AS1065無損檢測碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測

1、AS1065-1988澳人利亞標(biāo)準(zhǔn)無損檢測一碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測第一節(jié)范圍和概述1.1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通過使用反射體當(dāng)最尺寸，以三個(gè)記錄級別對碳鋼和低合金鋼鍛件進(jìn)行手工超聲檢測的方法。注：附錄A規(guī)定了在檢測開始詢應(yīng)向檢測人員提供的信息。1.2參考標(biāo)準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)參考的文件如K：AS1929無損檢測術(shù)語匯編AS1965使用直讀記錄儀進(jìn)行表面粗糙度的測最2083校準(zhǔn)試塊和用J：超聲檢測的方法1.3術(shù)語本標(biāo)準(zhǔn)術(shù)語，見AS1929。第二節(jié)設(shè)備和校準(zhǔn)2.1總則超聲檢測系統(tǒng)應(yīng)能夠顯示在鍛件中可能呈現(xiàn)的不連續(xù)并能夠記述缺陷邊界和外形。2.2掃描顯示應(yīng)使用A-擔(dān)描。設(shè)備應(yīng)按照AS2083的要求進(jìn)行校準(zhǔn)。注：

2、若合同雙方之間達(dá)成協(xié)議，也可使用C-掃描。2.3水平線性和垂直線性的評定在檢測起程內(nèi)對水平線性和垂直線性進(jìn)行評定。水平線性偏差超過全屏寬度2%或垂直線性在30%和100%網(wǎng)格高度Z間超過2dB應(yīng)予以記錄。不應(yīng)使用抑制，若使用，則要記錄和了解對垂直線性和水平線性的影響。2.4增益控制測最超聲波幅的比例時(shí)，逐步校準(zhǔn)的增益控制不能超過2dBo2.5頻率范圍設(shè)備應(yīng)能夠使用1MHz至10MHz范圍內(nèi)的頻率。2.6探頭可使用單探頭或雙探頭。但適用的標(biāo)稱頻率為1MHz至lOMHZo主頻率可按照AS2083要求進(jìn)行測量。通過協(xié)商，可使用指定頻率的探頭，見附錄E中規(guī)定。2.7系統(tǒng)總增益按照AS2083要求対系統(tǒng)

3、總增益進(jìn)行評定，并且不能少J20dBo2.8分辨率儀器應(yīng)能夠輕易地分辨沿的聲束軸線分布的和鄰2.5波長反射體。碳鋼和低合金鋼壓縮波和切變波的通用速度分別為592011VS和3230m/s表2.1中規(guī)定了分辨率要求。表2.1分辨率要求標(biāo)稱頻率壓縮波探頭切變波探頭MHznmimm114.88.127.44.12.55.93343.72.053.01.6101.50.82.9耦合劑所用耦合劑應(yīng)具有良好的濕潤性并應(yīng)適用鋼的檢測。注:校準(zhǔn)和檢測應(yīng)使用相同類型的耦合劑。2.10校準(zhǔn)試塊應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)AS2083中規(guī)定的校準(zhǔn)試塊校準(zhǔn)檢測儀器。2.11參考試塊在參考試塊上設(shè)定靈敏度，設(shè)定靈敏度和檢測時(shí)應(yīng)使用相同的耦

4、合劑。在不同聲程上含有參考反射體的試塊可用設(shè)定靈敏度或者鍛件的截面也可用j:設(shè)定靈敏度(見例1,C1.5,附錄C)。第三節(jié)檢測方法3.1總則除了圖3.1至3.6包括的基本形狀橫截面Z外，考慮到鍛件的尺寸、形狀、冶金等方面因素，很難完全地規(guī)定掃查方式或方法。然而，非常重要的是，訂單中應(yīng)包含足夠的信息包括標(biāo)注重要和高應(yīng)力區(qū)域的圖紙，以便雙方対適當(dāng)?shù)膾卟榉椒ㄟ_(dá)成一致意見(見附錄A)。3.2檢測表面的準(zhǔn)備32.1一般要求所有檢測面應(yīng)符合卜列耍求：檢測過程中，檢測面輪廓應(yīng)能使探頭均勻接觸。檢測面粗糙度應(yīng)不超過6.3MmRa注：經(jīng)機(jī)加過的表而更適合檢測。若采用磨削加丁制條檢測而時(shí)，應(yīng)注意粗糙度不能過大同時(shí)

5、應(yīng)去除毛刺?？趹?yīng)保持鍛件的白然外形。在用鋼絲刷涓理之后，通常用噴砂、針槍或火焰處理獲得滿意的檢測表而，但為了能夠使探頭充分接觸，必要時(shí)，應(yīng)進(jìn)行局部研館。若可能，錐形鍛件應(yīng)加工成臺階狀。在進(jìn)行表面準(zhǔn)備過程中，不能損壞鍛件。3.2.2表面附加要求若產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定表面加工要更優(yōu)J-3.2.1節(jié)的規(guī)定，則應(yīng)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)要求執(zhí)行。(見A1,附錄A)。3.3檢測準(zhǔn)備3.3.1時(shí)基線校準(zhǔn)按照AS2083要求進(jìn)行時(shí)基線校準(zhǔn)，如呆材料中的聲速與校準(zhǔn)試塊的聲速相差2%時(shí)，則應(yīng)確定并核實(shí)已知厚度的被檢鍛件的時(shí)某線。33.2參考試塊的制備從卜列要求Z進(jìn)行參考試塊制備：(a)試塊材料的化學(xué)成分和熱處理應(yīng)與鍛件類似。(b)

