材料研究與測試方法復(fù)習(xí)題答案版

1、材料研究與測試方法復(fù)習(xí)題答案版復(fù)習(xí)題一、名詞解釋1、系統(tǒng)消光：把由于fhk=o而使衍射線有規(guī)律消失的現(xiàn)象稱為系統(tǒng)消光。2、X射線衍射方向：是兩種相干波的光程差是波長整數(shù)倍的方向。3、Moseley定律:對于一定線性系的某條譜線而言其波長與原子序數(shù)平方近似成反比關(guān)系。4、相對強度：同一衍射圖中各個衍射線的絕對強度的比值。5、積分強度：扣除背影強度后衍射峰下的累積強度。6、明場像暗場像：用物鏡光欄擋去衍射束，讓透射束成像，有衍射的為暗像，無衍射的為明像，這樣形成的為明場像；用物鏡光欄擋去透射束和及其余衍射束，讓一束強衍射束成像，則無衍射的為暗像，有衍射的為明像，這樣形成的為暗場像。7、透射電鏡點分

2、辨率、線分辨率：點分辨率表示電鏡所能分辨的兩個點之間的最小距離；線分辨率表示電鏡所能分辨的兩條線之間的最小距離。8、厚度襯度:由于試樣各部分的密度（或原子序數(shù)）和厚度不同形成的透射強度的差異；9、衍射襯度：由于晶體薄膜內(nèi)各部分滿足衍射條件的程度不同形成的衍射強度的差異；10相位襯度：入射電子收到試樣原子散射，得到透射波和散射波，兩者振幅接近，強度差很小，兩者之間引入相位差，使得透射波和合成波振幅產(chǎn)生較大差異，從而產(chǎn)生襯度。11像差：從物面上一點散射出的電子束，不一定全部聚焦在一點，或者物面上的各點并不按比例成像于同一平面，結(jié)果圖像模糊不清，或者原物的幾何形狀不完全相似，這種現(xiàn)象稱為像差球差：由

3、于電磁透鏡磁場的近軸區(qū)和遠軸區(qū)對電子束的匯聚能力不同造成的像散：由于透鏡磁場不是理想的旋轉(zhuǎn)對稱磁場而引起的像差色差：由于成像電子的波長（或能量）不同而引起的一種像差12、透鏡景深：在不影響透鏡成像分辨本領(lǐng)的前提下，物平面可沿透鏡軸移動的距離13、透鏡焦深：在不影響透鏡成像分辨本領(lǐng)的前提下，像平面可沿透鏡軸移動的距離14、電子衍射：電子衍射是指當一定能量的電子束落到晶體上時，被晶體中原子散射，各散射電子波之間產(chǎn)生互相干涉現(xiàn)象。它滿足勞厄方程或布拉格方程，并滿足電子衍射的基本公式S=RdL是相機長度，入為入射電子束波長，R是透射斑點與衍射斑點間的距離。15、二次電子：二次電子是指在入射電子作用下被

4、轟擊出來并離開樣品表面的原子的核外電子。16、背散射電子：背散射電子是指入射電子與試樣的相互作用經(jīng)多次散射后，重新逸出試樣表面的電子。17、差熱分析：是指在程序控制溫度下，測量物質(zhì)和參比物的溫度差與溫度或時間關(guān)系的一種方法。18、差示掃描量熱法：是指在程序控制溫度下，試樣和參比物的溫度差保持為零時，所需要的能量對溫度或時間關(guān)系的一種技術(shù)。19、熱重分析：在程序控制溫度下，測定試樣的質(zhì)量變化對溫度或時間關(guān)系的一種方法。20、綜合熱分析：將DTA、DSC、TG等各種單功能的熱分析相互組裝在一起，就可以變成多功能的綜合熱分析。21、外推始點溫度：曲線開始偏離基線那點的切線與曲線最大斜率切線的交點。2

