X-射線衍射分析-總結(jié)

1、1第一篇：第一篇：X-射線衍射分析射線衍射分析-總結(jié)總結(jié) 緒 論 課程的總體要求 第一章 X射線物理學基礎(chǔ) 第二章 X射線衍射方向 第三章 X射線衍射強度 第四章 多晶體分析方法 第五章 物相分析及點陣參數(shù)精確測定 第六章 宏觀殘余應力的測定2緒論：X-射線衍射分析總體要求n特點特點：以：以分析分析儀器儀器和和實驗實驗技術(shù)技術(shù)為為基礎(chǔ)基礎(chǔ)n內(nèi)容內(nèi)容：衍射儀：衍射儀結(jié)構(gòu)結(jié)構(gòu)與與工作原理、工作原理、分析分析方法方法及其及其應用應用。 (1)布拉格方程布拉格方程、衍射矢量方程衍射矢量方程、埃瓦爾德圖解埃瓦爾德圖解、勞埃方程、勞埃方程 (2)材料物相定性分析材料物相定性分析（掌握（掌握PDF卡數(shù)據(jù)庫檢

2、索卡數(shù)據(jù)庫檢索) (3)定量分析定量分析 (K值法值法, q值法值法) (4)點陣參數(shù)精確點陣參數(shù)精確測定、測定、超細晶粒超細晶粒測定測定 (5)殘余應力測定殘余應力測定方法方法 (=0, =45方位，測衍射角方位，測衍射角) n意義意義：通過材料：通過材料物相分析物相分析(結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)分析)，理解材料組織結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系，理解材料組織結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系，即即組織是性能的內(nèi)在根據(jù)，性能是組織的對外表現(xiàn)組織是性能的內(nèi)在根據(jù)，性能是組織的對外表現(xiàn)；n要求要求：（1）掌握掌握X射線衍射儀射線衍射儀、德拜相機德拜相機的的結(jié)構(gòu)結(jié)構(gòu)和和工作原理工作原理；（2）掌握掌握常用的常用的實驗分析方法（實驗分析方法（

3、認真看教材認真看教材292頁實驗二頁實驗二）；（3）能正確選用能正確選用合適的分析方法解決實際工作中的問題。合適的分析方法解決實際工作中的問題。3第一章 X射線物理學基礎(chǔ)X射線：射線：波粒二相性，波粒二相性，穿透性穿透性， E = h = hc/ ；折射系數(shù)接近折射系數(shù)接近1, 不產(chǎn)生折射不產(chǎn)生折射； 衍射分析用波長衍射分析用波長：=0.52.5, (Cuk=1.54 居中居中)；X射線產(chǎn)生：射線產(chǎn)生：X-射線管射線管(陰極鎢燈絲陰極鎢燈絲,陽極靶陽極靶)，高壓發(fā)生器，冷卻水。，高壓發(fā)生器，冷卻水。連續(xù)連續(xù)X射線譜：波長最小值，射線譜：波長最小值， 0= 12.4 /U (nm), I連連 =

4、 K1iZU2 ;特征特征X射線譜：莫塞來定律，射線譜：莫塞來定律， X射線衰減規(guī)律：射線衰減規(guī)律：吸收限吸收限(K)：K層電子移到無窮遠所做的功，是特征量；層電子移到無窮遠所做的功，是特征量；濾波片濾波片(吸收限的應用吸收限的應用):當當 Z靶靶 40 時時, Z濾濾 = Z靶靶 1; 當當 Z靶靶 40 時時, Z濾濾 = Z靶靶 - 2同一元素：同一元素：K ; 吸吸收限波長收限波長發(fā)射線波長。發(fā)射線波長。光電效應：光子擊出電子的現(xiàn)象；光電效應：光子擊出電子的現(xiàn)象；熒光效應：熒光效應：X射線激發(fā)產(chǎn)生特征輻射。射線激發(fā)產(chǎn)生特征輻射。物質(zhì)的元素成分分析物質(zhì)的元素成分分析;俄歇效應俄歇效應：一

