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文檔簡介
1、. STS 8105A 快速運(yùn)用編程指南:.;第 PAGE 62頁混合信號測試系統(tǒng)STS 8105A快速運(yùn)用編程指南Rev 1.01北京華峰測控技術(shù)目 錄 TOC h z t YY-標(biāo)題1級,1,YY-標(biāo)題2級,2,款式1,3,款式3,2 HYPERLINK l _Toc291595166 1.關(guān)于本指南 PAGEREF _Toc291595166 h 2 HYPERLINK l _Toc291595167 2.認(rèn)識STS 8105A系統(tǒng) PAGEREF _Toc291595167 h 3 HYPERLINK l _Toc291595168 3.認(rèn)識和區(qū)分系統(tǒng)的常用模塊選讀 PAGEREF _
2、Toc291595168 h 6 HYPERLINK l _Toc291595178 4.從開機(jī)到測試一組已有程序的器件 PAGEREF _Toc291595178 h 9 HYPERLINK l _Toc291595179 4.1.開機(jī) PAGEREF _Toc291595179 h 9 HYPERLINK l _Toc291595180 4.2.啟動系統(tǒng)軟件 PAGEREF _Toc291595180 h 9 HYPERLINK l _Toc291595181 4.3.調(diào)入測試程序 PAGEREF _Toc291595181 h 12 HYPERLINK l _Toc291595182 4
3、.4.設(shè)置 PAGEREF _Toc291595182 h 13 HYPERLINK l _Toc291595183 4.5.選擇適配器并插上被測器件 PAGEREF _Toc291595183 h 16 HYPERLINK l _Toc291595184 4.6.器件序號如無編號要求或編號延續(xù)可以跳過此步驟 PAGEREF _Toc291595184 h 17 HYPERLINK l _Toc291595185 4.7.啟動測試 PAGEREF _Toc291595185 h 18 HYPERLINK l _Toc291595186 4.8.改換測試種類 PAGEREF _Toc291595
4、186 h 19 HYPERLINK l _Toc291595187 4.9.退出器件測試 PAGEREF _Toc291595187 h 19 HYPERLINK l _Toc291595188 5.STS8105A系統(tǒng)運(yùn)用本卷須知 PAGEREF _Toc291595188 h 20 HYPERLINK l _Toc291595189 6.對已有測試程序進(jìn)展簡單修正 PAGEREF _Toc291595189 h 21 HYPERLINK l _Toc291595190 6.1.選擇測試參數(shù) PAGEREF _Toc291595190 h 21 HYPERLINK l _Toc291595
5、191 6.2.修正參數(shù)標(biāo)識 PAGEREF _Toc291595191 h 22 HYPERLINK l _Toc291595192 6.3.調(diào)整參數(shù)順序 PAGEREF _Toc291595192 h 23 HYPERLINK l _Toc291595193 6.4.修正參數(shù)判據(jù) PAGEREF _Toc291595193 h 24 HYPERLINK l _Toc291595194 6.5.修正完成后進(jìn)展測試 PAGEREF _Toc291595194 h 26 HYPERLINK l _Toc291595195 7.在已有程序模板的根底上開發(fā)新種類程序 PAGEREF _Toc2915
6、95195 h 27 HYPERLINK l _Toc291595196 8.設(shè)計(jì)一個(gè)電阻測試實(shí)驗(yàn) PAGEREF _Toc291595196 h 34 HYPERLINK l _Toc291595197 8.1.實(shí)驗(yàn)要求 PAGEREF _Toc291595197 h 34 HYPERLINK l _Toc291595198 8.2.測試方案的制定 PAGEREF _Toc291595198 h 34 HYPERLINK l _Toc291595199 8.3.適配器的制造 PAGEREF _Toc291595199 h 36 HYPERLINK l _Toc291595200 8.4.PG
7、S程序的編制 PAGEREF _Toc291595200 h 38 HYPERLINK l _Toc291595201 8.5.填寫C言語代碼 PAGEREF _Toc291595201 h 42 HYPERLINK l _Toc291595202 9.STS8105A系統(tǒng)運(yùn)用 進(jìn)階與提高 PAGEREF _Toc291595202 h 49 HYPERLINK l _Toc291595203 9.1.精細(xì)電壓基準(zhǔn)AD581測試中PVM的運(yùn)用實(shí)例 PAGEREF _Toc291595203 h 49 HYPERLINK l _Toc291595204 9.2.PWM脈寬調(diào)制器UC1524測試中
8、TMU的運(yùn)用實(shí)例 PAGEREF _Toc291595204 h 52 HYPERLINK l _Toc291595206 10.簡單缺點(diǎn)處置 PAGEREF _Toc291595206 h 57 HYPERLINK l _Toc291595207 11.附件 PAGEREF _Toc291595207 h 58關(guān)于本指南 歡迎閱讀以下簡稱本指南。本指南可以快速指點(diǎn)您認(rèn)識STS 8105A混合信號測試系統(tǒng)以下簡稱STS 8105A,并指點(diǎn)您進(jìn)展STS 8105A系統(tǒng)的測試操作、編程以及深化的開發(fā)。本指南適用于希望更加深化掌握STS8105A運(yùn)用和編程技巧的人員作為參考,也適用于培訓(xùn)人員以此為教
