IQC來(lái)料檢驗(yàn)規(guī)范

1、精選文檔 IQC 來(lái)料檢驗(yàn)規(guī)范批準(zhǔn)會(huì)簽審核制定年 月 日年 月 日年 月 日年 月 日文件修訂說(shuō)明:序號(hào)版本日期修訂人修訂摘要1. 目的對(duì)本公司的進(jìn)貨原材料按規(guī)定進(jìn)行檢驗(yàn)和試驗(yàn)，確保產(chǎn)品的最終質(zhì)量。2.適用范圍2.1適用于IQC對(duì)通用產(chǎn)品的來(lái)料檢驗(yàn)。2.2適用對(duì)元件檢驗(yàn)方法和范圍的指導(dǎo)。2.3適用于IPQC、QA對(duì)產(chǎn)品在制程和終檢時(shí)，對(duì)元件進(jìn)行復(fù)核查證。3.責(zé)任3.1IQC在檢驗(yàn)過(guò)程中按照檢驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)所示檢驗(yàn)項(xiàng)目，參照供應(yīng)商器件確認(rèn)書(shū)對(duì)來(lái)料進(jìn)行檢驗(yàn)。IQC在檢驗(yàn)過(guò)程中按照檢驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)所示檢驗(yàn)項(xiàng)目，參照供應(yīng)商器件確認(rèn)書(shū)對(duì)來(lái)料進(jìn)行檢驗(yàn)。3.2檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)參照我司制定的IQC進(jìn)料檢驗(yàn)流程執(zhí)行。3.3本檢驗(yàn)指

2、導(dǎo)書(shū)由品管部QE負(fù)責(zé)編制和維護(hù)，品管部主管負(fù)責(zé)審核批準(zhǔn)執(zhí)行。4、定義4.1AQL：（Acceptance Quality Limit）接收質(zhì)量限；GB/T2828.1-2012將AQL定義為：“當(dāng)一個(gè)連續(xù)系列批被提交驗(yàn)收抽樣時(shí)，可容忍的最差過(guò)程平均質(zhì)量水平”。4.2CR：（Critical）致命缺陷；單位產(chǎn)品的關(guān)鍵質(zhì)量特性不符合規(guī)定，或單位產(chǎn)品的質(zhì)量特性極嚴(yán)重不符合規(guī)定。GB/T2828.1-2012將其定義為A類(lèi)不合格品。4.3Ma：（Major）嚴(yán)重缺陷，也稱(chēng)主要缺陷；單位產(chǎn)品的重要質(zhì)量特性不符合規(guī)定，或單位產(chǎn)品的質(zhì)量特性嚴(yán)重不符合規(guī)定。GB/T2828.1-2012將其定義為B類(lèi)不合格品

3、。4.4Mi：（Minor）輕微缺陷，也稱(chēng)次要缺陷；單位產(chǎn)品的一般質(zhì)量特性不符合規(guī)定，或單位產(chǎn)品的質(zhì)量特性輕微不符合規(guī)定。GB/T2828.1-2012將其定義為C類(lèi)不合格品。5、檢驗(yàn)4.1檢驗(yàn)方式：抽樣檢驗(yàn),可參閱抽樣檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書(shū)進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)。4.2抽樣方案：未特殊規(guī)定的按照GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行；特殊規(guī)定的則按特殊規(guī)定的抽樣方案進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)。盤(pán)帶包裝物料：每盤(pán)按照GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，特殊檢查水平S-2進(jìn)行。接收質(zhì)量限：AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)。4.3檢驗(yàn)儀器、儀表

