SPCのCPK實(shí)戰(zhàn)篇ppt課件

1、SPC及CPK實(shí) 戰(zhàn) 篇1.1六西格碼在控制中的應(yīng)用廣義的六西格碼是一個(gè)完善的管理工具是品質(zhì)管理系統(tǒng)的一種說(shuō)法單純的六西格碼控制應(yīng)用是一種質(zhì)量控制的目標(biāo)請(qǐng)看以下說(shuō)法正確與否 我公司已經(jīng)實(shí)施了六西格碼管理 我公司達(dá)到了六西格碼的要求 通過(guò)六西格碼管理公司品質(zhì)上了一個(gè)臺(tái)階一六西格碼2.2六西格碼與不良率: Kr 百分比(%) 百萬(wàn)分缺點(diǎn)數(shù) 1r 2r 3r 4r 5r 6r 68.26 95.45 99.73 99.9937 99.999943 99.9999998 317400 45500 2700 63 0.57 0.002(規(guī)格中心不偏移)常態(tài)分配規(guī)格下限規(guī)格上限-6r-5r-4r-3r-2

2、r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX423. Kr 合格百分比(%) 百萬(wàn)分缺點(diǎn)數(shù) 1r 2r 3r 4r 5r 6r 30.23 69.13 93.32 99.3790 99.97670 99.999660 697700 308700 66810 6210 233 3.4規(guī)格中心值往左、右移動(dòng)1.5r常態(tài)分配規(guī)格下限規(guī)格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX1.5r1.5r434.3控制方式與6控制方式的比較：5.? ? ?兩個(gè)影響量 1的變化 2的變化 2 1e-2 22F(x)=(x-)6.二SPC與CPK1區(qū)別與聯(lián)系CPK斷定短期的制程

3、才干可以用來(lái)解析目前的制程才干或用來(lái)檢驗(yàn)制程才干能否在控制狀況下SPK長(zhǎng)期的制程才干主要用在制程控制上。兩者配合運(yùn)用應(yīng)該做到短期=長(zhǎng)期7.2影響量-標(biāo)準(zhǔn)差Sigma8.實(shí)例(Sigma較大離散性問(wèn)題).3影響量-中心偏移量10.CPK實(shí)例分析(離散性較小中心偏移量影響)11.4CPK 改善的方向及目標(biāo)12.5控制圖的判別在計(jì)量值服從常態(tài)分布的生產(chǎn)特性下最常用的控制圖是Xbar-R控制圖。常用的控制圖a、X bar R控制圖 計(jì)量值、正態(tài)分布b、不合格品百分率p控制圖 計(jì)件值、二項(xiàng)分布c、不合格品數(shù)np控制圖 (計(jì)件值、二項(xiàng)分布)d、缺陷率u控制圖 (計(jì)點(diǎn)值、泊松分布e、缺陷數(shù)c控制圖 (計(jì)點(diǎn)值

4、、泊松分布f、DPMO控制圖 (計(jì)點(diǎn)值、泊松分布13.1414.214.414.614.81515.215.415.615.8折線(xiàn)圖 1!5.1穩(wěn)定原那么-異常處理原那么一:不可超出控制界限14.14.214.414.614.81515.215.415.6折線(xiàn)圖 15.1穩(wěn)定原那么-預(yù)防處理原那么二:不可呈現(xiàn)規(guī)律變動(dòng)延續(xù)7點(diǎn)上升或下降呈現(xiàn)規(guī)律性動(dòng)搖,具有顯著的動(dòng)搖周期15.14.214.414.614.81515.215.415.6東部5.1穩(wěn)定原那么-預(yù)防處理原那么二:不可呈現(xiàn)規(guī)律變動(dòng)延續(xù)7點(diǎn)在控制界限一側(cè)延續(xù)11點(diǎn)中,有10點(diǎn)在控制界限一側(cè)(延續(xù))16.5.1穩(wěn)定原那么-預(yù)防處理原那么三:

5、不可過(guò)于集中分布顯著多于2/3的點(diǎn)集中在CL附近:即90%的數(shù)據(jù)在1 線(xiàn)以?xún)?nèi)顯著少于40%的數(shù)據(jù)落在1 線(xiàn)以?xún)?nèi)數(shù)據(jù)集中分布在2 到控制線(xiàn)之間(超越2/3)3點(diǎn)中,有兩點(diǎn)接近一側(cè)之控制界限7點(diǎn)中,有3點(diǎn)以上接近控制界限原那么四:符合過(guò)程才干要求17.5.2長(zhǎng)期控制符合以下條件,可將控制圖用于長(zhǎng)期控制:過(guò)程穩(wěn)定符合過(guò)程才干的要求再搜集15組數(shù)據(jù),無(wú)異常情形利用曾經(jīng)算出之控制界限進(jìn)展控制按要求搜集數(shù)據(jù),并進(jìn)展控制分析/控制在以下情況下,重新計(jì)算控制界限:初次過(guò)程才干研討,異常消除時(shí)對(duì)4M1E進(jìn)展艱苦改良時(shí)產(chǎn)品修正時(shí)經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期運(yùn)轉(zhuǎn)后18.現(xiàn)象可能原因處理分布不穩(wěn)定計(jì)算錯(cuò)誤數(shù)據(jù)未層別查清原因,重新計(jì)算存在