5、個一個L層電子層電子K層，另一個層，另一個L層得能量逸出現(xiàn)象。層得能量逸出現(xiàn)象。表面輕元素分析表面輕元素分析;相干散射相干散射與入射波與散射波與入射波與散射波波長相同波長相同，不相干散射則入射散射不相干散射則入射散射波波波長不同。波長不同。)(21ZKt0t0meIeII吸收限吸收限4 X射線穿過物質(zhì)時，射線穿過物質(zhì)時，X射線與物質(zhì)發(fā)生復雜的相互作用，即射線與物質(zhì)發(fā)生復雜的相互作用，即物質(zhì)對物質(zhì)對X射射線線的的吸收吸收、散射散射；入射；入射X射線對樣品射線對樣品原子的電離，及隨后的原子的電離，及隨后的熒光效應熒光效應和和俄歇效應俄歇效應等；等；X射線與物質(zhì)的相互作用射線與物質(zhì)的相互作用入射入射

6、X射線射線X射線與物質(zhì)的相互作用5第二章 X射線衍射方向本章主要內(nèi)容本章主要內(nèi)容第一節(jié)第一節(jié) X射線射線晶體學晶體學簡介簡介第二節(jié)第二節(jié) 布拉格方程布拉格方程第三節(jié)第三節(jié) X射線衍射法射線衍射法6第一節(jié) X射線晶體學-正點陣14種布喇菲點陣種布喇菲點陣/ 7個晶系個晶系 P = primary, C = chassis,底盤底盤), I = in, F = face, R = rhombusPP正空間：即物質(zhì)空間、晶體點陣空間；晶體點陣+結(jié)構(gòu)基元=晶體結(jié)構(gòu) 陣胞(晶格)+基元=晶胞2) 晶向指數(shù)（r=xr=xj ja+ya+yj jb+zb+zj jc c) 晶向組:uvw,晶向族: 金屬三種

7、結(jié)構(gòu),FCC，BCC，HCP 100,110,111,112; ,; 3）晶面指數(shù)(HKL),截距1/H,1/K,1/L,晶面(平面)方程: 晶面組(hkl),晶面族:hkl (100,110,111,112）1) 4)干涉指數(shù)(HKL) ：(nh nk nl)11/L1/KH/1zyx1LzKyHx7第一節(jié) X射線晶體學-倒易點陣1)1)倒易點陣定義倒易點陣定義(a(a* *,b,b* *,c,c* *):):以長度倒數(shù)為量綱與正點陣按一定法則對應的虛擬點陣以長度倒數(shù)為量綱與正點陣按一定法則對應的虛擬點陣 ( (方向方向) ) a* / b x c b* / c x a c* / a x b

8、 ( (大小大小) ) a*a=1， b*b=1， c*c=1； 2)2)倒易點陣性質(zhì)倒易點陣性質(zhì)：與晶體的衍射現(xiàn)象相關(guān)，描述衍射強度的分布與晶體的衍射現(xiàn)象相關(guān)，描述衍射強度的分布規(guī)律。規(guī)律。 a*=(bc)/V，b*=(ca)/V，c*= (ab)/V 注注1：把：把性質(zhì)性質(zhì)作為作為定義定義（換位），有何異同？如何推導？（換位），有何異同？如何推導？（如何推導出另一個性質(zhì)呢？分別點積晶軸，（如何推導出另一個性質(zhì)呢？分別點積晶軸，a，b，c）注注2：正、倒易點陣陣胞體積，互為倒易；：正、倒易點陣陣胞體積，互為倒易；v*=1/v；v=1/v*單晶體倒易點陣單晶體倒易點陣：由三維空間由三維空間規(guī)則

