關(guān)于介質(zhì)損耗測試

1、關(guān)于介質(zhì)損耗的一些基本概念1、介質(zhì)損耗什么是介質(zhì)損耗：絕緣材料在電場作用下，由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng)，在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失，簡稱介損。2、介質(zhì)損耗角S在交變電場作用下，電介質(zhì)內(nèi)流過的電流相量和電壓相量之間的夾角（功率因數(shù)角）的余角（6）。簡稱介損角3、介質(zhì)損耗正切值tgS又稱介質(zhì)損耗因數(shù)，是指介質(zhì)損耗角正切值，簡稱介損角正切。介質(zhì)損耗因數(shù)的定義如下如果取得試品的電流相量,和電壓相量仃，則可以得到如下相量圖:介質(zhì)損耗因數(shù)儂5尸被測試品的有功功率P被測試品的無功功率QKIO。%IR士Ic觸電阻R,純電容?？傠娏骺梢苑纸鉃殡娙蓦娏鱅c和電阻電流IR合成，因此:介質(zhì)損耗因數(shù)（t

2、g6）=上工100%X100H=-K100%UlrIr這正是損失角6=（90。-）的正切值。因此現(xiàn)在的數(shù)字化儀器從本質(zhì)上講，是通過測量6或者得到介損因數(shù)。測量介損對判斷電氣設(shè)備的絕緣狀況是一種傳統(tǒng)的、十分有效的方法。絕緣能力的下降直接反映為介損增大。進(jìn)一步就可以分析絕緣下降的原因，如：絕緣受潮、絕緣油受污染、老化變質(zhì)等等。測量介損的同時，也能得到試品的電容量。如果多個電容屏中的一個或幾個發(fā)生短路、斷路，電容量就有明顯的變化，因此電容量也是一個重要參數(shù)。4、功率因數(shù)cos功率因數(shù)是功率因數(shù)角的余弦值，意義為被測試品的總視在功率S中有功功率P所占的比重功率因數(shù)的定義如下：有的介損測試儀習(xí)慣顯示功率

3、因數(shù)（PF:cos），而不是介質(zhì)損耗因數(shù)（DF:tg6）。一般cos=tg-1=5.573*V=+Ba=1334A這剛好是低頻部分的相位和幅度，干擾被完全抑制。變頻測量時，儀器需要知道的唯一信息是干擾頻率。因為儀器供電頻率就是干擾頻率，整個電網(wǎng)的頻率是一樣的。儀器在測量中可以動態(tài)實時跟蹤干擾頻率，將數(shù)字濾波器的吸收點時刻調(diào)整到干擾頻率上。而干擾信號的幅值和相位變化對這種測量是沒有影響的。梟用55E工測量時的數(shù)字濾波特性用 AI-6000D 做不拆高壓引線的 CVT 自激法測量試驗及電位(泛華電子)測C2時，高壓線芯線和屏蔽、CX線芯線和屏蔽都是低壓。三、為什么先測量C13,再測量C2大家知道，

4、C13電容量較小，約2萬pF;C2電容量較大，至少4萬pF;CN為50pF標(biāo)準(zhǔn)電容器。測量C13時，C2和內(nèi)CN串連用AI-6000D做CVT自激法測量非常方便，可按下圖接線。如果C1是單節(jié)電容，母線不能接地；如果C1是多節(jié)電容，高壓引線可不拆，母線也可接地,C11和C12可用常規(guī)正反接線測量,C13和C2用自激法測量。、接線方法如下圖:母線Ak6000D0-芯線和屏蔽高壓線I內(nèi)Cn橋體Cx、測量過程及電位接地低壓CVT自激法測量中，儀器先測量C13,然后自動倒線測量C2,并自動校準(zhǔn)分壓影響測C13時，高壓線芯線和屏蔽帶高壓,CX線芯線和屏蔽都是低壓當(dāng)作標(biāo)準(zhǔn)電容器，根據(jù)電容串聯(lián)公式C串=(C2CN)/(C2+CN),由于C2CN,C串CN,這樣C2對測量結(jié)果影響較小，可忽略不計。反之，如果先測C13,因C13容量較小，和內(nèi)CN串連后，會把C13的介損加進(jìn)去，造成標(biāo)準(zhǔn)臂介損增大，引起C2介損減小，造成測量誤差四、自激法時高壓線拖地會引起介損增大自激法時高壓線應(yīng)懸空不能接觸地面，否則其對地附加介損會引起介損增大，可用細(xì)電纜連接高壓插座與RC串聯(lián)模型，使6點的電壓UN超前變成UN,相應(yīng)的IN變成IN,Ix相位不變，造成6