)正常）；e. RF參數(shù)符合要求（參考整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范（TDMA制式）；a. 將手機裝上帶滿電電池，插上測試卡，設(shè)置為開機狀態(tài)后，放置在靜電測試臺的絕緣墊上，并且用充電器加電使手機處于充電狀態(tài)（樣機于絕緣墊邊緣距離至少5cm；兩個樣機之間的距離也是至少5cm）；b. 打開靜電槍，撥打112，調(diào)節(jié)放電方式，選擇+/-5kv（接觸放電），對手機外露金屬部分進

26、行接觸放電；選擇+/-10kv（空氣放電），對手機各縫隙處進行空氣放電（如系統(tǒng)接口插口處, Receiver/Speaker/Microphone處,鍵盤處, 大小LCD 屏四周,天線處,前后蓋縫隙處，電池板與后蓋縫隙處，內(nèi)外轉(zhuǎn)軸處，側(cè)鍵處，耳機孔處等縫隙處進行放電，每一個測試點放電15次，放電時間間隔為1s，15次放電后對地進行放電操作，并記錄結(jié)果；d. 觀察手機在測試過程中有無死機，通信鏈路中斷，LCD顯示異常，自動關(guān)機及其它異?，F(xiàn)象；a. 性能要求：放電過程中，不允許有屏閃，屏抖，黑線，橫紋，豎紋，屏無顯示，變暗，變黑，手機重啟，關(guān)機，通信鏈路斷等任何異?，F(xiàn)象發(fā)生；b. 功能檢查：撥打電

27、話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；c. 外觀檢查：外觀無與測試前不一致；a. 打開電源和氣閥，鹽水噴霧機溫度設(shè)定為：35 ，壓力桶溫度：47，壓力控制在1kg/cm2，鹽水濃度：5% （PH值：6.5-7.2）, 共三個噴霧周期，每次噴霧2h，每次噴霧后有一個為期22h 的濕熱儲存周期。儲存條件為(40±2,相對濕度為9095 試驗時間：72 小時；b. 將手機以用繩懸掛入鹽水噴霧機中，手機帶電池，并且處于關(guān)機狀態(tài)（手機零件測試:應(yīng)將零件放入不銹鋼籃子中或放在紗布上）；c. 樣機擺放應(yīng)一臺樣機天線側(cè)

28、朝上，一臺樣機天線側(cè)朝下；d. 依次打開電源、操作、噴霧、計時；e. 試驗時間結(jié)束后關(guān)閉電源和氣閥，取出手機；f.用吹風(fēng)機將手機內(nèi)外表面殘留液體吹干，并在常溫下放置48小時以上（手機零件測試：現(xiàn)將零件在自來水中清洗后吹干）；48小時后對手機進行全面外觀和功能檢測；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：lens，天線，裝飾件，標(biāo)牌，電池，Connector，螺釘?shù)葻o腐蝕以及與測試前不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：表面噴涂，絲印，電鍍無脫落，起泡，腐蝕以及與測試前不一致的外觀；a.

29、 將手機設(shè)置為關(guān)機狀態(tài)；b. 手機放在測試儀支撐件上，選取不同位置的按鍵，對準(zhǔn)metal dome測試儀按壓頭，右手逆時針轉(zhuǎn)動旋鈕壓被測鍵；c. 讀取測試儀上顯示數(shù)據(jù)；a. 正常彈性：180+/-20 g；手感：40%；行程：=0.20mm；b. 打擊壽命：100萬次，打擊后衰減率20%；c. 鹽霧后衰減率20%；a. 存入5個電話，5條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間；手機里存放MP3，MPEG4；b. 將手機裝上帶滿電電池，插上測試卡，設(shè)置為開機狀態(tài)后，固定在振動臺上夾緊；c. 設(shè)備參數(shù)按以下調(diào)整：頻率范圍5-20Hz ，功率頻譜密度0.96m2/s3 ；頻率范圍20-500Hz，功率頻

30、譜密度-3dB/oct；d. 啟動振動系統(tǒng)，X、Y、Z三個軸向分別進行1小時測試，每個軸向振動后都要對手機進行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查；e. 檢查完成后，使用穩(wěn)壓電源給待測手機供電，用延長射頻線與CMU 連接并進行通話，在電壓設(shè)置為3.8V 的情況下進行RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：無零件松動、脫落，晃動無異常以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：外觀無異常；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失

