JIS_Z_3060-2002鋼焊縫超聲波探傷試驗方法

1、Z 3060：2002修改1994編制1975鋼焊縫的超聲波探傷試驗方法Method for ultrasonic examination for welds of ferritic steel1. 適用范圍 本標準規(guī)定了厚度為6mm以上的鐵素體系鋼的完全焊透焊縫，采用根本表示是脈沖反射法的超聲波探傷儀以下，稱為探傷儀。實施手動超聲波探傷試驗以下，稱為探傷。時的檢出方法、位置、及尺寸的測量方法。但是，本標準不適用于鋼管制造工序中的接頭焊接區(qū)。2. 引用標準 以下所示的標準是本標準的引用標準，是本標準規(guī)定的一局部。這些引用標準適用其最新版含追補。 JIS Z 2300 無損試驗用語 JIS Z

2、2345 超聲波探傷試驗用標準試塊 JIS Z 2350 超聲波探頭的性能測定方法 JIS Z 2352 超聲波探傷裝置的性能測定方法3. 定義 本標準使用的主要用語定義除了JIS Z 2300規(guī)定的以外，如下所示。a膠 膠狀的接觸媒質(zhì)。b甘油膠 在甘油中參加少量的界面活性劑及增粘劑的接觸媒質(zhì)。c探頭與缺陷距離 指斜角探傷上把從得到最大回波高度位置上的入射點到缺陷的波束路程投影在探傷面上的距離。d L方向 L方向是軋制鋼材的主軋制方向。e C方向 C方向是垂直主軋制方向的方向。f Q方向 Q方向是距主軋制方向45的方向。g STB音速比 使橫波的振動方向與試驗體的探傷方向一致，測出的橫波音速V

3、和用A1形STB或是A3形系STB測出的橫波音速VSTB的比V/VSTB。h STB折射角度差 探傷折射角和用A1形STB或是A3形系STB的標準試塊測出的STB折射角STB的差。i 最大透射脈沖 指用V透射法掃查試驗體，振幅變成最大時的透射脈沖。j 缺陷的指示長度 根據(jù)探頭的移動距離推定的缺陷的表觀長度。4. 技術(shù)人員 從事焊縫探傷的技術(shù)人員是具備探傷的原理及鐵素體系鋼焊縫的相關(guān)知識并且是具有豐富的探傷知識及經(jīng)驗的人員。5. 標準試塊及比照試塊5.1 標準試塊 在本標準中使用的標準試塊STB是JIS Z 2345中規(guī)定的A1形標準試塊、A2形系標準試塊及A3形系標準試塊。5.2 比照試塊 比

4、照試塊RB用于調(diào)整靈敏度。a RB-411） RB-41用于探傷平板接縫焊接區(qū)及曲率半徑是250mm以上的接縫焊接區(qū)，形狀如圖1所示，尺寸表1所示。2） RB-41是下面的任意一種。2.1)在均質(zhì)的衰減材料沒有帶探傷面加工后的曲率的。2.2和試驗體同樣的鋼種在探傷面的狀態(tài)下滿足以下條件的沒有帶曲率的。 條件：厚度是試驗體的10%以內(nèi)并且和試驗體的音速差在2%以內(nèi)。b RB-42 RB-42用于探傷和探傷方向垂直的方向上有曲率，曲率半徑為50mm以上的環(huán)焊焊縫，形狀見附件3圖2所示，尺寸見表1所示。c RB-43 RB-43用于探傷和探傷方向平行的方向上有曲率，曲率半徑為50mm以上的縱焊縫，形

5、狀見附件4圖3所示，尺寸見表1所示。d 其他的比照試塊 RBA6用于探傷和探傷方向垂直方向上有曲率，曲率半徑為50mm以上的環(huán)焊焊縫，在使用最大的波束路程150mm以下的場合下使用RB-A6，參照附件3圖3。表1 RB-41、RB-42、RB-43的尺寸 單位mm試塊的編號試塊的厚度t比照試塊的厚度T標準孔的直徑d20以下191或是t1超過20 40以下381或是t1超過40 80以下751或是t1超過80 140以下1251或是t1超過140 200以下1751或是t16.超過200 250以下2251或是t1超過250t1注1 的22.1的試塊及的22.2的試塊6. 接觸媒質(zhì) 接觸媒質(zhì)是使

6、用甘油膠、濃度為75%以上的甘油水溶液、水、油或是聲阻抗透明的液體。接觸媒質(zhì)的種類及垂直探頭的延遲材或是斜角探頭的斜楔的材質(zhì)在使用以下組合時探傷面的最大外表粗糙程度在未滿100的場合不需要補償傳遞損失。a 接觸媒質(zhì)的種類 甘油膠、濃度為75%以上的甘油水溶液b 延遲材及斜楔的材質(zhì) 聚苯乙烯7. 探傷試驗的準備7.1 探傷方法的選定 焊縫的探傷在沒有特殊指定時，使用將超聲波波束垂直焊縫方向的單探頭斜角方法，用直接接觸法進行。斜角方法的斜平行掃查、焊縫上掃查、交叉掃查或垂直法適用于有特殊指定的地方。當探傷面上帶有垂直的坡口面或鈍邊、板厚為20mm以上完全焊透焊縫時，串列探傷法適用于特殊指定位置。

7、比照試塊或是標準試塊的選定 斜角探傷時試塊的選定 調(diào)整探傷靈敏度時預先選定RB-41、RB-42、RB-43、附件3圖3所示RB-A6或A2形系標準試塊中的任意一個。但是，變成探傷面的試驗體板厚是75mm以上的場合或根據(jù)STB音速比的測定結(jié)果選定的折射角為表4的探傷折射角的場合，選定RB-41、RB-42、RB-43中的任意一個。而且，當使用的最大波束路程為150mm以下時，可以選定A2形系標準試塊。 垂直探傷時試塊的選定 使用RB-41調(diào)整探傷靈敏度。根據(jù)使用的最大波束路程選定探傷面的標準孔位置。7.3 頻率的選定 使用公稱頻率為2MHz以上5MHz以下。作為標準使用的頻率，斜角探傷的場合參