9、排列的倒易陣點規(guī)則排列的倒易陣點所構(gòu)成，它所構(gòu)成，它與相應正點陣屬于相同晶系與相應正點陣屬于相同晶系；多晶體倒易球面多晶體倒易球面：由一系列以由一系列以O(shè)*為球心為球心的的不同半徑不同半徑1/d hkl (r*hkl)的的同心球面同心球面而構(gòu)成；而構(gòu)成；3)3)倒易矢量性質(zhì)倒易矢量性質(zhì): :r*=ha*+kb*+lc* ; r*(hkl), |r*|=1/dhkl4)4)晶帶軸，晶帶概念；晶帶定律晶帶軸，晶帶概念；晶帶定律 (r(rr*=0): hu+kv+lw=0a)cos(aa1a*c)cos(cc1c*b)cos(bb1b*85)倒易點陣畫法倒易點陣畫法: (1)計算倒易點陣基矢計算倒易

10、點陣基矢,(2)矢量加法確定所有的倒易陣點。矢量加法確定所有的倒易陣點。 零層倒易面畫法零層倒易面畫法(uvw)*0: (1) 計算晶帶的各倒矢量計算晶帶的各倒矢量,(2)計算兩個最小倒矢量的計算兩個最小倒矢量的夾角，夾角，(3)該兩個倒矢量為基矢，做平行四邊形法則，去掉該兩個倒矢量為基矢，做平行四邊形法則，去掉FHKL=0的倒易點的倒易點(矢量矢量)6) 寫出寫出6個個FCC晶體的晶體的11-1晶帶，并畫出晶帶，并畫出(11-1)*0倒易面的倒易陣點分布。倒易面的倒易陣點分布。222立方：lkhadhkl22222hklcLa3)KHKH(1d4六方：*2*2*2*1*1*1*2221112

11、22111222111)()(cosLKHLKHLKHLKHLKHLKHrrcLbKaHcLbKaHrrrr8)晶面夾角晶面夾角公式：（或公式：（或晶向間晶向間夾角）夾角）222222212121212121cos立方：LKHLKHLLKKHH7) 晶面間距晶面間距公式公式: : 1/ dHKL2 = r*HKL r*HKL= (Ha*+Kb*+Lc*) (Ha*+Kb*+Lc*) 第一節(jié) X射線晶體學-倒易點陣9第二節(jié)：布拉格方程、衍射矢量方程、愛瓦爾德圖解、勞埃方程第二節(jié)：布拉格方程、衍射矢量方程、愛瓦爾德圖解、勞埃方程 衍射矢量方程：衍射矢量方程：(S-S0)/ =r*HKLr*HKL=

12、Ha *+Kb*+Lc* 設(shè)，設(shè)，|K|=|K0|=1/ K-K0=g*HKL, g*HKL=r*HKLX X射線衍射：射線衍射：19121912年勞埃衍射方程在先，次年年勞埃衍射方程在先，次年19131913年布拉格方程其后、年布拉格方程其后、19241924年愛瓦爾德圖解；年愛瓦爾德圖解；勞埃方程在本質(zhì)上解決了勞埃方程在本質(zhì)上解決了X X射線衍射方向的問題射線衍射方向的問題，但難以直觀地表達三維空間的衍射方向，但難以直觀地表達三維空間的衍射方向; ;布拉格定律布拉格定律將晶體的衍射看成是將晶體的衍射看成是晶面組晶面組在特定方向?qū)υ谔囟ǚ较驅(qū) X射線的反射射線的反射， 非常簡單方便非常簡單

13、方便. .愛瓦爾德圖解：愛瓦爾德圖解：反射球半徑反射球半徑:OO*|K|=|K0|=1/ O-反射晶面位置反射晶面位置O*-倒易點陣原點倒易點陣原點OP-衍射方向衍射方向 2S0/ POS/ S-S0(r*HKL)O*O*Ok k0 0勞埃方程：勞埃方程：衍射矢量方程晶軸投影衍射矢量方程晶軸投影(點積a,b,c) a(S - S0) = H a(S - S0) = H b(S - S0) = K b(S - S0) = K c(S - S0) = L c(S - S0) = L PKK(1) X-(1) X-射線射線結(jié)構(gòu)結(jié)構(gòu)分析分析: :已知已知 , ,測量測量2 2 計算晶計算晶面間距面間距

