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文檔簡介

1、1 X 射線探傷機(jī)校驗規(guī)程1目的:確保射線檢測質(zhì)量活動所使用的X 射線探傷儀性能的符合性和有效性。2適用范圍:本規(guī)程適用于額定管電壓小于等于300kVX 射線探傷機(jī)的校驗。3 引用標(biāo)準(zhǔn)3.1 JB/T7413-1994攜帶式工業(yè)X 射線探傷機(jī)3.2 JB/T4730.2-2005承壓設(shè)備無損檢測第二部分:射線檢測4 職責(zé)4.1 公司生產(chǎn)部負(fù)責(zé)組織指導(dǎo)校驗人員實施校驗,并負(fù)責(zé)校驗記錄的審核。4.2校驗人員由RT 級人員承擔(dān),校驗人員應(yīng)熟悉X 射線探傷儀的結(jié)構(gòu)、工作原理和使用方法,熟悉本規(guī)程的引用標(biāo)準(zhǔn),能正確按本規(guī)程方法進(jìn)行校驗工作,編制校驗報告。4.3無損檢測技術(shù)負(fù)責(zé)人對校驗報告進(jìn)行審核。5 校

2、驗用標(biāo)準(zhǔn)試塊及器具5.1線型像質(zhì)計:校準(zhǔn)用線型像質(zhì)計應(yīng)符合JB/T7902-1995標(biāo)準(zhǔn)。5.2標(biāo)準(zhǔn)試塊:材質(zhì)應(yīng)為Q235 鋼或其它碳素鋼,規(guī)格為200mm× 100mm,表面粗糙度Ra 6.3 m,試塊厚度應(yīng)滿足表 1 至表 2 的相應(yīng)要求,其厚度允許公差為±0.2mm。表 1攜帶式定向 X 射線探傷機(jī)額定管電壓 kV額定管電流 mA對鋼穿透力 mm2505 393005 50表 2攜帶式周向 X 射線探傷機(jī)額定管電壓 kV額定管電流 mA對鋼穿透力 mm2505 37 平靶管3005 47 平靶管5.3 X 射線機(jī)支架系統(tǒng)定位誤差應(yīng)小于2mm。5.4黑度計測量誤差應(yīng)小于

3、± 5。5.5X 光膠片和觀片燈:結(jié)合照像質(zhì)量及曝光時間等因素對其類型進(jìn)行選擇。5.6其他校驗設(shè)備見表3表 3名稱和測量范圍最小分度值秒表0.1s鋼尺 0 1000mm1.0mm6校驗6.1校驗項目和校驗方法校驗項目首次校驗:新購置安裝使用的或修理后的X 射線探傷機(jī),進(jìn)行的校驗。后續(xù)校準(zhǔn)校驗:在有效期范圍內(nèi)的校驗。校驗項目:穿透力,輻射角,計時器誤差、透照靈敏度的測定。校驗方法穿透力校驗a )將 X 光膠片裁成 80mm× 360mm,至焦點 600mm,膠片長邊方向與 X 射線管軸線方向平行。定向射線機(jī),膠片中心偏離輻射中心( 146± 5) mm處拍片;周向射

4、線機(jī),中心沿周向輻射場中心線,繞管軸線每 90°拍一張膠片,穿透力取其中最低值。b)膠片前方緊貼放置表1表 2 相應(yīng)要求的標(biāo)準(zhǔn)試塊,增感屏用0.03mmPb,試塊四周按表4 規(guī)定的鉛當(dāng)量遮擋。表 4額定管電壓 kV鉛當(dāng)量 mm Pb500.41001.41502.12003.62506.33009.3c)采用額定管電壓、額定管電流進(jìn)行曝光,攜帶式X 射線探傷機(jī)曝光 5min。d)將曝光后的膠片進(jìn)行暗室處理,顯影、定影液的配制及沖洗時間和溫度等條件,按不同類型X光膠片暗室處理條件規(guī)定要求進(jìn)行。e)干燥后的膠片用黑度計測量黑度值Di 。在膠片中心區(qū)域至少測5 點,取其算術(shù)平均值D。膠片本

