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文檔簡介

1、TYPE C數(shù)據(jù)線規(guī)格書V1.0關(guān)鍵詞:TYPE C、數(shù)據(jù)線摘 要:本文介紹了數(shù)據(jù)線的規(guī)格,性能及測試規(guī)范。 縮略語: 1 范圍標準適用于 TYPE A TO C數(shù)據(jù)線需求規(guī)格書,未盡規(guī)格描述以TYPE C協(xié)會規(guī)范V1.1為準。2 編寫依據(jù)序號No.文件編號Doc No.文件名稱 Doc Title1GJB1217電連接器試驗方法2MIL-STD-202GTest method standard electronic and electrical component parts3GB/T 3048電線電纜電性能試驗方法4GB4098射頻電纜試驗方法5EIA-364-101Attenuation

2、 Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems6EIA-364-106Standing Wave Ratio (SWR) Test Procedure for Electrical Connectors7EIA-364-108Impedance, Reflection Coefficient, Return Loss, and VSWR Measured in the Time and Frequency Domain Test Procedure f

3、or Electrical Connectors, Cable Assemblies or Interconnection Systems8GB5441.2工作電容試驗-電橋法9EIA-364-103Propagation Delay Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems10IEC 68-2-1基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:寒冷11GB/T 2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法12IEC 68-2-2基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗

4、A:干熱13GB/T 2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法14IEC 68-2-10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J和導則:長霉0020的15GB/T 2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J和導則:長霉16ASTM G 21Standard Practice for Determining Resistance of Synthetic Polymeric Materials to Fungi17IEC 61587-1Mechanical structures for electronic equipmentTests for

5、IEC 60917 and IEC 60297Part 1 Climatic mechanical tests and safety aspects for cabinets racks subracks and chassis18GR 487Generic Requirements for Electronic Equipment Cabinets19IEC 68-2-30基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db及導則:交變濕熱(1212h循環(huán))20GB/T 2423.4電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法21IEC 68-2-52電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗 試驗Kb:鹽霧,

6、交變(氯化鈉溶液)22GB/T 2423.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)23IEC 529Degrees of protection provided by enclosure(IP code)24GB 4208外殼防護等級(IP代碼)25EIA-364-38BCable pull-out test procedure for electrical connectors26EIA-364-41CCable flexing test procedure for electrical connectors27IEC 60950Safety of inf

7、ormation technology equipment28EN 60950Safety of information technology equipment29UL 60950Safety of information technology equipment30GB 4943信息技術(shù)設(shè)備的安全31IEC60332Tests on electric cabies under fire conditions32GB/T18380電纜在火焰條件下的燃燒試驗33UL1581Reference standard for electical wires,cables,and flexible co

8、rds34GR 1217Generic requirements for separable electrical connectors used in telecommunications hardware35GR 950Generic Requirements for Optical Network Unit (ONU) Closures36USB Type-C Cable and Connector Specification V1.13 數(shù)據(jù)線正常工作和存儲條件3.1 數(shù)據(jù)線應能在下列條件下正常工作:3.1.1 工作環(huán)境溫度:-20+55;(僅作單體驗證目的,與整機匹配時以整機試驗環(huán)境

9、為準);3.1.2 相對濕度:5%95%;3.1.3 大氣壓力:86 kPa106kPa;3.1.4 數(shù)據(jù)線的存儲溫度:-40+85;4 數(shù)據(jù)線主要參數(shù)4.1 數(shù)據(jù)線連線規(guī)格詳細尺寸以及工藝要求以3D圖檔為準1、type C金屬插頭,要求必須是整體拉伸成型,不能是折彎成型,不接受接縫;2、金屬插頭部分,要求做不銹鋼原色,表面噴砂處理: 50u”150u” MATT NICKEL PLATING OVER ALL3、 保證至少3A通流能力整條線纜產(chǎn)品詳細規(guī)格(BOM清單, 包括端子圖紙2D & 可拆解版本的3D)要有確認才能認可(認證時必須提供以上文件)。4.2 線材主體信息: 4.2.1 外觀

10、5V/3A A plug TO C plug, cover式,白色半霧面,素材細咬花處理,MT110064.2.2 主體結(jié)構(gòu)項目規(guī)格說明長度16mm不含金屬插頭部分顏色白色半霧面材質(zhì)Overmold&Cable & Housing &其他輔料NON-PVC無鹵滿足ROSH, 且無如下有害物質(zhì)添加:溴系阻燃劑Brominated Flame Retardants氯系阻燃劑Chlorinated Flame Retardants聚氯乙烯Polyvinyl Chloride (PVC)鄰苯二甲酸酯Phthalates三氧化銻 Antimony Trioxide鈹及其化合物 Beryllium (Be

11、) and its compounds接口USBB receptacle to TYPE C plug滿足5V 3A其他應符合5.2節(jié)測試標準Voltage Rating:30VAC/DC導體材質(zhì)規(guī)格如下:材質(zhì):鍍錫銅Signal Name Wire Gauge (AWG) VBUS /GND端到端阻抗不大于80m絕緣材質(zhì)NON-PVC,須滿足5.2章節(jié)測試性能要求 4.2.3 關(guān)鍵尺寸4.2.3.1 USB2.0 B plug參考協(xié)會規(guī)范4.2.3.2 TYPE C plug1. 紅圈標示尺寸為重點尺寸,其余尺寸依據(jù)協(xié)會規(guī)范要求 2. 各組件BOM LIST原材料信息需明確到具體牌號 3.