14、dd結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)分析(2) X-(2) X-射線射線光譜光譜分析分析: :已知面間距已知面間距d,d,測量測量2 2 計算波長計算波長 光譜分析光譜分析第三章：X射線衍射強度本章主要內(nèi)容本章主要內(nèi)容第一節(jié)第一節(jié) 多晶體衍射圖相的形成多晶體衍射圖相的形成第二節(jié)第二節(jié) 單位晶胞對單位晶胞對X射線的散射與結(jié)構(gòu)因數(shù)射線的散射與結(jié)構(gòu)因數(shù)第三節(jié)第三節(jié) 洛倫茲因數(shù)洛倫茲因數(shù)第四節(jié)第四節(jié) 影響衍射強度的其他因數(shù)影響衍射強度的其他因數(shù)第五節(jié)第五節(jié) 多晶體衍射的積分強度公式多晶體衍射的積分強度公式l 結(jié)構(gòu)因子：復雜點陣單胞結(jié)構(gòu)因子：復雜點陣單胞的散射波振幅為單胞中的散射波振幅為單胞中所有原子所有原子散射波的散射波

15、的合成振幅合成振幅l 系統(tǒng)消光系統(tǒng)消光：衍射線相互干涉，某些方向強度加強，某些方向強度減弱或消失：衍射線相互干涉，某些方向強度加強，某些方向強度減弱或消失X射線衍射強度-結(jié)構(gòu)因數(shù)取單胞坐標原點取單胞坐標原點O (0, 0, 0); 單胞中任一原子單胞中任一原子 坐標坐標A : (xj, yj, zj);則矢量則矢量OA = rj = xja + yjb + zjc 式中，式中，a、b、 c為點陣基矢。為點陣基矢。MNAOS0rjSS0S(HKL)abcA與與O原子間散射波的波程差原子間散射波的波程差: j = OM - AN = OAcos OAcos = rj S rj S0 = rj (S

16、 S0)又又(S S0)/ = r*HKL j = rj r*HKL 位相差為位相差為， j =j/ =2 (Hxj +Kyj +Lzj )jjjjjjn1jjHKLLzKyHxsinLKyHxfF2icos2結(jié)構(gòu)因數(shù)公式結(jié)構(gòu)因數(shù)公式)(21jjjLzKyHxinjjHKLefF總結(jié)：四種基本點陣的消光規(guī)律總結(jié)：四種基本點陣的消光規(guī)律13第四章 多晶體分析方法本章主要內(nèi)容本章主要內(nèi)容第一節(jié)第一節(jié) 德拜德拜- -謝樂法謝樂法第二節(jié)第二節(jié) 其他照相法簡介其他照相法簡介第三節(jié)第三節(jié) X射線衍射儀射線衍射儀X X射線衍射射線衍射方法方法多晶體衍多晶體衍射射方法方法衍射儀法衍射儀法粉末照相法粉末照相法德

17、拜法德拜法聚焦法聚焦法單晶體衍單晶體衍射射方法方法勞埃法勞埃法透射勞埃法透射勞埃法四園衍射儀法四園衍射儀法周轉(zhuǎn)晶體法周轉(zhuǎn)晶體法背射勞埃法背射勞埃法針孔法針孔法15一、德拜花樣的一、德拜花樣的愛瓦爾德圖解愛瓦爾德圖解：多晶體倒易陣點多晶體倒易陣點分別落在以倒易原點分別落在以倒易原點O O* *為球心、為球心、倒易矢量長度為半徑倒易矢量長度為半徑的一系列的一系列同心球面上同心球面上，稱這些球為倒易球。，稱這些球為倒易球。反射球與倒易球截成一系列反射球與倒易球截成一系列圓環(huán)圓環(huán)，反射球心連接該圓環(huán)形成一系列，反射球心連接該圓環(huán)形成一系列衍射圓錐。衍射圓錐。粉末法的厄瓦爾德圖解粉末法的厄瓦爾德圖解第一