6、試塊材料的衰減特性應(yīng)已知。(O鍛件的非重要截面。注：基準(zhǔn)孔只能在鍛件上鉆孔并應(yīng)獲得需方同意。是否要求鉆孔或允許鉆孔保留在鍛件上，這些都應(yīng)按照需方意愿執(zhí)行。若必要時(shí)用橫孔取代平底孔，同時(shí)應(yīng)能夠分辨兩者之間的關(guān)系。若不能夠與檢測鋼相類似，則應(yīng)按照附錄H要求制定衰減或接觸差異修正補(bǔ)償。3.3.3距離幅度和面積幅度距離幅度曲線可用缺陷的評定，并按3.3.2要求使用參考試塊同時(shí)根據(jù)AS2083要求進(jìn)行制備。3.4衰減34.1概述符合本標(biāo)準(zhǔn)耍求的熱處理鍛件希塑能夠顯示衰減性質(zhì)從而可進(jìn)行有效的超聲檢測。然而，當(dāng)要求進(jìn)行嚴(yán)格評定時(shí)，則應(yīng)確定檢測區(qū)域或和鄰檢測區(qū)域的衰減性質(zhì)。應(yīng)分兩步驟進(jìn)行評定，規(guī)定如卜：使用指

7、定類型、頻率和直徑的探頭來確定鍛件是否有效地檢測。應(yīng)用缺陷評定相關(guān)的校準(zhǔn)來確定衰減/傳遞損失修正因素。34.2確定合適的超聲檢測通過超聲方法并使用規(guī)定探頭來確定鍛件是否進(jìn)行有效檢測，其方法如卜：根據(jù)傳輸路徑降低dE/mm確定衰減系數(shù)，詳細(xì)規(guī)定見附錄H。如果衰減系數(shù)人J：O.OldB.完成檢測應(yīng)符合卜列條件：操作者應(yīng)證明穿過鍛件整個(gè)厚度可獲得要求的靈敏度，并且需方和供方之間應(yīng)達(dá)成協(xié)議按附錄H規(guī)定，確定衰減和傳輸損耗修正系數(shù)并應(yīng)用與評定和掃查靈敏度設(shè)定相關(guān)聯(lián)的校準(zhǔn)。3.5探頭應(yīng)按照附錄E的要求選擇探頭，同時(shí)應(yīng)考慮缺陷的位置，尺寸和方向。盧束軸線應(yīng)盡可能垂直地入射到預(yù)期的不連續(xù)的最丿、反射面上。3.

8、6方法使用直探頭檢測鍛件，應(yīng)保證并盡可能地打査到鍛件的整個(gè)體積，尤其是被確定為重要或高強(qiáng)度的應(yīng)力區(qū)域。使用不同的直探頭進(jìn)行檢測，從|何可盡可能地保證探測到所有位置和方向的不連續(xù)。注：若雙方達(dá)成協(xié)議可使用斜探頭（見附錄A1,附錄A）。按3.7.2節(jié)要求以規(guī)定的打査靈敏度進(jìn)行所有的檢測。3.7靈敏度3.7.1概述按照3.7.3要求以一定的靈敏度級別掃查整個(gè)鍛件或鍛件的指定區(qū)域。按照產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的靈敏度進(jìn)行探測，所探測到的不連續(xù)應(yīng)隨后進(jìn)行評級。其中3.7.2節(jié)規(guī)定的掃查靈敏度和3.7.3節(jié)規(guī)定的評定靈敏度Z間的關(guān)系和記錄要求按照表3.1的進(jìn)行簡要說明。3.7.2掃査靈敏度使最人盧程處6m

9、m直徑平底孔參考反射體的信號達(dá)到40%網(wǎng)格高度，然后提高増益至少6dE進(jìn)行擔(dān)査。長遠(yuǎn)考慮時(shí)，可把聲程分為兒部分以提高圖示的清晰性。3.7.3評定和記錄靈敏度用評定不連續(xù)的靈敏度應(yīng)必須能使與不連續(xù)在和同聲程的6nun直徑平底孔參考反射上的信號波幅達(dá)到40%屏幕高度。根據(jù)表3,使用卜列其中一個(gè)級別，評定和記錄不連續(xù)的反射率、尺寸（必要時(shí)，高度、寬度和長度）和位置：（a）級別1上述波幅的一半或更大。（b）級別2等同丁上述波幅或更大。（O級別3上述波幅的雙倍或更大。3.7.4可選的掃査靈敏度和評定靈敏度若需方要求上述Z外的參考反射體、評定和記錄級別時(shí)，則應(yīng)在詢單或訂單時(shí)詳細(xì)規(guī)定（見A1,附錄A）。若在

10、訂單中沒有規(guī)定評定和記錄靈敏度級別時(shí)，應(yīng)采用級別2.3.8掃査要求3.&1概述應(yīng)按照3.8.2至3.8.8條要求以及所列的體積范圍進(jìn)行打查。盡可能切合實(shí)際地操作并能使整個(gè)鍛件進(jìn)行超聲檢測。打查速度不能超過150mm/s。近表而檢測時(shí)，應(yīng)使用雙晶探頭。3.8.2圓形鍛件（縱向鍛造）除非訂單或合同中另有規(guī)定，圓形截面的實(shí)心鍛件應(yīng)以最小180方向在整個(gè)長度上徑向檢測，若切實(shí)可行，在縱向方向上使用直探頭（見圖3.1）.注：探測近表而缺陷時(shí)最好360檢測，可在車床或滾輪機(jī)上旋轉(zhuǎn)鍛件進(jìn)行檢測。如果需方?jīng)]有規(guī)定，可按供方意愿選擇使用任一種方法。3.8.3多面體鍛件（縱向鍛造）除非訂單或合同中另有規(guī)定，圖3.