8、照表2，垂直探傷的場合參照表3. 還有，在探傷超聲波衰減顯著的試驗體時，可以使用比表2及表3規(guī)定的頻率低的。 試驗頻率在公稱頻率的90110%范圍內(nèi)。頻率特性是寬帶的探頭根據(jù)JIS Z 2350的5.試驗頻率的測定測定試驗頻率，根據(jù)JIS Z 2350的8.時間應(yīng)答特性的測定測定最大值。表2 斜角探傷用公稱頻率使用的最大波束路程mm公稱頻率MHz100以下5超過100 150以下2或5超過1502表3 垂直探傷用公稱頻率使用的最大波束路程mm公稱頻率MHz40以下5超過4027.4 檢出標準的選定 檢出標準是按照探傷目的根據(jù)繪制的以超過M線為對象的M檢出標準或是以超過L線為對象的L檢出標準中的

9、任何一個。7.5 探傷時期 在施工圖紙上有焊接后熱處理等指定場合的探傷時間為最終熱處理后。7.6 探傷面的修整 除去探傷面上的飛濺物及水銹。當探傷面的粗糙度，銹及涂料的影響傳遞損失超過12dB的場合，要加工到不超過12dB的范圍。7.7 母材的探傷 在斜角探傷時通過超聲波局部的母材，根據(jù)需要預先進行垂直探傷。使用的探頭在板厚為60mm以下的場合，公稱頻率為5MHz、20mm，板厚超過60mm的場合，公稱頻率為2MHz、30mm。探傷靈敏度為健全部的第1次底面回波高度的80%。缺陷范圍是回波高度超過20%的。檢出缺陷的場合要進行記錄。缺陷的范圍在100mm2以上時阻礙探傷。 檢出阻礙探傷的缺陷時

10、，在探傷上變成問題時，根據(jù)需要波束中心軸要通過整個焊縫改變探傷面或是折射角實施探傷，或是改用垂直探傷或其他探傷方法進行探傷。7.8 和STB音速比的測定 STB音速比的測定條件 STB音速比的測定條件如下所示。a 測定對象部位為探傷部位。b 測定時間在焊接后并且要在和探傷時的溫度同樣程度的狀態(tài)下進行。c 每個探傷部位的測定部位為1處，但是可以根據(jù)試驗體的狀況追加。 和STB的音速比的測定裝置 和STB音速比的測定裝置如下所示。a STB音速比V/VSTB的測定使用能測定板厚或是波束路程的有效數(shù)字為3位以上精度的超聲波裝置可以使用橫波垂直探頭的超聲波測厚儀或超聲波探傷儀及在試驗體中使橫波垂直傳播

11、的橫波垂直探頭。b 板厚的測定使用能測定有效數(shù)字為3位以上精度的縱波探頭縱波垂直探頭或雙振子形縱波垂直探頭的超聲波測厚儀或是尺寸測量儀。c 在橫波垂直探頭上表示振動方向。d 根據(jù)橫波垂直探頭的測定使用橫波用的接觸媒質(zhì)。 使用試塊及試驗體 使用以下試塊測定STB音速比a 使用A1形標準試塊、A2形系標準試塊或是A3形系標準試塊中的任意一個。b 試驗體為變成探傷面的試驗體。 試驗體的探傷方向確實認 在測定STB音速比，用橫波垂直探頭和超聲波測厚儀或是超聲波探傷儀的組合確認探傷方向和L、C及Q方向的關(guān)系。探傷方向是L或是C方向的場合及沒有方向引起的橫波音速差異的場合參照7.8.5、7.9及7.10.

12、1的方法，但是Q方向的場合參照7.10.2的方法。 STB音速比的測定方法 STB音速比的測定根據(jù)以下任意一個方法測定。a用超聲波測厚儀的場合 通過使用縱波探頭的超聲波測厚儀或尺寸測量儀測定的試驗體及STB的板厚分別為tM(mm),tSM(mm)。而且，在超聲波測厚儀上使用橫波垂直探頭的振動方向和試驗體的探傷方向要一致，得到的板厚及STB得到的板厚分別為tS(mm),tSTB(mm)。將這些比用下面的公式求出保存到小數(shù)點以下三位，將其作為STB音速比。V/VSTB =tMtSTB/tSM tSb 用超聲波探傷儀的場合 根據(jù)使用縱波探頭的超聲波測厚儀或尺寸測量儀測定的試驗體及STB的板厚分別為t

13、M(mm),tSM(mm)。而且，在超聲波探傷儀上使用橫波垂直探頭的振動方向和試驗體的探傷方向要一致，得到的第1次底面回波的波束路程及STB得到的第1次面回波的波束路程分別為WS(mm),WSTB(mm)。將這些用下面的公式求出保存到小數(shù)點以下三位，將其作為STB音速比。V/VSTB =tMWSTB/tSM WS7.9 音速比折射角的選定 由和SIB的音速比的測定結(jié)果根據(jù)表4選定探傷用的折射角。但是，在用公稱折射角45度的探頭探傷時不管STB音速比STB折射角為43以上47以下。 還有，根據(jù)探傷用探頭的折射角和STB的音速比，是STB折射角的場合可以替換為探傷折射角。而且，在試驗體的板厚超過7

14、5mm5V/VSTB時可以使用STB折射角6971。 表4 選定和STB的音速比的折射角試驗體的板厚mm和STB的音速比探傷用折射角6t250V/VSTBSTB折射角63以上72以下0.990 V/VSTB探傷折射角63以上72以下V/VSTB探傷折射角63以上72以下25t755V/VSTBSTB折射角58以上72以下1.015 V/VSTB探傷折射角58以上72以下V/VSTB探傷折射角58以上72以下75 V/VSTB探傷折射角58以上67以下V/VSTB探傷折射角58以上67以下7.10 探傷折射角的計算方法 探傷折射角的計算按照以下任意一個計算。 根據(jù)STB音速比計算 根據(jù)使用探頭的