9、材對STS8105A用戶進(jìn)展培訓(xùn)。本指南由淺入深引見了STS8105A系統(tǒng)的組成、根本測試操作、PGS編程以及涉及C言語編程的測試程序設(shè)計(jì)。請您根據(jù)您的需求進(jìn)展選擇性閱讀。請妥善保管好此指南,以便一切運(yùn)用STS 8105A的人員都可以閱讀。如今進(jìn)入本指南的第一部分,帶您認(rèn)識STS 8105A測試系統(tǒng)。認(rèn)識STS 8105A系統(tǒng)STS 8105A混合信號測試系統(tǒng)是北京華峰測控技術(shù)開發(fā)的STS 8000系列測試產(chǎn)品之一,適用于通用A/D、D/A、數(shù)字集成電路、運(yùn)算放大器、電壓比較器、采樣堅(jiān)持器、電壓跟隨器、精細(xì)電壓基準(zhǔn)、時(shí)基電路、達(dá)林頓晶體管陣列等各類模擬器件的交、直流參數(shù)測試。STS 8105A
10、測試系統(tǒng)有如下主要特點(diǎn):測試原理符合國標(biāo)、軍標(biāo)和行業(yè)規(guī)范;超越20位的高精度恣意波形發(fā)生器(AWG)和電壓基準(zhǔn),可以全碼測試12位A/D、D/A的零位誤差、增益非線性誤差、積分非線性誤差等參數(shù);具有四個(gè)高性能可獨(dú)立編程的輔助運(yùn)放環(huán),本板帶16位ADC和可編程放大器,可適用于各種多路模擬器件的并行測試;DUT電流范圍高達(dá)10A,滿足功率運(yùn)放的測試要求;可進(jìn)展壓擺率SR+/SR-、增益帶寬積BW等動態(tài)參數(shù)的測試;失調(diào)電壓測試分辨力高達(dá)0.01uV,偏置電流測試分辨力高達(dá)0.05pA;可在40V的共模電壓上疊加uV、mV級精細(xì)差模電壓;支持輸入微小精細(xì)電壓掃描測試方法,測試失調(diào)電壓與滯回電壓。STS
11、 8105A系統(tǒng)主要由:PC機(jī)內(nèi)置測試主機(jī)系統(tǒng)總線接口卡、測試頭系統(tǒng)總線接口卡和測試顯示控制接口卡測試主機(jī)輸入/輸出電纜測試頭測試品種類別板測試適配器顯示控制盒系統(tǒng)軟件校準(zhǔn)盒選配吉時(shí)利2000或安捷倫34401數(shù)字多用表選配等幾部分構(gòu)成。需求向您特別闡明的是:PC機(jī)主板必需擁有三個(gè)或三個(gè)以上的PCI總線插槽,至少一個(gè)RS232串口,至少一個(gè)可用的USB口;兩塊系統(tǒng)總線接口卡和一塊測試顯示控制接口卡插在PC機(jī)主板的PCI總線插槽內(nèi)。系統(tǒng)總線接口卡分為測試儀主機(jī)用和測試頭用,外電纜接口一樣但不能連錯(cuò),以上三塊卡需求正確安裝驅(qū)動才干正常任務(wù);USB電纜可以熱插拔,測試主機(jī)和PC機(jī)相連以及測試頭和PC
12、機(jī)相連的通訊電纜、RS232串口電纜均不可熱插拔,需求銜接或摘除此類電纜時(shí)應(yīng)保證至少一端斷電,否那么有能夠損壞儀器;一臺STS 8105A系統(tǒng)可以配備多塊類別板,一塊類別板可以配備多塊適配器。但一個(gè)適配器只適用于一種類別板,不可在其它類別板上運(yùn)用;測試盒和數(shù)字多用表為選配產(chǎn)品,用于校準(zhǔn)系統(tǒng),不用時(shí)請妥善保管。校準(zhǔn)安裝在校準(zhǔn)周期滿或需求驗(yàn)證儀器性能完好時(shí)運(yùn)用;請維護(hù)好類別板和適配器歐式插座上的插針,運(yùn)用前請檢查插針無折斷,壓彎,插入類別板或適配器時(shí)應(yīng)對正后均勻用力,使接觸可靠。 目前可以提供如下類別板供您選配:SH 8201AD/DA類別板SH 8202模擬開關(guān)類別板SH 8203運(yùn)放類別板SH
13、 8205通用數(shù)字類別板SH 8210通用類別板SH 8204 PWM類別板SH 8211綜合類別板電壓基準(zhǔn)、采保、跟隨器SH 8215模擬乘法器類別板SH 8223單結(jié)晶體管測試類別板SH 82243656隔離放大器類別板公用認(rèn)識和區(qū)分系統(tǒng)的常用模塊選讀SM 8002 雙通道功率電壓電流源 (PVI)SM 8002 雙通道功率電壓電流源 (PVI) 模塊提供兩個(gè)一樣的精細(xì)四象限恒壓、恒流、測壓、測流通道。在STS8105A系統(tǒng)中PVI主要為數(shù)字或模擬被測器件提供可編程電源或用于大功率器件的輸入輸出電壓及電流的測試。PVI模塊的主要性能如下:全四象限電壓/電流操作開爾文測試原理到用戶板DUT卡
14、40V電壓范圍六個(gè)電流量程,10A脈沖,1A,100mA,10mA,1mA,100uA窗口式電壓 / 電流箝位維護(hù)SM 8009 四路電壓電流源 (QVI)SM 8009 四路電壓電流源 (QVI) 模塊是 STS 8105A系統(tǒng)中的規(guī)范模塊,提供四個(gè)一樣的精細(xì)四象限恒壓、恒流、測壓、測流通道。QVI模塊的主要性能如下:全四象限電壓/電流操作開爾文測試原理到被測器件DUT40V電壓范圍六個(gè)電流量程,1A脈沖,100mA,10mA,1mA,100uA,10uA窗口式電壓/電流箝位維護(hù)模塊每通道自帶16位ADC比較以上兩個(gè)模塊,可以看出:PVI模塊由于擁有更大的電流檔位10A,所以習(xí)慣多用于為被測
15、器件提供可編程電源或用于大功率器件的輸入輸出電壓及電流的測試;QVI模塊由于擁有更加準(zhǔn)確的電流測試才干最小檔位為10uA,所以多用于為各個(gè)不要求功率的管腳設(shè)置電平,或丈量其電壓或電流。由于每種器件此類管腳較多,所以更多路的QVI可以更有利于方便靈敏的測試;PVI和QVI模塊常運(yùn)用于恒壓測流FVMI和恒流測壓FIMV方式下。SM 8004精細(xì)電壓表PVMSM 8004精細(xì)電壓表PVM模塊用于提供雙通道16Bit模數(shù)轉(zhuǎn)換功能。PVM模塊的主要性能如下:高輸入阻抗單端 / 差分輸入方式可編程增益、偏置電壓及觸發(fā)電平抗混疊濾波高速、高精度及多點(diǎn)延續(xù)自動數(shù)據(jù)采集超限報(bào)警我們可以看出:PVM模塊由于更豐富
16、的電壓丈量方式和更高的精度,多用于精細(xì)電壓的丈量。如要丈量10V精細(xì)電壓基準(zhǔn)的輸出電壓,可以設(shè)置偏置電壓為10V,然后選用適宜的增益檔位如10或100進(jìn)展丈量;適宜的運(yùn)用PVM丈量電壓,會獲得比用PVI和QVI更佳的丈量效果。SM 8007 用戶卡控制單元 (C-BIT)SM 8007 用戶卡控制單元 (C-BIT) 提供128個(gè)控制位BIT,為主機(jī)和測試頭以外的類別板或適配器、用戶自制的測試板DUT卡上的繼電器提供控制位以及測試電路的任務(wù)電源,STS 8105A系統(tǒng)最多支持2塊C-BIT模塊任務(wù),其主要性能如下:輸出TTL電平,并可控制530V繼電器100mA電流負(fù)載才干需求強(qiáng)調(diào)的是:在涉及