31、；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；RF性能指標(biāo)合格；e. RF參數(shù)符合規(guī)格要求（參考整機射頻指標(biāo)測試規(guī)范（TDMA制式）；a. 功能測試：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能；b. 結(jié)構(gòu)測試：按鍵彈性；轉(zhuǎn)軸靈活性；其它可活動部件靈活性；c. 外觀檢測：顯示區(qū)域；殼體表面噴涂；a. 將手機裝上帶滿電電池，不插卡，設(shè)置為關(guān)機狀態(tài)后，放置到沙塵試驗箱里支架上；b. 一個正面擺放，一個反面擺放；不靠近試驗箱內(nèi)壁；c. 測試時間持續(xù)8h；d. 將樣品從試驗箱中取出，用無塵布和刷子對其清潔后，進行檢查；e. 砂塵流量：2

32、m/s；砂塵材料：滑石粉250目（46m）；濕度30%；f. 對于翻蓋手機，打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機，滑開到上限位置；a. 功能檢查：無異常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：按鍵彈性正常；轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動正常，無異音；所有可活動部件活動正常；c. 外觀檢查：顯示區(qū)域無明顯砂塵；殼體表面噴涂無退化現(xiàn)象；a. 打開恒溫恒濕機的電源，溫度設(shè)定為：40 ，濕度設(shè)置為：95%R.H，試驗時間：24 小時；b. 用紗布浸占人工汗液，紗布濕透即可，然后用紗布裹緊測試樣機（確保紗布和樣機緊密接觸）；每臺測試樣機分為上下兩個區(qū)域，分別用浸有酸性和堿性汗液的紗布包裹；c. 樣機擺放應(yīng)一臺樣機A 面朝上，一臺樣機A 面朝下，間隔5cm

33、 以上；d. 運行恒溫恒濕箱；e. 試驗時間結(jié)束后關(guān)閉電源，取出手機；f. 解開紗布，室溫條件下放置2小時后對樣機進行全面的外觀和功能檢查；a. 外觀檢查：表面噴涂，絲印，電鍍無脫落，起泡，腐蝕；噴漆表面無變色、起皮、脫落、褪色等異常以及與測試前不一致的外觀；5.2壽命試驗a. 將手機不包裝，開機固定在測試設(shè)備上；b. 調(diào)節(jié)好氣壓、前桿和后桿的翻轉(zhuǎn)角度，以4045次/分的速率翻蓋8萬次，在2萬次、3萬次、4萬次和5萬次、6萬次、7萬次、8萬次時檢查LCD 能否正常顯示，手機外觀、結(jié)構(gòu)和功能是否正常；c. 關(guān)閉電源，取下手機；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音

34、，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：翻蓋可以平穩(wěn)的開合，無異響；翻蓋轉(zhuǎn)軸功能無松動，變緊等以及其它與測試前狀態(tài)不一致的結(jié)構(gòu)問題；c. 外觀檢查：按鍵，鏡片等無明顯磨損痕跡，殼體配合縫隙無變大，軸連接區(qū)域無裂紋或斷裂等異常；表面噴漆無破裂及顯示磨損等以及無其它與測試前狀態(tài)不一致的外觀問題；a. 打開電源和氣閥；b. 將手機不包裝，開機固定在測試設(shè)備上；c. 以4045次/分的速率滑蓋8萬次，在2萬次、3萬次、4萬次和5萬次、6萬次、7萬次、8萬次時檢查LCD 能否正常顯示，手機外觀、結(jié)構(gòu)和功能是否正常；d. 關(guān)閉電源，取下手機；e. 將FPC

