超聲相控陣檢測(cè)教材填充焊縫操作說明

1、ISONIC相控陣設(shè)備操作指南填充焊縫檢測(cè)軟件功能Israel（以色列） - Sonotron NDT北京鄒展麓城科技有限公司一、進(jìn)入檢測(cè)界面1、根據(jù)所使用的儀器進(jìn)入相控陣檢測(cè)模式，在相控陣界面下點(diǎn)擊，見圖1所示。圖12、點(diǎn)擊進(jìn)入選項(xiàng)模式，見圖2所示。圖23、點(diǎn)擊進(jìn)入填充焊縫檢測(cè)模式。見圖3所示。圖3二、A超參數(shù)設(shè)置、DAC曲線制作、角度增益補(bǔ)償曲線及耦合監(jiān)控設(shè)置方法參見“焊縫高級(jí)檢測(cè)”軟件功能操作說明書進(jìn)行設(shè)置。三、焊縫幾何形狀設(shè)置1、在掃查設(shè)置界面，點(diǎn)擊幾何尺寸設(shè)置欄的，進(jìn)入焊縫幾何參數(shù)設(shè)置界面。見圖4所示。圖42、進(jìn)入到焊縫幾何參數(shù)設(shè)置界面后，輸入焊縫的幾何參數(shù)。選擇掃查面，輸

2、入角度、法蘭厚度、梁腹厚度及焊接位置尺寸。見圖5、圖6所示。本次示例所檢測(cè)的焊縫幾何參數(shù)如圖5、圖6所示。圖5圖6四、扇形掃查范圍及探頭位置設(shè)置1、點(diǎn)擊焊縫幾何形狀設(shè)置界面的，返回至掃查設(shè)置界面，進(jìn)行檢測(cè)扇形掃查范圍設(shè)置。2、在掃查參數(shù)欄通過調(diào)節(jié)檢測(cè)所需的最小角度、最大角度及角度步進(jìn)。角度步進(jìn)有0.2°、0.5°、1°、2°和5°工五種選項(xiàng)。檢測(cè)所需的最大最小角度的選擇主要依據(jù)能否全部覆蓋或者最大程度覆蓋檢測(cè)焊縫區(qū)域的宗旨來進(jìn)行調(diào)節(jié)，在滿足覆蓋要求的前提下，一次波聲束與二次波聲束的重疊部分盡可能的少。角度步進(jìn)越小聲束覆蓋焊縫區(qū)域越密集，但同時(shí)檢

3、測(cè)數(shù)據(jù)量越大，采集速度及保存速度越慢（建議在檢測(cè)中選擇0.5°的角度步進(jìn)足以滿足檢測(cè)要求）。3、在焊縫參數(shù)設(shè)置界面，通過調(diào)節(jié)。通過探頭位置的調(diào)節(jié)，可以在示意圖中看出已設(shè)定的扇形掃查范圍是否滿足聲束覆蓋要求，從而找到適合的探頭位置。在探頭位置滿足聲束覆蓋范圍時(shí)，探頭位置越小越好，以減少聲波的衰減。注：探頭位置代表探頭距焊縫根部的的距離。本次示例選擇的扇形掃查范圍為40°76°，掃查步進(jìn)為0.2°，選擇在梁腹右側(cè)檢測(cè)，探頭位置為0mm。見圖5，圖7所示。圖7五、焊縫檢測(cè)1、設(shè)置完成后，在掃查設(shè)置界面點(diǎn)擊，進(jìn)入扇形掃描界面，見圖7所示。2、在扇形掃描界面，激活

4、閘門，設(shè)置門位、門寬及門高。超過閘門高度，并在閘門覆蓋范圍內(nèi)的檢測(cè)信息將會(huì)進(jìn)行成像顯示。但閘門外的信息（A超信號(hào)）都將被100%記錄，只是不做成像。見圖8所示。注：閘門高度一般建議設(shè)置為20%。閘門門位一般設(shè)置為檢測(cè)時(shí)所需成像的起始位置，閘門寬度一般設(shè)置為檢測(cè)時(shí)所需成像的最大聲程值。圖83、扇形掃描界面的增益為掃查靈敏度。根據(jù)工件表面狀態(tài)，掃查靈敏度一般在起始靈敏度之上進(jìn)行補(bǔ)償。補(bǔ)償?shù)姆秶话愀鶕?jù)相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行補(bǔ)償。（本次示例沒有加表面補(bǔ)償）4、點(diǎn)擊進(jìn)入C掃描界面進(jìn)行檢測(cè)。見圖9所示。圖95、在C掃描界面設(shè)置掃查長(zhǎng)度、選擇記錄方式為編碼器。6、編碼器校準(zhǔn)：l 將相控陣編碼器接入主機(jī)。l

