光纜測試方案

1、精選優(yōu)質(zhì)文檔-傾情為你奉上光纜測試方案1. 作業(yè)準備1.1 內(nèi)業(yè)技術(shù)準備在開工前組織技術(shù)人員認真學習實施性施工組織設計，閱讀、審核施工圖紙，澄清有關(guān)技術(shù)問題，熟悉規(guī)范和技術(shù)標準。制定施工安全保證措施，提出應急預案。對施工人員進行技術(shù)交底，對參加施工人員進行上崗前技術(shù)培訓。1.2 外業(yè)技術(shù)準備確認中繼段光纜接續(xù)完成并全部符合接續(xù)測試指標。2. 技術(shù)要求2.1 光纜中繼段光纖線路的測試值應小于光纜中繼段光纖線路衰減計算值。其計算值為式中 光纖衰減標稱值(dB/km)光纜中繼段每根光纖接頭平均損耗（dB） 單模光纖 0.08dB(1310mm、1550mm)多模光纖 0.2dB光纖活動連接器平均損耗

2、（dB） 單模光纖 0.7dB多模光纖 1.0dBL光中繼段長度（km）n光纜中繼段內(nèi)每根光纖接頭數(shù)m光纜中繼段內(nèi)每根光纖活動連接器數(shù)2.2 在一個光纜中繼段內(nèi)，每一根光纖接續(xù)損耗平均值應符合下列指標：單模光纖0.08dB(1310mm、1550mm)多模光纖0.2dB2.3 對傳輸STM-4、STM-16的1310nm、1550 nm波長光纖和傳輸STM-1的1550nm波長光纖，應進行最大離散反射系數(shù)和S點最小回波損耗的測試，測試值應滿足下列要求：2.3.1 光纜中繼段S、R點間的最大離散反射系數(shù)：STM-1 1550nm，不大于-25dBSTM-4 1310nm，不大于-25dBSTM-

3、4 1550nm，不大于-27dBSTM-16 1310nm、 1550nm，不大于-27dB2.3.2 光纜中繼段在S點的最小回波損耗（包括連接器）：STM-1 1550nm，不小于20dBSTM-4 1310nm，不小于20dBSTM-4 1550nm，不小于24dBSTM-16 1310nm、 1550nm，不小于24dB2.4對用于高速率密集波分復用（DWDM）系統(tǒng)的光纖需要進行偏振模色散（PMD）的測量：偏振膜色散（PMD）的值應小于0.2ps/。2.5 同一中繼段光纜必須采用同一廠家光纜，且光纜的電氣指數(shù)必須一致2.6 電性能測試1.電性能測試應包括下列內(nèi)容：1) 直埋光纜線路對地

4、絕緣電阻；2) 防護接地裝置地線電阻。2.為保證光纜金屬外護層免遭腐蝕，埋設接續(xù)后的單盤直埋光纜，其金屬外護層對地絕緣電阻竣工驗收指標應不低于10M·km。目前暫允許10%的單盤光纜不低于2M·km。直埋光纜線路對地絕緣的測試方法應符合原郵電部光纜線路對地絕緣指標及測試方法的要求。3.防護接地裝置地線的接地電阻應小于2歐姆。3. 指標測試1.光纜具體測試比例與要求如下：1）用OTDR測試光纖通斷，測試比例100；2）用光源、光功率計測試光纖雙波長雙向全程衰減，測試比例為所有纖芯的25，盡量安排測試不同纖芯帶或不同纖芯束的纖芯；3）用OTDR測試光纖雙波長單向后向散射曲線，測

5、試比例為所有纖芯的25，盡量安排測試不同纖芯帶或不同纖芯束的纖芯；4）測試光纖PMD值（中繼光纜才需測試），測試比例為所有纖芯的25，盡量安排測試不同纖芯帶或不同纖芯束的纖芯；5）測試1550nm波長的光纜接頭插損，在所有接頭中抽測一個，測試比例為所有纖芯的10，盡量安排測試不同纖芯帶或不同纖芯束的纖芯。注：測試項目2、3、4和5中所選擇的纖芯必須不相同。2.接入光纜指標的測試比例與要求如下：1）用OTDR測試光纖通斷，測試比例100；2）用光源、光功率計測試光纖1550nm波長雙向全程衰減，測試比例為所有纖芯的25，盡量安排測試不同纖芯帶或不同纖芯束的纖芯；3）用OTDR測試光纖雙波長單向后

6、向散射曲線，測試比例為所有纖芯的25，盡量安排測試不同纖芯帶或不同纖芯束的纖芯；4）測試割接接頭1550nm波長插損值，在所有接頭中抽測一個（盡量挑選與主干相接的接頭），測試比例為所有纖芯的10，盡量安排測試不同纖芯帶或不同纖芯束的纖芯。注：測試項目2、3和4中所選擇的纖芯必須不相同。4. 施工程序與工藝流程4.1 施工程序施工準備測試端連接讀數(shù)記錄測試端移除。4.2 工藝流程圖4.2 光纜中繼段測試工藝流程圖5. 施工要求5.1 施工準備5.1.1檢查光時域反射儀（OTDR）、光源、光功率計、PMD測試儀狀態(tài)正常并在檢定有效期內(nèi)；5.1.2 檢查儀表所需使用的電源是否正常。5.2 儀表測試5

