自控原理II實(shí)驗(yàn)采樣系統(tǒng)校正報(bào)告_第1頁(yè)
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精選優(yōu)質(zhì)文檔-傾情為你奉上采樣系統(tǒng)校正一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?掌握用連續(xù)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法對(duì)采樣系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計(jì)。2掌握采樣系統(tǒng)中采樣周期的選擇方法。二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容 采樣控制系統(tǒng)如圖10-1所示，選擇合理的采樣周期，設(shè)計(jì)串聯(lián)校正裝置的參數(shù)k、a和b，使校正后系統(tǒng)滿足的期望性能為：Mp5%，tp0.5秒。圖10-1 采樣控制系統(tǒng)三、實(shí)驗(yàn)步驟1、 從期望的性能指標(biāo)，求出2階系統(tǒng)的期望極點(diǎn)。2、 按照串聯(lián)校正的設(shè)計(jì)方法，設(shè)計(jì)校正裝置參數(shù)k、a和b。（1） 設(shè)計(jì)校正器為： 使得它的一個(gè)零點(diǎn)與可控對(duì)象的一個(gè)極點(diǎn)抵消，加入校正器后，開(kāi)環(huán)傳遞函數(shù)為：（2）加入校正器后，特征多項(xiàng)式為：（3）利用期望極點(diǎn)求出希望的特征多項(xiàng)式：（4） 對(duì)比（2）、（3）步中的特征多項(xiàng)式，求出K和b。K=10 a=0.1 b=14.13、 在MATLAB環(huán)境下，對(duì)校正后的系統(tǒng)性能進(jìn)行仿真驗(yàn)證。四、實(shí)驗(yàn)結(jié)果：T：0.5ST：0.1ST：0.01ST：0.005S結(jié)論：采樣周期設(shè)置得越小，超調(diào)量越小，峰值時(shí)間也越小，五、思考題1、將連續(xù)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方法用于采樣系統(tǒng)設(shè)計(jì)，應(yīng)注意那些問(wèn)題？注意采樣周期的選擇。2、設(shè)計(jì)采樣系統(tǒng)的校正網(wǎng)絡(luò)，可采用那些方法？ 如果性能指標(biāo)以單位階躍響應(yīng)的峰值時(shí)間、調(diào)整時(shí)間、超條量、阻尼比等時(shí)域特征量給出時(shí)，一般采樣根軌跡校正。 如果性能

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