17、到C言語的測試程序編制中,用戶需求了解類別板和適配器上Cbit位的運(yùn)用情況,并經(jīng)過編程控制繼電器搭接測試線路。STS 8105A運(yùn)用的模塊還有:SM 8015 精細(xì)交流源表單元ACSM提供高精度高穩(wěn)定性的交流信號源和低速、高速、高精度的交流信號丈量功能。SM 8016 四通道時(shí)間丈量單元QTMU提供四通道高精度時(shí)間信號丈量功能。SH 8112 數(shù)字通道模塊DCM為混合系統(tǒng)提供完好的8路數(shù)字通道支持。SH 8114 雙運(yùn)放環(huán)模塊OPL模塊提供兩路供運(yùn)放、比較器測試閉環(huán)參數(shù)所用的輔助運(yùn)放環(huán)。SH 8113 恣意波形發(fā)生器模塊AWG提供一個(gè)類似高精度、低速度的AWG,能實(shí)現(xiàn)測試A/D、D/A芯片時(shí)的
18、硬件掃描功能。整個(gè)模塊包括與PC機(jī)銜接的總線接口、與系統(tǒng)內(nèi)其它模塊銜接的同步接口、DAC RAM、DAC以及相應(yīng)的控制邏輯電路和模擬電路,是ADC/DAC測試的中心模塊。從開機(jī)到測試一組已有程序的器件本章以測試已有測試程序的通用運(yùn)算放大器AD711J為例,引見運(yùn)用STS 8105A系統(tǒng)進(jìn)展芯片測試的規(guī)范步驟,以及每一步驟下的本卷須知,重點(diǎn)在于引見一種該做的、完備的操作方法,保證用戶按此方法可以正確的完成測試,并培育運(yùn)用者良好的儀器運(yùn)用習(xí)慣。開機(jī)開機(jī)前應(yīng)確認(rèn):測試儀主機(jī)電源線銜接正常;測試儀主機(jī)與 PC 機(jī)之間、測試頭與PC機(jī)之間通訊電纜銜接正常;測試類別板選擇正確與要測試器件類型相符,并與測試
19、頭之間銜接正常;正確安裝了系統(tǒng)軟件及相關(guān)驅(qū)動程序。由于要測試的AD711J屬于運(yùn)算放大器,所以我們應(yīng)該選擇SH 8203運(yùn)放類別板并將該類別板在斷電情況下插到測試頭上。翻開測試儀主機(jī)電源開關(guān),電源開關(guān)指示燈應(yīng)點(diǎn)亮,測試儀主機(jī)內(nèi)應(yīng)細(xì)微風(fēng)扇聲。如開機(jī)發(fā)現(xiàn)有不正常景象,請參照常見缺點(diǎn)處置。如開機(jī)正常,即可進(jìn)入下一步驟。啟動系統(tǒng)軟件雙擊 Windows 桌面上的 STS 8105A 測試系統(tǒng)圖標(biāo),即可啟動系統(tǒng)軟件,系統(tǒng)軟件啟動后將在屏幕上顯示登陸窗口。填寫正確的用戶名和密碼,初始的用戶名和密碼均為admin。登錄勝利后,假設(shè)主機(jī)的電源已開啟,系統(tǒng)會首先進(jìn)展自檢,自檢后出現(xiàn)自檢完成界面,顯示自檢結(jié)果。
20、點(diǎn)擊OK按鈕系統(tǒng)會進(jìn)入控制臺界面:點(diǎn)擊控制臺界面Station A按鈕進(jìn)入測試操作的主界面:至此系統(tǒng)軟件勝利啟動。請留意:假設(shè)主機(jī)的電源未開啟,在登陸后會出現(xiàn)如以下圖所示的提示框:點(diǎn)擊“確定后,控制臺界面上的“自檢和 “校準(zhǔn)兩項(xiàng)不能操作,如以下圖:調(diào)入測試程序點(diǎn)擊按鈕,出現(xiàn)文件選擇對話框:從中選擇需求裝入的測試程序.PGS,如AD711J.pgs,點(diǎn)“翻開即可裝入。裝入后界面顯示如以下圖所示:適配器名操作員名測試程序名批次信息存盤標(biāo)識區(qū)參數(shù)信息顯示區(qū)數(shù)據(jù)顯示面板按鈕工具欄Site切換按鈕此時(shí)和 等按鈕不在為灰色,表示系統(tǒng)已預(yù)備好可以進(jìn)展測試,參數(shù)信息顯示區(qū)顯示待測參數(shù)名、單位以及合格判據(jù)等信息
21、。至此,測試程序勝利調(diào)入。設(shè)置在調(diào)入程序勝利后,請先不要急于測試,我們需求思索對默許的測試設(shè)置進(jìn)展一些符合您需求的修正,比如能否需求保管數(shù)據(jù)?數(shù)據(jù)保管成什么格式?保管在什么目錄下?這些設(shè)置需求在按下測試健之前完成。那如何進(jìn)展“設(shè)置呢?請參考以下操作:STS8105A軟件提供了豐富的測試選項(xiàng)以滿足您在測試過程中的一切特殊需求。測試設(shè)置對話框經(jīng)過點(diǎn)擊來翻開。如此多的選項(xiàng)并不需求您一一記住,對于手工測試來說,我們只需掌握其中兩三項(xiàng)就可以了。您需求思索能否設(shè)置如下選項(xiàng):參數(shù)失效后停頓該選項(xiàng)有效時(shí)測到第一個(gè)不合參數(shù)后即不再測試下一參數(shù),終了測試,否那么強(qiáng)迫測完全部參數(shù)。當(dāng)進(jìn)展批量挑選時(shí),假設(shè)我們僅僅關(guān)懷
22、器件能否合格,那么可以選中此項(xiàng),這么做有助于提高測試效率;而假設(shè)我們關(guān)懷器件一切參數(shù)的測試結(jié)果時(shí),需求將此項(xiàng)設(shè)置為不選,那么該器件有多少項(xiàng)參數(shù)不合格,不合格數(shù)據(jù)超差情況就一目了然了。數(shù)據(jù)保管請按照如下步驟設(shè)置數(shù)據(jù)保管:點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)保管選項(xiàng)卡上圖位置1;點(diǎn)擊數(shù)據(jù)保管方式中的“保管數(shù)據(jù)上圖位置2;輸入存盤文件名上圖位置3;設(shè)置存盤途徑上圖位置4;點(diǎn)擊“高級選項(xiàng)展開更多內(nèi)容上圖位置5;選擇“存一切結(jié)果,并選擇能否存“合格數(shù)據(jù)或“失效數(shù)據(jù)上圖位置6;根據(jù)需求選擇能否“自動轉(zhuǎn)換成Excel或其它格式上圖位置7。需求提示您的是:假設(shè)需求轉(zhuǎn)換成Excel格式,需求您事先裝好Microsoft Excel運(yùn)用程
23、序。至此,設(shè)置根本完成,如有更多需求,請參考。選擇適配器并插上被測器件根據(jù)器件測試窗口底部形狀欄中適配器欄中顯示的測試適配器型號,選擇測試適配器。改換測試適配器可以在測試儀主機(jī)不斷電的情況下進(jìn)展。假設(shè)我們要測試的器件為AD711J,調(diào)出程序后可以看到形狀欄中適配器項(xiàng)為SH8303,所以應(yīng)該選用SH8303單運(yùn)放通用適配器,并將適配器插到類別板上。將被測器件插入測試適配器時(shí),普通規(guī)那么為:對于雙列直插DIP封裝的器件在插入無插拔力插座時(shí),器件的缺口朝上并頂端對齊;對于圓形封裝的器件,為防止損傷被測器件引腳,系統(tǒng)也采用雙列直插DIP無插拔力插座;對于外表貼裝SMD的器件,系統(tǒng)將提供測試轉(zhuǎn)換器可選件