5、 返回至開機(jī)檢測(cè)界面，見圖10所示。點(diǎn)擊。圖10l 點(diǎn)擊，見圖11所示。圖11l 點(diǎn)擊，見圖12所示。圖12l 將相控陣編碼器裝入探頭。見圖13所示。圖13l 將編碼器放置在直尺上，點(diǎn)擊，沿著直尺或者工件表面將編碼器推行300mm。見圖14，圖15所示。注：相控陣編碼器前行方向必須與檢測(cè)時(shí)方向一致，否則將不進(jìn)行成像記錄。圖14圖15l 編碼器推行時(shí)，圖14中的紅色箭頭會(huì)一直閃動(dòng)，直至編碼器行走完300m。點(diǎn)擊步驟二，進(jìn)入編碼器測(cè)試界面，驗(yàn)證編碼器是否校準(zhǔn)。對(duì)編碼器進(jìn)行正行、逆行驗(yàn)證，查看顯示結(jié)果，誤差范圍不能超過1%。見圖16，圖17，圖18所示。圖16圖17圖18l 測(cè)試完成后，點(diǎn)擊，對(duì)編碼

6、器進(jìn)行命名（可自行命名），點(diǎn)擊。見圖19所示。圖197、掃查（以下掃查示例因?yàn)閽卟闂l件有限，就沒有添加耦合監(jiān)控）l 進(jìn)入到C掃描界面，選擇以校準(zhǔn)好的編碼器，查看耦合狀態(tài)。如果耦合狀態(tài)良好，則C掃描界面中耦合狀況指示為，如果耦合狀態(tài)不好，則C掃描界面中耦合狀況指示為。見圖20所示。圖20l 點(diǎn)擊，進(jìn)行掃查。掃查結(jié)束后，點(diǎn)擊，將會(huì)生成掃查結(jié)果。見圖21所示。圖21l 點(diǎn)擊，并保存數(shù)據(jù)。文件后綴名為.esc，文件名可自行錄入，并記住文件的存放路徑，便于后續(xù)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。六、數(shù)據(jù)分析1、采用離線數(shù)據(jù)分析軟件或者相控陣儀器中的數(shù)據(jù)分析功能對(duì)所采集到的檢測(cè)而數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。2、雙擊數(shù)據(jù)文件名或選中文件點(diǎn)擊，

7、進(jìn)入該數(shù)據(jù)分析模式。見圖22、圖23所示。圖22圖233、點(diǎn)擊視圖菜單，選擇圖像后處理，開始數(shù)據(jù)分析。見圖24所示。圖244、點(diǎn)擊視圖菜單中的基本信息子菜單，查看檢測(cè)過程中的設(shè)置參數(shù)、探頭參數(shù)、增益修正（即角度增益補(bǔ)償曲線）。查看完畢點(diǎn)擊確認(rèn)或關(guān)閉。見圖25、圖26、圖27所示。圖25圖26圖275、點(diǎn)擊瀏覽菜單中的L.X-瀏覽和Y1瀏覽子菜單，對(duì)掃查結(jié)果進(jìn)行側(cè)視圖（焊縫厚度方向）及俯視圖（焊縫寬度方向）的切片瀏覽。瀏覽完畢點(diǎn)擊瀏覽菜單中的關(guān)閉。見圖28、圖29所示。圖28圖296、點(diǎn)擊標(biāo)記菜單中的C掃描子菜單，選擇激活。此時(shí)可瀏覽俯視圖上整個(gè)掃查長(zhǎng)度的扇形掃描（即P掃描圖），在瀏覽的過程中，

8、對(duì)整個(gè)長(zhǎng)度的某一點(diǎn)圖像感興趣，點(diǎn)擊鼠標(biāo)左鍵，在扇形掃描圖上將對(duì)應(yīng)的出現(xiàn)該點(diǎn)的P掃描圖。點(diǎn)擊標(biāo)記菜單中的B掃描子菜單，選擇激活。此時(shí)可瀏覽P掃描圖中任意一點(diǎn)的A超波形，點(diǎn)擊鼠標(biāo)左鍵，單一查看所感興趣的某一點(diǎn)的A超波形。用鼠標(biāo)雙擊A超窗口，則彈出某一點(diǎn)A超信號(hào)的信息。查看完畢后點(diǎn)擊關(guān)閉。見圖30所示。圖307、如果在此次檢測(cè)中，掃查靈敏度設(shè)置過高或過低，不符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求，可點(diǎn)擊視圖菜單中的，增益變化子菜單，通過調(diào)節(jié)增益值。增益可調(diào)范圍為-6dB+6dB。點(diǎn)擊應(yīng)用，相應(yīng)的圖像信息就會(huì)發(fā)生改變，即圖像顏色變淺或變深（圖像顏色代表當(dāng)量值的大?。?，圖像面積增大或減小。見圖31、圖32所示。圖31圖328