12、應滿足TYPE C 2.0規(guī)格4.2.3.3 鍍層厚度測試區(qū)域規(guī)定關(guān)于鍍層測試區(qū)域和方法:TYPE C/A:TYPE C/A 產(chǎn)生接觸的關(guān)鍵區(qū)域為PIN針頭部觸點,因此鍍層工藝為考慮成本一般只覆蓋PIN針觸點位置,其他區(qū)域為flash Au,所以鍍層的量測范圍定義在PIN針觸點弧頂?shù)淖罡咛庡儗雍穸葹樵谟|點弧頂最高點0.5mm的范圍內(nèi)進行測量,同一觸點在0.5mm范圍內(nèi)測量三次取平均值0.5mm0.5mm 4.2.4 線序Table 3-20 USB Type-C to USB 2.0 AM Wiring USB Type-C Plug USB 2.0 AMPin Signal Name Pin

13、 Signal Name A1, B1, A12, B12 GND 4GND A4, B4, A9, B9 VBUS 1 VBUS A5 CC A6 Dp1 3 D+ A7 Dn1 2 D Shell Shield Shell Shield Notes: 1. Pin A5 (CC) of the USB Type-C plug shall be connected to VBUS through a resistor Rp. See Section 4.5.3.2.2 and Table 4-13 for the functional description and value of Rp.

14、 2. Contacts B6 and B7 should not be present in the USB Type-C plug. 3. All VBUS pins shall be connected together within the USB Type-C plug. Bypass capacitors are not required for the VBUS pins at this cable. 4. All Ground return pins shall be connected together within the USB Type-C plug. 5. All U

15、SB Type-C plug pins that are not listed in this table shall be open (not connected). Table 4-13 DFP CC Termination (Rp) Requirements DFP Advertisement Current Source to 1.7 5.5 V Resistor pull-up to 4.75 5.5 V Resistor pull-up to 3.3 V 5% Default USB Power 80 A 20% 56 k 20% (Note 1) 36 k 20% 1.5 A 5

16、 V 180 A 8% 22 k 5% 12 k 5% 3.0 A 5 V 330 A 8% 10 k 5% 4.7 k 5% Notes: 1. For Rp when implemented in the USB Type-C plug on a USB Type-C to USB 3.1 Standard-A Cable Assembly, a USB Type-C to USB 2.0 Standard-A Cable Assembly, a USB Type-C to USB 2.0 Micro-B Receptacle Adapter Assembly or a USB Type-

17、C captive cable connected to a USB host, a value of 56 k 5% shall be used, in order to provide tolerance to IR drop on VBUS and GND in the cable assembly. 5 技術(shù)要求5.1 線材外觀要求5.1.1 線材外觀要求如下:外觀金屬插頭/pin腳檢查1、 參照樣品和PDM圖紙檢驗,線纜兩端插頭的結(jié)構(gòu)外型(型號)要求與樣品一致;2、 插頭不允許氧化/生銹、殘缺、變形;3、 用干布(無塵布)能擦除的臟污,允許;用干布(無塵布)不能擦除的臟污,不允許;【

18、注:金屬插頭臟污不良超出1%(不良數(shù)/樣本數(shù))時,提交不合格電子流確認】4、 插頭上不允許有油漬;5、劃痕L2mm,W0.1mm,用手觸摸無深度感,允收一條;6、USB A公插頭內(nèi)不允許有溢膠的現(xiàn)象;7、USB A公插頭內(nèi)的連接器PIN腳不允許氧化/生銹、翹高、變形、PIN腳內(nèi)陷/斷裂不良;8、金屬插頭(USBA公以及TYPE C公)與注塑部分匹配正常,不允許歪斜,夾角90o2.5o標簽檢查1、參照樣品和PDM圖紙檢驗,標簽上的印刷圖案和字體要求一致;2、標簽不允許破損、漏貼;注塑部位1、注塑部位(USB A公外膜、DC插頭外膜、磁環(huán)外膜)不允許缺膠、破損;2、合模線(毛邊)H0.2mm;3、

