GB∕T 5095.2503-2021 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法 第25-3部分：試驗(yàn)25c：上升時(shí)間衰減

ICS3122010

L23..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T50952503—2021/IEC60512-25-32001

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電子設(shè)備用機(jī)電元件

基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法

第25-3部分試驗(yàn)25c上升時(shí)間衰減

::

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-3Test25cRisetimederadation

::g

(IEC60512-25-3:2001,Connectorsforelectronicequipment—

Testsandmeasurements—Part25-3:Test25c:Risetimedegradation,IDT)

2021-03-09發(fā)布2021-10-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T50952503—2021/IEC60512-25-32001

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

總則

1………………………1

范圍和目的

1.1…………………………1

術(shù)語和定義

1.2…………………………1

試驗(yàn)設(shè)施

2…………………1

設(shè)備

2.1…………………1

裝置

2.2…………………2

試驗(yàn)樣品

3…………………2

說明

3.1…………………2

試驗(yàn)程序

4…………………3

插入法

4.1………………3

標(biāo)準(zhǔn)裝置法

4.2…………………………3

上升時(shí)間衰減計(jì)算

4.3…………………3

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定的細(xì)則

5…………………3

試驗(yàn)記錄文件

6……………3

附錄規(guī)范性附錄裝置和設(shè)備示意圖

A()………………5

附錄資料性附錄實(shí)用指南

B()…………8

Ⅰ

GB/T50952503—2021/IEC60512-25-32001

.:

前言

電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法按試驗(yàn)方法分為若干部分

GB/T5095《》。

的第部分為信號(hào)完整性試驗(yàn)已經(jīng)發(fā)布或計(jì)劃發(fā)布的部分如下

GB/T509525,:

第部分試驗(yàn)串?dāng)_比

———25-1:25a:;

第部分試驗(yàn)衰減插入損耗

———25-2:25b:();

第部分試驗(yàn)上升時(shí)間衰減

———25-3:25c:;

第部分試驗(yàn)傳輸時(shí)延

———25-4:25d:;

第部分試驗(yàn)回波損耗

———25-5:25e:;

第部分試驗(yàn)眼圖和抖動(dòng)

———25-6:25f:;

第部分試驗(yàn)阻抗反射系數(shù)和電壓駐波比

———25-7:25g:、(VSWR);

第部分信號(hào)完整性試驗(yàn)試驗(yàn)外來串?dāng)_

———25-9:25i:。

本部分為的第部分

GB/T509525-3。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻譯法等同采用電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測量第部

IEC60512-25-3:2001《25-3

分試驗(yàn)上升時(shí)間衰減

:25c:》。

本部分做了下列編輯性修改

:

標(biāo)準(zhǔn)名稱由電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測量第部分試驗(yàn)上升時(shí)間衰減修改為

———《25-3:25c:》

電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法第部分試驗(yàn)上升時(shí)間衰減

《25-3:25c:》。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任

。。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國電子設(shè)備用機(jī)電元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC166)。

本部分起草單位四川華豐企業(yè)集團(tuán)有限公司中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院

:、。

本部分主要起草人龐斌朱茗肖淼劉俊汪其龍

:、、、、。

Ⅲ

GB/T50952503—2021/IEC60512-25-32001

.:

電子設(shè)備用機(jī)電元件

基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法

第25-3部分試驗(yàn)25c上升時(shí)間衰減

::

1總則

11范圍和目的

.

的本部分適用于電連接器插座電纜組件或互連系統(tǒng)

GB/T5095、、。

本部分描述了測量樣品對通過其中信號(hào)的上升時(shí)間所產(chǎn)生影響的方法

。

12術(shù)語和定義

.

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

121

..

上升時(shí)間衰減risetimedegradation

樣品插入傳輸通道時(shí)達(dá)到理論上理想的零上升時(shí)間電壓階躍的上升時(shí)間增量見圖采用

,()(1)。

的高斯信號(hào)從的上升時(shí)間衰減的計(jì)算式見式

10%~90%(1):

T=T2-T2

r,d(r)(r,m)…………(1)

式中

:

T上升時(shí)間衰減

r,d———;

T測量的上升時(shí)間

r———;

T測量系統(tǒng)上升時(shí)間

r,m———。

122

..

測量系統(tǒng)上升時(shí)間measurementsystemrisetime

安裝就位無樣品并具有濾波或歸一化作用的裝置測量的上升時(shí)間通常測量的是從

,()