5、2、拉曼效應(yīng)：散射光中散射強度中約有1%的光頻率與入射光束的頻率不同。除在入射光頻率處有一強的瑞利散射線外，在它的較高和較低頻率處還有比它弱得多的譜線。23、拉曼位移：拉曼散射光與入射光頻率之差。24、瑞利散射：如果光子與樣品分子發(fā)生彈性碰撞，即光子與分子之間沒有能量交換，則光子的能量保持不變，散射光的頻率與入射光頻率相同，只是光子的方向發(fā)生改變，此即彈性散射，通常叫瑞利散射。25、化學(xué)位移：由于原子所處的化學(xué)環(huán)境不同而引起的原子內(nèi)殼層電子結(jié)合能的變化，在譜圖上表現(xiàn)為譜線的位移，這種現(xiàn)象成為化學(xué)位移。26、光電效應(yīng)：當具有一定能量hv的入射光子與樣品的原子互相作用時，單個光子把全部能量交換給原

6、子某殼層上一個受束縛的電子，這個電子就獲得能量。如果該能量大于該電子的結(jié)合能Eb,該電子就將脫離原來受束縛的能級；若還有多余的能量可以使電子克服功函數(shù)W,則電子就成為自由電子、并獲得一定的動能Ek并且hv=Eb+Ek+Wo該過程為光電效應(yīng)。27、荷電效應(yīng)：X射線射向樣品，表面不斷產(chǎn)生光子，造成表面電子空穴，使樣品帶正電,如果樣品是絕緣體或者半導(dǎo)體，表面電子空穴無法從金屬試樣中得到補充，使得樣品表面帶正電，這叫做荷電效應(yīng)。28、定點分析：對試樣某一選定點進行成分定性或定量的分析，以確定該點區(qū)域內(nèi)存在的元素及其含量。線掃描分析：使聚焦電子束在試樣觀察區(qū)內(nèi)沿一選定直線進行慢掃描，得到反映該元素含量變

7、化的特征X射線強度沿試樣掃描線的分布。面掃描分析：電子束在樣品表面作光柵掃描時，得到該元素的面分布圖像。二、簡答題1、X射線譜有哪兩種基本類型？各自的含義是什么？兩種類型：連續(xù)X射線譜和特征X射線譜連續(xù)X射線譜：指X射線管中發(fā)出的一部分包含各種波長的光的光譜。從管中釋放的電子與陽極碰撞的時間和條件各不相同，絕大多數(shù)電子要經(jīng)歷多次碰撞，產(chǎn)生能量各不相同的輻射，因此出現(xiàn)連續(xù)X射線譜特征X射線譜：也稱標識X射線譜，它是由若干特定波長而強度很大的譜線構(gòu)成的，這種譜線只有當管電壓超過一定數(shù)值Vk（激發(fā)電壓）時才能產(chǎn)生，而這種譜線的波長與X射線管的管電壓、管電流等工作條件無關(guān)，只取決于陽極材料，不同金屬制

8、成的陽極將發(fā)出不同波長的譜線，并稱為特征X射線譜2、X射線是怎么產(chǎn)生的？連續(xù)X射線譜有何特點？熱陰極上的燈絲被通電加熱至高溫時，產(chǎn)生大量的熱電子，這些電子在陰陽極間的高壓作用下被加速，以極快速度撞向陽極，由于電子的運動突然受阻，其動能部分轉(zhuǎn)變?yōu)檩椛淠?以X射線的形式放出，產(chǎn)生X射線。連續(xù)X射線譜：具有從某一個最短波長（短波極限）開始的連續(xù)的各種波長的X射線。它的強度隨管電壓V、管電流i和陽極材料原子序數(shù)Z的變化而變化。3、3何謂Ka射線？何謂KP射線？這兩種射線中哪種射線強度大？哪種射線波長短？X射線衍射用的是哪種射線？為什么Ka射線中包含Ka1和Ka2？Ka是L殼層中的電子跳入K層空位時發(fā)出