15、STB折射角及STB音速比V/VSTB，通過以下公式計算探傷折射角單位以下的按要求保存。=sin-1 根據(jù)V透射法計算 使用和探傷用斜角探頭同樣形式的探頭，在試驗體的探傷面上用圖2所示的V透射法的配置調(diào)整探頭位置以得到最大透射脈沖強度。根據(jù)此時的入射點間距離Y及實測板厚t用以下公式計算探傷折射角單位以下的按要求保存。=tan-1 (Y/2t)8. 超聲波探傷裝置的調(diào)整及檢查8.1 斜角探傷 入射點的測定 用A1形標準試塊及A3形系標準試塊測定入射點。入射點用1mm單位讀取。 測定范圍的調(diào)整 用A1形標準試塊或是A3形系標準試塊調(diào)整測定范圍。 STB折射角及探傷折射角的測定a STB折射角的測定

16、 用A1形標準試塊或是A3形系標準試塊測定STB折射角。STB折射角在探傷作業(yè)的環(huán)境溫度下測定，單位以下按要求讀取。STB折射角在公稱折射角的2的范圍內(nèi)使用。b 探傷折射角的測定 探傷折射角的測定是測定STB音速比、STB折射角折射角的計算方法實施。但是在附件規(guī)定補償探傷折射角的場合，按照規(guī)定進行。 回波高度區(qū)分線的繪制a 回波高度區(qū)分線是用使用的探傷儀及探頭繪制。 還有，使用波束路程范圍的測繪點的回波高度和事前繪制的回波高度區(qū)分線的差異如果在2dB以內(nèi)那么可以使用這個。 繪制的回波高度區(qū)分線記錄在刻度板上或在指示器上表示。b 使用RB-41，繪制回波高度區(qū)分線時，使用RB-41的標準孔。使用

17、A2形系標準試塊繪制回波高度區(qū)分線時，使用44mm的標準孔。c 在繪制回波高度區(qū)分線時，在圖3及圖4表示的位置上掃查探頭，將各個最大回波高度測繪在刻度板上，連接各點繪制回波高度區(qū)分線。d 繪制回波高度區(qū)分線包含刻度板的10%100%的范圍。e 到波束路程的最短標繪點的范圍是水平線。f 回波高度區(qū)分線的條數(shù)是復數(shù)或1條，復數(shù)的場合，繪制3條以上相差6dB的回波高度區(qū)分線。 回波高度區(qū)分線是1條時，在刻度板的20%100%的范圍繪制。繪制1條的例如如圖3的c所示。 區(qū)域區(qū)分的規(guī)定a H線、M線及L線的規(guī)定 在上繪制的回波高度區(qū)分線中，至少選擇從下數(shù)第3根以上的線作為H線，將此作為調(diào)整探傷靈敏度的基

18、準線。 將比H線低6dB的回波高度區(qū)分線作為M線，低12dB的回波高度區(qū)分線作為L線。 L線在評價缺陷回波的波束路程的范圍內(nèi)，其高度不能是10%以下的線參照圖5。 回波高度區(qū)分線的條數(shù)是1條時，根據(jù)用1檔6dB升降增益，依次讀成H線、M線及L線。b 回波高度的區(qū)域區(qū)分H線、M線及L線區(qū)分的各個區(qū)域如表5所示。表5 回波高度的區(qū)域區(qū)分回波高度的范圍回波高度的區(qū)域L線以下超過L線M線以下超過M線H線以下超過H線 探傷靈敏度的調(diào)整 探傷靈敏度的調(diào)整可用RB-41或A2形系標準試塊中的任意一個。a 用RB-41的場合 標準孔的回波高度是調(diào)整增益與H線相吻合，按照需要增加靈敏度補償量，將其條件作為探傷靈

19、敏度。 靈敏度補償量的求法參照附件26。靈敏度補償量的合計值在2dB以下的場合，也可以不補償靈敏度。b 用A2形系標準試塊的場合 使用公稱折射角70時，44mm的標準孔的回波高度是調(diào)整增益與H線相吻合，按照需要增加靈敏度補償量，將其條件作為探傷靈敏度。 使用公稱折射角65時，44mm的標準孔的回波高度是調(diào)整增益與M線相吻合，按照需要增加靈敏度補償量，將其條件作為探傷靈敏度。使用公稱折射角45時，44mm的標準孔的回波高度是調(diào)整增益與H線相吻合后，提高增益6dB，按照需要增加靈敏度補償量，將其條件作為探傷靈敏度。 靈敏度補償量的求法如附件26所示。c 斜平行掃查、交叉掃查及焊縫上掃查的探傷靈敏度

20、根據(jù)交易雙方當事人之間的協(xié)定。 探傷裝置的測定、調(diào)整及檢查 開始作業(yè)時測定及調(diào)整入射點、STB折射角、測定范圍及探傷靈敏度。并且，這些在作業(yè)開始后每4小時以內(nèi)檢查一次，確認其條件。在不能維持條件時，按表6及表7進行處理。表6 不能維持靈敏度場合的處理變化的范圍處理的內(nèi)容4dB以下再調(diào)整繼續(xù)作業(yè)。超過4dB降低再調(diào)整，再次進行之前的調(diào)整或檢查以后實施的試驗。超過4dB增加再調(diào)整，對之前的調(diào)整或檢查以后實施的試驗發(fā)現(xiàn)的缺陷的指示部進行再試驗。表7 不能維持測定范圍場合的處理變化的范圍處理的內(nèi)容2%以下再調(diào)整繼續(xù)作業(yè)。超過2%再調(diào)整，再次進行在之前的調(diào)整或檢查以后實施的試驗。8.2 垂直探傷 測定范