7、.2.1 用OTDR測試光中繼段光纖接頭平均衰減：圖5.2.1光中繼段光纖接頭平均衰減測試示意圖測試步驟：（1） 測試前，清洗測試跳纖插頭和法蘭；（2） 用測試跳纖連接OTDR和ODF架的法蘭頭；（3） 利用背向散射法測出每個接頭點兩個方向接頭衰減值(a、b)進行平均得出光纖接頭平均衰減值：式中 a-x點從AB方向測得的接頭衰減值；b-x點從BA方向測得的接頭衰減值；n -OTDR在光中繼段上實際測得的接頭點數(shù)。測試過程中發(fā)現(xiàn)損耗值過大時，分兩步進行處理：第一步是用OTDR測試光纖是否有故障點，如果有則需處理好故障點再重新進行光纜中繼段測試，第二步是用OTDR測試確定沒有故障點，則需再次清洗測

8、試跳纖插頭和法蘭，以保證測試的準確性。5.2.2 光中繼段線路衰減值測試方法1：用OTDR測光中繼段線路衰減值測試步驟：（1） 測試前，清洗測試跳纖插頭和法蘭；（2） 用測試跳纖連接OTDR和ODF架的法蘭頭（測試連接方式見圖5.2.1）；（3） 存儲測試記錄。方法2：用介入損耗法（光源、光功率計）測光中繼段線路衰減值圖5.2.2 介入損耗法光纜中繼段測試示意圖測試步驟：（1） 測試前，清洗測試跳纖插頭和法蘭；（2） 用光纖連接器連接光源和ODF架的法蘭頭；（3） 在另一端用光纖連接器連接光功率計儀和ODF架的法蘭頭；（4） 光源發(fā)送光，光功率計接收光，并測出損耗值（測試表格中的P）；按照下式

9、計算出光中繼段平均損耗值：式中 第i盤光纖的實際衰減系數(shù)（dB/km）Li第i盤光纖敷設后實際長度（km）活動連接器平均衰減值dB/個m測試時活動連接器數(shù)n實際接頭數(shù) 注：測試中繼段線路衰減值時：測試過程中發(fā)現(xiàn)損耗值過大時，分兩步進行處理：第一步是用OTDR測試光纖是否有故障點，如果有則需處理好故障點再重新進行光纜中繼段測試，第二步是用OTDR測試確定沒有故障點，則需再次清洗測試跳纖的插頭和法蘭，以保證測試的準確性。5.2.3 用OTDR測試最大離散反射系數(shù)和S點最小回波損耗按照圖5.2.1方式連接，用OTDR測出S、R點間最大離散系數(shù)和S點的最小回波損耗值，并記錄測試數(shù)據(jù)。5.2.4 用PM

10、D測試儀測試偏振膜色散（PDM）將PMD測試儀接上被測光纖線路，啟動測量掃描鍵，讀取測得的PMD值，并記錄測試數(shù)據(jù)。圖5.2.4偏振模色散測試示意圖6. 勞動組織作業(yè)人員配備表職務人數(shù)職責負責人1記錄測試表格，確保測試合格技工2負責光纜的測試7. 材料要求測試跳纖、光纖連接器、電氣性能等符合測試要求。8. 設備機具配置設備機具配置表序號名稱規(guī)格型號單位數(shù)量1OTDRHp8147臺12光源、光功率計FOD1204H套13PMD測試儀臺14萬用表臺19. 質(zhì)量控制與檢驗9.1 質(zhì)量控制9.1.1 儀表狀態(tài)正常并在檢定的有效期內(nèi)；9.1.2 光中繼測試前先用OTDR測試，保證無故障點的情況下測出光中

11、繼段線路衰減值；9.1.3 保證測試跳纖插頭和法蘭的清潔；9.1.4 作業(yè)人員應正確使用儀表，測試記錄要真實，字跡清楚。每個項目都必須寫明測試人、記錄人和測試日期、儀表型號等。9.2 質(zhì)量檢驗9.2.1光纜中繼段內(nèi)的光纖接續(xù)損耗平均值應符合技術(shù)要求3.1條相關(guān)指標。檢驗數(shù)量：全檢。檢驗方法：用OTDR檢測。9.2.2 光纜中繼段光纖線路衰減值應符合技術(shù)要求3.2條相關(guān)指標。檢驗數(shù)量：全檢。檢驗方法：用OTDR或光源、光功率計檢測。9.2.3光纜中繼段最大離散反射系數(shù)和S點最小回波損耗應符合技術(shù)要求3.3條相關(guān)指標。檢驗數(shù)量：全檢。檢驗方法：用OTDR檢測。9.2.4 偏振模色散（PMD）應符合技術(shù)要求3.4條相關(guān)指標。檢驗數(shù)量：全檢。檢驗方法：用PMD測試儀檢測。10. 安全及環(huán)保要求10.1 安全要求10.1.1 作