9、的X射線，Kp射線是M殼層中的電子跳入K層空位時發(fā)出的X射線；Ka比Kp強度大，因為L層電子跳入K層空位的幾率比M層電子跳入K層空位的幾率大；Kp波長短；X射線衍射用的是Ka射線；Ka射線是由Ka1和Ka2組成，它們分別是電子從L3和L2子能級跳入K層空位時產(chǎn)生的。4、晶體對X射線的散射包括哪兩類？四種基本類型的空間點陣是什么？晶體對X射線的散射有相干散射和不相干散射。簡單立方、體心立方、面心立方、底心立方。5、結(jié)構(gòu)因子的概念結(jié)構(gòu)因子的絕對值為一個晶胞的想干散射振幅與一個電子的想干散射振幅的比值。結(jié)構(gòu)因子只與原子的種類，數(shù)目和在晶胞中的位置有關(guān)，而不受晶胞形狀和大小的影響。6、布拉格方程的表達

10、式、闡明的問題及所討論的問題？布拉格方程：2dsinO=nXd為晶面間距，8為入射束與反射面的夾角，X為X射線的波長，n為衍射級數(shù)。討論：1、sin8=nX2d由sin広1，得到nX<2d，n最小值為1，因而2d。說明X射線的波長必須小于晶面間距的二倍，才能產(chǎn)生衍射現(xiàn)象；2、由nX<2d，得到d以/2,因而只有那些晶面間距大于入射X射線波長一半的晶面才能發(fā)生衍射;（d肚/n）*sin8=X，令dhkl/n=dHKL，則加皿5加8=入，得到dHKL=dhkl/n，因而把（hkl）晶面的n級反射看成為與（hkl）晶面平行，面間距為dHKL=dhkl/n的晶面的一級反射。3、原子面對X射

11、線的衍射并不是任意的，而是具有選擇性的。4、一種晶體結(jié)構(gòu)對應(yīng)獨特的衍射花樣。7、晶體使X射線產(chǎn)生衍射的充分條件是什么？何謂系統(tǒng)消光？充分條件是同時滿足布拉格方程和FHKL#0系統(tǒng)消光：把由于Fhkl=0而使衍射線有規(guī)律消失的現(xiàn)象稱為系統(tǒng)消光。8、粉晶X射線衍射卡片（JCPDS或PDF卡片）檢索手冊的基本類型有哪幾種？字母索引：按物質(zhì)英文名稱的字母順序哈那瓦爾特索引:8條強線按d值相對強度遞減順序排列芬克索引：8條最強線以按d值遞減順序排列9、在進行混合物相的X射線衍射線定性分析鑒定時，應(yīng)特別注意優(yōu)先考慮的問題有哪些？衍射儀用粉末試樣的粒度是多少？（1）d值比相對強度更為重要，核對時d值必須相當

12、符合，一般只能在小數(shù)點后第二位有分歧；（2）重視小角度區(qū)域的衍射線，即低角度的d值比高角度的d值更重要；（3）強線比弱線重要；（4）特征線（即不與其它線重疊的線）重要；（5）結(jié)合其它信息，如成份、熱處理過程等等；（6）借助其它分析測試方法共同表征。優(yōu)先考慮小角度區(qū)域的衍射線，強線及特征線。粉末粒度是1040pm10、電子束與物質(zhì)相互作用可以獲得哪些信息？a, 透射電子b,二次電子c,背散射電子d,特征X射線e,陰極熒光f,俄歇電子g,吸收電子11、掃描電鏡的原理？掃描電鏡的放大倍數(shù)是如何定義的？原理：電子槍發(fā)射電子，經(jīng)會聚稱為微細電子束，在掃描線圈驅(qū)動下，在試樣表面掃描，于試樣相互作用，產(chǎn)生二