5、底黑度應(yīng)不大于0.3 , D 值最小不應(yīng)小于1.5 。輻射角的校驗a)定向X 射線探傷機(jī)輻射角的校驗將校驗的X 射線探傷機(jī)放置在支承架上,窗口對準(zhǔn)地面,地面應(yīng)用厚度為6mm的鉛板屏蔽,使X光管軸線 (射線機(jī)長度方向軸線和寬度方向)與地面平行,焦點距鉛板表面600mm;在鉛板上找出窗口正投影的中心點,并通過此點劃出與射線機(jī)長度方向和寬度方向的平行線,兩平行線交于窗口在鉛板上正投影的中心點;訓(xùn)練X 射線機(jī)至額定值,將裝好膠片的暗袋(膠片為360mm×80mm、增感屏前后屏均為 0.5mm)放置在鉛板劃好的兩條線上,每條線上各放三個暗袋,兩線交點處的暗袋上應(yīng)擺放中心標(biāo)記,暗袋搭接處應(yīng)擺放搭

6、接標(biāo)記。調(diào)整X 射線機(jī)管電壓至額定值的50,管電流為額定值進(jìn)行透照,將已透照好的膠片進(jìn)行暗室處理并干燥,在觀片燈上進(jìn)行測量底片上中心標(biāo)記至底片黑度變化區(qū)黑度并按 tg -1s較大的邊界處的距離 Sj (徑向)和 S h(橫向) , S = Si+Sh/2,600 分別計算 X 射線機(jī)的徑向和橫向輻射角。式中 角為 X 射線機(jī)的輻射角。b) 周向 X 射線探傷機(jī)的徑向輻射角校驗將校驗射線機(jī)立放于地面,使射線機(jī)外殼紅色帶的中心距地面一定高度,并以此高度在距焦點600mm的 0°、 90°、 180°、 270°位置各放置一個裝好膠片的暗袋,膠片長度方向應(yīng)平行

7、于射線機(jī)長軸方向,其他校驗程序及方法同定向機(jī)校驗。計時器誤差校驗將校驗射線機(jī)上的計時器分別調(diào)到0.5 ,1,5min 等位置,開機(jī)的同時啟動秒表,在射線機(jī)的計時器停止同時停止秒表,每個位置上測量3 次,計算其算術(shù)平均值與設(shè)定值之差。取其與設(shè)定值之比最大者為計時器誤差。透照靈敏度校驗a)測量要求同穿透力校驗,采用JB/T7902-1999 線型像質(zhì)計中的R10 系列,用 2 個規(guī)格相同、材質(zhì)標(biāo)記為FE 的線型像質(zhì)計 ( 參閱 JB/T 4730-2005 承壓設(shè)備無損檢測表5 像質(zhì)計的選用) ,貼附在按表1表 2 要求的相應(yīng)試塊邊緣區(qū)域X 射線機(jī)一側(cè),像質(zhì)計的細(xì)線朝外。 按要求曝光并處理膠片。b

8、)底片上,在黑度均勻區(qū)( 一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)) 能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)的金屬絲影像時,則該絲認(rèn)為是可識別的。7 校驗記錄7.1 校驗人員應(yīng)按記錄表式內(nèi)容對測試數(shù)據(jù)認(rèn)真記錄,復(fù)校人員應(yīng)核對測試步驟、方法及所有測試信息數(shù)據(jù),并對不符合項進(jìn)行復(fù)校7.2 校驗人員應(yīng)依據(jù)驗收標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定指標(biāo)逐項對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行評定,做出評價結(jié)論。7.3無損檢測技術(shù)負(fù)責(zé)人應(yīng)對校驗結(jié)論不符合項進(jìn)行復(fù)校監(jiān)督,并對復(fù)校評價結(jié)論意見進(jìn)行確認(rèn)。7.4校驗記錄由生產(chǎn)部存檔保管。8 記錄報告表式X 射線機(jī)校驗結(jié)果校驗項目計時器誤差穿透力透照靈敏度射線機(jī)編號輻射角校驗時間:校驗人:審核人:2 超聲波探傷儀校驗

