研究生高等儀器綜合告

1、Department of Chemistry, Tianjin University考試時間：第考試時間：第19周（周（12月月30日）日） 晚上晚上7:00地點(diǎn)：地點(diǎn)：23-306 高等儀器分析化學(xué)及實驗考試 Department of Chemistry, Tianjin University納米材料表征的手段：納米材料表征的手段： 用用XRD表征晶體結(jié)構(gòu)表征晶體結(jié)構(gòu) 用用SEM表征形貌表征形貌, 用用EDX分析組成分析組成(10%誤差誤差) 用用TEM表征其微結(jié)構(gòu)表征其微結(jié)構(gòu)(是否是單晶是否是單晶,是什么晶形的是什么晶形的,生長取向生長取向?)及形貌及形貌(是否是空心的、核殼結(jié)構(gòu)嗎等）

2、是否是空心的、核殼結(jié)構(gòu)嗎等） 用用Scanning TEM(STEM) elemental mapping(適用于原子適用于原子序數(shù)比較大的材料）和序數(shù)比較大的材料）和Electron energy loss spectroscopy (EELS) elemental mapping來進(jìn)行成份分析來進(jìn)行成份分析 用用IR光譜來表征材料的表面是否存在有機(jī)物光譜來表征材料的表面是否存在有機(jī)物 用用BET來表征材料是比面積和進(jìn)行孔徑分析來表征材料是比面積和進(jìn)行孔徑分析1. 對于平整表面上膜粗糙度或厚度的測度可用對于平整表面上膜粗糙度或厚度的測度可用AFM來測試來測試.Department of Ch

3、emistry, Tianjin UniversityXRDUV-visDepartment of Chemistry, Tianjin UniversitySEMDepartment of Chemistry, Tianjin UniversityTEMDepartment of Chemistry, Tianjin UniversitySTEM elemental mappingLine-scan EDXDepartment of Chemistry, Tianjin UniversitySEM, TEM, and STEM elemental mappingDepartment of C

4、hemistry, Tianjin UniversityDOI: 10.1002/anie.201105786 Department of Chemistry, Tianjin UniversityZnS-Amine SheetsSEMDepartment of Chemistry, Tianjin UniversityZnS-Amine SheetsTEMEELS elemental mappingDepartment of Chemistry, Tianjin UniversitySEMTEMDepartment of Chemistry, Tianjin UniversitySTEM elemental mappingTEM and SAEDPoint-scan EDXDepartment of Chemistry, Tianjin UniversitySEM看斷面，進(jìn)行厚度分析看斷面，進(jìn)行厚度分析Department of Chemistry, Tianjin UniversityXRDIRDepartment of Chemistry, Tianjin University孔結(jié)構(gòu)及尺寸可控EGBETDepartment of Chemistry, Tianjin UniversityZnSe-DET