13、次電子，二次電子信號被探測器收集轉(zhuǎn)換為電訊號，經(jīng)視頻放大后，輸入到顯像管，得到反映試樣表面的二次電子像。掃描電鏡的放大倍數(shù):電子束在熒光屏上掃描振幅與入射電子束在樣品表面的掃描振幅之比12、簡述電子透鏡像差及產(chǎn)生的原因？a,球差由于電磁透鏡近軸區(qū)和遠軸區(qū)對電子束匯聚能力不同引起。b,色差一由于成像電子波長不同引起。c,軸上像散一由于透鏡磁場不是理想旋轉(zhuǎn)對稱磁場引起。d,畸變13、透射電子顯微圖象包括哪幾種類型？相位襯度、質(zhì)厚襯度、衍射襯度14、散射襯度與什么因素有關(guān)？這種圖象主要用來觀察什么？散射襯度也稱為質(zhì)厚襯度，它是指穿過樣品且散射角度小的那些電子即彈性散射所形成的襯度，散射襯度與樣品的密

14、度、原子序數(shù)、厚度等因素有關(guān)。這種圖像主要用來觀察非晶試樣和復(fù)形膜樣品所成圖像。15、衍射襯度與什么因素有關(guān)？這種圖象主要用來觀察什么？衍射襯度是由晶體薄膜內(nèi)各部分滿足衍射條件的程度不同而形成的襯度。根據(jù)衍射襯度原理形成的電子圖像稱為衍射襯度像。利用這種圖像可觀察晶體缺陷，如位錯、層錯等。16、何謂明場象？何謂暗場象？中心暗場像與偏心暗場像哪個分辨率高？明場象是指用物鏡光欄擋去衍射束，讓透射束成像，有衍射的為暗象，無衍射的為明象。暗場像指用物鏡光欄擋去透射束及其余衍射束，讓一束強衍射束成像，則無衍射的為暗像，有衍射的為明像。因為偏心暗場像衍射束偏離光軸，暗場像朝一個方向拉長，分辨率低；中心暗場

15、像無畸變，分辨率高。17、何謂二次電子？掃描電鏡中二次電子象的襯度與什么因素有關(guān)？最適宜研究什么？二次電子是指在入射電子作用下被轟擊出來并離開樣品表面的原子的核外電子,二次電子的襯度與兩個因素有關(guān)：(1) 入射電子的能量，入射電子能量在2-3KW時，二次電子發(fā)射系數(shù)達到最大，襯度明顯(2) 入射電子束在試樣表面的傾斜角度，因為6(0)=60/cos0，當傾斜角度增加時，二次電子發(fā)射系數(shù)增大，襯度也明顯。二次電子像也最適宜觀察試樣的表面形貌。18、何背散射電子？掃描電鏡中背散射電子象的襯度與什么因素有關(guān)？最適宜研究什么？背散射電子是指入射電子與試樣的相互作用經(jīng)多次散射后，重新逸出試樣表面的電子。

16、背散射電子襯度與試樣的形貌及成分有關(guān)，因為背散射電子的產(chǎn)額隨試樣原子序數(shù)的增大而增大，其來自試樣表面幾百納米的深度范圍。背散射電子襯度最適宜觀察試樣的平均原子序數(shù)兼形貌。19、什么是X射線的能譜分析和波譜分析？其方法有幾種？用聚焦電子束照射在試樣表面待測微小區(qū)域上,激發(fā)試樣中諸元素的不同波長或能量的特征X射線，用X射線譜儀探測這些X射線，得到X射線譜，若利用特征X射線的波長不同來展譜，即為波譜分析，若利用特征X射線的能量不同來展譜，即為能譜譜分析。分析方法：定點分析、線掃描分析、面掃描分析20、在差熱分析曲線上一個峰谷的溫度主要用什么來表征？哪個受實驗條件影響?。恐饕猛馔剖键c溫度和峰值溫度來