21、圍的調(diào)整 用A1形標準試塊等調(diào)整測定范圍。 回波高度區(qū)分線的繪制a 回波高度區(qū)分線用使用的探傷儀及探頭繪制。 還有，使用波束路程范圍的測繪點的回波高度和事前繪制的回波高度區(qū)分線的差異如果在2dB以內(nèi)也可以使用。 繪制的回波高度區(qū)分線在刻度板上記錄或是在指示器上表示。b 繪制回波高度區(qū)分線時，如圖6所示，在、的位置上設(shè)置探頭，在刻度板上曲線繪制各個最大回波高度的峰值位置。c 如圖7a及圖7b所示，用各自的一定的探傷靈敏度將測繪出的4點在刻度板上用直線連接，作為一個回波高度區(qū)分線。d 回波高度區(qū)分線的條數(shù)為復數(shù)或1條，復數(shù)的場合，繪制3條以上各相差6dB的回波高度區(qū)分線。 區(qū)域區(qū)分的規(guī)定 區(qū)域區(qū)分

22、和8.1.5規(guī)定的一樣，如圖8那樣決定。 探傷靈敏度的調(diào)整 RB-41的標準孔的回波高度是調(diào)整增益與H線相吻合，按照需要增加靈敏度補償量，將其條件作為探傷靈敏度。 探傷裝置的調(diào)整及檢查時間 在作業(yè)開始時調(diào)整測定范圍及探傷靈敏度。并且這些在作業(yè)開始后每4小時以內(nèi)檢查一次，確認其條件。在不能維持條件時，按表6及表7進行處理。8.3 串列探傷 測定范圍的調(diào)整 根據(jù)單探頭法用A1形標準試塊或A3形系標準試塊，將測定范圍調(diào)整為相當試驗體大約1聲程的波束路程后將試驗體用V透射法掃查，將得到的最大透射脈沖的波束路程用標識器等刻印在刻度板上。 公稱折射角及STB折射角 板厚20mm以上不滿40mm的場合公稱折

23、射角為70，板厚40mm以上的場合公稱折射角為45，發(fā)射信號及接收信號的探頭各個STB折射角的差異在2以下。 回波高度區(qū)分線的繪制 在探傷儀的刻度板上，預先設(shè)置圖9的回波高度區(qū)分線?？潭劝?0%高度的線為M線，比其低6dB的線為L線，高6dB的線為H線。 區(qū)域區(qū)分的決定 區(qū)域區(qū)分和8.1.5規(guī)定的一樣，如圖9那樣決定。圖9 回波高度區(qū)分線和區(qū)域區(qū)分的例如 探傷靈敏度的調(diào)整 探傷靈敏度的調(diào)整是在試驗體的健全部用V透射法進行掃查，最大透射脈沖調(diào)整增益與M線相吻合后，根據(jù)板厚附加表8所示的增益值，將其條件作為探傷靈敏度。表8 附加的增益值板厚探傷范圍附加的增益值20mm以上不滿40mm全體板厚16d

24、B40mm以上不滿75mm全體板厚10 dB75mm以上從外表到t/410 dB超過t/4到t/212 dB超過t/2到里面14 dB 探傷裝置的測定、調(diào)整及檢查時間 在作業(yè)開始時測定及調(diào)整入射點、STB折射角、測定范圍及探傷靈敏度。并且這些在作業(yè)開始后每4小時以內(nèi)檢查一次，確認其條件。在不能維持條件時，按表6及表7進行處理。9. 探傷試驗9.1 斜角探傷a掃查方法 探頭的掃查方法是按照不漏掉缺陷的方法進行。而且，在下面的掃查方法中，雖然通常使用Z形掃查，但對于用Z形掃查容易遺漏的橫向裂紋等，由交易雙方當事人間協(xié)議后使用交叉掃查或焊縫上掃查等。1 轉(zhuǎn)角掃查 在超聲波斜角探傷中，相對于焊縫改變超

25、聲波波束的方向，以探頭的入射點為中心旋轉(zhuǎn)探頭的掃查方法參照圖10。2環(huán)繞掃查 在超聲波斜角探傷中在以缺陷為中心的圓周上探頭向著中心擺動，相對于缺陷改變超聲波波束方向的掃查方法參照圖10。3Z形掃查 在超聲波斜角探傷中，探頭在進行帶有擺動的前后掃查的同時平行于焊縫移動探頭的掃查方法參照圖11。4 左右掃查 在超聲波斜角探傷中，以一定間隔和焊縫平行移動探頭的掃查方法參照圖12。串列探傷的場合稱為左右串列掃查。5 前后掃查 在超聲波斜角探傷中，以一定間隔和焊縫垂直移動探頭的掃查方法參照圖12。串列探傷的場合稱為前后串列掃查。6斜平行掃查 是斜角探傷交叉掃查的一種簡便方法，只用1個探頭，相對于焊縫成一

26、定角度放置探頭并平行于焊縫移動探頭的掃查方法參照圖13。7 焊縫上掃查平行掃查 在超聲波斜角探傷中，為了檢出橫向裂紋等缺陷，將探頭放置在削除堆高的焊接部及熱影響部上，將超聲波對著焊縫方向并沿焊縫移動探頭的掃查方法。參照圖14。8 交叉掃查 在斜角探傷中為檢出縱向裂紋等缺陷，在焊縫的兩側(cè)各放置一個探頭并同時移動探頭的掃查方法雙探頭法的一種參照圖15。b作為評價對象的缺陷 作為評價對象的缺陷是調(diào)整為各附件規(guī)定的探傷靈敏度，在M檢出標準的場合，是最大回波高度為超過M線的缺陷，在L檢出標準的場合，是最大回波高度為超過L線的缺陷?；夭ǜ叨葏^(qū)分線是1條時，調(diào)整增益旋鈕使使用的波束路程范圍的回波高度區(qū)分線成