35、拆下,每個PIN 在將FPC 拱起做3個方向擠壓的情況下做電阻量測,(如付圖,每PIN 的電阻值和測試前一樣；a. 當(dāng)拿住上滑蓋和下滑蓋，樣品不能因為自身的重量而打開。（如果樣品初始設(shè)計便容許因自身重量使樣品打開，則不進行此項判斷）；b. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；c. 結(jié)構(gòu)檢查：滑蓋可以平穩(wěn)的開合，滑軌無明顯松動、變緊，滑動時無異音等以及其它與測試前狀態(tài)不一致的結(jié)構(gòu)問題；d. 外觀檢查：按鍵，鏡片等無明顯磨損痕跡，殼體配合縫隙無變大，軸連接區(qū)域無裂紋或斷裂等異常；表面噴漆無破裂及顯示

36、磨損等以及無其它與測試前狀態(tài)不一致的外觀問題；a. 將手機不包裝不開機固定在測試設(shè)備上；b. 以200g 力按任意選定鍵盤上的按鍵，按壓的速度為60次/分，按壓20萬次，在3萬次，6萬次， 8萬次，9萬次和10萬次、13萬次、16萬次、19萬次、20萬次時分別檢查手機外觀和功能是否正常；側(cè)鍵每隔1萬次，進行手機外觀和功能檢查；c. 人造手指與樣機按鍵的距離為2mm；d. 每臺樣機按鍵選擇盡量不重復(fù)，盡可能多；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：按鍵彈性，殼體配合，結(jié)構(gòu)件配合

37、，以及與測試前不一致的現(xiàn)象； c. 備注：實驗中被測試樣機的按鍵選擇應(yīng)根據(jù)不同機型進行確定，并參考工程師的建議；d. 外觀無異常；手機為開機狀態(tài)，用手來回撥動微動開關(guān)，來回一個回合算一次，共做20000次，速度為60次/分，檢查手機外觀和功能是否正常；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：微動開關(guān)滑動正常，殼體配合，結(jié)構(gòu)件配合，以及與測試前不一致的現(xiàn)象；a. 手機為開機狀態(tài)；b. 耳機插入樣機的耳機孔時不會松動（耳機可以承受得住樣機本身的重量）；c. 插入耳機手機顯示耳機圖標(biāo)

38、到拔出耳機手機顯示耳機圖標(biāo)消失為一個循環(huán)，重復(fù)2000個循環(huán)； d. 手工插拔2000次，每一次都要觀察手機顯示狀況，插拔完成后對樣機及耳機進行結(jié)構(gòu)、功能、外觀檢查；e. 插拔速率：20次/分鐘；a. 功能檢查：撥打電話，使用耳機通話時，耳機的受話器及MIC 功能正常，無斷音、雜音（通話過程中轉(zhuǎn)動耳機插頭，確保耳機在不同角度下使用功能正常）；拔下耳機后通話，樣機的受話器及MIC 功能正常，無斷音、雜音；顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：樣機結(jié)構(gòu)無異常；耳機插頭無焊接故障、裂紋；耳機卡鉤無破損、斷裂

39、；耳機孔無破裂、變形、焊盤無脫落；耳機壓頭無脫落。耳機接頭卡鉤無失效，耳機插入手機耳機孔時不會松動（可以承受得住手機本身的重量）；耳機插孔及耳機插頭無異常手感以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：樣機外觀無異常，耳機孔無磨損以及其它與測試前狀態(tài)不一致的外觀問題；a. 手寫筆外觀；b. 樣機筆插孔；c. 手寫筆與手機之間的配合（松動，插拔不順暢等）；a. 手機為關(guān)機狀態(tài)；b. 手寫筆完全插入手機筆插孔內(nèi)，然后完全拔出，計為1次，共重復(fù)30000次；伸縮性手寫筆伸出縮進為1次，共重復(fù)10000次；c. 分別在10000次，20000，30000次，（伸縮筆在2000次、5000次、10

40、000次）進行檢查，測試中應(yīng)及時對樣機和筆進行清潔；d. 插拔速率：50 次/min；a. 手機筆插孔無明顯磨損及掉漆；b. 手寫筆無變形，斷裂，表面無異常；c. 手機與手寫筆配合無松動（手機筆插孔內(nèi)卡鉤或rubber 功能無異常），手寫筆能順暢的插入、拔出（用手握住手寫筆，手寫筆應(yīng)能承受手機自身重量）；d. 筆頭與筆尾不能出現(xiàn)松動、脫落a. 將樣機設(shè)置為為開機狀態(tài)；b. 插上手機顯示有“插入功能”到拔出手機顯示 “插入功能”消失為一個循環(huán)，重復(fù)2000/1500個循環(huán)；c. 單功能充電器連接器：進行2000次的手工插拔，每一次都要觀察手機顯示狀況；插拔完成后對樣機進行結(jié)構(gòu)、功能、顯示、外觀檢