9、、如果在數(shù)據(jù)分析的過程中，發(fā)現(xiàn)成像的位置不正確（即閘門設(shè)置錯(cuò)誤），可通過閘門修正菜單進(jìn)行修改。修改后，點(diǎn)擊應(yīng)用，圖像將會(huì)按照新的閘門設(shè)置改變。見圖33、圖34、圖35所示。注：閘門修正菜單必須是在標(biāo)記菜單中的C掃描和B掃描激活的狀態(tài)下才可以使用。門寬不可調(diào)節(jié)，門寬隨著門位位置改變自動(dòng)變化。圖33檢測(cè)前閘門設(shè)置圖34圖359、點(diǎn)擊濾波菜單，選擇激活，可濾除一些無用的的圖像信息。濾波一共有3種濾波方式，見圖36所示。選擇濾波后.點(diǎn)擊應(yīng)用，圖像信息將根據(jù)設(shè)置發(fā)生改變。所有已選擇的濾波信息，將在C掃描數(shù)據(jù)后處理界面的左側(cè)濾波信息中給出，見圖示。如想恢復(fù)原始圖像，點(diǎn)擊濾波菜單，選擇關(guān)閉。l 設(shè)置幅度濾波

10、：圖像中不同的顏色代表不同的當(dāng)量（dB值），選擇此濾波方式可濾除一些顏色的圖像，即小于濾波器選擇的當(dāng)量值的圖像會(huì)被濾除。見圖37、圖38所示。l 設(shè)置表面切片深度濾波：選擇此濾波方式可濾除工件上表面以下xx mm的圖像。主要體現(xiàn)在側(cè)視圖上的圖像變化。見圖39、圖40所示。l 設(shè)置底面切片深度濾波：選擇此濾波方式可濾除工件下表面以上xx mm的圖像。主要體現(xiàn)在側(cè)視圖上的圖像變化。見圖41、圖42所示。圖36圖37圖38圖39圖40圖41圖4210、缺陷分析：l 點(diǎn)擊視圖菜單中的按曲線修正子菜單，選擇激活。l 點(diǎn)擊濾波菜單，激活濾波器。選擇設(shè)置幅度濾波方式，按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，選擇需要評(píng)定的等級(jí)，點(diǎn)擊應(yīng)

11、用。所顯示的圖像都將按照標(biāo)準(zhǔn)要求需要進(jìn)行評(píng)定。（本次示例并無依據(jù)任何標(biāo)準(zhǔn)，只是做一個(gè)演示，因?yàn)椴o繪制DAC曲線，也無做對(duì)比試塊進(jìn)行對(duì)比。假設(shè)下圖所為已按照DAC曲線或者對(duì)比試塊濾波后的結(jié)果）見圖43所示。DAC評(píng)定方法詳見焊縫高級(jí)檢測(cè)軟件功能操作說明。圖43l 缺陷測(cè)量：點(diǎn)擊測(cè)量功能菜單，即可激活測(cè)量定量線。測(cè)量讀數(shù)可在視窗左下角讀取。見圖44、圖45、圖46所示。測(cè)量功能可對(duì)缺陷的投影長(zhǎng)度、投影寬度及投影高度進(jìn)行測(cè)量。 L-坐標(biāo)，投影長(zhǎng)度：長(zhǎng)度測(cè)量L：長(zhǎng)度 Lr：起點(diǎn) Lg：結(jié)束點(diǎn) X-坐標(biāo)，投影寬度：寬度測(cè)量X：寬度 Xr：起點(diǎn) Xr：結(jié)束點(diǎn) Y-坐標(biāo)，投影高度：高度測(cè)量Y：高度 Yr：起點(diǎn) Yr：結(jié)束點(diǎn)圖44圖45圖46l 缺陷最大點(diǎn)A超信息讀取：點(diǎn)擊標(biāo)記菜單，激活C掃描，移動(dòng)C掃描指針在俯視圖及側(cè)視圖中尋找整個(gè)缺陷中成像面積當(dāng)量的最大點(diǎn)，點(diǎn)擊鼠標(biāo)左鍵。激活B掃描，移動(dòng)B掃描指針在P掃描圖（即扇掃圖）中尋找該點(diǎn)的當(dāng)量最大點(diǎn)，通過A超窗口進(jìn)行幅值大小判斷。雙擊A超窗口，讀取缺陷最大點(diǎn)A超信息。見圖47所示。圖47l 3D成像顯示：點(diǎn)擊3D顯示菜單，選擇全部，即可把俯視圖、側(cè)視圖和端視圖合成為一個(gè)完整的三維圖像。見圖48所示。選擇部分，可選擇部分掃查區(qū)域進(jìn)行三維成像。見圖49所示。圖48圖49l