24、或特殊表貼適配器。特別提示:一種器件普通只能用一種適配器進(jìn)展測試,但一種適配器能夠適用于多種器件的測試,比如SH8303單運(yùn)放通用適配器除可以測試AD711外,還可以適用于OP07、OP27、OP37、CA3140、LM741等多種單運(yùn)放的測試;什么樣的器件可以用同樣的適配器測試呢?必需具備以下兩個(gè)特征,即封裝一樣且測試相關(guān)的管腳兼容,此情況在運(yùn)算放大器、穩(wěn)壓器、數(shù)字電路等類型中較為普遍,下面列出幾種常用的通用適配器的管腳陳列圖:運(yùn)放、比較器類通用適配器:穩(wěn)壓器類通用適配器:A/D D/A類、PWM類、時(shí)基電路類的器件普通一種器件對應(yīng)一個(gè)適配器;器件序號如無編號要求或編號延續(xù)可以跳過此步驟系統(tǒng)
25、本身具有自動編號功能,每測一只器件序號自動加1。但當(dāng)器件序號不是從1開場或當(dāng)要測試的器件序號不延續(xù)時(shí),就需求在測試前手動設(shè)置序號。在菜單中選擇運(yùn)轉(zhuǎn)-設(shè)置編號,會出現(xiàn)設(shè)置序號的對話框:在此對話框中,用戶可以在下一只器件號輸入框中設(shè)置下一只被測器件的編號,也可以根據(jù)從文件中讀取輸入框中的文件名,從文件中得到已輸入編輯好的器件的編號,按順序給一只被測器件進(jìn)展編號。設(shè)置好點(diǎn)OK,下一只的編號會以用戶的輸入為準(zhǔn)。假設(shè)選擇了設(shè)置完成后自動測試,那么在點(diǎn)OK后,系統(tǒng)自動進(jìn)展下一只器件的測試。啟動測試在進(jìn)展完一系列設(shè)置并且選擇好正確的適配器后,我們可以啟動測試了。啟動測試有三種方法:點(diǎn)擊進(jìn)展單次的測試,或是點(diǎn)
26、擊進(jìn)展延續(xù)測試。在延續(xù)測試進(jìn)展中,點(diǎn)擊可以中止延續(xù)測試過程;或按下顯示控制盒上的黃色TEST按鈕;或按下鍵盤上的測試快捷鍵,默許設(shè)置中,單次測試快捷鍵為F8,延續(xù)測試快捷鍵為F6。以上三種啟動測試的方法等效,您可以根據(jù)習(xí)慣或方便程度任選一種操作。反復(fù)以上5-7步,插入被測器件、編號可省略、啟動測試,您就可以把手中待測的同種類器件全部測試完成了。改換測試種類假設(shè)要繼續(xù)測試另一種類的器件,那應(yīng)該進(jìn)展怎樣的操作呢?分為以下三種情況:不需求改換測試類別板及適配器;不需求改換測試類別板但需求改換適配器;需求改換測試類別板及適配器。對于第一種情況,如測完AD711J后需求測試OP37G,類別板和適配器均不
27、需求改換,這時(shí)我們僅需求反復(fù)步驟3-7,即從調(diào)入測試程序開場,并跳過選擇適配器的環(huán)節(jié)。對于第二中情況,如測完AD711J后需求測試雙運(yùn)放AD712J,此時(shí)類別板不用改換,但適配器要從SH8303改換成SH8304,那我們需求完好的反復(fù)步驟3-7以完成新的測試義務(wù)。對于第三種情況,如測完運(yùn)放AD711J后我們需求測試時(shí)基電路LM555C,那我們需求改換測試類別板,此時(shí)請留意應(yīng)先封鎖測試儀主機(jī)電源,再改換測試類別板,之后再開機(jī),并反復(fù)步驟3-7,這樣操作才是平安的。退出器件測試點(diǎn)擊文件菜單中的退出功能,或點(diǎn)擊器件測試窗口標(biāo)題欄右側(cè)的鍵,系統(tǒng)即退出并封鎖器件測試窗口,之后封鎖測試儀主機(jī)電源。假設(shè)我們
28、選擇了數(shù)據(jù)保管,在每次測試程序勝利卸載后,測試數(shù)據(jù)即自動生成,您可以按照設(shè)定的途徑找到您需求的存盤數(shù)據(jù)。STS8105A系統(tǒng)運(yùn)用本卷須知對已有測試程序進(jìn)展簡單修正下面我們開場引見STS 8105A編程。所謂編程,在本章中特指生成后綴為.PGS的種類測試程序。PGS文件是STS 8000系列測試儀的測試數(shù)據(jù)文件,它包含適配器、被測器件等注釋信息,測試函數(shù)、參數(shù)、條件的定義等信息??梢哉fPGS是整個(gè)程序的數(shù)據(jù)中心,PGS文件一端后臺銜接用C言語代碼生成的.DLL文件,用于解釋每個(gè)參數(shù)的測試方法;另一方面銜接測試主界面,為您提供良好的人機(jī)交互,用于顯示測試結(jié)果等信息。PGS文件是用PGS編輯器開發(fā)的
29、,點(diǎn)擊主界面上的“編輯即可進(jìn)入PGS編輯器界面。下面我們對幾種簡單常見的PGS修正方法做一個(gè)簡單引見。選擇測試參數(shù)每個(gè)函數(shù)中“測試列中的復(fù)選框用于選擇函數(shù)能否參與測試,中選中時(shí)函數(shù)參與測試,否那么不參與測試。表頭中的用于全選或全不選。以下情況可以思索運(yùn)用此項(xiàng)功能:調(diào)試程序,需求逐項(xiàng)驗(yàn)證參數(shù)時(shí);需求暫時(shí)改動測試程序,去掉某些參數(shù),又不想徹底刪除該參數(shù)時(shí)。修正參數(shù)標(biāo)識“標(biāo)識為參數(shù)的標(biāo)示符,測試主界面上顯示、保管、打印的參數(shù)名都以編程中的“標(biāo)識為準(zhǔn),用此功能您可以根據(jù)需求重新命名參數(shù)而不會改動該參數(shù)的測試方法。但需求留意的是:可以采用恣意的字符組合,但不能包含或“,;參數(shù)“標(biāo)識原那么上應(yīng)和器件手冊或
30、您所根據(jù)執(zhí)行的規(guī)范一致。不用條件下測試的一樣參數(shù)也可以在“標(biāo)識上作簡單區(qū)分,好像是Vo參數(shù),可以標(biāo)識成“Vo2K、“Vo10K用于區(qū)分是在不同負(fù)載條件下測試的參數(shù);編程界面中“標(biāo)識項(xiàng)可以恣意改名,但請留意“函數(shù)名和“參數(shù)名項(xiàng)不能隨意修正。調(diào)整參數(shù)順序假設(shè)需求調(diào)整參數(shù)的測試順序,我們就要用到“上移或“下移按鈕。方法為:用鼠標(biāo)點(diǎn)選需求挪動的參數(shù),需求點(diǎn)在有函數(shù)名和測試復(fù)選框的行中如上圖,此時(shí)“上移和“下移按鈕變?yōu)橛行?;點(diǎn)擊“上移和“下移按鈕調(diào)整參數(shù)至適當(dāng)位置。需求留意的是:被測參數(shù)雖然技術(shù)上可以被放置到測試程序的恣意位置,但習(xí)慣上同類器件應(yīng)該遵照同樣的參數(shù)測試順序規(guī)那么,如測試線路一樣或相近的參數(shù)