18、節(jié) 德拜-謝樂法2LABDCR2L2 2 2 2 RL43 .572 R 相機半徑；相機半徑；2L, 2L 弧對間距弧對間距 , 弧度弧度 RL43.572 前反射區(qū)前反射區(qū)(2 90 )X-射線射線膠片膠片2 16第二節(jié) X射線衍射儀SMFCHGOS1KES-S-發(fā)散發(fā)散X X射線，射線，H-H-試樣臺轉(zhuǎn)，試樣臺轉(zhuǎn)，C-C-計數(shù)管，計數(shù)管，O-O-試樣臺旋轉(zhuǎn)軸試樣臺旋轉(zhuǎn)軸試樣與計數(shù)管試樣與計數(shù)管: : -2-2 聯(lián)動聯(lián)動布拉格衍射布拉格衍射- -平行于試樣表面的平行于試樣表面的晶面晶面. .2 I反射球反射球計數(shù)管計數(shù)管掃描掃描倒易倒易球面球面衍射花樣衍射花樣(2d(2dKHLKHLsins

19、in = = ) ): :強度隨衍射角分布曲線強度隨衍射角分布曲線即：即：I2I2 曲線曲線。德拜相機德拜相機(左左)和勞埃相機和勞埃相機(右右)X-射線衍射儀射線衍射儀X X射線相機與射線相機與X X射線衍射儀射線衍射儀德德拜拜相相機機勞勞埃埃相相機機X X射線相機射線相機- -勞埃相機勞埃相機( (單晶單晶) )與德拜相機與德拜相機( (多晶多晶) )19 當試樣和計數(shù)管連續(xù)轉(zhuǎn)動時，衍射儀將自動繪出衍射強度當試樣和計數(shù)管連續(xù)轉(zhuǎn)動時，衍射儀將自動繪出衍射強度I2 的變化曲線的變化曲線(稱衍射圖稱衍射圖). X射線衍射譜衍射強度衍射強度(cps):lMHKLeFPVVmceRII2cossin

20、2cos1)(3222222022230 lMHKLeF PVVmceRI I 2 cossin2 cos1) (3222222022230e-2M2l2l第五章 物相分析及點陣參數(shù)精確測定本章主要內(nèi)容本章主要內(nèi)容第一節(jié)第一節(jié) 定性分析定性分析第二節(jié)第二節(jié) 定量分析定量分析第三節(jié)第三節(jié) 點陣參數(shù)的精確測定點陣參數(shù)的精確測定第四節(jié)第四節(jié) 非晶態(tài)物質(zhì)及其晶化過程非晶態(tài)物質(zhì)及其晶化過程 的的X射線衍射分析射線衍射分析(自學）自學） 物相分析物相分析物相物相定性分析定性分析物相物相定量分析定量分析單一物相的鑒定單一物相的鑒定混合物相混合物相的鑒定的鑒定晶體晶體結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)分析晶胞晶胞參數(shù)測定參數(shù)測定空