6、特殊原因查清原因,予以消除過(guò)程能力不足過(guò)于分散平均值偏移采用管理性/技術(shù)性措施,進(jìn)行改進(jìn)5.3異常處理可以采取的措施有效后, 規(guī)范化處置19.三制程控制實(shí)例1CPK解析目的 通過(guò)集中量測(cè)解析目前的制程才干得出制程管控要求對(duì)制程管控要求進(jìn)行分析解析出合理的制程管控上下限。實(shí)例分析以解析錫膏厚度的管控上下限為例集中量測(cè)25組錫膏厚度數(shù)據(jù)每組由5個(gè)量測(cè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)計(jì)算CPK值斷定能否合理計(jì)算上下控制線(xiàn)。20.1.1集中量測(cè)25組錫膏厚度數(shù)據(jù)21.1.2計(jì)算CPK值Sigma= (Xi-Xbar)2/(n-1) 其中 i=1 to n =0.00312CP=T/(6*Simga)=(0.16-0.12)/

7、(6*0.00312)=2.75K=|Xbar-SL|/T/2=|0.832-0.140|/0.02=0.0084CPK=CP(1-K)=2.75(1-0.0084)=2.1188斷定CPK為2.11881.67屬于制程才干充分的狀態(tài)下22.1.3計(jì)算控制上下限上控制界限:UCL= Xbar +3*Sigma=0.832+3*0.00312=0.149192下控制界限:LCL= Xbar - 3*Sigma =0.832-3*0.00312=0.13047223.1.4控制圖24.1.5解析控制上下限上控制界限:UCL= 0.149192實(shí)際控制上限= 0.150 在實(shí)際解析中假設(shè)測(cè)量的點(diǎn)比較

8、分散可以適當(dāng)放寬解析上限再定期檢討縮緊控制上限到理論值。下控制界限:LCL= 0.130472實(shí)際控制下限= 0.130在實(shí)際解析中假設(shè)測(cè)量的點(diǎn)比較分散可以適當(dāng)放寬解析下限再定期檢討縮緊控制下限到理論值。25.2SPC控制 將CPK解析的控制上下限作為SPC的控制上下線(xiàn) 定時(shí)對(duì)生產(chǎn)制程進(jìn)行量測(cè)這個(gè)時(shí)間可以是每天或每班 檢查每次的量測(cè)結(jié)果能否在管控范圍內(nèi) 量測(cè)點(diǎn)超出管控線(xiàn)需求立刻檢討制程尋找出緣由 定期(每月或每周)對(duì)近期的控制圖進(jìn)行分析檢查能否有不收控制的趨勢(shì)(如周期變動(dòng)連續(xù)7點(diǎn)連續(xù)11點(diǎn)等)。26.2.1SPC控制圖27.2.2控制圖的難點(diǎn) CPK解析時(shí)存在中心偏移量較大的情況 CPK解析時(shí)

9、數(shù)據(jù)離散性較大Sigma較大 SPC控制時(shí)控制上下限太嚴(yán)導(dǎo)致經(jīng)常跑出控制線(xiàn) 量測(cè)點(diǎn)都在控制界限內(nèi)能否代表制程良好28.3SPC & CPK控制的步驟四個(gè)步驟3.1 CPK改進(jìn)3.2 CPK解析3.3SPC控制及改進(jìn)3.4PDCA29.3.1CPK改進(jìn)-中心偏移量SLCLCP=2.75K=0.5084CPK=1.0530.3.1CPK解析-消除中心偏移量CL SLCP=2.75K=0.0084CPK=2.118831.3.1CPK解析-消除中心偏移量圖SL32.3.2CPK解析-穩(wěn)定性離散性原則CPK解析時(shí)Sigma較大 CP 2 CPK 1.67具體解析過(guò)程可以用Xbar-R 控制分析法難33

10、.3.2CPK解析-Xbar-R 分析步驟 1計(jì)算XbarRXbar.barRbar 2計(jì)算R的管控線(xiàn)并判斷 3剔除異常的點(diǎn)(超出規(guī)格的)查找異常的緣由 4重復(fù)123步驟直到全部在管控范圍內(nèi) 5計(jì)算Xbar的管控線(xiàn)并判斷 6剔除異常的點(diǎn)(超出規(guī)格的)查找異常的緣由 7重復(fù)1到6步驟直到全部在管控范圍內(nèi) 8落實(shí)查找出來(lái)的改善措施 9再次復(fù)驗(yàn)。34.1計(jì)算XbarRXbar.barRbarR.UCL=D4*R.bar =2.12*0.0127=0.02694R.LCL=D3*R.bar =0*0.013=035.2計(jì)算R的管控線(xiàn)此時(shí)的X.bar圖異常點(diǎn)36.3重新計(jì)算-剔除R圖中的不合格點(diǎn)(第2點(diǎn)

11、)剔除后X.bar.bar及R.bar值均發(fā)生變化。R圖符合要求。37.4計(jì)算Xbar的管控線(xiàn)UCL= Xbar.bar+A2*Rbar=0.14043+0.577*0.012=0.147354LCL= Xbar.bar -A2*Rbar =0.14043-0.577*0.012=0.13350638.5剔除異常的點(diǎn)(超出規(guī)格的)查找異常的緣由異常點(diǎn)異常點(diǎn)39.6重新計(jì)算-剔除第512點(diǎn)Xbar.barRbar都需求重新計(jì)算檢查R圖符合要求40.6重新計(jì)算-檢查X.bar能否符合控制要求41.7落實(shí)改善措施及延長(zhǎng)控制線(xiàn) 將第2點(diǎn)和第512點(diǎn)出現(xiàn)異常的緣由進(jìn)行分析一定要追蹤落實(shí)改善 用以下公式得到控制用控制線(xiàn)UCL= Xbar +3*SigmaLCL= Xbar - 3*Sigma 42.3.