幾何精度控制與應(yīng)用試驗(yàn)指導(dǎo)書

1、幾何精度控制與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書機(jī)械制造及自動(dòng)化2008 年 9 月 1 日實(shí)驗(yàn)一 軸孔測(cè)量一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康牧私廨S、孔零件的尺寸和形位誤差的測(cè)量方法。了解光學(xué)比較儀和內(nèi)徑百分表的工作原理、調(diào)整和測(cè)量方法。鞏固軸、孔零件有關(guān)尺寸及形位公差的概念，學(xué)會(huì)由測(cè)得數(shù)據(jù)判斷零件合格性的方法。二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容用立式光學(xué)比較儀測(cè)量軸。用內(nèi)徑百分表測(cè)量孔。三、用立式光學(xué)比較儀測(cè)量軸立式光學(xué)比較儀立式光學(xué)比較儀用于長(zhǎng)度測(cè)量， 其測(cè)量方法屬于接觸測(cè)量， 一般用相對(duì)測(cè)量法測(cè)量軸的 尺寸。是一種精度較高、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的常用的光學(xué)儀器，除主要用于軸類零件的精密測(cè)量外， 還可用來檢定 3、4 級(jí)量塊。儀器的基本度量指標(biāo)如下：分度值0.00

2、1mm示值范圍 0.1mm測(cè)量范圍：最大直徑150mm最大長(zhǎng)度180mm示值誤差：在 0.06mm 分度范圍內(nèi) 0.2 m大于 0.06mm 分度范圍內(nèi) 0.3 m儀器外形如圖 1 所示。測(cè)量原理 立式光學(xué)比較儀是利用光學(xué)自準(zhǔn)原理和機(jī)械正切杠桿原理進(jìn)行測(cè)量的，如圖 2所示。 從物鏡焦平面上的焦點(diǎn) c 發(fā)出的光，經(jīng)物鏡后變成一束平行光到達(dá)平面反射鏡P，若平面反射鏡與主光軸垂直，則光線按原路反射回來，即發(fā)光點(diǎn)c與像點(diǎn) c 重合。圖中， 若測(cè)桿因被測(cè)工件尺寸的變化而產(chǎn)生微小的位移 S，使平面鏡 P 轉(zhuǎn)動(dòng) 角，則反射光束與入射光束間的夾 角為 2 ，反射光束匯聚于像點(diǎn) c, 則cc f tan2 式中

3、： f 為物鏡的焦距， 為偏轉(zhuǎn)角。 微小位移S btan2 其中， b 為測(cè)桿到支點(diǎn) O 的水平距離。 光杠桿的放大比f tan2 2fKbtan b若 f=200mm 、b=5mm ，K=80 ，目鏡放大倍數(shù)為 12倍，則儀器的總放大倍數(shù)為 1280=960 倍。圖 3 為立式光學(xué)比較儀光路圖， 由光源 1 發(fā)出的光線， 經(jīng)反射鏡 2 到物鏡焦平面刻度尺3、棱鏡 5以及物鏡 6射在反射鏡 7上，當(dāng)測(cè)桿 8有微小位移時(shí)，反射鏡 7繞支點(diǎn) 9轉(zhuǎn)動(dòng) 角，從目鏡 10 中可看到反射回來的刻度尺的影像4，根據(jù)影像零刻線相對(duì)于固定指標(biāo)線的位移量，即可判斷被測(cè)尺寸的實(shí)際偏差。1光源； 2反射鏡； 3微調(diào)螺

4、釘； 4細(xì)調(diào)凸輪螺釘； 5光管鎖緊螺釘； 6測(cè)頭； 7工作臺(tái)； 8底座； 9立柱； 10投影筒； 11橫臂； 12橫臂鎖緊螺釘； 1 3 橫臂升降螺母； 14測(cè)頭提升杠桿圖 2 測(cè)量原理圖 1 光學(xué)比較儀測(cè)量步驟（1）根據(jù)被測(cè)工件形狀選擇測(cè)頭，使測(cè)頭與工件成點(diǎn)接觸或線接觸。測(cè)頭形式有球形、刃 形、平面形。其中球形測(cè)頭用得最多。（2）選用量塊。若沒有相應(yīng)尺寸的量塊，則需要組合量塊。為了減小組合的累積誤差，要 盡量減少量塊的數(shù)量，一般不超過45 塊。選用時(shí)，應(yīng)從所需尺寸的最后一位數(shù)字開始，逐一選取， 每塊至少能減少一位小數(shù)。組合使用時(shí)，需要先清理量塊表面，然后沿著一個(gè)塊規(guī)表面平推，使兩者能緊密研合