21、間群的測定空間群的測定等效點系的測定等效點系的測定晶體定向晶體定向非晶體結(jié)構(gòu)分析非晶體結(jié)構(gòu)分析晶體粒度晶體粒度測定測定宏觀應力宏觀應力分析分析第一節(jié) 定性分析基本原理：基本原理：多晶體物質(zhì)衍射線條多晶體物質(zhì)衍射線條數(shù)數(shù),位置及強度，是該種物質(zhì)的特位置及強度，是該種物質(zhì)的特征，是鑒別物相的標志征，是鑒別物相的標志基本方法：基本方法：測測試樣試樣的的d-Id-I數(shù)據(jù)組數(shù)據(jù)組與與PDFPDF卡片卡片( (標準標準d-Id-I數(shù)據(jù)組數(shù)據(jù)組) )進行進行對對比比鑒定鑒定出試樣中存在的出試樣中存在的物相。物相。PDFPDF卡卡數(shù)值索引數(shù)值索引(三強線面間距三強線面間距):):(1) 計算計算dI/I1列表

22、列表(2)考慮誤差考慮誤差d1,d2,d3 0.02, (3) 輸入輸入d1,d2,d3上下限檢索上下限檢索PDF(4) 先單相分析先單相分析,不成功則多相分析不成功則多相分析 逐步排除、重組、檢索逐步排除、重組、檢索PDF庫。庫。(5)最后判定存在最后判定存在jian的物相的物相。注：注：d d值比相對強度重要，低角區(qū)比高角度區(qū)重要，強線比弱線重要值比相對強度重要，低角區(qū)比高角度區(qū)重要，強線比弱線重要第二節(jié) 定量分析基本原理基本原理: :各相衍射線相對強度與其體積成正比各相衍射線相對強度與其體積成正比jMHKLljeFPVVmceRII222220222230cossin2cos12132I

23、j = Cj fj / l內(nèi)標法：內(nèi)標法：加入內(nèi)標物加入內(nèi)標物 s相相 a -待測相待測相 a 質(zhì)量分數(shù)質(zhì)量分數(shù) s-復合樣中復合樣中s 質(zhì)量分數(shù)質(zhì)量分數(shù) a-復合樣復合樣a 相質(zhì)量分數(shù)相質(zhì)量分數(shù) s IaIs=CaCs a s (1- s ) a=C” a預先制作定標曲線預先制作定標曲線制備復合試樣制備復合試樣測量衍射強度測量衍射強度計算含量計算含量K值法：值法：AlAl2 2O O3 3為為S S標樣標樣, ,PDF卡參比強度卡參比強度KasIaIs=CaCs s a a s IaIs= a s K sa 純純a a相相: :純純s s相相(Al(Al2 2O O3 3)=1:1,)=1:

24、1,測強度，測強度，I Ia a/I/Is s=K=Ka as s q值法：不需要做二元標樣值法：不需要做二元標樣,PDF卡卡Kas計算計算aqqaqsasKIIKK ?sqqssaasIIKIIK IaIq= Kaq a s 24點陣參數(shù)：點陣參數(shù)：測定測定某晶面的掠射角某晶面的掠射角 ，布拉格公式計算求得；，布拉格公式計算求得； 點陣參數(shù)的精確測定2222sinHKLa誤差的來源：誤差的來源： 精確測定精確測定有效數(shù)字有效數(shù)字可達七位可達七位，認為沒有誤差認為沒有誤差；干涉面指數(shù)干涉面指數(shù)HKL整整數(shù)數(shù)，不存在誤差。，不存在誤差。點陣參數(shù)點陣參數(shù)a的精度的精度取決于取決于sin 的精度，的

25、精度，即測量的衍射角即測量的衍射角2 的精度。的精度。X射線衍射儀射線衍射儀法法誤差誤差 2 約為約為0.02 ，照相法照相法較低較低0.1 sin 隨隨 的變化的變化高高 角所得的角所得的sin 要更精確要更精確，當當 趨近趨近90 時，誤差將趨于零時，誤差將趨于零布拉格公式微分：布拉格公式微分： a/a = d/d = - ctg 圖解外推法圖解外推法1： 的函數(shù)的函數(shù)f()=cos2 為為橫坐標橫坐標, a為縱坐為縱坐標標作一直線作一直線,與縱坐標與縱坐標( =90 )的交點的交點,精確的精確的點陣參數(shù)點陣參數(shù)a0圖解外推法圖解外推法2：尼爾遜函數(shù)法尼爾遜函數(shù)法f()為橫坐標，為橫坐標，