11、2和3.3所示橫截面的實(shí)心鍛件應(yīng)沿整個(gè)長度，以最小呈90的兩側(cè)面進(jìn)行檢測。若切實(shí)可行，在縱向方向上使用直探頭。注：探測近表而不連續(xù)時(shí)，最好檢測所有表而。若切實(shí)可行，實(shí)心鍛件和空心鍛件都用以縱向方向檢測。3.8.4方形和矩形鍛件（縱向鍛造）方形和矩形橫截面（見圖3.4）的實(shí)心鍛件應(yīng)以最小90兩側(cè)而進(jìn)行檢測，若切實(shí)可行,使用直探頭沿縱向方向檢測。注：近表而不連續(xù)探測時(shí)，最好檢測所有的六個(gè)表面。表3.1檢測靈敏度和記錄驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)掃査靈敏度在最人聲程式上6mm直徑平底孔達(dá)40%屏幕高度+至少6dB評定靈敏度級別1級別2級別3在缺陷距離上6mm直徑平底孔達(dá)40%屏幕高度記錄級別記錄任一產(chǎn)生$20%網(wǎng)格高度

12、的波幅的不連續(xù)記錄任一產(chǎn)生$40%網(wǎng)格高度的波幅的不連續(xù)記錄任一產(chǎn)生M80%網(wǎng)格高度的波幅的不連續(xù)定尺寸要求可記錄的缺陷應(yīng)對檢測項(xiàng)目反射率、尺寸和位置進(jìn)行定大小。尺寸應(yīng)包括所確定參數(shù)的高、寬和長等底面回波衰減任何情況卜，除非能證明是由幾何外形引起的底而回波的降低，否則應(yīng)記錄引起底面回波降低$50%的信號。3.8.5墩粗鍛件對J墩粗鍛件，應(yīng)使用直探頭檢測所有表面以達(dá)到總體積檢測，適當(dāng)時(shí)，可采用斜探頭（見A1,附錄A）。3.8.6空心鍛件全長徑向360。檢測空心鍛件，切實(shí)可行時(shí)，使用直探頭縱向檢測（見圖3.5）。應(yīng)使用斜探頭探測縱向或周向不連續(xù)，其中有徑向方向的不連續(xù)，尤其是存在內(nèi)孔表面的不連續(xù)（

13、見圖E1,附錄E,可選擇探頭角度）。3.8.7錐形鍛件應(yīng)特別注意不能加工成臺階狀的錐形鍛件，因?yàn)樵跈z測期間會(huì)出現(xiàn)回波損失；對此，可雙方協(xié)商評定結(jié)果（見A1,附錄A）。3.8.8復(fù)雜鍛件由復(fù)雜鍛件通常都是復(fù)合形狀，因此可協(xié)商所用檢測方法（見A1,附錄A）,可組合并結(jié)合上述各種方法。3.8.9空心鍛件需鉆孔的鍛件應(yīng)在未鉆孔狀態(tài)卜檢測:若探測到中心不連續(xù)時(shí)，有必耍鉆孔后再檢測（見圖3.6）。圖31圓形（實(shí)心）橫截面圖3.3圖31圓形（實(shí)心）橫截面圖3.3十字形或凸緣鍛件圖3.5圖3.5圓形（空心）橫截面圖3.6圓形（內(nèi)孔）橫截而第四節(jié)檢測數(shù)據(jù)的評定4.1驗(yàn)收規(guī)范通過超聲檢測方法探測到的不連續(xù)，其驗(yàn)收

14、級別應(yīng)在和關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)或訂單中明確規(guī)定。4.2顯示的評定和記錄應(yīng)按照3.7.3節(jié)耍求，以商定的評定靈敏度級別對不連續(xù)的位置、范閑和尺寸進(jìn)行評定和記錄。任何情況卜，應(yīng)記錄底面回波降低最$50%的缺陷信號，除非能證明是由兒何形狀而引起的底波降低。不連續(xù)顯示應(yīng)按照卜列類型進(jìn)行分類(也可參見附錄F)：面狀斜面狀條狀密集性點(diǎn)狀使用商定的靈敏度評定不連續(xù)尺寸，其評定方法在附錄C和G中規(guī)定。附錄D中規(guī)定了由F凸面曲率而對波幅進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒╫第五節(jié)檢測數(shù)據(jù)的描述5.1概述第5.2節(jié)規(guī)定的信息是內(nèi)部信息，并記錄從而可再現(xiàn)檢測結(jié)果。5.3節(jié)規(guī)定的信息應(yīng)遞交需方，并給出檢測結(jié)呆。5.2檢測記錄檢測記錄應(yīng)至少

