地質(zhì)勘查實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面位置的選擇

1、地質(zhì)勘查實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面位置的選擇要求：掌握工作區(qū)的地質(zhì)特征。要點(diǎn)：剖面方向應(yīng)垂直地層總體走向。注意：剖面線(xiàn)平移時(shí)巖層層位銜接。1、實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面的比例尺應(yīng)根據(jù)礦區(qū)地質(zhì)圖比例尺確定。礦區(qū)地質(zhì)圖實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面圖1： 250001 : 20001 : 10001： 100001： 10001: 5001： 50001： 5001: 2001： 20001： 2001: 1001： 10001： 1002、在前人資料基礎(chǔ)上，全面踏勘了解工作區(qū)地層出露分布情況， 研究區(qū)內(nèi)基本構(gòu)造格架和構(gòu)造形態(tài)發(fā)育分布情況，研究標(biāo)志層。3、選擇巖層、巖相出露較完整、標(biāo)志層發(fā)育、構(gòu)造清楚的地段 為實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面位置。4、 沿剖面線(xiàn)

2、方向?qū)嵉貦z查巖層露頭分布情況，若重要地段出露 不好，則要布置輕型山地工程進(jìn)行揭露。5、 實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面應(yīng)在地質(zhì)填圖之前進(jìn)行，一般要測(cè)制1-3條完 整的地質(zhì)剖面。第二節(jié)測(cè)制方法1、根據(jù)實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面的位置，確定剖面的起點(diǎn)。2、基點(diǎn)、剖面起止點(diǎn)、地質(zhì)觀察點(diǎn)在實(shí)地用木樁或用油漆在巖 石上標(biāo)志，并用GPS定位。3、按導(dǎo)線(xiàn)順序，測(cè)量各種數(shù)據(jù)并記錄于實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面記錄本或筆記本電腦中，同時(shí)繪制路線(xiàn)地質(zhì)平面圖和地質(zhì)剖面草圖。，4、 如剖面前方地形不利或露頭不佳時(shí)，沿巖層走向可左右平 移實(shí)測(cè)剖面位置，左右平移距離不大于 100米，剖面平移時(shí)巖層層 位必須銜接。5、 逐層詳細(xì)觀察巖性，按巖性劃分層位，確定分層位置，并

3、 進(jìn)行巖性描述，主要內(nèi)容為：巖石名稱(chēng)、巖石特征（顏色、風(fēng)化特征、礦物成分、結(jié)構(gòu)和構(gòu)造等）；古生物化石；蝕變及礦化現(xiàn)象。野 外層號(hào)采用統(tǒng)一編號(hào)，每一層一個(gè)號(hào)碼。在圖上要注明野外層號(hào)。6、測(cè)量并記錄地質(zhì)體及地質(zhì)構(gòu)造（褶曲、斷裂、破碎帶等）的 產(chǎn)狀、接觸關(guān)系、垂直及水平方向的變化等。7、逐層采集巖礦、光薄片、化石標(biāo)本及設(shè)計(jì)中要求的其它各類(lèi) 樣品，將其分類(lèi)編號(hào)并記錄采樣位置。&重要的居民點(diǎn)、地物、河流、公路、制高點(diǎn)等，應(yīng)在剖面圖 及平面圖有關(guān)位置，加以注明。9、當(dāng)天工作應(yīng)當(dāng)天整理完。內(nèi)容包括整理文字記錄，標(biāo)本，照 片等。發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤時(shí)，應(yīng)次日去野外校對(duì)，不得搞“回憶錄”。第三節(jié)剖面圖繪制 要求：采

4、用垂直投影法。要點(diǎn)：剖面投影基準(zhǔn)線(xiàn)方位的選定。注意：地層、構(gòu)造線(xiàn)的傾角，在剖面圖上是假（視）傾角。1、剖面導(dǎo)線(xiàn)、測(cè)點(diǎn)高程及平距計(jì)算。2、垂直地層總體走向，選定平面基準(zhǔn)方位和高程基準(zhǔn)線(xiàn)。3、根據(jù)計(jì)算后的導(dǎo)線(xiàn)長(zhǎng)度、方位在圖紙上方繪制導(dǎo)線(xiàn)平面圖。4、 在導(dǎo)線(xiàn)平面圖上，按順序劃出各地層分界線(xiàn)，注上層號(hào)，并 標(biāo)上各種地質(zhì)產(chǎn)狀要素。5、利用導(dǎo)線(xiàn)中各端點(diǎn)的高程，在圖紙下方展繪地形剖面線(xiàn)。6、 將導(dǎo)線(xiàn)上各測(cè)點(diǎn)的地質(zhì)要素垂直投影到地形剖面上，繪制地 質(zhì)剖面圖。第四節(jié)剖面地質(zhì)研究要求：劃分填圖單位，統(tǒng)一巖（礦）石命名。要點(diǎn)：正確劃分礦區(qū)填圖單位。1、實(shí)測(cè)剖面結(jié)束后，編制綜合地層柱狀圖。2、 在對(duì)各剖面進(jìn)行對(duì)比的基

5、礎(chǔ)上，依據(jù)填圖比例尺確定礦區(qū)填 圖單位。3、統(tǒng)一礦區(qū)巖（礦）石命名。4、地層厚度計(jì)算。D=L x （sin a cos B sin 丫 土 cos a sin B cos y ）D巖層真厚度L 斜距a 巖層真傾角B 地形坡度角Y剖面方位與地層走向之夾角地形坡向與巖層傾向相反（+）地形坡向與巖層傾向相同（-）表2-1華東有色地質(zhì)勘查局隊(duì)實(shí)測(cè)剖面地質(zhì)記錄簿剖面名稱(chēng)及編號(hào)：礦（測(cè)）區(qū)名稱(chēng)：項(xiàng)目類(lèi)別（代碼）：測(cè)制人員:測(cè)制日期：表2-2項(xiàng)目實(shí)施單位： ，技術(shù)負(fù)責(zé):實(shí)測(cè)剖面基點(diǎn)、基線(xiàn)記錄表剖面名稱(chēng)及編號(hào)：比例尺：第 頁(yè)（共 頁(yè)）基點(diǎn)（剖面端點(diǎn)、剖控點(diǎn)、工程點(diǎn)）坐標(biāo)（m）實(shí)測(cè)基線(xiàn)參數(shù)基點(diǎn)、基線(xiàn)在剖面圖上投影歸算成果（m）（投影方位）基XYH備注基線(xiàn)長(zhǎng)度（m）方位