5、。（3）調(diào)整儀器。第一步，擦凈儀器工作臺(tái)，將量塊置于工作臺(tái)上，松開螺釘 12，轉(zhuǎn)動(dòng)升降 螺母 13，調(diào)整橫臂 11 上下移動(dòng)，使測(cè)頭與量塊中心接觸（不允許量塊在測(cè)頭下移動(dòng)，以免 劃傷量塊工作表面） ，從投影筒觀察，讓刻度尺影像的零刻線出現(xiàn)在固定指標(biāo)線的附近，鎖 緊螺釘 12。第二步，松開螺釘 5，轉(zhuǎn)動(dòng)凸輪 4，使指針距離零位更近，然后鎖緊螺釘5，轉(zhuǎn)動(dòng)微調(diào)螺釘 3，使刻度尺影像的零刻線對(duì)準(zhǔn)零位。輕輕按動(dòng)提升桿14，使測(cè)頭起落數(shù)次， 當(dāng)穩(wěn)定后，抬起測(cè)頭，取下量塊。（4）進(jìn)行測(cè)量，擦凈工件表面并置于儀器工作臺(tái)上，對(duì)指定部位進(jìn)行測(cè)量（如圖4），依次圖 3 光學(xué)比較儀光路圖 圖 4 測(cè)量部位示意圖測(cè)量

6、A、B、 A、 B位置的素線上的 I 、II 、III 點(diǎn)處的直徑。注意每次都要在刻度尺達(dá)到最 高位置時(shí)讀取數(shù)據(jù)。當(dāng)所有讀數(shù)均在工件要求的上下偏差范圍之內(nèi)，工件的尺寸精度合格。四、用內(nèi)徑百分表測(cè)量孔內(nèi)徑百分表 內(nèi)徑百分表用于長(zhǎng)度測(cè)量，其測(cè)量方法也屬于接觸測(cè)量，一般用相對(duì)測(cè)量法測(cè)量孔 徑、槽寬的尺寸。它由指示表和裝有杠桿系統(tǒng)的測(cè)量裝置所組成，內(nèi)徑百分表的外形和 內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖如圖 5。被測(cè)孔徑大小不同，可選用不同長(zhǎng)度的可換測(cè)頭（固定量柱）。每一儀器都附有一套可換測(cè)頭以備選用。儀器的測(cè)量范圍取決于固定量柱的范圍。 測(cè)量范圍一般為 610，10 18，1835，35 50，50 100，100 160，

7、160 250、250 450 等，單位為 mm。其分度值為 0.01mm，測(cè)量原理測(cè)量孔徑時(shí)， 孔壁使測(cè)量桿 2 向左移動(dòng)， 使擺塊 3 擺動(dòng)， 從而使百分表測(cè)桿 6向上 移動(dòng)，于是百分表指針發(fā)生偏轉(zhuǎn)，可讀出孔徑實(shí)際偏差。 定位護(hù)橋 7 在彈簧的作用下， 對(duì)稱 地壓靠在被測(cè)孔壁上，使得測(cè)頭 l 和 2 的軸線位于被測(cè)孔的直徑上。圖 6 測(cè)量位置示意圖圖 5 內(nèi)徑百分表外形和工作原理測(cè)量步驟根據(jù)被測(cè)工件的基本尺寸，選用相應(yīng)尺寸的可換測(cè)頭。按照被測(cè)工件的基本尺寸，選取或組合量塊，將量塊放入夾具，對(duì)內(nèi)徑百分表校對(duì)零（1）（2） 位。測(cè)量時(shí)，應(yīng)按照指示位置（如圖 6 所示）測(cè)量，即分別在 I 、II

8、 、III 截面內(nèi)測(cè)量?jī)蓚€(gè)（3） 相互垂直的直徑值。 測(cè)量時(shí)，應(yīng)保證內(nèi)徑百分表的可換測(cè)頭與測(cè)量桿的連線與孔的軸線垂直， 并且在每個(gè)測(cè)量部位輕輕晃動(dòng)儀器， 使得指針順時(shí)針偏轉(zhuǎn)到最低點(diǎn)時(shí)讀數(shù)。 當(dāng)所有讀數(shù)均在 工件要求的上下偏差范圍之內(nèi)，工件的尺寸精度合格。五、數(shù)據(jù)處理及合格性判定軸的測(cè)量（1）局部實(shí)際尺寸： 全部測(cè)量位置的實(shí)際尺寸都應(yīng)在規(guī)定的最大、最小極限尺寸范圍之內(nèi)，即實(shí)際偏差應(yīng)全部在上、下偏差范圍內(nèi)，有一處超差，即為該軸的尺寸精度不合格。另外， 判定時(shí)也要考慮測(cè)量誤差。（2）形位誤差：素線直線度誤差和素線平行度誤差應(yīng)小于相應(yīng)的公差。例： 前面介紹的實(shí)驗(yàn)步驟測(cè)量一軸 30H8，直線度公差為 1