15、包括卜列信息：試驗(yàn)室名稱或檢測機(jī)構(gòu)工件識別號產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)材料規(guī)范澳人利亞標(biāo)準(zhǔn)號，如，AS1065,選擇指定方法以及與此方法不同的任何偏差。注：應(yīng)記錄設(shè)定評定靈敏度的方法。檢測區(qū)域(打査方向和范圍)。表面狀態(tài)，包括準(zhǔn)備的類型以及是否符合Ra6.3Pm儀器設(shè)備和所有輔助設(shè)施包括耦合劑(J)檢測數(shù)據(jù)圖形顯示，以及是否符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)(k)買方對檢測結(jié)果評定的其他耍求信息檢測口期和檢測場所(m)報(bào)告編號和開證口期(n)檢測人員資格證書5.3檢測報(bào)告檢測報(bào)告應(yīng)至少包括卜列信息：試驗(yàn)室名稱或檢測機(jī)構(gòu)工件識別號材料規(guī)范表面狀態(tài)澳人利亞標(biāo)準(zhǔn)號，如，AS1065,選擇指定方法以及與此方法不同的任何偏差。檢測區(qū)域(打查方

16、向和范圍)。表面狀態(tài)，包括準(zhǔn)備的類型以及是否符合Ra6.3Pm(J)檢測數(shù)據(jù)圖形顯示，以及是否符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)(k)買方對試驗(yàn)結(jié)果評估的其他耍求信息檢測口期和場所(m)報(bào)告號和開證口期(n)負(fù)貴檢測報(bào)告人員的資格證書附錄A訂單或詢單應(yīng)提供的信息(本附錄不構(gòu)成本標(biāo)準(zhǔn)的主要部分)A1概述以卜所列內(nèi)容應(yīng)是在檢測Z前提供檢測人員的相關(guān)信息：(a)作業(yè)書參考號(b)產(chǎn)品描述和標(biāo)識(見A3)(c)任一相關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的參考號(d)若適用，生產(chǎn)制造史和預(yù)定用處(見A4)(e)表面耍求(見3.2)(f)是否要求使用斜探頭(見A5)（g）要求掃查的方法（見3.8）（11）任一可選的靈敏度（見3.7.4和A6）（J）不連

17、續(xù)的驗(yàn)收級別，若產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中無規(guī)定（見A7）（k）按本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法所商定的偏差（見A8）（l）是否要求檢測報(bào)告（見7.2和A9）（m）參考此澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)，如AS1065A2檢測機(jī)構(gòu)超盧檢測的效果取決檢測人員的技術(shù)能力，同時(shí)也取決J：他們刈顯示的評估能力。但是,評估缺陷重要性的貴任不在檢測機(jī)構(gòu)。就檢測人員對無損檢測方法掌握知識情況而言，澳人利亞無損檢測學(xué)會(huì)（AINDT）運(yùn)行實(shí)施資格體制。這些AINDT資格條件由澳人利亞，國家檢測機(jī)構(gòu)學(xué)會(huì)認(rèn)可，其運(yùn)行無損檢測檢測服務(wù)的資格體制。A3產(chǎn)品描述和標(biāo)識所有鍛件應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)標(biāo)識。也可隨附圖紙顯示材料規(guī)范、結(jié)構(gòu)外形、尺寸，尤其是高應(yīng)力區(qū)域。在鍛件形狀復(fù)雜的情況

18、卜，應(yīng)提前咨詢檢測人員，以獲得最好的檢測方法。A4生產(chǎn)歷程若鍛件不在生產(chǎn)場地進(jìn)行檢測，則檢測人員可能不知道鍛件先前的處理情況。因此為了避免評定出現(xiàn)錯(cuò)誤，應(yīng)將所有相關(guān)信息提供檢測人員；這些錯(cuò)誤可能是由生產(chǎn)方法引起（焊接、磨削等，這些都明顯地影響機(jī)械性能，如尺寸、位置、碩度和原本存在的不均勻性方向）,或者是由隨后的生產(chǎn)造成（如：附件焊接，可改變鍛件機(jī)械性能）。在這些重要的因素中，應(yīng)了解澆鑄詳細(xì)信息、鋼錠尺寸以及隨后的處理、鍛比、鍛造順序以及任何相關(guān)的熱處理。A5斜探頭若由鍛件的幾何形狀或者由J：一些可疑的缺陷無法使用直探頭探測時(shí)，一般使用斜探頭掃查。當(dāng)使用直探頭探測時(shí)，也可協(xié)助對缺陷指示進(jìn)行評估。

19、當(dāng)使用斜探頭掃査時(shí)，應(yīng)使用適用直探頭的頻率、校準(zhǔn)、靈敏度和探頭操作。波束角度的選擇應(yīng)考慮到鍛件的幾何形狀，尤其是希望檢測空心鍛件的內(nèi)表面缺陷。附錄E規(guī)定了外徑與壁厚Z比最適宜的波束角度。A6靈敏度耍求需耍特別注意的是，應(yīng)規(guī)定檢測的參考靈敏度，以便檢測結(jié)果與已知的靈敏度數(shù)據(jù)相聯(lián)系，也可在以后重驗(yàn)中能夠正確的重復(fù)操作檢測狀態(tài)。規(guī)定靈敏度級別的一些應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)用特殊的超聲檢測。如果沒有提供靈敏度信息，則應(yīng)清楚地顯示要求評定的最小缺陷。A7缺陷驗(yàn)收級別可在合適的適用標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定缺陷驗(yàn)收級別。當(dāng)沒有此類標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，應(yīng)規(guī)定缺陷的驗(yàn)收級別。A8不同J：標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定方法如果檢測方法與本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定方法不同，則應(yīng)清楚地