31、安排在一同;用到的資源如PVI、QVI一樣或相近的參數(shù)安排在一同;高壓、大電流等易引起器件變化的參數(shù)盡量安排在程序后半部,直流參數(shù)、交流參數(shù)分開且直流參數(shù)在前等。按照器件手冊參數(shù)表的順序或PGS編程模板參數(shù)順序即可根本滿足以上要求而無需您了解每個(gè)參數(shù)的測試含義。修正參數(shù)判據(jù)有時(shí)候我們會遇到需求修正個(gè)別參數(shù)判據(jù)的情況,如不同廠家的器件個(gè)別參數(shù)目的略有差別;常溫目的和高低溫目的不同;因特殊需求需求放寬或加嚴(yán)個(gè)別參數(shù)目的。這時(shí)就需求修正參數(shù)判據(jù)。修正參數(shù)判據(jù)的方法為:用鼠標(biāo)點(diǎn)擊需求修正參數(shù)的“上限或“下限使該單元格編程可編輯形狀;用鍵盤鍵入新值;按鍵盤Enter鍵或點(diǎn)擊其它單元格確認(rèn)修正。輸入的判據(jù)
32、時(shí)需求留意:判據(jù)的正負(fù)號需求設(shè)置正確;當(dāng)參數(shù)手冊與現(xiàn)有程序中參數(shù)判據(jù)單位不一致時(shí),需求進(jìn)展單位轉(zhuǎn)換,最常見的有uV-mV-V的轉(zhuǎn)換,pA-nA-uA-mA-A的轉(zhuǎn)換,db-V/mV的轉(zhuǎn)換;需求思索判據(jù)應(yīng)該填入“上限還是“下限,尤其涉及到判據(jù)為負(fù)數(shù)的情況,如運(yùn)放測試時(shí)VO+的判據(jù)為12V,那么應(yīng)該填入“下限,表示該測試值越正越好;而VO-的判據(jù)為-12V,那么應(yīng)該填入“上限,表示該測試值越負(fù)越好。修正完成后進(jìn)展測試當(dāng)進(jìn)展完參數(shù)修正后,可根據(jù)以下不同需求進(jìn)展操作進(jìn)入測試主界面:需求保管成新文件時(shí),點(diǎn)擊菜單的“文件-“另存為,然后把測試程序以一個(gè)新的存盤文件名保管。之后點(diǎn)擊右上角封鎖,或點(diǎn)擊進(jìn)入測試
33、主界面;需求覆蓋原程序時(shí),請直接點(diǎn)擊,之后點(diǎn)擊右上角封鎖,或點(diǎn)擊進(jìn)入測試主界面;如暫時(shí)不需保管現(xiàn)有修正,只需求在此修正下進(jìn)展調(diào)試或試測,那么請直接點(diǎn)擊進(jìn)入測試主界面。在已有程序模板的根底上開發(fā)新種類程序上一章我們引見了一些PGS編輯器的簡單操作,本章我們將以運(yùn)放測試為例,以O(shè)P.pgs為程序模板,在此根底上生成OP37G的測試程序,帶您熟習(xí)一個(gè)完好的測試程序的生成過程。在進(jìn)展OP37G的PGS程序開發(fā)前,我們需求預(yù)備如下資料以備查閱:此指南會隨STS 8105A設(shè)備一同交付用戶OP37G的數(shù)據(jù)手冊可從互聯(lián)網(wǎng)或從器件消費(fèi)經(jīng)銷商處獲取我們首先關(guān)注數(shù)據(jù)手冊中與測試相關(guān)的信息:首先我們看數(shù)據(jù)手冊中關(guān)于
34、此器件的描畫,OP37G輸入通用單運(yùn)放,具有噪聲低、速度高、失調(diào)小的特點(diǎn)。從以上信息我們可以確定此程序輸入運(yùn)放程序,編至OPRA目錄內(nèi),并運(yùn)用OP.dll;其次我們關(guān)注該器件的封裝及管腳陳列,如我們要測試的OP37G為八腳雙列直插封裝DIP-8,管腳陳列順序滿足正負(fù)電源腳為7腳和4腳,正負(fù)輸入為3腳和2腳,輸出為6腳。此管腳陳列符合單運(yùn)放通用適配器的管腳陳列見本指南4.5, 所以我們選用SH8303通用單運(yùn)放適配器;然后我們關(guān)注手冊的參數(shù)表部分,需求測試的參數(shù)有六種見下表,分別是:VOSIOS、IB+、IB-、IBVO+、VO-AVOCMRRPSRR另外我們從參數(shù)表的闡明中還能了解到:數(shù)據(jù)手冊
35、給出了常溫25和全溫區(qū)Full range的參數(shù)判據(jù),而我們只需求關(guān)注常溫下的參數(shù)判據(jù);參數(shù)的測試如無特殊闡明,都是在VCC=15V下完成的。關(guān)于參數(shù)手冊我們就先了解到這里,接下來進(jìn)入PGS編程。進(jìn)入PGS編輯器后首先選擇“新建,之后點(diǎn)擊“文件展開側(cè)邊欄,在邊欄中填入適配器和dll文件名如以下圖。更改dll名的方法為在側(cè)邊欄中的dll文件名行單擊鼠標(biāo)右鍵,選擇菜單中的“更改dll名項(xiàng),然后鍵入dll文件名即可,如“OP.dll。接下來我們導(dǎo)入函數(shù)。在 “測試函數(shù)定義區(qū)右鍵菜單中單擊 “導(dǎo)入函數(shù) 將彈出如下 REF _Ref217463269 h * MERGEFORMAT 錯(cuò)誤!未找到援用源。
36、所示的模板添加界面。經(jīng)過可以選擇作為模板的PGS文件,在函數(shù)列表中選中想要導(dǎo)入的函數(shù),點(diǎn)擊OK即可,選中的函數(shù)將會被導(dǎo)入至當(dāng)前PGS文件中。函數(shù)列表支持按住Ctrl鍵多項(xiàng)選擇和按住Shift鍵延續(xù)多項(xiàng)選擇。在這里我們點(diǎn)擊選擇名為OP.pgs的模板文件。然后分別選擇其中名為test_vos、test_ib、test_avo、test_cmrr、test_psrr、test_vo的函數(shù),導(dǎo)入完成后的PGS編程器的界面如以下圖所示。下面我們開場著手按手冊填寫各個(gè)參數(shù)的判據(jù)和輸入項(xiàng)。我們先編輯第一項(xiàng)VOS參數(shù)。點(diǎn)擊參數(shù)名VOS前的的加號,并點(diǎn)上兩個(gè)按鈕,展開一切條件設(shè)置行,就可以按照測試的要求填寫判據(jù)