9、5m，平行度公差為 40 m。 測(cè)得數(shù)據(jù)如下表所列，判定尺寸精度、直線度和平行度是否合格。測(cè)量方向?qū)嶋H偏差 mIIIIIIAA-30-31-32AA-31-33-32BB-30-31-35B B-29-32-291） 首先查得 30H8 的上、下偏差分別為 0、-33m，由于 BB的 III 位置、 B B 的 I 和 III 位置的實(shí)際偏差均超差，故該軸的尺寸精度不合格。2） 計(jì)算直線度誤差和平行度誤差用做圖法，以橫坐標(biāo)代表測(cè)量位置 I 、II 、III ，坐標(biāo)軸與基準(zhǔn)直線平行，基準(zhǔn)直 線由儀器工作臺(tái)模擬。以縱坐標(biāo)代表實(shí)際偏差（此坐標(biāo)軸原點(diǎn)取在偏差為-30 m處）。建立起坐標(biāo)系后，用描點(diǎn)法將

10、測(cè)得的 12個(gè)偏差描出，如圖 7 所示。素線直線度誤差是按最小包容區(qū)域在測(cè)量方向上的寬度 確定，取各個(gè)方向上的最大 值， f=3 m。小于公差值 15 m，合格。素線平行度誤差，按定向最小包容區(qū)域測(cè)量方向上的寬度1 確定，取各個(gè)方向上的最大值， f1=5 m。小于公差值 40 m，合格。2孔（ 1） 局部實(shí)際尺寸：全部測(cè)量位置的實(shí)際尺寸都應(yīng)在規(guī)定的最大、最小極限尺寸范 圍之內(nèi)，即實(shí)際偏差應(yīng)全部在上、下偏差范圍內(nèi)，有一處超差，即為該孔的尺 寸精度不合格。另外，判定時(shí)也要考慮測(cè)量誤差。（ 2） 形狀誤差：用內(nèi)徑百分表測(cè)量孔，為兩點(diǎn)法，其圓度誤差根據(jù)其定義，為在同 一截面位置的兩個(gè)方向上測(cè)得的實(shí)際偏

11、差之差的一半。取各測(cè)量部位的最大誤 差為圓度誤差，圓度誤差小于給定公差，即合格。實(shí)驗(yàn)二實(shí)驗(yàn)?zāi)康谋砻娲植诙鹊臏y(cè)量熟悉表面粗糙度的主要評(píng)定參數(shù)。掌握表面粗糙度的常用測(cè)量方法。二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容用雙管顯微鏡測(cè)量表面粗糙度。用干涉顯微鏡測(cè)量表面粗糙度。三、用雙管顯微鏡測(cè)量輪廓最大高度 Rz雙管顯微鏡 雙管顯微鏡是根據(jù)“光切法原理”制成的光學(xué)儀器，通常適合于測(cè)量表面粗糙度值 在 0.8 100 m的范圍內(nèi)零件。其測(cè)量范圍取決于選用的物鏡放大倍數(shù)。儀器的主要性 能如表 1 所列。儀器外形如圖 8 所示。表1物鏡放大倍數(shù)總放大倍數(shù)視場(chǎng)直徑 /mm系數(shù) E/（ m/格）測(cè)量范圍 / m605100.30.16 0.

12、8 1.6302600.60.29 1.6 6.3141201.30.63 6.3 207602.51.2820 802 測(cè)量原理用雙管顯微鏡時(shí)測(cè)量原理如圖 9 所示，由光源 1 發(fā)出的光線經(jīng)狹縫 2（綠色擋板）及物 鏡 3 形成一扁平的光束，此光束以 45 角 的方向投射到被測(cè)表面而形成一條綠色的光帶， 光帶邊緣的形狀即為被測(cè)工件在 45截面的輪廓。 光帶經(jīng)反射后， 通過觀察顯微鏡的物鏡 4 成像于目鏡 5 的分劃板 6 上。目鏡中看到的影像是與被測(cè)表面成45方向截面上的輪廓曲線，并經(jīng)觀測(cè)目鏡放大了 M 倍，故表面的實(shí)際粗糙度最大高度h 與影像 h的關(guān)系為h cos45hM由圖 9（ c）可