20、在訂單中規(guī)定。不同標(biāo)準(zhǔn)方法的檢測方法應(yīng)在與檢測機(jī)構(gòu)商定后作為一個(gè)書而規(guī)范使用。A9檢測報(bào)告和復(fù)檢當(dāng)耍求檢測報(bào)告時(shí)，應(yīng)在訂單中規(guī)定。如果需方允許糾正校驗(yàn)，則應(yīng)在糾正后清楚地規(guī)定其詳細(xì)內(nèi)容以及復(fù)檢的鍛件評定標(biāo)準(zhǔn)。附錄E影響探頭選擇的因素（附錄不構(gòu)成本標(biāo)準(zhǔn)整體組成部分）B1概述檢測鍛件時(shí)，探頭的選擇通常應(yīng)兼顧適宜以及經(jīng)濟(jì)實(shí)用這兩種情況。任一鍛件的檢測都應(yīng)以這種方式執(zhí)行，以保證超聲探測茯得最佳結(jié)果。并使用可盡可能高的頻率獲得較高的分辨率同時(shí)應(yīng)考慮聲能穿透性和可接受的噪聲（干涉）級別。應(yīng)根據(jù)鍛件的I、列特點(diǎn)確定選擇最適合的探頭：(a)鍛件的幾何形狀和表面狀態(tài)(b)尺寸(c)金相組織(d)不連續(xù)的性質(zhì)、位

21、置和方向(e)接觸存在缺陷的區(qū)域和表面掃查方式的有效性。選擇探頭的指南如F：B2探頭性質(zhì)B2.1頻率人部分情況卜，鍛件超聲檢測的頻率在2MHz和5MHz范圍之間。但是，對粗晶粒材料可使用1MHz至2MHz的頻率，同時(shí)當(dāng)需耍提高分辨力和靈敏度時(shí)，可使用5MHz至10MHz的頻率。若規(guī)定，也可使用其它頻率。卜列因素會(huì)影響頻率的選擇：（a）盧束耍穿過的金屬性質(zhì)。在粗晶粒鋼中，較高頻率與較低頻率相比，其衰減程度更人：例如，在粗晶粒鋼中,1MHz獲得滿意的穿透深度，由丁衰減更嚴(yán)重的原因4IHZ的頻率不能獲得滿意結(jié)果，穿透力較小。（b）探測的缺陷尺寸。一般來說，探測的不連續(xù)尺寸和超聲聲束的波長成正比。頻率

22、越高，波長越短，探測到的不連續(xù)越小。同時(shí)頻率越高分辨力越高。（O聲程。當(dāng)聲程較長時(shí)，使用較低的頻率比較有利，由衰減比較少。B2.2聲束角度選擇盧束角度的目的就是使超盧聲束軸線垂直最人反射面或任何不連續(xù)的表面。B2.3探頭類型通常使用單晶探頭，但當(dāng)對近表面進(jìn)行檢測時(shí)，可使用雙晶片探頭或窄脈沖單晶片探頭。附錄C反射曲線（DGS）的使用（本附錄構(gòu)成本標(biāo)準(zhǔn)的一個(gè)整體部分）C1直探頭用反射曲線的說明C1.1總則。直探頭的反射曲線（見圖C1）顯示的是垂直J：超聲波軸線的一系列盤式反射體的和対波幅,相對j:近場區(qū)長度中探頭-不連續(xù)的距離。曲線対盤式不連續(xù)有效。這些不連續(xù)小波束直徑并且垂直于超聲波軸線。試驗(yàn)材

23、料的衰減校正在附錄H,H4中規(guī)定。C1.2相對波幅。相對波幅是指以分貝表示的增益，盂要將指示的波幅提高到己知反射體的波幅。最常用的反射體是底而回波或相似的界面回波，其表而與波束軸線垂直。C1.3不連續(xù)的相対尺寸。不連續(xù)相對尺寸S,是不連續(xù)直徑與探頭晶片直徑Z比，如卜：其中df=盤式不連續(xù)的當(dāng)量直徑，mm。&=探頭晶片的直徑，nunoC1.4反射體距離。反射體（不連續(xù)或是參考反射體）距離，D,在近場區(qū)長度中離探頭的距離，如卜表示：D其中Nl探頭與反射體間的距離，mm2=使用探頭的近場區(qū)長度，mm雖然反射曲線所示D的范闈含0.1到1.0（反射體的距離小近場區(qū)長度），但事實(shí)上使用曲線的這一部分并不理

24、想，因?yàn)樵诮鼒鰠^(qū)的相刈波幅并不可靠。同樣的，曲線包括S在內(nèi)人于1.0的（比如反射體直徑人J：晶片大?。?，但通常不使用曲線的這一部分。C1.5使用反射曲線（DGS）的例子。卜列舉例說明使用DGS確立檢測靈敏度和反射體當(dāng)量尺寸：例1.檢測靈敏度的確立（增益設(shè)置）。使用晶片直徑20nun頻率2N1HZ的直探頭檢測厚度為150mm的鋼鍛件。最小可探測的不連續(xù)當(dāng)鼠直徑為3mm的反射體。注：不考慮衰減因素確定增益設(shè)定要求此3nmi直徑的盤式指示能夠顯示150mm范圍內(nèi)規(guī)定的參考級別，此時(shí)底而回波增益值為12dE。本例中，假設(shè)以100%網(wǎng)格高度做為參考。（探頭直徑尸4X（波長，mm4X（波長，mm）其中Nc