4、、量具的要求所有的檢驗(yàn)儀器、儀表、量具必須在校正計(jì)量器內(nèi)。第2頁(yè) 共4頁(yè)4.4檢驗(yàn)結(jié)果記錄在相應(yīng)的“IQC來(lái)料檢驗(yàn)報(bào)告”中。序號(hào)部品名稱(chēng)適用范圍備注頁(yè)數(shù)1常規(guī)元件類(lèi)各類(lèi)封裝電阻、電感、貼片電容42電解電容所有電解電容53陶瓷電容、獨(dú)石電容所有陶瓷電容、獨(dú)石電容64電位器各封裝電位器75三極管各類(lèi)封裝三極管86二極管各類(lèi)封裝二極管97三端穩(wěn)壓管各類(lèi)封裝三端穩(wěn)壓管108壓敏電阻各類(lèi)封裝壓敏電阻119整流橋堆所有的橋堆1110繼電器所有繼電器1311可控硅所有可控硅1412光電耦合器所有光電耦合器1513發(fā)光數(shù)碼管所有數(shù)碼管1614發(fā)射管所有規(guī)格發(fā)射管1715接收管所有規(guī)格接收管1816IC(集成電

5、路)所有此類(lèi)物料1917開(kāi)關(guān)所有此類(lèi)物料2018晶振所有晶振2119PCB板所有PCB板2220五金件光幕外殼、銅殼、螺絲、螺釘、螺帽、磁芯等五金件2321塑膠件產(chǎn)品外殼、鏡架、后塞、前塞等塑膠件2422透鏡所有透鏡2523光幕過(guò)濾板光幕過(guò)濾板2624電線(xiàn)電線(xiàn)/屏蔽/銅線(xiàn)/絲包/紗包線(xiàn)等2725印刷品說(shuō)明書(shū)、保修卡、合格證等2826易脫模易脫模2927錫膏錫膏3028焊錫絲焊錫絲3129化學(xué)品樹(shù)脂、酒精、洗板水、助焊劑、助焊膏等32部品名稱(chēng)常規(guī)元件類(lèi)適用范圍各類(lèi)封裝電阻、電感、貼片電容抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.

6、01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤(pán)外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、物料必需使用卷帶包裝，編帶應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求，無(wú)變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、檢查元件外觀(guān)是否有變形、裂紋、缺損、氣泡、針孔、不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、

7、無(wú)凹凸、露銅、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書(shū)要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀(guān)不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)檢測(cè)檢驗(yàn)電阻阻值、電容容值、電感值是否在規(guī)格范圍內(nèi)萬(wàn)用表或LCR特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 P

8、ASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示 貼片電阻由絲印來(lái)識(shí)別阻值大小，電阻絲印最后一位為前面幾位數(shù)值后面緊跟0的個(gè)數(shù)。如“102”表示 10 00,即1K如”4702”表示470 00,即47 K貼片電容鉭電容插件電感貼片電感部品名稱(chēng)電解電容適用范圍所有的電解電容抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQ

9、L=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、包裝應(yīng)合理，有無(wú)按常規(guī)或指定材料包裝（以不傷物料本體為原則）；目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、引腳無(wú)氧化、無(wú)銹跡、無(wú)破損、無(wú)污物、無(wú)變形、無(wú)折斷，與電容器本體結(jié)合牢固；目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-22、金屬外殼，帶絕緣套，有防爆槽（8 以上）；目測(cè) 特殊S-23、本體標(biāo)志內(nèi)容正確、完整、清晰

10、，外觀(guān)應(yīng)無(wú)可見(jiàn)損傷且無(wú)電解液流出，元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書(shū)要求一致。目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)檢測(cè)檢驗(yàn)電容容值、漏電流是否在規(guī)格范圍內(nèi)。LCR/漏電流測(cè)試儀特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料

11、送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。4、電容直徑 8mm,就必須有防爆槽裝置。圖示直徑 8mm,就必須有防爆槽裝置 部品名稱(chēng)陶瓷電容、獨(dú)石電容適用范圍所有的陶瓷電容、獨(dú)石電容抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目