27、為檢出標準。c)回波高度的區(qū)域?qū)⑻筋^放在顯示最大回波高度的位置上，讀取其最大回波高度所在區(qū)域。在不同折射角或不同探傷面上檢出一個缺陷的場合，回波高度區(qū)域是最高區(qū)域。d)缺陷指示長度缺陷指示長度是在顯示最大回波高度的探頭焊接區(qū)距離左右掃查，回波高度超過L線的探頭的移動距離。該長度用1mm單位測量。該場合，雖然進行前后掃查，但是不進行轉(zhuǎn)角掃查。但是，當使用頻率是2MHz的探頭時，是超過最大回波高度的1/26dB的探頭的移動距離。在不同折射角或不同探傷面上檢出一個缺陷的場合，分別求出始端和終端，將這些間隔的最大長度作為缺陷的指示長度?；夭ǜ叨葏^(qū)分線是1條時，調(diào)整增益旋鈕使使用波束路程的范圍的回波高度

28、區(qū)分線為L線，進行測量。e)缺陷位置的表示缺陷位置如圖16所示，在截面上的位置是用在顯示最大回波高度的探頭的位置上獲得的缺陷的深度及與焊縫成直角方向的位置表示。在焊縫和平行方向上的位置是用顯示最大回波高度的探頭的位置和缺陷的指示長度的始端及終端表示。f)缺陷的指示高度測量缺陷的指示高度在特別必要的場合參照附件8。a)掃查方法探頭的掃查方法是不能遺漏缺陷地實施掃查。b)作為評價對象的缺陷作為評價對象的缺陷是調(diào)整為規(guī)定的探傷靈敏度，M檢出標準的場合是最大回波高度超過M線的缺陷，L檢出標準的場合是最大回波高度超過L線的缺陷。c)回波高度的區(qū)域?qū)⑻筋^放置在顯示最大回波高度的位置上，讀取其最大回波高度所

29、在區(qū)域。d)缺陷指示長度缺陷的指示長度是以顯示最大回波高度的位置為中心，掃查其周圍，回波高度超過L線的探頭的移動距離長徑。但是，接觸探頭的局部的板厚是75mm以上，使用頻率是2MHz的探頭時的缺陷指示長度是超過最大回波高度的1/26dB的探頭的移動距離。該長度是以1mm為單位測量的。e)缺陷位置的表示缺陷位置如圖17所示，在截面上的位置是用在顯示最大回波高度的探頭的位置上獲得的缺陷的深度表示，在焊縫和平行方向上的位置用顯示最大回波高度的探頭的位置和缺陷的指示長度的始端及終端表示。9.3 串列探傷a) 探傷的方法1劃參照線 在實施串列探傷的焊縫上，焊接前在距坡口面一定的距離L劃參照線。2雙探頭基

30、準線的決定 從探傷面到串列基準線的距離L是根據(jù)被當作試塊的探傷面使用側(cè)的板厚t及收發(fā)信號的探頭的STB折射角T及R根據(jù)以下的式子求出。如圖18所示距參照線距離L的位置上決定串列基準線。 3探頭的配置 在距串列基準線的等距離上配置收發(fā)信號的探頭的入射點。4進行探傷的面與方向 進行探傷的面與方向是指在對焊接縫的場合是單面、焊接局部的兩側(cè)；在T接縫及角接縫的場合是單面、焊接局部的單側(cè)。5掃查方法 探頭的掃查方法是根據(jù)圖12的左右串列掃查或前后串列掃查。b) 作為評價對象的缺陷 作為評價對象的缺陷是調(diào)整為中規(guī)定的探傷靈敏度，M檢出標準的場合是最大回波高度超過M線的缺陷，L檢出標準的場合是最大回波高度超

31、過L線的缺陷。c) 回波高度的區(qū)域 在表示最大回波高度的位置放置探頭，讀取其最大回波的高度所在區(qū)域。d缺陷的指示長度 缺陷的指示長度是以表示最大回波高度的位置為中心，進行左右掃查及前后掃查，M檢測標準的場合是回波高度超過M線范圍的探頭的移動距離；L檢測標準的場合是回波高度超過L線范圍的探頭的移動距離。該長度以1mm為單位測量。e) 缺陷位置的表示 缺陷位置如圖19所示斷面的位置用在表示最大回波高度的探頭的位置XP獲得的缺陷深度d及在焊縫的直角方向的位置k來表示，與焊縫平行方向的位置用在表示最大回波高度的探頭的位置XP及缺陷的指示長度l的始端XS以及終端XE表示。10. 記錄 進行了探傷之后記錄

32、以下必要的工程。a) 試驗?zāi)暝氯誦) 施工或制造者姓名c) 工程或制品名稱d) 試驗編號或符號 圖19 串列探傷的缺陷位置的表示e) 試驗技術(shù)者的署名及資格f) 材質(zhì)及尺寸g) 焊接方法及坡口形狀h) 使用的探傷儀名稱、性能及檢查日期和時間i) 使用的探頭、性能及檢查時間j) 使用的比照試樣或標準試樣k) 比照試樣的厚度、曲率、探傷面的狀態(tài)及STB音速比l試塊的探傷面的狀態(tài)及修理方法m) 探傷范圍n) 接觸介質(zhì)o公稱頻率及試驗頻率p) 公稱折射角及STB折射角q) STB音速比及其測量方法r) 探傷折射角及其算出方法s) 測量范圍t) 回波高度區(qū)分線u) 探傷靈敏度v) 靈敏度補償量w) 檢驗

33、水準x) 表示最大回波高度的焊縫方向的探頭位置、探頭焊接局部距離、波束路程、最大回波高度領(lǐng)域、缺陷的指示長度、缺陷的深度、垂直焊縫方向的位置及缺陷的指示長度的始端或終端。y) 合格與否及其基準z) 使用了DAC回路時進行如下的記錄。 1探傷儀名稱及DAC使用時的性能 2) 探頭的制造編號及DAC使用時的性能 3DAC的起點調(diào)整距離 4DAC的傾斜值 5DAC使用時的回波高度的區(qū)分線aa) 應(yīng)用了串列探傷法時進行以下的記錄。1） 無法探傷的區(qū)域2） 探傷工裝的規(guī)格3） 串列基準線的位置4） 缺陷的板厚方向的位置深度ab) 其他的事項指定事項、協(xié)議事項、參會、抽樣方法等。附件1規(guī)定超聲波探傷裝置的