25、=近場區(qū)長度，mmNf=探頭到反射體的距離，mm&=盤式不連續(xù)的當(dāng)量直徑，mm氏=探頭晶片的直徑，mm從DGS曲線可以看出，D（在4.4處理）和S（在0.15處）交點(diǎn)得出的總增幅為40dE因?yàn)樵诮鼒鰠^(qū)距離D（在4.4處）底而回波為9dE底而回波與3mm圓盤式反射體么間的波幅差值為31dB.,所以3mm指示全屏高度的增益設(shè)定值為:!2dB+31dB=43dB増幅dB刃密鯊!m蜜物iya旳,.滋滋處叔鍛町曲初/曲I宓協(xié)瀆吐沁I遠(yuǎn)10、/、.4沁曲陽縄盤宦標(biāo)沁逸isKMHIMaiSM那&雷注該亜iSL紘CMC寸S9b*CO0)0b666666o二増幅dB刃密鯊!m蜜物iya旳,.滋滋處叔鍛町曲初/曲

26、I宓協(xié)瀆吐沁I遠(yuǎn)10、/、.4沁曲陽縄盤宦標(biāo)沁逸isKMHIMaiSM那&雷注該亜iSL紘CMC寸S9b*CO0)0b666666o二cme00coKeooio9羞QHSMliii底面回沸距離(近場區(qū))(D),mm圖Cl直探頭反射曲線例2用平底孔做為反射體當(dāng)鼠尺寸可以使用反射曲線，將不同聲程中未知尺寸反射體的反射率與已知尺寸反射體的反射率相比較：使用直徑lOnun頻率4MHz的單晶直探頭檢測慮程120mm處一4mm直徑平底孔，調(diào)節(jié)回波到一個(gè)適宜的網(wǎng)格高度。在80mm的聲程上，探測到一個(gè)不連續(xù)，波幅是4dE,低J：參考級別。要求評估不連續(xù)反射體尺寸。TOC o 1-5 h zM(refaranc

27、)=120_7瓦_(dá)165and色(reference)=4_=04andrfc10從圖C1所示，4mm平底孔的相對波幅將比底而回波高18dB.因此不連續(xù)的相對波幅是22dE(例:4dB+18dB)大于底面回波,并且DThen(disccotiiiuity)1.5DThen(disccotiiiuity)1.5所以對J：一個(gè)10mm的晶片直徑，評定的當(dāng)鼠反射體直徑為2.5nunc例3以底而回波作為參考，確定不連續(xù)人小。使用直徑24nun頻率2MHz的直探頭檢測厚度為480mm的鋼鍛件。在深度為96mm處獲得不連續(xù)指示。確定記錄的當(dāng)最反射體人小的不連續(xù)指示。本例中，將底而回波高度提高到一個(gè)適宜的網(wǎng)

28、格高度并且記錄分貝讀數(shù)：16dEZ后,將不連續(xù)指示提高到和同的網(wǎng)格高度并記錄新的分貝讀數(shù)：34dB增益級別之間的差值是：34dB-16dB=18dB.自此480mm厚度相當(dāng)J-480/48=10近場區(qū)長度，不連續(xù)指示相當(dāng)J;96/48=2近場區(qū)長度。如圖C1中，畫兩條垂直線在這些位置上。在10近場區(qū)長度倒記數(shù)（向F）18dB并且畫一條水平線投影到2近場區(qū)長度線上。兩條線的交點(diǎn)在S=0.1曲線上。因?yàn)榫睆绞?4mm,當(dāng)炭反射體的尺寸是24X0.1=2.4mm.C2斜探頭反射曲線使用指南斜探頭的反射曲線是用來描述以亳米表示的反射體距離，增益，當(dāng)鼠平底孔Z間關(guān)系的曲線。因此反射曲線取決探頭的頻率

29、以及晶片尺寸。対丁斜探頭，頻率為2MHz，晶片為20niinX22min,其曲線女IIC2所示。斜探頭的反射曲線的應(yīng)用不同/直探頭，因?yàn)橥ǔＧ闆r卜不能得到檢測材料的底而回波。因此用作參考的回波來自校準(zhǔn)或參考試塊，一般是采用一號校準(zhǔn)試塊的lOOnmi半徑。因?yàn)樾?zhǔn)試塊的衰減特性以及表面狀態(tài)可能會(huì)不同檢測材料,所以必須確定衰減和傳遞損失的差值，并且應(yīng)用增益設(shè)置到反射曲線上。一個(gè)確定此種損失的方法見附錄H,H3。例，使用圖C2來確定増益設(shè)置（靈敏度確立）的程序。使用一晶片尺寸為20imnx22nmi,頻率為2MHz的斜探頭檢測鋼鍛件。一個(gè)可探測到的最小不連續(xù)相當(dāng)在130mm最人范圍內(nèi)探得的一個(gè)3mm

30、平底孔的反射。假如檢測的材料和一號校準(zhǔn)試塊Z間的衰減和傳遞損失是6dB,需要怎樣的增益設(shè)置，才能在全屏高度上顯示這個(gè)回波呢?從一號校準(zhǔn)試塊lOOnmi的半徑上產(chǎn)生一個(gè)回波，增益值是12dB.全屏高度顯示。使用圖C2,使用100mm半徑校準(zhǔn)試塊的回波調(diào)節(jié)130mm的靈敏度總增幅是3dE使用3mm平底孔的回波調(diào)節(jié)130mm的靈敏度總波幅是29dBo因此，回波與3mm平底孔的增幅差值是26dB.所以從lOOnmi半徑回波達(dá)到全屏高度的增益設(shè)置是12dB,把3mm平底孔提升到全屏高度的增益設(shè)置是：12dB26dB-6dB=32dB203040增幅dB50605050050001045叫20005000

