DOE全因子分析

1、2實(shí)際觀測值與擬合值之差;殘差:正常情況下，如果模型確實(shí)能夠反映數(shù)在情況，則殘差應(yīng)滿足如下假定：1、具有時間獨(dú)立性；2、來自穩(wěn)定受控總體；3、對輸入因子的所有水平有相等的總體方差；4、符合正態(tài)分布；2使用MTB進(jìn)行殘差診斷，主要使用圖形方法：在使用殘差診斷時出岀下列4種圖形：殘差對觀測順序的散點(diǎn)圖：1、以殘差為縱軸，以時間T為橫軸；運(yùn)根圖數(shù)獨(dú)差與一而程斷否殘圖，游判是行致?lián)蓳?jù)立擬散以縱擬橫對的為以為差值圖差，值殘合點(diǎn)殘軸合軸在0附近表示觀測值與擬合值相近，應(yīng)該代表模型較準(zhǔn)確；正累比，為于量殘各為的率以分軸差；對變點(diǎn)以縱以量:差概百縱殘軸差自散為，變軸殘態(tài)圖計為以橫殘各的圖差軸自橫態(tài)E圖率概正

2、常情況殘差與響應(yīng)變量的散點(diǎn)圖；4合一右上角與擬合殘差呈現(xiàn)喇叭口，一般說對于y的線性模型與數(shù)據(jù)扌合不好，對y作個變換會左好，如將y取平方根、取只鐵取何蓼L變量的散點(diǎn)圖具體分析：出現(xiàn)彎曲，說明y對于x的線性模型與數(shù)據(jù)擬合不好，應(yīng)增加x的高階，方法與y平方根擬合類似；常見殘塞圖類型此圖易出現(xiàn)在以橫軸為實(shí)驗順序的散點(diǎn)圖中；實(shí)矗中出現(xiàn)了某種系統(tǒng)的但未知的干擾原因，要對試驗過程或數(shù)據(jù)收集過程進(jìn)行更仔細(xì)分析，找出異常原因，通常要重新試驗或收集數(shù)據(jù):殘差與擬合值的四合一圖：y的線性數(shù)合主合觀與擬，四中型的果從圖模據(jù)效要一測;強(qiáng)度殘差圖左邊2張圖上要觀測殘差數(shù)據(jù)是否呈正態(tài)分布與擬合值宜方圖殘差與自2、變量的散點(diǎn)

3、圖殘差與加熱溫度殘差與加熱時何（響應(yīng)為響應(yīng)為強(qiáng)哎）10-10-5-5-A.0-5-5-820830840S50S602.02.22.*42.6加給沮度加熱時間殘差與轉(zhuǎn)換時間殘差與保溫時間（響應(yīng)為恢度1響應(yīng)為甥哎）10-10-5-5-AM-5-50525456保沮時伺防止漏判，特別是關(guān)于殘差對擬合預(yù)測值的圖中是否出現(xiàn)了方差非齊性3、（喇叭口或漏斗型）的狀況，可調(diào)用宏程序，根據(jù)入=1時，殘差平方和藍(lán)色曲線是否在紅色虛線下方；具體操作如下：宏指令格式如下：%boxcoxdoeympc21-c60y：響應(yīng)變量所在列最析計求“陣/殳，分設(shè)要了矩稱陣始子，儲計；名C9m:矩開因時存設(shè)”P：自變量數(shù)量（包括

4、常數(shù)項）；可以查詢矩陣時得到自變量個數(shù)；如下圖：c21-c60:為計算機(jī)留岀的可供隨意使用的40個空白列，是能能”設(shè)不不40先，也“事定多少M(fèi)initab-無標(biāo)鬆ProjectManager六西梧瑪兇U文牛E編皐Q數(shù)馳計算統(tǒng)計囹形篇霍Q）工具窗口越）剛H）協(xié)助（N03xCiEln躺坐竺旺丁口0。LWS2aAi|繆名稱Idfi列說明XMAT1Ml1911Ml：存儲的矩陣行：實(shí)驗次數(shù)列：自變量個數(shù)無碇編歷史記錄Q囹形ReportPad相5Q工作表-BDOE址理逢因列”臼|二邑兩水三的因子E2、編輯命令行編輯器輸入上述命令如下圖:Box-CoxTransformationsVithapproxiaate95%confidncintervalforthetransforaionparaatterlambda明如果模型與數(shù)據(jù)擬合不好，在響應(yīng)變量一旁新建一列，如變換平方根，則對響應(yīng)變量作平方根后重新擬合，如果模型效果好，而計算出來的方程是根據(jù)平方根擬合，因此得出響應(yīng)變量則在半方根的結(jié)果再平方才能得到；喇叭型”:左圖正常;此圖對應(yīng)上圖（4）觀測殘差是否隨機(jī)地在水平軸上無規(guī)則波動；一旦出現(xiàn)上圖（4）中的情況，則需要重新進(jìn)行實(shí)驗；觀測順序即為實(shí)驗順序;左側(cè)圖對應(yīng)上