34、機能及性能1. 適用范圍 本附件是規(guī)定有關(guān)本標準中使用的超聲波探傷裝置的機能及性能。2. 探傷儀 探傷儀的必要機能根據(jù)以下。a) 可以使用探傷儀的任意一種的單探頭法、雙探頭法。b) 增值調(diào)整器1檔是1dB以下，合計的調(diào)整量為70dB以上。c) 輔助刻度板畫有回波高度區(qū)分線等，便于拆裝，而且因視差造成的測量誤差要小。d) 在連續(xù)調(diào)整的旋鈕中有的與時間軸相關(guān)，對使用中可能動的旋鈕，應(yīng)備鎖定機構(gòu)。e) 與寬帶域探頭組合使用的探傷儀能顯示或輸出RF波形。 探傷儀的必要性能根據(jù)以下。a) 放大線性在JIS Z 2352的放大直線性測量、為3%的范圍內(nèi)。b) 時間軸的線性在JIS Z 2352的時間軸直線

35、性測量、為3%的范圍內(nèi)。c) 靈敏度的充裕值在JIS Z 2352的垂直探傷的靈敏度充裕值測量、為40dB以上。d) 對電源電壓變動的穩(wěn)定度在額定電壓范圍內(nèi)靈敏度的變化在1dB的范圍內(nèi)、縱軸、時間軸及DAC的起點的移動量為滿刻度的2%的范圍內(nèi)。2.3 DAC機能 附加DAC回路的探傷儀也可以使用DAC機能。 探傷儀的有關(guān)所示的a)c)的事項根據(jù)JIS Z 2352的5.定期檢查，在裝置購入時及12個月以內(nèi)進行檢查，確認能維持的規(guī)定性能。3. 探頭3.1探頭的必要機能 探頭的必要機能根據(jù)以下。a) 探頭要適合使用的探傷儀。b) 為了方便地測量入射點，在斜角探頭的兩側(cè)設(shè)置間距1mm的引導刻度。c)

36、 斜角探頭的振子的公稱尺寸為55mm以上2020mm以下。作為標準使用的公稱尺寸根據(jù)附件1表1。但是，串列探傷上使用的探頭的振子的公稱尺寸未特別規(guī)定。d) 垂直探頭的振子為圓形，其公稱直徑為10mm以上30mm以下。作為標準使用的公稱直徑根據(jù)附件1表2。附件1表1 斜角探頭的公稱頻率 附件1 表2 垂直探頭的公稱頻率與與標準使用的振子的公稱尺寸 標準使用的振子的公稱直徑公稱頻率MHz振子的公稱尺寸mm 21414，2020 555，1010公稱頻率MHz振子的公稱直徑mm220，28510 斜角探頭的必要性能根據(jù)以下。a) 接近限界長度在附件1表3所示的數(shù)值以內(nèi)。附件1表3 接近限界長度振子的

37、公稱尺寸mm接近限界長度mm202025141420101015557但是，串列探傷使用的最小探頭的入射點距離為公稱頻率為5MHz、公稱折射角為45的探頭的場合為20mm以下，在70的場合時，入射點間的距離為27mm以下，在2MHz、45的場合時入射點間的距離是25mm以下。b) 公稱折射角為40、45、60、65或70。c) 和使用的探傷儀匹配測量H線的噪音水平，在使用的波束路程的范圍內(nèi)SN的比為22dB以上。d) 遠距離分辨率是組合使用的探傷儀，根據(jù)JIS Z 2352的斜角探傷的分辨率測量，在附件1表4所示的數(shù)值以下。但是，當公稱頻率為2MHz及5MHz以外時遠距離分辨率為8mm以下。e

38、) 盲區(qū)是組合使用的探傷儀時，根據(jù)JIS Z 2350的盲區(qū)測量，在附件1的表5所示的數(shù)值以下。但是，在公稱頻率為2MHz及5MHz以外的時未作規(guī)定。振子的公稱尺寸為55mm的場合，用使用的探傷靈敏度測量。對串列探傷使用的探頭的盲區(qū)未作規(guī)定。附件1表4 斜角探頭的遠距離分辨率 附件1表5 斜角探頭的盲區(qū)公稱頻率MHz分辨率mm29以下55以下公稱頻率MHz振子的公稱尺寸mm盲區(qū)mm21414202025155551010815f) 波束中心軸的偏心用JIS Z 2350的波束中心軸的偏心與偏心角的測量方法測量，該角度不能超過2。 垂直探頭的必要性能根據(jù)以下。a) 噪音等的回波高度是組合使用的探

39、傷儀，以使用的探傷靈敏度，是顯示器 刻度的10%以下。b) 遠距離分辨率是組合使用的探傷儀，是根據(jù)JIS Z 2352的垂直探傷的遠距離分辨率來測量，在附件1表6所示的數(shù)值以下。但是，當公稱頻率為2MHz及 5MHz以外的情況時遠距離分辨率為8mm以下。c) 盲區(qū)是由使用的探傷靈敏度從發(fā)射脈沖或外表回波的上升點開始，之后邊緣的高度在最后到達20%的點的長度，用鋼中的距離讀出。公稱頻率為5MHz盲區(qū)的值為8mm以下，公稱頻率為2MHz盲區(qū)的值為15mm以下。 斜角探頭是在附件1表7規(guī)定的時間對所示的事項進行檢查，確認能維持規(guī)定的性能。附件1表6 垂直探頭的遠距離分辨率 附件1表7 斜角探頭的性能