31、500601500100020005000700010020050010002000500070000102012dB26dB-6dB=32dB203040增幅dB50605050050001045叫200050005006015001000200050007000100200500100020005000700001020010205050100200-SEquivalentflat-Dottomedholediameter(mm)1000BEAMPATHFROMEMISSIONPOINT,mm200070I從探頭前端發(fā)出，沿表面的不連續(xù)距離mm圖C2晶片尺寸為20niiiiX22niiii

32、的斜探頭的典型曲線附錄D凸而曲率補(bǔ)償（此附錄構(gòu)成本標(biāo)準(zhǔn)的整體部分）D1打査表面的凸面曲率補(bǔ)償當(dāng)一個(gè)平而探頭耦合到一個(gè)凸起形狀的測試表面時(shí)，探傷靈敏度要小平面探頭耦合到平整表而的靈敏度。靈敏度的減少鼠與晶片直徑及檢測表面曲率半徑有一定關(guān)系。不同的探頭直徑和曲率半徑的補(bǔ)償(例如提高增益)可由圖表(見圖D1)的使用決定，如卜所述：使測試表而的曲率半徑定位左側(cè)標(biāo)度使探頭直徑定位J：中間標(biāo)度連接這些點(diǎn)成線，并且延伸與右側(cè)的刻度相交。在右側(cè)刻度上相交的點(diǎn)就是添加的以分貝表示的補(bǔ)償修正值。例如：當(dāng)一個(gè)直徑為15亳米的探頭探測到一個(gè)150亳米的半徑的檢測表而時(shí)，所需的校準(zhǔn)值是77dB,即:名義上+8dB圖D1

33、曲率補(bǔ)償D2后壁的凸而曲率補(bǔ)償當(dāng)使用反射對比曲線或者是在人半跨距的距離上使用斜探頭時(shí)，且當(dāng)使用回波作為參考值來設(shè)定檢測靈敏度時(shí)，后壁凸而曲率應(yīng)該有一個(gè)公差。曲度的補(bǔ)償在圖D2中顯示。6666?+補(bǔ)償修正值0Q.010.020.050.1S51-05.010.02?+補(bǔ)償修正值0Q.010.020.050.1S51-05.010.02曲率半徑I和母材厚度tZ比圖D2S不同值的補(bǔ)償附錄E空心鍛件的波束角度選擇（此附錄不構(gòu)成本標(biāo)準(zhǔn)的整體部分）當(dāng)使用橫波探頭擔(dān)査圓柱形空心鍛件的圓周面時(shí)，所使用的聲束角度應(yīng)能夠獲得最有利的聲束至內(nèi)徑表而分布，即波束會(huì)相切內(nèi)表而。壁厚與外徑之比對應(yīng)的最佳波束角度可以從圖E

34、1中所示的圖表中選擇。波束角度，度數(shù)80605040波束角度，度數(shù)8060504030.02。4.06.08.1.12.14.16.18.2,21.22壁厚與外徑之比I圖E1最佳波束角度附錄F不連續(xù)的分類(此附錄不構(gòu)成本標(biāo)準(zhǔn)的一個(gè)整體部分)聲程聲程識別包絡(luò)B探頭從A移動(dòng)至E(a)方鍛件聲程*B探頭從A移動(dòng)到E探頭從C探頭從C移動(dòng)到DTOC o 1-5 h zI1；識別包絡(luò)_LCD(b)圓形鍛件1F11flABeampathICD聲程探頭從C移動(dòng)到D(a)方鍛件圖圖F3條狀不連續(xù)盧程探頭從A移動(dòng)到E探頭從C移動(dòng)到D聲程盧程探頭從A移動(dòng)到E探頭從C移動(dòng)到D聲程識別包絡(luò)ABrnI識別包絡(luò)!_-D(b

35、)圓形鍛件圖示F2斜面狀不連續(xù)圖圖F3條狀不連續(xù)聲程聲稈聲程探頭從A移動(dòng)到E識別包絡(luò)探頭從C移動(dòng)到D(a)方鍛件聲程BA聲程I探頭從A移動(dòng)到E聲程1探頭從C移動(dòng)到D(b)圓形鍛件識別包絡(luò)圖圖F3條狀不連續(xù)盧程圖圖F3條狀不連續(xù)聲程I探頭從C移動(dòng)到D(a)方鍛件探頭從C探頭從C移動(dòng)到D(b)圓形鍛件圖示F4密集性不連續(xù)最后的顯著回波是指在信號迅速卜落之前的那一點(diǎn)(圖最后的顯著回波是指在信號迅速卜落之前的那一點(diǎn)(圖G2(c),并不是從不連續(xù)最后的顯著回波是指在信號迅速卜落之前的那一點(diǎn)(圖最后的顯著回波是指在信號迅速卜落之前的那一點(diǎn)(圖G2(c),并不是從不連續(xù)圖示圖示F4單個(gè)不連續(xù)盧程n識別包絡(luò)n