37、和條件了。比如,手冊要求VOS的最大值不超越100uV,那么我們需求在下限處填寫-100,在上限處填寫100,并把單位改為uV;手冊要求電源電壓為15V,那么“器件正電源電壓V+處填寫15V,并把“VDD電壓量程V+VRng項(xiàng)改為20V,器件“負(fù)電源電壓V-處填寫-15V,并把“VSS電壓量程V-VRng項(xiàng)改為20V;另外手冊還要求VO = 0,那么堅(jiān)持“DUT輸出電壓VO項(xiàng)為0不變;其它項(xiàng)在此參數(shù)編程中不用修正。填寫完成后的VOS參數(shù)如以下圖所示。他可以按照以上操作方法填寫完成其它參數(shù)了。詳細(xì)參數(shù)含義和輸入項(xiàng)含義,請您參考,這將有助于您更加深化的了解運(yùn)放比較器的測試原理和測試方法。當(dāng)您按照手
38、冊依次填寫完每一個(gè)參數(shù)的判據(jù)和條件后, OP37G的程序就編寫完成了,您需求點(diǎn)擊保管,并把該程序保管在OP.dll所在目錄下。這樣以后再需求測試OP37G時(shí)就不用再編程,只需調(diào)出程序測試即可。完成后的OP37G程序如以下圖所示欲了解其它類型器件的測試原理和測試方法,建議閱讀隨機(jī)文檔:設(shè)計(jì)一個(gè)電阻測試實(shí)驗(yàn)本章經(jīng)過設(shè)計(jì)一個(gè)簡單的電阻測試實(shí)驗(yàn),和您一同完成一個(gè)完好的運(yùn)用開發(fā)流程,包括測試方案制定、適配器制造、PGS程序編制、C言語代碼編制、樣管實(shí)測等。經(jīng)過這個(gè)實(shí)驗(yàn),您可以熟習(xí)開發(fā)過程并了解其中的要點(diǎn),并邁出向開發(fā)復(fù)雜測試程序前進(jìn)的第一步。實(shí)驗(yàn)要求能覆蓋阻值區(qū)間100-1M,精度2%,功率1/4W的電
39、阻測試;測試參數(shù)R阻值,輸入條件要求可PGS界面編程;采用恒壓測流方式,輸入電壓范圍0.5-40V;要求在SH8211模擬通用類別板上進(jìn)展開發(fā)。測試方案的制定我們先來估算一下要完成這個(gè)實(shí)驗(yàn)將要進(jìn)展的任務(wù):選擇適宜的測試源表源選用QVI或是PVI?表選用QVI或PVM?制造一個(gè)用于單工位測試的適配器選擇哪個(gè)現(xiàn)有適配器進(jìn)展開發(fā)?如何連線?選擇什么樣的測試夾具?編制一個(gè)用于測試電阻的通用PGS程序什么工程可由用戶在PGS編程界面輸入?編制C言語代碼如何操作源表?如何搭接測試線路?那如何處理以上的問題呢:對于第一個(gè)問題,我們可以估算一下測試需求用到的電流和電壓范圍。對于100的電阻,功率1/4W,那么
40、按照公式:,那么可以施加的電流應(yīng)小于50mA,施加的電壓應(yīng)小于5V。對于100K的電阻,當(dāng)輸入電壓為0.5V時(shí),流過被測電阻的電流為5uA,而丈量的精度應(yīng)該至少小兩個(gè)數(shù)量級。所以說,測試用的電壓電流源表至少需求具備50mA的電流才干,40V的電壓量程,0.05uA的電流丈量精度。根據(jù)這個(gè)要求,可以選擇QVI進(jìn)展測試;對于第二個(gè)問題,可以選擇通用類別板上已有的通用適配器SH8327,該適配器的插座定義見附件。由于是實(shí)驗(yàn)安裝,不思索被測器件管腳能否允許彎曲的要素我們選擇14P的無插拔力的鎖緊插座用作測試夾具;對于第三個(gè)問題,我們需求由用戶輸入的工程至少應(yīng)該包括:上下限、測試電壓等,假設(shè)需求編制更為
41、開放的程序,可由用戶輸入電壓量程、電流量程、鉗位值等信息;關(guān)于C言語程序,我們會在后面詳細(xì)引見。確定好測試所用的資源后,參數(shù)R阻值的測試方案就大體制定出來了:那么,我們在開場動手實(shí)驗(yàn)以前,應(yīng)該預(yù)備好如下的資源:SH8327 Rev1.01通用適配器一塊帶歐式插座、14P鎖緊插座SH8211通用類別板適配器引腳定義表SH8211通用類別板原理框圖SH8211通用類別板繼電器控制表銜接導(dǎo)線假設(shè)干STS 8105A編程手冊一本好,需求預(yù)備的東西根本齊全了,下面我們開場動手制造適配器。適配器的制造我們需求一路QVI作為電壓源,習(xí)慣上用SH8211通用類別板輸入優(yōu)先選用IN1-IN4,那么對應(yīng)的QVI為
42、QVI1CH5,其中QVI1為我們定義的名字,CH5為該QVI的實(shí)踐物理通道號。其中DGS為器件地電位參考端。焊接無插拔力插座時(shí)請留意適配器板上的標(biāo)識,插座的第一腳應(yīng)與適配器板上標(biāo)注的位置對應(yīng);焊接歐式插座的時(shí)候應(yīng)留意歐式插座的限制槽方向,可參考PCB板上的絲印或其它適配器。PGS程序的編制下面我們建立一個(gè)PGS程序,首先我們編寫參數(shù)阻值R的PGS程序。進(jìn)入PGS編程界面,并選擇“新建,然后選擇右鍵菜單中的“創(chuàng)建函數(shù):彈出函數(shù)編輯對話框后,輸入函數(shù)名:如Test_R:點(diǎn)擊確定后,再選擇右鍵菜單中的“創(chuàng)建參數(shù)項(xiàng):彈出以下圖所示對話框后,填入?yún)?shù)名,假設(shè)被測電阻標(biāo)稱阻值為1k,精度1%,那么輸入上
43、下限0.99和1.01,單位輸入k,描畫可恣意輸入,如“阻值。點(diǎn)擊確定后,界面上出現(xiàn)剛剛編制的參數(shù)R項(xiàng)。然后繼續(xù)選擇右鍵菜單中的“創(chuàng)建條件項(xiàng):彈出以下圖對話框后,輸入測試條件,由于采用的是加壓測流方式,需有用戶輸入測試電壓,那么條件名輸入Vin,顯示值輸入10,顯示單位輸入V,提示可恣意輸入,如輸入測試電壓。點(diǎn)擊確定后,界面上出現(xiàn)剛剛輸入的條件行。然后我們還要進(jìn)展一些設(shè)定,點(diǎn)擊“文件圖標(biāo),左側(cè)出現(xiàn)設(shè)置項(xiàng),填入適配器,如“電阻公用適配器,在“dll文件名欄選擇右鍵菜單中的“更改dll名,對之后要調(diào)用的由C言語生成的dll文件名進(jìn)展設(shè)定,如Resistance.dll。設(shè)置完成后,該P(yáng)GS程序根本
44、創(chuàng)建完成了,之后點(diǎn)擊“保管圖標(biāo),輸入存盤途徑及存盤文件名Resistance.pgs,點(diǎn)擊“保管。一個(gè)名為Resistance.pgs的程序就生成了。填寫C言語代碼單擊工具欄按鈕,首先會進(jìn)展數(shù)據(jù)有效性檢查,當(dāng)數(shù)據(jù)無誤時(shí),彈出如以下圖所示的工程名輸入對話框,假設(shè)無給定稱號的工程存在,那么軟件會生成相應(yīng)的工程,并翻開該工程。工程名命名應(yīng)該符合以下原那么:不能包含/ ? : & * “ | # %等字符,不能為CON AUX PRN COM1 LPT2等字符串,工程名不能以.開場;假設(shè)對應(yīng)稱號的工程曾經(jīng)存在,將彈出如以下圖的對話框,訊問用戶執(zhí)行何種操作。其中“覆蓋會刪除原有的工程,并根據(jù)PGS文件的