40、檢查時間公稱頻率mm分辨率mm29以下56以下檢查工程檢查時間波束中心軸的偏移SN比接近限界長度遠距離分辨率盲區(qū)購入時及進行補修之后試驗頻率購入時3.5 垂直探頭的性能檢查 垂直探頭是在購入時及至少每月1次對所示的事項進行檢查，確認能維持規(guī)定的性能。4. 串列探傷的工裝 串列探傷的工裝是指能配置發(fā)射及接收用的2個探頭，并且能左右串列掃查或前后串列掃查。附件2規(guī)定 平板接縫焊接部的探傷方法1. 適用范圍 本附件是有關(guān)平板對焊接縫焊接部、T接縫焊接部、角接縫焊接部、探傷面的曲率半徑為1000mm以上的環(huán)焊縫焊接部以及1500mm以上的縱向焊縫焊接部的超聲波探傷試驗方法的規(guī)定。2. 使用的比照試樣及

41、標準試樣 使用的比照試樣及標準試樣如正文的5.所示的RB-41或STB。但是，探傷橫向波音度與STB不同的試塊指使用正文的表4的探傷折射角的STB音速比的范圍的試塊。時，探傷靈敏度的調(diào)整使用RB-41。3. 使用的探頭 使用的探頭根據(jù)正文的表4及附件1的3.。另外，試塊的板厚超過75mm時，除了選擇正文表4的折射角之外，并用公稱折射角45。4. 探傷裝置的調(diào)整 測量范圍的調(diào)整根據(jù)正文的、或。4.2入射點、STB折射角及探傷折射角的測量 入射點的測量根據(jù)正文的。STB折射角及探傷折射角的測量根據(jù)正文的。4.3回波高度區(qū)分線的繪制 回波高度區(qū)分線的繪制根據(jù)正文的、或。4.4靈敏度補償量的求法 在斜

42、角探傷上的靈敏度的補償量用以下所示方法求出。a) 調(diào)整為使用的測量范圍后，用雙探頭法使用探傷上使用的探頭及與此相同形式的探頭。b) 在實際的試塊上，如附件2圖1的a)所示配置，調(diào)節(jié)探頭間的距離使透射脈沖到達最高。將該最大透射脈沖高度定為50%，讀取增益的值VdB。c) 在比照試樣或A2形系標準試樣上如附件2圖1的b)所示配置，根據(jù)與上述的b)相同的順序，將透射脈沖的高度定為50%讀取增益的值V1dB及V2dB.d) 兩者的波束路程不一致的場合，如附件2圖1的c)所示讀取試塊上的波束路程的前后的波束路程上的V的值。e) 將V-V的值作為靈敏度的補償量。 探傷靈敏度的調(diào)整根據(jù)正文的、或。 5. 探

43、傷方法 探傷面根據(jù)附件2表1。T接縫及角接縫的場合是適用于單探頭斜角探傷法時的探傷面是開坡口側(cè)的構(gòu)件面。此外，外表與側(cè)面如附件2的圖2表示。附件2表1 探傷面接縫的種類使用的最大波束路程mm頻率探傷面探傷方法對焊接縫150mm以下2或5MHz單面兩側(cè)直射法及1次反射法超過150mm250mm以下2MHz單面兩側(cè)直射法及1次反射法超過250mm2MHz兩面兩側(cè)直射法T接縫150mm以下2或5MHz單面單側(cè)直射法及1次反射法超過150mm250mm以下2MHz單面單側(cè)直射法及1次反射法超過250mm2MHz兩面單側(cè)直射法角接縫(閉合斷面的場合)150mm以下2或5MHz單面單側(cè)直射法及1次反射法超

44、過150mm250mm以下2MHz單面單側(cè)直射法及1次反射法超過250mm2MHz單面單側(cè)直射法及1次反射法 5.2探傷方向 探傷方向是指為了防止因缺陷的傾斜漏看了缺陷，如附件2圖35所示在2個方向以上的超聲波波束的方向進行的方法。5.3掃查方法 探頭的掃查方法用正文的)的掃查方法中的3的Z形掃查，盡量不要漏看缺陷進行掃查。 附件2圖5 閉合斷面的角接縫焊接部的探傷方法6. 缺陷位置的推斷方法 檢驗出缺陷時的缺陷位置根據(jù)探頭焊接部距離、波束路程及與正文的的STB的音速比從選定的折射角中推斷。附件3規(guī)定環(huán)焊縫焊接部的探傷方法1. 適用范圍 本附件是有關(guān)探傷面的曲率半徑為50mm以上不到1000m

45、m的環(huán)焊縫焊接部的超聲波探傷試驗方法的規(guī)定。2. 使用的比照試樣及標準試樣2.1 試樣的適用范圍 比照試樣及標準試樣是根據(jù)探傷裝置的調(diào)整作業(yè)工程及試塊的曲率半徑按照附件3圖1使用。 另外，代替正文的表1及正文的圖1的RB-41，可以使用RB-A6。2.2 比照試樣RB-42 比照試樣RB-42的形狀與尺寸如附件3圖2所示。 另外，RB-42為以下任意種。a) 是均質(zhì)低衰減材料，和加工后的探傷面的探傷方向垂直的方向上帶有曲率的。 附件3圖2 RB-42的例子這里，L：比照試樣的長度 比照試樣的長度根據(jù)使用的波束路程。 進行靈敏度補償?shù)腣透射的長度或其2倍以上的長度。L1：5/4聲程以上的長度，4

46、0mm以上。T： 比照試樣的厚度W：試樣的寬度 W2S/D S：使用的最大波束路程 D：振子的寬度b) 與試塊是同一鋼種，在探傷面的狀態(tài)下滿足以下條件、且?guī)в星实?。條件：厚度及曲率為試塊的10%以內(nèi)并且與試塊的音速差為2%以內(nèi)。2.3 比照試樣RB-A6 比照試樣RB-A6的形狀及尺寸如附件3圖3以下，孔的前端角度為118及孔的角不需倒角。另外，RB-A6的厚度及曲率是試塊的10%以內(nèi)及與試塊的音速差為2%以內(nèi)。 這里，L： 比照試樣的長度 比照試樣的長度根據(jù)使用的波束路程。 是進行靈敏度補償?shù)腣透射的長度或其2倍以上的長度。L1T： 比照試樣的厚度W：試樣的寬度、60mm以上。3. 使用的