19、水口位(毛邊)在不刺手的前提下, H1mm,可接收;4、壓痕L5mm,W0.2mm,USB A公外膜每面允收一條,DC外膜允收一條;5、點狀壓痕D1.5mm,USB A公外膜每面允收一條,DC外膜允收一條;線材外觀1、 線材不允許有破損、漏銅;2、 線材上不允許有臟污;3、 點狀壓痕D2.5mm,DS25mm,允收6個;4、 線狀壓痕L5mm,W1mm,DS25mm,允收3條;扎帶下的壓痕允許;5、 有感刮傷:L5mm,W1mm,DS25mm,允收2條;無感刮傷:L30mm,W1mm,DS30mm,允收3條;未盡事宜參考終端數(shù)據(jù)線檢驗通用操作指導書5.2 線材性能要求Test conditio

20、nTemperature:15 to 35Air pressure :86 to106 kPaRelative humidity:25% to 85%NOTest descriptionTest procedurePerformanceRelated standard1插拔耐久測試數(shù)據(jù)線插頭無破損,配件插頭尺寸在規(guī)格內(nèi),接觸良好,電氣性能正常。測試前,測試后插拔力應滿足要求,樣品外觀結(jié)構(gòu)、功能及電氣性能應正常,允許端子接觸點表面有正常磨損,但不允許有物理損壞測試速度為12.5mm/分鐘l 以插入力和拔出力測試標準為依據(jù),測試TYPE C端子插拔次數(shù)10000次(正反方向各5000次,每2500

21、次換一個方向)l 做完25次插拔之后,插拔力變化不能超過33%l A公插拔1500次l 測試結(jié)束后端子外觀無異常、插拔力需要滿足要求EIA364-092插入力EIA364-131.插拔力測試儀器2.測試速度為12.5mm/分鐘3.單位為Nl 插拔耐久測試前后:l Type C:插入力520N ;l USB AM: 35N(MAX)EIA364-133拔出力EIA364-131.插拔力測試儀器2.測試速度為12.5mm/分鐘3.單位為Nl 插拔耐久測試前后:l Type C:拔出力820N l USB AM: 10N(Min)EIA364-134滾筒測試跌落高度1米,跌落次數(shù)150次,每50檢查

22、一次,跌落速度參考值10-12次/分次(以跌落在滾筒鐵板中心位置為準)l 測試后,樣品外觀、機械結(jié)構(gòu)應正常,功能和電氣性能正應常的5端子強度測試1.F1/F2(+/-Y) =50N,做到75N觀察損壞情況F3,F4(+/-X) =50NF5(+Z) =100NF1和F2方向的測試均采用新樣品測試,F(xiàn)3-F5方向視情況進行互用施力點為接口到SR處15mm(從外殼平面量起15mm;如SR不足15mm,以SR的末端為施力位置,如SR末端剛性不足以施加力,則以剛性位置的末端為施力位置)測試速度:5mm/minl 上下左右4個方向力量要求大于5.0Kg,插入方向要求大于10Kg,連接器不允許有失效,接口

23、允許有可恢復的變形,數(shù)據(jù)線電氣性能正常;結(jié)構(gòu)無松脫,無斷裂l6殼體抗拉脫器件選型標準:公頭鐵殼上掛重10kgf,持續(xù)時間 1分鐘進料檢驗標準: 公頭鐵殼上掛重6kgf,持續(xù)時間 1分鐘l 兩端殼體都需要測試抗拉脫力,測試后兩端殼體不應有脫落現(xiàn)象7端子強度耐久測試測試力:F1=F2=2kgf測試次數(shù):2000次/方向;施力點為接口到SR處15mm(從靠近金屬頭尾部量起15mm。如SR不足15mm,以SR的末端為施力位置,如SR末端剛性不足以施加力,則以剛性位置的末端為施力位置);測試速度:10-15次/minl 數(shù)據(jù)線外觀結(jié)構(gòu)、功能及電氣性能應正常,端子不應有損壞或嚴重變形8端子鍍層膜厚膜厚測試

24、儀。Type C端/ uB母座。最少樣品數(shù)量:每個端子3pcsl Type C /B plug Plating gold Au 不小于30,Plating Ni 不小于 809成品電阻測試1、C TO A測試2、屏蔽層測試 殼對殼3、壽命前后均要滿足阻抗要求4、滿足協(xié)會規(guī)范1.1要求25時實驗室測試標準:Vbus: 0.135最大 GND:0.135最大線材規(guī)格1M,電源22AWG10溫升測試TYPE C Vbus/GND通電5A(4對pin),USB AM單VBUS/GND通電3A TYPE C/USB AM非電源pin腳通流0.25A;利用shield/GND回流,通流不低于3Al 25時