45、函數(shù)參數(shù)定義生成新的工程;“更新那么會根據(jù)PGS文件的函數(shù)定義與VC工程之間的區(qū)別,在VC工程中刪除函數(shù)定義中沒有的函數(shù),并添加函數(shù)定義中新增的函數(shù),假設(shè)只是對某函數(shù)參數(shù)部分進(jìn)展調(diào)整,那么該函數(shù)VC代碼僅會更新參數(shù)定義部分,用戶自行編寫的代碼將不會被改動。在執(zhí)行完相應(yīng)的更新后,軟件會翻開相應(yīng)的工程。系統(tǒng)會自動為您生成VC+工程,并命名好相應(yīng)的文件,您只需具備簡單的C言語根底即可編制測試程序,而無需您了解VC+工程的生成方法。系統(tǒng)也曾經(jīng)根據(jù)之前編制的PGS文件在test.cpp中定義生成了各段空測試函數(shù),如:void InitBeforeTest()void InitAfterTest()DUT
46、_API int Test_R(short funcindex, LPCTSTR funclabel) /AFX_STS_PARAM_PROTOTYPES CParam *R = StsGetParam(funcindex,R); /AFX_STS_PARAM_PROTOTYPES / TODO: Add your function code here return 0;在本實(shí)例中,我們用到的硬件資源包括QVI和CBIT,我們首先應(yīng)該對所用到的硬件資源進(jìn)展定義。需求參與如下代碼:CBIT cbit;/定義cbitQVI qvi1(QVI_CH5);/定義qvi1對應(yīng)QVI物理通道5BYTE K
47、13 = 28;/用于接通IN1BYTE K14 = 29;/用于接通QVI1(CH5)BYTE K15 = 30;/用于短路輸入偏置電阻InitBeforeTest()函數(shù)為啟動測試后首先執(zhí)行的函數(shù),普通用于對將要用到的資源進(jìn)展初始化。InitAfterTest()函數(shù)是程序測試完最后一個(gè)參數(shù)后執(zhí)行的函數(shù),普通用于對用過的資源重新進(jìn)展初始化。由于本實(shí)例中用到qvi1和cbit,所以我們在InitBeforeTest()和InitAfterTest()函數(shù)中完成對此兩個(gè)資源的初始化,代碼如下:void InitBeforeTest()cbit.Init();/cbit初始化qvi1.Init(
48、);/qvi1初始化qvi1.Connect();/接通qvi1的輸出繼電器void InitAfterTest()cbit.Init();/cbit重新初始化qvi1.Init();/qvi1重新初始化PGS程序中的參數(shù)R測試代碼應(yīng)該填入Test_R()函數(shù)的/ TODO: Add your function code here位置,那如何獲得參數(shù)條件值以及如何送回測試結(jié)果呢?請參考以下的范例語句:DUT_API int Test_R(short funcindex, LPCTSTR funclabel) /AFX_STS_PARAM_PROTOTYPES CParam *R = StsGe
49、tParam(funcindex,R); /AFX_STS_PARAM_PROTOTYPES / TODO: Add your function code herefloat val;float Vin;double Vmin = R-GetMinLimit();/從PGS程序中得到參數(shù)R設(shè)定的最小值Vin = R-GetConditionCurSelDouble(Vin);/從PGS程序中得到參數(shù)R設(shè)定的輸入電壓值Vinval = Cal_R(Vmin,Vin);/調(diào)用電阻R丈量子函數(shù)R-SetTestResult(0,0,val);/將丈量結(jié)果送主界面顯示 return 0;程序中我們用定
50、義了一個(gè)子函數(shù),叫做Cal_R(Vmin,Vin),我們需求編制這個(gè)函數(shù),其中是完好的參數(shù)R測試過程,包括環(huán)路的搭接,量程檔位的計(jì)算,源表方式的設(shè)置,測試結(jié)果的計(jì)算幾個(gè)環(huán)節(jié)。這個(gè)函數(shù)的例如代碼如下:/描畫:電阻R丈量子函數(shù)/輸入?yún)?shù):R - 標(biāo)稱電阻值(k)Vin - 輸入電壓(V)/前往值:實(shí)踐丈量電阻值(k)float Cal_R(double R,float Vin)int Vrng;int Irng;float val4;/用于存放實(shí)測數(shù)據(jù)/根據(jù)輸入電壓Vin選擇所用QVI的電壓檔位/QVI_VRNG_50V 0 x01/QVI_VRNG_20V 0 x02/QVI_VRNG_10V
51、0 x03/QVI_VRNG_5V 0 x04/QVI_VRNG_2V 0 x05/QVI_VRNG_1V 0 x06if(fabs(Vin)-200.01)Vrng=0 x01;/選擇50V檔else if(fabs(Vin)-100.01)Vrng=0 x02;/選擇20V檔else if(fabs(Vin)-50.01)Vrng=0 x03;/選擇10V檔else if(fabs(Vin)-20.01)Vrng=0 x04;/選擇5V檔else if(fabs(Vin)-10.01)Vrng=0 x05;/選擇2V檔elseVrng=0 x06;/選擇1V檔/防止R作為除數(shù)時(shí)為0if(R
52、=0)R=float(1e-6);/根據(jù)輸入電壓Vin和標(biāo)稱電阻選擇所用QVI的電流檔位,并留出15%余量防止超量程/QVI_IRNG_1A0 x20/QVI_IRNG_100MA 0 x10/QVI_IRNG_10MA 0 x08/QVI_IRNG_1MA 0 x04/QVI_IRNG_100UA 0 x02/QVI_IRNG_10UA 0 x01if(fabs(Vin/R)*1.1510)Irng=0 x10;/選擇100mA檔else if(fabs(Vin/R)*1.151)Irng=0 x08;/選擇10mA檔else if(fabs(Vin/R)*1.150.1)Irng=0 x0