9、規(guī)程1 目的:使超聲波儀器性能指標(biāo)、試塊幾何尺寸滿足標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)范要求。2 適用范圍:適用于本公司所有在用模擬、數(shù)字式超聲波探傷儀;超聲用標(biāo)準(zhǔn)、對比試塊。3 引用標(biāo)準(zhǔn)3.1 JB/ T4730-2005承壓設(shè)備無損檢測3.2 JB/ T7913-1995超聲波檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗方法3.3 JB/ T9214-1999 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能、測試方法3.4 JB/ T10061-1999 A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件3.5 JB/ T10063-1999超聲探傷用1 號標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件4 校驗要求4.1 A 型脈沖反射式超聲波儀器垂直線性、水平線性主要性能校驗周期

10、,儀器每使用三個月校驗一次,將校驗結(jié)果進(jìn)行記錄存檔。4.2校驗人員應(yīng)持有國家相關(guān)部門頒發(fā)的超聲波檢測級或級資格。4.3 A 型脈沖反射式探傷儀垂直線性誤差不大于5,水平線性誤差不大于1。5 校驗步驟5.1超聲波用標(biāo)準(zhǔn)試塊校驗前應(yīng)檢查試塊表面不應(yīng)有銹蝕、明顯劃傷、碰傷等缺陷。5.2超聲波用標(biāo)準(zhǔn)試塊幾何尺寸、形位公差及表面粗糙度應(yīng)符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。5.3 垂直線性校驗。測試所用器材2.5MHz 或 5MHz直探頭。測試步驟將儀器抑制開關(guān)置于“0”,連接探頭并將探頭固定在試塊上,調(diào)節(jié)探傷儀,使熒光屏上顯示的反射孔垂直刻度波高達(dá)100(不飽和),且衰減器至少有30dB 的衰減余量。調(diào)節(jié)衰減器,依次記

11、下每衰減2dB 時孔波幅度的百分?jǐn)?shù),直至26dB。然后將孔波幅度實測值與表中所列理論值相比較,取最大正偏差d( +)與最大負(fù)偏差d( - )之絕對值的和為垂直線性誤差d。 d = d( +) + d( - ) d 為 垂直線性誤差,理論值表:衰減量 dB02468101214161820222426波高理論值79.463.150.139.831.625.120.015.812.510.07.96.35.0100()將底波幅度調(diào)為垂直刻度的100,重復(fù)按項的測試。5.4 水平線性校驗測試所用器材2.5MHz 或 5MHz直探頭。測試步驟連接探頭并根據(jù)被測探傷儀中掃描范圍檔級的要求將探頭固定于適當(dāng)

12、厚度的試塊上,再調(diào)節(jié)探傷儀,使示波屏上顯示多次無干擾底波。分別將底波調(diào)到相同( 如垂直刻度的80%)的條件下,使第一次底波B1的前沿對準(zhǔn)水平刻度 “ 2”,第五次底波B5 的前沿對準(zhǔn)水平刻度“10”;然后在依次將每次底波調(diào)到上述相同幅度時,分別讀取第二、三、四次底波前沿與水平刻度“4”、“6”、“ 8”偏差Ln ,然后取其最大偏差Lmax,利用水平計算公式計算出水平線性誤差LL=L max / 0.8B×100 %,L為水平線性誤差,%;B 為水平全刻度數(shù)。在探傷儀掃描范圍的每個檔級,至少應(yīng)測試一種掃描速度下的水平線性誤差。5.5 動態(tài)范圍校驗調(diào) 抑制 至"0"

13、。將滿幅度100%某波高用 衰減器 衰減到剛能識別的最小值所需衰減的分貝值就是動態(tài)范圍。5.6 靈敏度余量校驗儀器與直探頭靈敏度余量的測試儀器 增益 至最大, 抑制 至 "0" , 發(fā)射強(qiáng)度 至 " 強(qiáng) " ,連接探頭, 并使探頭懸空, 調(diào) 衰減器 使電噪聲電平10%,記下此時的 衰減器 的讀數(shù)N1 dB。將探頭對準(zhǔn)200/ 2 平底孔。調(diào)衰減器使 2 平底孔回波高達(dá)50%,記下此時衰減器讀數(shù)N2 dB。則儀器與探頭的靈敏度余量N為N=N2-N1( dB)5.7 盲區(qū)校驗直探頭置于CSK-A試塊 50 孔的兩側(cè)面,5mm側(cè)面處有獨立回波,則盲區(qū)小于或等于