12、測(cè)2、包裝應(yīng)合理，有無(wú)按常規(guī)或指定材料包裝（以不傷物料本體為原則）；目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、引腳無(wú)氧化、無(wú)銹跡、無(wú)破損、無(wú)污物、無(wú)變形、無(wú)折斷，與電容器本體結(jié)合牢固；目測(cè)特殊S-22、本體標(biāo)志內(nèi)容正確、完整、清晰，外觀(guān)應(yīng)無(wú)可見(jiàn)損傷，元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書(shū)要求一致。目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)檢測(cè)檢驗(yàn)電容容值是否在規(guī)格范圍內(nèi)。LCR/漏電流測(cè)試儀特殊S-2檢

13、驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。4、電容直徑 8mm,就必須有防爆槽裝置。圖示獨(dú)石電容陶瓷電容 部品名稱(chēng)電位器適用范圍各類(lèi)封裝電位器抽樣方案

14、GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤(pán)外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤(pán)裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求，無(wú)變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、檢查元件外觀(guān)是否

15、有變形、裂紋、缺損、不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書(shū)要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀(guān)不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)檢測(cè)1、檢驗(yàn)標(biāo)稱(chēng)阻值是否在規(guī)格范圍內(nèi)萬(wàn)用表特殊S-22、旋轉(zhuǎn)旋鈕測(cè)試阻值是否成線(xiàn)性變換（不能有跳躍）萬(wàn)用表特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物

16、料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示 部品名稱(chēng)三極管適用范圍各類(lèi)封裝三極管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及

17、工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤(pán)外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤(pán)裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求，無(wú)變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、檢查元件外觀(guān)是否有變形、裂紋、缺損、不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書(shū)要求一致

18、目測(cè)特殊S-24、元件外觀(guān)不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)檢測(cè)檢驗(yàn)引腳電極是否正確、放大倍數(shù)是否在規(guī)格范圍內(nèi)。萬(wàn)用表特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電

19、腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示 部品名稱(chēng)二極管適用范圍各類(lèi)封裝二極管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤(pán)外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤(pán)裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求，無(wú)變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)

20、家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、檢查元件外觀(guān)是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書(shū)要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀(guān)不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)、性能檢測(cè)檢驗(yàn)引腳電極是否正確、正向壓降是否在規(guī)格范圍內(nèi)（穩(wěn)壓管還需測(cè)試穩(wěn)壓值是否在規(guī)格范

21、圍內(nèi)；發(fā)光二極管需檢驗(yàn)發(fā)光顏色是否正確以及同一批亮度是否一致）。晶體管測(cè)試儀特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示 部品名稱(chēng)三端穩(wěn)

22、壓管適用范圍各類(lèi)封裝三端穩(wěn)壓管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤(pán)外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤(pán)裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求，無(wú)變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、

23、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、檢查元件外觀(guān)是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書(shū)要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀(guān)不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)、性能檢測(cè)在常溫下，穩(wěn)壓器輸入端加規(guī)定的直流電壓，然后用萬(wàn)用表測(cè)出其輸出電壓，輸出電壓是否在規(guī)格范圍內(nèi)。晶體管測(cè)試儀特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)

24、產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示 參考電氣原理圖部品名稱(chēng)壓敏電阻適用范圍各類(lèi)封裝壓敏電阻抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.

25、0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤(pán)外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤(pán)裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求，無(wú)變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、檢查元件外觀(guān)是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象

26、； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書(shū)要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀(guān)不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)、性能檢測(cè)萬(wàn)用表測(cè)阻值，顯示阻值為無(wú)窮大，則壓敏電阻判定為良品。萬(wàn)用表特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放

27、入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示 部品名稱(chēng)橋堆適用范圍各類(lèi)封裝的橋堆抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤(pán)外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤(pán)裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求，無(wú)變形、破

28、損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、檢查元件外觀(guān)是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書(shū)要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀(guān)不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)/性能檢測(cè)1、