41、查；d. 2合1充電器連接器：進行充電器2000次的手工插拔，耳機（或數(shù)據(jù)線）各1500次；每一次都要觀察手機顯示狀況；插拔完成后對樣機進行結(jié)構(gòu)、功能、顯示、外觀檢查；e. 3合1充電器連接器：進行充電器2000次、耳機和數(shù)據(jù)線各1500次的手工插拔，每一次都要觀察手機顯示狀況；插拔完成后對樣機進行結(jié)構(gòu)、功能、顯示、外觀檢查；f. 插拔速率：20±10次/分鐘；a. 功能檢查：充電功能正常；撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：樣機結(jié)構(gòu)無異常。充電器插頭無磨損、焊接故障、裂紋；I/

42、O接口無磨損、破裂、變形；焊盤無脫落；充電器插頭彈性正常、無脫落。充電器接頭卡鉤無失效、破損、斷裂，充電器插入樣機插孔時不會松動（可以承受得住樣機本身的重量）；I/O接口及充電器插頭無異常手感以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：樣機外觀無異常，無與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；a. 功能測試：開關(guān)機是否正常；b. 結(jié)構(gòu)測試：拆裝是否順暢（電池卡扣，電池觸片、連接器等）；a. 將電池/電池蓋拆下，再裝上為1 次，反復(fù)拆裝2000次；b. 進行到1000次， 查樣品各功能及結(jié)構(gòu)是否正常；c. 如果樣品是內(nèi)置電池的形式，對于電池和電池蓋都要做測試；d. 拆裝速率：20±10次/分；

43、a. 可正常開關(guān)機；b. 電池拆裝順暢。電池卡扣功能正常，無變形，無磨損，有彈力。電池觸片、電池連接器應(yīng)無下陷、變形、磨損以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；a. 功能測試：樣機正常開機，正常讀取SIM 卡信息；b. 結(jié)構(gòu)測試：SIM卡鎖，卡座，SIM卡彈片等正常；a. 樣機關(guān)機狀態(tài)，進行SIM 卡拆裝測試，反復(fù)拆裝2000次（插上SIM 卡，取下SIM 卡，記錄為1次）； b. 測試前SIM 卡必須是標(biāo)準(zhǔn)的測試用SIM 卡。SIM卡在不借助任何工具情況下是否容易拆裝；c. 插拔進行到500、1000、1500、2000次對樣機進行功能、結(jié)構(gòu)檢查；d. 拆裝速率：20±10次/分；a.

44、 功能檢查：樣機開機正常，讀取SIM 卡信息無異常；可以撥打112；b. 結(jié)構(gòu)檢查：SIM卡鎖無破損、磨損、變形，SIM卡彈片無破損、凹陷、變形等；a. 功能測試：樣機正常開機，正常讀取存儲卡信息；b. 結(jié)構(gòu)測試：存儲卡鎖，卡座，存儲卡彈片等正常；a. 樣機不能用設(shè)備自動測試時，手工插拔2000次對樣機功能、結(jié)構(gòu)進行檢查；手機能開機，能用設(shè)備進行存儲卡拆裝測試時，用設(shè)備插拔2000次（插上存儲卡，取下存儲卡，記錄為1次）；b. 測試前存儲卡必須是標(biāo)準(zhǔn)的測試用存儲卡。存儲卡在不借助任何工具情況下是否容易拆裝； c. 插拔進行到500、1000、1500、2000次時對樣機功能、結(jié)構(gòu)進行檢查；d.