17、表征。其中外推始點溫度受實驗條件影響小。21、如何確定外推始點溫度及為何用外推始點作為DTA曲線的反應(yīng)起始溫度？曲線開始偏離基線那點的切線與曲線最大斜率的切線的交點。該交點是最接近熱力學(xué)的平衡溫度。22、影響差熱曲線主要因素有哪些？內(nèi)因：晶體結(jié)構(gòu)、陽離子電負性、離子半徑及電價、氫氧離子濃度。外因：加熱速度、試樣形狀、稱量及裝填、氣氛和壓力、試樣粒度。23、分子振動吸收紅外輻射必須滿足哪些條件？拉曼散射產(chǎn)生的條件？紅外吸收：(1)振動頻率與紅外光譜段某頻率相等；(2)振動分子有偶極矩變化。拉曼散射:分子中某個基團的振動頻率與單色光頻率一致(2)分子的極化率改變。24、紅外吸收光譜的產(chǎn)生，主要是由

18、于分子中什么能級的躍遷？振動或轉(zhuǎn)動能級25、H2O和CO2分子中有幾種振動形式？紅外光譜分析步驟及石膏紅外譜圖分析？H2O:對稱伸縮振動、非對稱伸縮振動、剪式彎曲振動CO2:對稱伸縮振動、非對稱伸縮振動、彎曲振動26、紅外光譜與拉曼光譜的比較？相同點：兩光譜都屬于分子振動光譜不同點：、兩光譜的光源不同：拉曼光譜用單色光很強的激光輻射，頻率在可見光范圍；紅外光譜用的是紅外光輻射源，波長大于1000nm的多色光3、產(chǎn)生機理不同：拉曼光譜是分子對激光的散射，強度由分子極化率決定，其適用于研究同原子的非極性鍵振動，紅外光譜是分子對紅外光的吸收，強度由分子偶極矩決定，其適用于研究不同原子的極性鍵的振動。

19、3、光譜范圍不同：紅外光譜的范圍是4000-400cm-1,拉曼光譜的范圍是4000-40cm-1拉曼光譜的范圍較紅外光譜范圍寬。3、制樣、操作的不同：a、在拉曼光譜分析中水可以作溶劑，但是紅外光譜分析中水不能作為溶劑。b、拉曼光譜分析中樣品可盛于玻璃瓶，毛細管等容器中直接測定，但紅外光譜分析中不能用玻璃容器測定。c、拉曼光譜分析中固體樣品可直接測定,但紅外光譜分析中固體樣品需要研磨制成KBr壓片。27、X射線光電子能譜是一種什么分析方法？采取剝離技術(shù)分析方法還可以進行什么分析？利用X射線光子激發(fā)原子的內(nèi)層電子，產(chǎn)生光電子：不同元素的內(nèi)層能級的電子結(jié)合能具有特定的值；通過測定這些特定的值可定性

20、鑒定除H和He之外的全部元素；對峰的強度采用靈敏度因子法進行定量分析。28、何為化學(xué)位移？化學(xué)位移規(guī)律？由于原子所處化學(xué)環(huán)境不同而引起原子內(nèi)殼層電子結(jié)合能的變化，在譜圖上表現(xiàn)為譜線的位移，該現(xiàn)象稱為化學(xué)位移。規(guī)律：電負性越大，造成的化學(xué)位移就越大。氧化態(tài)越高，造成的化學(xué)位移越大。29、XPS伴線有哪些？并簡明說明之？俄歇線、X射線衛(wèi)星線、多重分裂線、振激振離線、能量損失線、鬼線俄歇線：其產(chǎn)生有連個特征：與X射線源無關(guān)，改變X射線，俄歇線不變；俄歇線是以譜線群的形式出現(xiàn)的。X射線衛(wèi)星線：X射線的伴線能量比主線高，因此樣品XPS中光電子伴峰總是位于主峰的低結(jié)合能一端。多重分裂線：多重分裂峰的相對強