26、a為縱坐標：為縱坐標：22cossincos21)(f最小二乘法最小二乘法:誤差平方和為最小誤差平方和為最小，其直線其直線是最佳直線。是最佳直線。縱坐標縱坐標Y 為為點陣參數(shù)值點陣參數(shù)值 a；橫坐標橫坐標X為為外推外推 函數(shù)值函數(shù)值 f()； y =a + bx0)(e,0)(e2i2iba2iiiiiiXbXaYXXbaY尼爾遜外推函數(shù)尼爾遜外推函數(shù)f()做橫坐標做橫坐標:ii2ii2icossincos21Xi2i2i2iisin2LKHYa隨隨cos2 的變化的變化25第六章 殘余應力的測定本章主要內(nèi)容本章主要內(nèi)容第一節(jié)第一節(jié) 物體內(nèi)應力的產(chǎn)生與分類物體內(nèi)應力的產(chǎn)生與分類第二節(jié)第二節(jié) X

27、射線殘余應力測定的基本原理射線殘余應力測定的基本原理第三節(jié)第三節(jié) 宏觀應力測定方法宏觀應力測定方法第四節(jié)第四節(jié) X射線宏觀應力測定中的一些問題射線宏觀應力測定中的一些問題26內(nèi)應力的衍射效應內(nèi)應力的衍射效應1) 第第類內(nèi)應力類內(nèi)應力又稱宏觀應力或殘余應力，其又稱宏觀應力或殘余應力，其衍射效應：使衍射線位置衍射效應：使衍射線位置(2)位移。位移。2) 第第類內(nèi)應力類內(nèi)應力又稱微觀應力。其又稱微觀應力。其衍射效應：引起衍射峰線變寬，線形變化。衍射效應：引起衍射峰線變寬，線形變化。3) 第第類內(nèi)應力類內(nèi)應力稱晶格畸變應力或超微觀應力，其稱晶格畸變應力或超微觀應力，其衍射效應：使衍射強度降低。衍射效應

28、：使衍射強度降低。第一節(jié) 物體內(nèi)應力的產(chǎn)生與分類殘余應力檢測殘余應力檢測:(是一種彈性應力內(nèi)應力的檢測是一種彈性應力內(nèi)應力的檢測)殘余應力是一種彈性應力，它影響構(gòu)件疲勞性能、耐應力腐蝕能力和尺寸穩(wěn)定性：殘余應力是一種彈性應力，它影響構(gòu)件疲勞性能、耐應力腐蝕能力和尺寸穩(wěn)定性：1) 應力松弛法：應力松弛法：用鉆孔、開槽或薄層等方法使應力松馳，用電阻應變片測量應變用鉆孔、開槽或薄層等方法使應力松馳，用電阻應變片測量應變以計算殘余應力，屬于破壞性測試。以計算殘余應力，屬于破壞性測試。2) 無損法：無損法：用應力敏感性的方法，如超聲、磁性、中子衍射、用應力敏感性的方法，如超聲、磁性、中子衍射、X射線衍射等。射線衍射等。3) X射線衍射法：射線衍射法：屬于無損法，屬于無損法，具有快速、準確可靠、測量區(qū)域小等優(yōu)點，且能具有快速、準確可靠、測量區(qū)域小等優(yōu)點，且能區(qū)分和測定三種不同的類別的內(nèi)應力區(qū)分和測定三種不同的類別的內(nèi)應力27一、基本原理一、基本原理用用X射線衍射法測定殘余應力，首射線衍射法測定殘余應力，首先測定應變，再借助材料的彈先測定應變，再借助材料的彈性特征參量確定應力性特征參量確定應力;沿沿 方位方位，某晶面間距，某晶面間距d 相對于相對于無應力無應力(d