14、5mm。若此處無獨立回波,而在另一側(cè)面(10mm)處有獨立回波,則盲區(qū)在5 10mm之間。若此處仍無獨立回波,則盲區(qū)大于是10mm。5.8 分辨力校驗抑制 至 "0" ,探頭置于CSK-A試塊階梯的另一面,使示波屏上出現(xiàn)85、91、 100 三個反射回波 A、B、C。5.8.2左右移動探頭 , 使 85、 91 兩處回波幅度相等并為20% 30%滿刻度。5.8.3調(diào)節(jié) 衰減器 , 使 85、91 兩波峰間的波谷上升到原來波峰高度, 此時 衰減器 所釋放的 dB 數(shù)即為以 dB 值表示的超聲探傷系統(tǒng)的分辨力.5.9儀器校驗時若發(fā)現(xiàn)儀器或試塊出現(xiàn)超差,應(yīng)立即停用并向設(shè)備管理人員

15、報告。6 校驗記錄6. 1 校驗人員應(yīng)按記錄表式內(nèi)容對測試數(shù)據(jù)認(rèn)真記錄,復(fù)校人員應(yīng)核對測試步驟、方法及所有測試信息數(shù)據(jù),并對不符合項進(jìn)行復(fù)校6.2 校驗人員應(yīng)依據(jù)驗收標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定指標(biāo)逐項對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行評定,做出評價結(jié)論。6.3無損檢測技術(shù)負(fù)責(zé)人應(yīng)對校驗結(jié)論不符合項進(jìn)行復(fù)校監(jiān)督,并對復(fù)校評價結(jié)論意見進(jìn)行確認(rèn)。6.4校驗記錄由生產(chǎn)部存檔保管。7 記錄表式超聲波探傷儀校驗結(jié)果校驗項目垂直線性水平線性動態(tài)范圍靈敏度余量盲區(qū)分辨力探傷儀器編號校驗時間:校驗人:審核人:3 0 磁粉探傷儀校驗規(guī)程1 適用范圍本公司磁軛式磁粉探傷儀的定期校驗。2 校驗要求2.1 校驗周期:半年一次。2.2 校驗人員應(yīng)持

16、有國家相關(guān)部門頒發(fā)的磁粉檢測級或級資格。2.3 校驗項目磁軛探傷儀提升力當(dāng)電磁軛最大極間距時, 交流電磁軛至少應(yīng)有44N的提升力; 直流電磁軛至少應(yīng)有 177N 的提升力;交叉磁軛至少應(yīng)有 118N的提升力(磁極與試件表面間隙為0.5mm)。2.3.2 磁粉檢測靈敏度至少應(yīng)發(fā)現(xiàn) A1-30/100 試片上人工缺陷磁痕顯示。2 校驗步驟2.1交流電磁軛探傷儀事先準(zhǔn)備好一塊重 4.5Kg 的鋼板;校驗時,將磁軛極間距調(diào)至最大;將磁軛頭置于平放的鋼板上,通電,將其懸空提起,如能保持5 秒,則滿足提升力的要求。2.2直流電磁軛探傷儀事先準(zhǔn)備好一塊重 18.2Kg的鋼板;校驗時,將磁軛極間距調(diào)至最大;將

17、磁軛頭置于平放的鋼板上,通電,將其懸空提起,至少保持5 秒,如能達(dá)到則滿足提升力的要求。2.3直流電磁軛探傷儀事先準(zhǔn)備好一塊重 18.2Kg 的鋼板;校驗時,將磁軛極間距調(diào)至200mm;將磁軛頭置于平放的鋼板上,通電,將其懸空提起,至少保持5 秒,如能達(dá)到則滿足提升力的要求。2.4交叉磁軛探傷儀事先準(zhǔn)備好一塊重 12Kg 的鋼板;校驗時,將磁軛置于平放的鋼板上,通電,將其懸空提起,至少保持 5 秒,如能達(dá)到則滿足提升力的要求。2.5 靈敏度試驗將將 A 型或 C 型試片無人工缺陷的面朝外,可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢表面上,并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。施加磁懸液,磁化。觀察試片上出現(xiàn)