21、度等于終態(tài)的統(tǒng)計權(quán)重。振激振離線：振離峰以平滑連續(xù)譜的形式出現(xiàn)在光電子主峰低動能的一邊，連續(xù)譜的高動能端有一陡限。振激峰也是出現(xiàn)在其低能端，比主峰高幾ev,并且一條光電子峰可能有幾條振激伴線。能量損失線：隨著X射線的波動而波動。鬼線：不確定線30、X射線光電子能譜分析常用的扣靜電（荷電效應(yīng)）方法是什么？31、紅外與拉曼活性判斷規(guī)律？指出下列分子的振動方式哪些具有紅外活性，哪些具有拉曼活性。為什么？（1）O2（2）H2（3）H2O的對稱振動、非對陣振動和彎曲振動（4）CO2的對稱振動、非對稱振動和彎曲振動活性判斷規(guī)律：偶極矩變有紅外活性，反之沒有。極化率變有拉曼活性，反之沒有。有對稱中心的分子其

22、分子振動對紅外和拉曼之一有活性，則另一非話性。無對稱中心的分子其分子振動對紅外和拉曼都是有活性的。（1）O2和H分子的振動具有拉曼活性，因為其振動中并沒有偶極矩的變化，有極化率的變化。（2）H2O的對稱振動、非對陣振動和彎曲振動對紅外和拉曼都具有活性，因為水分子為無對稱中心的分子，其振動同時使偶極矩和極化率產(chǎn)生變化。（3）CO2為中心對稱分子，CO2的對稱振動不伴隨偶極矩的變化，但有極化率的變化，所以這種振動無紅外活性，有拉曼活性。對于非對稱振動和彎曲振動有偶極矩的變化，所以這兩種振動有紅外活性，無拉曼活性。32、X射線粉末衍射法物相定性分析依據(jù)一、X射線衍射線的位置決定于晶胞的形狀和大小，即

23、決定于各晶面的面間距，而衍射線的相對強度則決定于晶胞內(nèi)原子的種類、數(shù)目及排列方式。每種晶態(tài)物質(zhì)都有特定的結(jié)構(gòu)，因而就有其獨特的衍射花樣。二、當試樣中包含兩種或者兩種以上的結(jié)晶物質(zhì)時，他們的衍射花樣會同時出現(xiàn)，而不會互相干涉。于是當我們分析試樣的衍射花樣時，發(fā)現(xiàn)與某種結(jié)晶物質(zhì)相同的衍射花樣時，就可斷定試樣中包含有這種結(jié)晶物質(zhì)。三、國際衍射協(xié)會制定了標準的pdf卡片。33、物相定性分析步驟一、粉末衍射圖的獲得；二、衍射線d值的測定；三、衍射線相對強度的測定；四、查閱索引；五、核對卡片。34、如何提高顯微鏡分辨本領(lǐng)，電子透鏡的分辨本領(lǐng)受哪些條件的限制？由光學(xué)顯微鏡的分辨本領(lǐng)公式：r=061X/nsi

24、na,可知透鏡的分辨本領(lǐng)r值與nsina成反比，與照明源波長成正比，r值越小，分辨本領(lǐng)越高。提高分辨本領(lǐng)，即減小r值的途徑有：（1）增加介質(zhì)的折射率；（2）增大物鏡孔徑半角；（3）采用短波長的照明源電子透鏡的分辨本領(lǐng)受到衍射效應(yīng)、球差、色差、軸上像散等因素的影響。35、與光學(xué)顯微鏡和透射電子顯微鏡比較掃描電鏡有哪些優(yōu)點？一、掃描電鏡制樣簡單，可以對大塊材料直接觀察；二、場深大可以用于粗糙表面和斷口的分析；三、放大倍數(shù)變化范圍大；四、分辨率較高；五、可以進行固體材料表面與界面分析；六、可以通過電子學(xué)方法有效控制和改善圖像質(zhì)量；七、配接其他儀器可以進行其他功能的分析；八、可使用加熱、冷卻和拉伸等樣