45、 拆裝速率：2060次/分；a. 功能檢查：樣機開機正常，讀取存儲卡信息無異常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：存儲卡鎖無破損、磨損、變形，存儲卡彈片無破損、凹陷、變形等；a. 用直流電源給手機供電，直流電源電壓設(shè)定為3.9V（3.6V4.2V均可以）；b. 播放鈴聲和mp3時音量設(shè)置到最大；c. 讓手機一直處于響鈴和播放mp3狀態(tài)，保持96小時，中間不能有停頓現(xiàn)象；a. 手機裝上電池，并插上充電器充電；b. 讓手機一直處于振動狀態(tài)，保持96小時，中間不能有停頓現(xiàn)象；a. 將手機設(shè)置為開機狀態(tài)；b. 旋轉(zhuǎn)攝像頭（最小可旋轉(zhuǎn)角度>最大可旋轉(zhuǎn)角度），反復(fù)進行30000次，分別在10000次、20000次、2

46、5000次和30000次檢查手機攝像功能是否正常；a. 確認LCD 未被設(shè)置成常開狀態(tài)；b. 手機插入網(wǎng)卡（如移動或聯(lián)通卡），將手機充電至手機充電完成時拔下充電器；c. 將手機處于開機待機狀態(tài)，同時記錄起始時間；d. 直到手機自動關(guān)機，此時記錄關(guān)機時間；a. 在被測樣機處于關(guān)機狀態(tài)下，長按開關(guān)機鍵，使手機開機進入待機畫面；在待機畫面長安開關(guān)機鍵，使手機關(guān)機為開關(guān)機1次；b. 先進行200次的手工開關(guān)機測試，再進行設(shè)備開關(guān)機測試，連續(xù)重復(fù)開關(guān)機動作2000次；c. 在連續(xù)開關(guān)機到500次、1000次、1500次和2000次檢查一下手機功能、顯示、開關(guān)機鍵是否正常；a. 功能測試：觸摸屏功能，顯示

47、功能；b. 結(jié)構(gòu)測試：觸摸屏，顯示屏損傷，破裂；手寫筆筆頭變形，損傷等；c. 外觀檢測：觸摸屏表面異常痕跡；a. 將樣品設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)，固定在測試夾具上；b. 點擊觸摸屏250000次；c. 點擊力度：250g；點擊速度：1次/s；使用標(biāo)準(zhǔn)的手寫筆（R0.8）進行點擊；a. 功能檢查：觸摸屏使用功能無異常，顯示屏顯示正常以及無其它與測試前狀態(tài)不一致的功能問題； b. 結(jié)構(gòu)檢查：觸摸屏，顯示屏無損傷，破裂；手寫筆頭部無變形，扭曲，損傷以及無其它與測試前狀態(tài)不一致的結(jié)構(gòu)問題；c. 外觀檢查：觸摸屏表面無異常痕跡以及無其它與測試前狀態(tài)不一致的外觀問題；a. 功能測試：觸摸屏功能；b. 結(jié)構(gòu)測試：觸摸

48、屏，顯示屏損傷，破裂；手寫筆頭部變形，損傷等；c. 外觀檢測：觸摸屏表面無異常；a. 將樣品設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)，固定在測試夾具上；b. 使標(biāo)準(zhǔn)手寫筆（R0.8）沿觸摸屏的對角線進行劃線測試（手寫筆與觸摸屏垂直）；c. 劃線壓力：250g；d. 測試次數(shù)：100000次（反復(fù)一個來回記為2次）；e. 測試完成后，對觸摸屏進行功能，結(jié)構(gòu)與外觀檢查，并對觸摸屏表面進行清潔；f. 測試距離：不小于觸摸屏對角線距離的2/3；g. 劃線速度：60mm/s；a. 功能檢查：觸摸屏使用功能無異常，顯示屏顯示無異常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：觸摸屏，顯示屏無損傷，破裂；手寫筆頭部無變形，扭曲，損傷；c. 外觀檢查：觸摸屏表面無劃痕；a. 樣品插上充電器充電；b. 在軟件支持下使EL 背光持續(xù)點亮48小時；c. 每隔12小時檢查EL 背光是否正常；a. 樣品插上充電器充電；b. 在軟件支持下使LED 指示燈持續(xù)點亮120小時；c.在30、60、90、120小時檢查LED 指示燈是否正常；a. 左、右、前、后、中間撥五向鍵各50000次；b. 15000次，20000次、25000次和30000次、40000次、50000次時檢查