18、清晰的磁痕,試驗成功。3 磁粉探傷儀校驗記錄3.1 校驗記錄由校驗人員編制和填寫,并對報告內(nèi)容的準(zhǔn)確性、客觀性負(fù)責(zé)。3.2 記錄應(yīng)由無損檢測檢測責(zé)任師審核,并對記錄結(jié)論正確性負(fù)責(zé)。3.3 記錄應(yīng)由技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)(簽發(fā)),并對記錄的有效性負(fù)責(zé)。4 記錄表式電磁軛探傷儀校驗結(jié)果校驗項目直流電磁軛交叉磁軛靈敏度交流電磁軛探傷儀編號校驗時間:校驗人:審核人:4.0黑度計校驗規(guī)程1 目的:本規(guī)程用于測量照相底片的黑度儀的校驗,使黑度儀能夠?qū)ι渚€底片黑度作出可靠的評定。本規(guī)程參照J(rèn)B/T 4730-2005附錄 B黑度計(光學(xué)密度計)定期校驗方法制定。2 適用范圍:適用于本公司所有在用黑度計。記錄和有關(guān)文

19、件,在相應(yīng)的記錄中注明并記錄校正讀數(shù)和校驗日期。用標(biāo)簽表明校正的有效期。3 引用標(biāo)準(zhǔn): JB/T 4730.2-2005承壓設(shè)備無損檢測第二部分:射線檢測4 職責(zé)4.1 公司生產(chǎn)部負(fù)責(zé)組織實施校驗。4.2校驗人員由RT級人員承擔(dān),校驗人員應(yīng)熟悉黑度計的結(jié)構(gòu)、工作原理和使用方法,熟悉本規(guī)程的引用標(biāo)準(zhǔn),能正確按本規(guī)程方法進(jìn)行校驗工作,編制校驗報告。4.3. 無損檢測技術(shù)負(fù)責(zé)人對校驗報告進(jìn)行審核。5 校驗周期5.1所使用的黑度計至少每六個月校驗一次。5.2所使用的標(biāo)準(zhǔn)黑度片至少應(yīng)每兩年送計量單位校驗一次。6 黑度計校驗方法6.1校驗時,接通黑度計外電源和測量開關(guān),預(yù)熱10 分鐘。6.2用標(biāo)準(zhǔn)黑度片(

20、密度片)的零黑度點(區(qū))校驗黑度計零點,校準(zhǔn)后順次測量黑度片上不同黑度的各點的黑度,記錄測量值。6.3按照 3.2 條的規(guī)定反復(fù)測量 3 次。6.4計算出各點測量值的平均值,以平均值與黑度片該點的黑度值之差作為黑度計的測量誤差。6.5對黑度不大于 4.5 的各點的測量誤差均應(yīng)不超過±0.05 ,否則黑度計應(yīng)校驗、修理或報廢。7 校驗記錄7.1 校驗人員應(yīng)按記錄表式內(nèi)容對測試數(shù)據(jù)認(rèn)真記錄,復(fù)校人員應(yīng)核對測試步驟、方法及所有測試信息數(shù)據(jù),并對不符合項進(jìn)行復(fù)校7.2 校驗人員應(yīng)依據(jù)驗收標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定指標(biāo)逐項對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行評定,做出評價結(jié)論。7.3無損檢測技術(shù)負(fù)責(zé)人應(yīng)對校驗結(jié)論不符合項進(jìn)行復(fù)校監(jiān)督,并對復(fù)校評價結(jié)論意見進(jìn)行確認(rèn)。7.4校驗記錄由生產(chǎn)部存檔保管。8 記錄報告表式黑度計校驗結(jié)果校驗項目黑度計顯示值測量值誤

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