25、品臺進行動態(tài)試驗；36、掃描電鏡中二次電子像為什么比背散射電子像的分辨率更高？二次電子像無影像，背散射電子像是有影像的；二次電子來自試樣表面淺層，束斑直徑小，分辨率高，背散射電子來自試樣表面較深層，束斑直徑大。37、熱分析用的參比物有何性能要求？一、測溫范圍內(nèi)不發(fā)生熱效應(yīng)的物質(zhì)；二、比熱和導(dǎo)熱性能與試樣相近；三、粒度與試樣相近。38、紅外光譜振動吸收帶的類型。特征譜帶區(qū)指紅外光譜中振動頻率在4000-1333cm-i之間的吸收譜帶。這一區(qū)域內(nèi)，在不同分子中，和一個特定的基團的振動頻率基本是相同的。指紋譜帶區(qū)指紅外光譜中振動頻率在1333-667cm-i之間的吸收譜帶。這一區(qū)域內(nèi)，吸收帶數(shù)量密集

26、復(fù)雜，每種化合物在結(jié)構(gòu)上的細小差別可以區(qū)別出來。39、闡述紅外光譜定性分析四要素峰數(shù)：譜帶數(shù)目峰位：吸收帶的位置；峰形：譜帶形狀；峰強：譜帶強度。三、綜合題就具體的測試項目根據(jù)你所學(xué)過的現(xiàn)代測試技術(shù)挑選最佳的測試方法（是否能測試，是否是最精確、最快速、最經(jīng)濟等）；（1）尺寸小于5p的礦物的形貌觀察分析；（2）有機材料中化學(xué)鍵的分析鑒定；（3）多晶材料的物相分析鑒定；（4）物質(zhì)的熱穩(wěn)定性的測定；（5）礦物中包裹體或玻璃氣泡中物質(zhì)的鑒定分析；（6）表面或界面元素化學(xué)狀態(tài)分析；（7）晶界上增強相的成分分析；（8）晶界條紋或晶體缺陷（如位錯、層錯等）的觀察分析；（9）納米材料的微結(jié)構(gòu)分析；（10材料的

27、斷口形貌觀察1，尺寸小于5pm的礦物的形貌觀察分析一一描電鏡掃描電鏡的試樣為塊狀或粉末顆粒，具有相當?shù)姆直媛剩话銥?6nm，最高可達2nm。2，有機材料中化學(xué)鍵的分析鑒定一紅外光譜分析紅外光譜法主要可以用作分子結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)研究和物質(zhì)化學(xué)組成（物相）的分析。其中，紅外光譜法作分子結(jié)構(gòu)的研究可以測定分子的鍵長、鍵角大小，并判斷分子的立體結(jié)構(gòu)3,多晶材料的物相分析一X射線物相分析（XRD）粉末照相法（粉末法或粉晶法）和衍射儀法可用來進行物相定性、定量分析，測定晶體結(jié)構(gòu)，晶粒大小及應(yīng)力狀態(tài)，還可以用來精密測定晶格常熟等。4，相變溫度的測定差熱分析（DTA）差熱分析方法能教精確地測定和記錄一些物質(zhì)在加熱過程中發(fā)生地失水、分解、相變、氧化還原、升華、熔融、晶格破壞、和重建，以及物質(zhì)間的相互作用等一系列的物理化學(xué)現(xiàn)象，并借以判定物質(zhì)的組成及反應(yīng)機理。5，礦物中包裹體或玻璃氣泡中物質(zhì)的鑒定一電子探針X射線顯微分析/拉曼光譜拉曼光譜可以用很低的頻率進行測量，特別是可以測定水溶液樣品，固體粉末樣品不必要特殊制樣處理。電子探針X射線顯微分析（EPMA）特別適用于分析試樣中微小區(qū)域的化學(xué)成分，是研究材料組織結(jié)構(gòu)和元素分布狀態(tài)的極為有用的分析方法。6，表面或界面元素化學(xué)狀態(tài)分析