53、4;/選擇1mA檔else if(fabs(Vin/R)*1.150.01)Irng=0 x02;/選擇100uA檔elseIrng=0 x01;/選擇10uA檔/吸合繼電器K13、K14、K15,使qvi1直接接通IN1cbit.SetCBITOn(K13);cbit.SetCBITOn(K14);cbit.SetCBITOn(K15);qvi1.SetModeFVMI(Vrng,Vin,Irng,100e-3,-100e-3);/設(shè)置qvi1方式為恒壓測流,并設(shè)置電壓檔、輸入電壓值、電流檔、正箝位值、負(fù)箝位值qvi1.Enable();/使qvi1設(shè)置有效delay_ms(1);/啟動丈量
54、前延時(shí)qvi1.Measure(val,10);/丈量結(jié)果送變量val,保管在val0中val0=Vin / val0/1000;/計(jì)算實(shí)踐丈量電阻值,并轉(zhuǎn)化單位為kqvi1.Disable();/使qvi1的恒壓歸0cbit.Init();return val0;至此我們完成了程序代碼的編制,我們只需編譯經(jīng)過,即可自動生成名為Resistance.dll的文件。我們可以再次進(jìn)入PGS編輯器,根據(jù)需求填入條件和判據(jù),編制一系列的電阻測試程序。完成后的Resistance目錄下應(yīng)該包含如下文件或文件夾:Source文件夾調(diào)試C言語程序必需用于存放VC+工程文件Resistance.dll文件測試
55、必需由VC+工程編譯生成的文件至少一個(gè)pgs文件測試程序好了,編程任務(wù)至此全部告一段落。我們可以找來各種規(guī)格的電阻樣品,實(shí)測一下,并多次測試察看數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性,我們建議您運(yùn)用數(shù)字萬用表或示波器驗(yàn)證測試的準(zhǔn)確性,察看加電波形,確保測試的正確和平安。STS8105A系統(tǒng)運(yùn)用進(jìn)階與提高在本章中,將為您引見幾種典型器件的測試方案,并給出部分代碼,這將有助于您更加熟習(xí)運(yùn)用STS 8105A的各個(gè)資源模塊。精細(xì)電壓基準(zhǔn)AD581測試中PVM的運(yùn)用實(shí)例AD581屬于精細(xì)電壓基準(zhǔn),提供高精度和高穩(wěn)定性的+10V基準(zhǔn)電壓。采用TO-5封裝,輸入電壓范圍12V至30V,有最大10mA的電流負(fù)載才干??捎糜跒?位、1
56、0位、12位數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片DACs和模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片ADCs提供精細(xì)的外部基準(zhǔn)電壓。AD581在STS 8105A上的測試采用SH8211通用類別板,適配器采用SH8327 S/H General Adapter通用適配器,適配器連線方案如下:PVI1為器件提供電源電壓,并可以恒壓測流丈量器件的電源電流Icc和功耗Pw。器件輸出連至適配器OUT1,可連通PVM丈量器件的輸出電壓如測試輸出電壓Vout參數(shù),或同時(shí)連通PVI0為器件提供負(fù)載電流如測試負(fù)載調(diào)整率LoadRegulation參數(shù)。器件PGS編程如以下圖所示:我們看其中的一個(gè)參數(shù)輸出電壓Vout的測試。DUT_API int Vout(sho
57、rt funcindex, LPCTSTR funclabel) /AFX_STS_PARAM_PROTOTYPES CParam *Vout = StsGetParam(funcindex,Vout); /AFX_STS_PARAM_PROTOTYPES / TODO: Add your function code herefloat val4=0.00;/以上一句定義一個(gè)大小為4的數(shù)組,分別對應(yīng)存放四個(gè)工位的測試數(shù)據(jù),由于此程序?yàn)閱喂の粶y試,所以只用到val0double Vin = Vout-GetConditionCurSelDouble(Vin);double SampleTime
58、= Vout-GetConditionCurSelDouble(SampleTimeS);double delaytime = Vout-GetConditionCurSelDouble(DelayTime);/以上三句用于從PGS編程中獲取輸入項(xiàng)信息,Vin為輸入電壓值,SampleTime為丈量采樣次數(shù),delaytime為測試前延時(shí)值。cbit.SetCBITOn(K19);/接通PVM;cbit.SetCBITOn(K30);/接通OUT1;/以上兩句控制cbit吸合了繼電器K19和K30,參考附錄中的SH 8211通用類別板原理框圖可知,吸合這兩個(gè)繼電器,可以將器件輸出接至PVM。p
59、vm.SetInputMode(IN_MODE_SE);/上句設(shè)置了PVM的丈量方式,查看可知,此句將PVM設(shè)置為單端方式,用于直接丈量器件信號。pvi1.SetModeFVMI(PVI_VRNG_20V, Vin, PVI_IRNG_100MA, 100e-3, -100e-3);pvi1.Enable();delay_ms(2);/以上語句設(shè)置PVI1為恒壓測流方式,選用20V檔位,電壓值由用戶PGS編程設(shè)定,選用100mA量程,鉗位為100mA,更多設(shè)置方法請參考delay_ms(delaytime);/根據(jù)用戶設(shè)定延時(shí)pvm.Measure(val,SampleTime);/以上語句啟
60、動PVM進(jìn)展電壓丈量,設(shè)定了采樣次數(shù),并將丈量結(jié)果放入val數(shù)組中Vout-SetTestResult(0, 0, val0);/以上語句將存放于val0中的丈量結(jié)果前往到界面顯示cbit.Init();pvi1.Disable();pvm.Init(); return 0;PWM脈寬調(diào)制器UC1524測試中TMU的運(yùn)用實(shí)例UC1524是一款較早設(shè)計(jì)的PWM芯片。所謂PWM(Pulse Width Modulation),是脈沖寬度調(diào)制器的簡稱,該電路可以將占空比變化而頻率不變的脈沖信號作為電力電子變換電路中功率開關(guān)管的驅(qū)動信號,控制開關(guān)管的通斷,從而控制電力電子電路的輸出電壓以滿足對電能變換
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