47、探頭3.1 探頭的接觸面 不進行探頭的接觸面的曲面加工。曲率半徑為250mm以下的場合，為了使探頭的接觸穩(wěn)定最好使用工裝。3.2 探頭的公稱折射角 使用的探頭的公稱折射角根據(jù)正文的表4。 另外，試塊的板厚超過75mm時，除了選擇正文的表4折射角之外，還并用公稱折射角45。4. 探傷裝置的調(diào)整4.1 測量范圍的調(diào)整 測量范圍的調(diào)整采用A1形標準試樣或A3形系標準試樣進行，根據(jù)正文的。4.2 入射點及探傷折射角的測量 根據(jù)正文的及正文的測量入射點及探傷折射角。4.3 回波高度區(qū)分線的繪制 采用RB-41、RB-42的場合 采用RB-41、RB-42場合的回波高度區(qū)分線根據(jù)正文的。 采用RB-A6的

48、場合 回波高度區(qū)分線是采用使用的探頭，根據(jù)正文的用以下的順序繪制。但是，繪制探傷橫向波音速與STB不同的試塊時的回波高度區(qū)分線采用RB-41。a) 在刻度板上測繪出0.5聲程與1.0聲程或1.0聲程與1.5聲程的最大回波高度的最高位置，用直線連接這幾個兩點。b) 從0.5聲程的點開始向左水準劃線。4.4 根據(jù)曲率求出靈敏度補償量的方法 采用RB-42及RB-A6的場合 采用RB-42及RB-A6時不進行靈敏度的補償。 采用RB-41的場合a) 從外面探傷試塊的場合 曲率半徑為250mm以上從外面探傷時的靈敏度的補償量根據(jù)使用的斜角探頭的公稱頻率、振子的公稱尺寸及接觸媒介，從附件3圖4及附件3圖

49、5中用1dB的單位求出。b) 從內(nèi)面凹面探傷試塊的場合 1將與使用的斜角探頭相同形式的2個斜角探頭如附件3圖6的b)所示相對排列，用V掃查T-R1的配置及3次反射的V掃查T-R2的配置調(diào)整探頭間距離使透射脈沖到達最高。測繪求出的兩個透射脈沖的峰值，用直線連接參照附件3圖6的c。 2 與1相同的靈敏度如附件3圖6的a)所示配合探傷方向配置2個探頭，進行V掃查，調(diào)整探頭間的距離使透射脈沖到達最高。之后在其波束路程上用1dB的單位四舍五入讀取透射脈沖的高度差，將其作為靈敏度補償量。 4.5 探傷靈敏度的調(diào)整 采用RB-A6的場合 為了使RB-A6的標準孔的回波高度與H線一致調(diào)整增益作為探傷靈敏度。但

50、是，橫向波音速與STB音速不同的試塊場合的靈敏度調(diào)整根據(jù)RB-41、RB-42進行。 采用RB-41、RB-42的場合 采用RB-41、RB-42場合的探傷靈敏度的調(diào)整根據(jù)正文的。 5. 探傷方法 5.1 探傷面 探傷面根據(jù)附件3表1。 5.2 探傷方向 探傷方向是為了防止因缺陷的傾斜而漏看了缺陷，用2個方向以上的超聲波波束的方向進行的方法。 5.3 掃查方法 探頭的掃查方法使用的a)掃查方法中的正文)的3Z形掃查，盡量不要漏看缺陷來進行。 6. 缺陷位置的推斷方法 檢測出缺陷時的缺陷位置是根據(jù)探頭焊接部距離、波束路程及與正文的的STB的音速比從選擇的音速比中推斷折射角。附件3表1 探傷面內(nèi)外

51、面的探傷面使用的最大的波束路程mm頻率探傷面探傷方法僅外面可以探傷的場合150mm以下2或5MHz外面凸面兩側(cè)直射法及1次反射法超過150mm250mm以下2MHz外面凸面兩側(cè)直射法及1次反射法超過250mm2MHz外面凸面兩側(cè)直射法及1次反射法內(nèi)外面都可以探傷的場合150mm以下2或5MHz外面凸面兩側(cè)直射法及1次反射法超過150mm250mm以下2MHz外面凸面兩側(cè)直射法及1次反射法超過250mm2MHz內(nèi)外面凹凸面兩側(cè)直射法附件4規(guī)定縱向接縫焊接部的探傷方法1. 適用范圍 本附件是有關(guān)探傷面的曲率半徑為50mm以上不到1500mm，壁厚對外徑比為16%以下的縱向接縫的焊接部的超聲波探傷試

52、驗方法的規(guī)定。2. 定義 本附件使用的主要用語的定義除了根據(jù)正文及JIS Z 2300之外還根據(jù)以下。a) 半壁厚波束路程 在有曲率的試塊的斜角探傷上，連接探頭的入射點的O與壁厚中央的點P的距離附件4圖1的WG。在縱向接縫的斜角探傷上的半壁厚的波束路程不能是對壁厚的0.5聲程的波束路程附件4圖1的WL的。b) 半壁厚探頭距離 是在有曲率的試塊的斜角探傷上，把半壁厚的波束路程WG在試塊外面投影的距離附件4圖1的YG。在縱向接縫的斜角探傷上的半壁厚探頭距離不能是對壁厚的0.5聲程的探頭距離附件4圖1的YL的。c) 是對壁厚t的外徑D的比。 3. 使用的標準試樣及比照試樣3.1 試樣的適用范圍 使用的標準試樣及比照試樣的適用范圍按照試塊的曲率半徑根據(jù)附件4圖2。