29、測(cè)試內(nèi)部各二極管的正向電壓(正常為0.3-0.7V)。LCR特殊S-22、測(cè)試內(nèi)部各二極管的反向電壓（正常大于800V）。LCR特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量

30、數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示 部品名稱(chēng)繼電器適用范圍各類(lèi)封裝的繼電器抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤(pán)外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤(pán)裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求，無(wú)變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)

31、保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、檢查元件外觀(guān)是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書(shū)要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀(guān)不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)/性能檢測(cè)1、線(xiàn)圈電阻是否在規(guī)格書(shū)要求范圍內(nèi)。LCR特殊S-22、通電/斷電觸點(diǎn)間電阻，接觸為趨近0，斷開(kāi)為無(wú)窮大。萬(wàn)用表特殊S-23、絕緣電阻測(cè)試（線(xiàn)圈引腳與各觸點(diǎn)間電

32、阻應(yīng)無(wú)窮大）萬(wàn)用表特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱(chēng)可控硅適用范圍所有的可控硅抽樣方案GB/T 2828.1-2012

33、正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤(pán)外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤(pán)裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求，無(wú)變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、檢查元件外觀(guān)是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目

34、測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書(shū)要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀(guān)不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)/性能檢測(cè)用試裝的方式進(jìn)行測(cè)試產(chǎn)品各性能是否符合要求。樣品特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)

35、清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱(chēng)光電耦合器適用范圍所有光電耦合器抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤(pán)外

36、觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤(pán)裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求，無(wú)變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、檢查元件外觀(guān)是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書(shū)要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀(guān)不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封

37、裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)/性能檢測(cè)用試裝的方式進(jìn)行測(cè)試產(chǎn)品各性能是否符合要求。樣品特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，

38、測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱(chēng)數(shù)碼管適用范圍所有數(shù)碼管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤(pán)外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤(pán)裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求，無(wú)變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)

39、識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、檢查元件外觀(guān)是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書(shū)要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀(guān)不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)/性能檢測(cè)同一批次的數(shù)碼管的亮度基本相同且每一個(gè)字每一段的亮度也基本相同，發(fā)光應(yīng)穩(wěn)定，顏色應(yīng)均勻。電容表特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，

40、核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示以發(fā)光二極管測(cè)試原理進(jìn)行測(cè)試各段顯示是否正常腳位圖及內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖對(duì)應(yīng)于目前公司所用的光幕數(shù)碼管（雙位共陰數(shù)碼管）部品名稱(chēng)發(fā)射管適用范圍所有規(guī)格發(fā)射管抽樣方案GB/T

41、 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤(pán)外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤(pán)裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求，無(wú)變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、檢查元件外觀(guān)是否有變形、

42、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件外觀(guān)不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)/性能檢測(cè)試裝在樣品上測(cè)試其產(chǎn)品靜態(tài)電流、發(fā)射距離是否符合要求。樣品/ 調(diào)試臺(tái)特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及

43、時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱(chēng)接收管適用范圍所有規(guī)格接收管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤(pán)外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損

44、、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤(pán)裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求，無(wú)變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、檢查元件外觀(guān)是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件外觀(guān)不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊

45、S-2參數(shù)/性能檢測(cè)試裝在樣品上測(cè)試其產(chǎn)品靜態(tài)電流、接收距離、抗光性、接收角度等是否符合要求。樣品/ 調(diào)試臺(tái)特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉(cāng)開(kāi)出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書(shū)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的

46、誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱(chēng)IC（集成電路）適用范圍所有此類(lèi)物料抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類(lèi)備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤(pán)外觀(guān)，應(yīng)無(wú)破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤(pán)裝編帶物料應(yīng)符合要求，無(wú)變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠(chǎng)家名稱(chēng)、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無(wú)環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無(wú)鉛等）。目測(cè)外觀(guān)1、檢查元件外觀(guān)是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端引腳鍍層是否完整，引腳表面應(yīng)平滑、氧化、臟污、