25、測試l 溫度穩(wěn)定30分鐘后測試l 針對plug單體和cable組件整體的兩項測試均需滿足l 任意點溫升不允許超過30度USB Type-C Cable and Connector Specification11接觸阻抗LLCR 是從REC 焊接點的尾部到Plug焊點,包括Plug端和Rec所有內(nèi)部的端子和Paddle Cards* 使用四線測試法* 測試電壓20mV最大,電流100mA.VBUS/GND 初始接觸阻抗30m,其他pin初始接觸阻抗40m Max 最大,所有Pin環(huán)境測試后LCCR最大增量為10 m連接器13耐壓測試兩兩pin之間打(含外殼)l 認證測試:100VAC/60s/0

26、.5mAl 產(chǎn)線測試:100VAC/0.1s/0.5mA14絕緣電阻兩兩pin之間打(含外殼)l 認證測試: 300VDC 60s 100Ml 產(chǎn)線測試:300VDC/0.1s/10M15高溫存儲轉(zhuǎn)接頭:(702),24H完成后返回常溫停留24小時以上,進行測試連接器:(1052),120H完成后返回常溫停留24小時以上,進行測試l 部品外觀無損壞;l 線纜電氣性能正常16低溫存儲(-402),120H完成后返回常溫停留24小時以上,進行測試l 樣品外觀無損壞;l 線纜電氣性能正常17溫度沖擊采用兩箱法,低溫-40,高溫70,高低溫各停留不少于20分鐘,最大轉(zhuǎn)換時間為20秒,10個循環(huán)。l 測

27、試后,樣品外觀、機械結(jié)構(gòu)應正常,功能和電氣性能應正常18鹽霧測試5% NaCl,35, 連續(xù)噴霧48小時(針對pin針,uB鐵殼部分應可承受至少24H連續(xù)噴霧),噴霧時接口需斜向下放置,確保鹽霧能進入,但同時不能在接口中形成積水。然后移出進行2小時晾干。l 試驗后,樣品外觀應無明顯銹蝕、變色、及鍍層剝落等現(xiàn)象。l VBUS/GND 初始接觸阻抗30m,其他pin初始接觸阻抗40m Max 最大,所有Pin環(huán)境測試后LCCR最大增量為10 m(僅針對連接器)EIA 36419高溫高濕試驗溫度(702) ,濕度(853)%RH,進行168小時l 樣品外觀無損壞;主要考察膠料和線料20交變濕熱255

28、5,相對濕度(953),168小時l 測試后,樣品外觀、機械結(jié)構(gòu)應正常,功能和電氣性能應正常主要考察端子21混合氣體腐蝕測試測試時間:7天,產(chǎn)品狀態(tài):5天非配插,5天配插,溫濕度:70%RH, 30,氣體種類:Cl2:10+/-3 ppb, NO2: 200+/-50 ppb, H2S: 10+/-5 ppb, SO2: 100+/-20 ppbl 試驗后,樣品外觀應無明顯腐蝕、變色、及鍍層剝落等現(xiàn)象,功能應正常。l VBUS/GND 初始接觸阻抗30m,其他pin初始接觸阻抗40m Max 最大,所有Pin環(huán)境測試后LCCR最大增量為10 m(僅針對連接器)連接器22耐化學溶劑測試將家用化學

29、物品(1.護手霜;2.防曬乳液;3.口紅;4.化妝粉底;5.驅(qū)蟲凍膠;6.食用油,所用化學用品型號或配方為我司終端現(xiàn)有用品)涂在線纜、SR、殼體上。放置72小時后用水清洗掉家用化學品再放置兩個小時后檢查2.將以下溶劑(1.汽油;2.酒精;3.人工汗液;4.5%食鹽水,所用化學用品型號或配方為我司終端現(xiàn)有用品)涂在線纜、SR、殼體上。放置72小時(汽油放置24小時)后用水清洗掉溶劑再放置兩個小時后檢查l 線纜、SR、殼體不會有明顯腐蝕、開裂23耐UV輻射測試耐UV輻照進行1個循環(huán)為24小時的測試,具體為在干熱40下,太陽輻射強度為1120W/,保持20小時,再關(guān)閉太陽輻射源4小時,試驗持續(xù)循環(huán)9

30、6小時24EMC參考終端產(chǎn)品USB數(shù)據(jù)線充電線可靠性測試規(guī)范V1.2l EMC class A標準l CE/FCC25Differential Impedance This test ensures that the D+/D lines of the cable assembly have the proper impedance. For the entire cable assembly. 75 ohms min and 105 ohms max. 400 ps rise time (20%-80%). EIA 364-108 26Propagation Delay The purpos

31、e of the test is to verify the end-to-end propagation of the D+/D lines of the cable assembly. 20 ns max. 400 ps rise time (20%-80%). EIA 364-103 27Intra-pair Skew This test ensures that the signal on both the D+ and D lines of cable assembly arrive at the receiver at the same time. 100 ps max. 400 ps rise time (20%-80%). EIA 364 103 D+/D Pair Attenuation This

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