36、-探頭從A移動(dòng)到E(a)方鍛件盧程”識別包絡(luò)最后的顯著回波是指在信號迅速卜落之前的那一點(diǎn)(圖最后的顯著回波是指在信號迅速卜落之前的那一點(diǎn)(圖G2(c),并不是從不連續(xù)最后的顯著回波是指在信號迅速卜落之前的那一點(diǎn)(圖最后的顯著回波是指在信號迅速卜落之前的那一點(diǎn)(圖G2(c),并不是從不連續(xù)圖示圖示F4單個(gè)不連續(xù)聲程識別包絡(luò)聲程識別包絡(luò)聲程I探頭從A移動(dòng)到E探頭從C移動(dòng)到D(b)圓形鍛件附錄G強(qiáng)度降低法測最不連續(xù)尺寸(此附錄構(gòu)成本標(biāo)準(zhǔn)的一個(gè)整體部分)G1范圍此附錄制定了用強(qiáng)度降低法對碳鋼及合金鋼鍛件不連續(xù)進(jìn)行尺寸測定的方法。G2原理AS2038詳細(xì)規(guī)定了通過使用選定的分貝降低值確定有效盧束擴(kuò)散的方

37、法，通常情況為20dB或6dB其中G3,G4對20dB法進(jìn)行了詳細(xì)規(guī)定。6dB法可以通過標(biāo)繪6dB聲束幾何形狀并利用I、述方法，但要用6dBaG3直探頭20dB法(見圖Gl)o步驟如I(a)在不連續(xù)上移動(dòng)探頭找到最后的顯著回波的強(qiáng)度最人點(diǎn)(圖G1(a)。最后的顯著回波是指信號迅速卜落之前的那一點(diǎn)。需要調(diào)節(jié)增益控制來確立這一點(diǎn)。(b)在此點(diǎn)上，調(diào)整回波高度在全屏幕的80%100%之間(圖G1(b)(c)調(diào)整增益，降低20dB,記錄回波高度(圖G1(d),并返回初始設(shè)定。(d)向前移動(dòng)探頭，直到回波回落到基準(zhǔn)線。逆向移動(dòng)探頭直到回波高度達(dá)到步驟(c)達(dá)到的回波高度(圖G1(c)和(d)(e)標(biāo)注探

38、頭位置及回波聲程(圖G1(c)(f)逆向移動(dòng)探頭，重復(fù)步驟(a)到(e)o(g)以正確的角度，重復(fù)步驟(a)到(f)注：對丁較人的不連續(xù)，需耍進(jìn)行多個(gè)方向的移動(dòng)。(h)測鼠探頭的移動(dòng)距離(M),通過減去在不連續(xù)盧程上的聲束寬度(a1+a2),得到不連續(xù)尺寸(圖G1(e),即注：在實(shí)際聲程中檢驗(yàn)20dE法G4斜探頭20dE法G4.1檢測垂直面狀缺陷的方法(圖G2)。步驟如卜：在不連續(xù)上移動(dòng)探頭(圖G2(C)直到得到最后的顯著回波的強(qiáng)度最高點(diǎn)。(圖G2)o圖示圖示F4單個(gè)不連續(xù)得到的最人響應(yīng)值(圖G2(a)和(b)。需要調(diào)節(jié)增益控制來確立這一點(diǎn)。在此點(diǎn)上，調(diào)節(jié)回波高度在全屏幕高度的80%100%之

39、間。(O減少增益20dE,記錄回波高度，并返回到初始設(shè)置。向前移動(dòng)探頭，直到回波回落到基準(zhǔn)線位置。逆向移動(dòng)探頭，直到回波高度回到步驟(c)(圖G2(e)和(f)中的高度。標(biāo)注探頭位置以及回波的聲程式(圖G2(g)o逆向移動(dòng)探頭，重復(fù)(a)到(e)步驟。標(biāo)繪出探頭位置和在步驟(e)和(f中每個(gè)位置的聲束邊界。在聲束擴(kuò)散中，沿20dB邊界來測龜范FBI,最終圖示結(jié)果應(yīng)該顯示不連續(xù)的尺寸和方向(圖G2(g)。為了得到更精確的結(jié)果，在另外兩個(gè)最小表面上重復(fù)(a)至(g)步驟。注：1這種對不連續(xù)定尺寸的方法，在測量探頭位置和評估20dE降落點(diǎn)時(shí)，可以容許較小誤差的存在。應(yīng)認(rèn)真標(biāo)繪聲束擴(kuò)展范圍以保證結(jié)呆的

40、準(zhǔn)確性。G4.2水平而狀缺陷的檢測步驟(圖G3)。具體步驟如卜平行移動(dòng)探頭探測不連續(xù)，直到獲得最人的回波高度。最人回波高度是指在信號迅速回落Z前的那一點(diǎn)。需要増益控制來確立這一點(diǎn)。在此點(diǎn)上，調(diào)節(jié)回波高度至全屏幕高度的80%100%之間。(O降低增益20dE,標(biāo)記回波高度，并返回到初始設(shè)置。平行移動(dòng)探頭直到回波落到基準(zhǔn)線處。逆向移動(dòng)探頭直到回波高度回到步驟(c)中得到的高度。記錄穿過中心線的探頭位置。再沿著相反方向盤移動(dòng)探頭，重復(fù)(a)到(e)步驟。測量探頭移動(dòng)的距離(M),并減去波束寬度(ai+a2),得到不連續(xù)長度(L)。(圖G3),即=M十如)注：1在實(shí)際聲程上檢驗(yàn)20dE點(diǎn)2.這種對不連續(xù)定尺寸的方法，在測最探頭位置和評估20d