13、見，測(cè)微器中的十字線與測(cè)微器讀數(shù)方向成45，當(dāng)用十字線中的任一直線與影像峰、谷相切來測(cè)量波高時(shí)，波高h(yuǎn) =h”cos45 ,式中， h”為測(cè)微器兩次讀數(shù)的差值，代入式上式中，被測(cè)表面的粗糙度最大高度為hcod 45 cos451 hh M2M1令 E ，為與物鏡放大倍數(shù)有關(guān)的系數(shù)，則 h Eh 。物鏡放大倍數(shù) M 與系數(shù) E 2M按被測(cè)表面粗糙度數(shù)值依據(jù)表 2 進(jìn)行選擇。另外，雙管顯微鏡還可測(cè)量輪廓的間距參數(shù)。圖8 光切法顯微鏡圖 9 光切法顯微鏡工作原理測(cè)量步驟（1）按圖紙要求或用比較法估計(jì)被測(cè)表面的粗糙度值，按照表1 選擇合適放大倍數(shù)的物鏡安裝在儀器上。將工件安置在工作臺(tái)上的 V 型槽中，

14、松開螺釘 18，轉(zhuǎn)動(dòng)工作臺(tái)，使得 工件加工痕跡與光帶方向平行，擰緊螺釘18。通過變壓器接通電源。（ 2）調(diào)整儀器，松開螺釘 7，轉(zhuǎn)動(dòng)螺母 4，使鏡頭架 12 緩慢下降到靠近工件表面，但 不能接觸，使得目鏡 10 中出現(xiàn)一條綠色光帶，鎖緊螺釘7。再通過反復(fù)調(diào)節(jié)微調(diào)手輪 6 及光帶位置調(diào)節(jié)鈕，使得光帶清晰。松開螺釘9，轉(zhuǎn)動(dòng)目鏡 10，使目鏡中十字水平線與光帶大致平行，然后鎖緊螺釘 9。（ 3）根據(jù)粗糙度允許值查表確定取樣長(zhǎng)度l，在取樣長(zhǎng)度范圍之內(nèi)，轉(zhuǎn)動(dòng)目鏡百分尺11，使十字線水平線分別與每個(gè)波峰、波谷相切，讀數(shù)的最大差值為測(cè)量值。測(cè)量值與系數(shù) E 的乘積即為表面粗糙度輪廓最大高度Rz。四、用干涉顯

15、微鏡測(cè)量輪廓最大高度 Rz干涉顯微鏡圖 10 為干涉顯微鏡的外觀圖，它的外殼是方箱。箱內(nèi)安裝光學(xué)系統(tǒng)，箱后下部伸出光 源部件 1，箱后上部伸出參考平鏡及其調(diào)節(jié)的部件， 箱前上部仲出目鏡 10，其上裝目鏡千分 尺，箱前下部窗口裝襯照相機(jī) 6，箱的兩邊有各種調(diào)整用的手輪；箱的上部是圓工件臺(tái)4，它可水平移動(dòng)、 轉(zhuǎn)動(dòng)和上下移動(dòng)。對(duì)小上件， 將被測(cè)表面向下放在圓工作臺(tái)上測(cè)量：對(duì)大工 件，可將儀器倒立故在工件的被測(cè)表面上進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量原理用干涉顯微鏡測(cè)量時(shí)， 儀器的光學(xué)原理如圖 11，由光源 1 發(fā)出的光線， 經(jīng)聚光濾色組 2 聚光和濾色，再經(jīng)反射鏡 3 轉(zhuǎn)向，通過光欄 4、5 和物鏡 6，投射于分光鏡

16、7 的半透明半反 射膜后，分成兩路光束，一路光束透過分光鏡 7 和補(bǔ)償鏡 10、物鏡 11 射向物鏡工件被測(cè)表 面 P2，經(jīng) P2 反射后原路返回，再射在分光鏡上，射向觀察目鏡16。另一路光束由分光鏡 7反射，經(jīng)濾色片 8、物鏡 9 射向標(biāo)準(zhǔn)反射鏡 P1，再由 P1 反射也經(jīng)原路返回，透過分光鏡， 射向觀察目鏡 16。由于同一光源分為兩路的相干光束之間有光程差，相遇后便產(chǎn)生干涉， 在目鏡 16 中可觀察到產(chǎn)生于分劃板 15上的明暗相間的干涉條紋。 如果被測(cè)表面是理想表面， 則干涉條紋為一組等距離的平行條紋線； 若被測(cè)表面存在微觀不平， 則形成彎曲條紋， 其彎 曲程度隨微觀不平度的高度發(fā)生變化，

17、如圖 12 所示。用測(cè)量裝置分別測(cè)出彎曲度 a 和相鄰 兩條干涉條紋的距離 b，根據(jù)光波干涉原理，粗糙度最大高度Rz 的計(jì)算公式為2b式中： 為光波波長(zhǎng)（ m）。Rz該儀器附有照相裝置，可將成像于平面玻璃P3 上的干涉條紋拍下，進(jìn)行測(cè)量計(jì)算。a圖 10 干涉顯微鏡圖 11 干涉顯微鏡光學(xué)原理圖 12 干涉條紋3測(cè)量步驟（1）將被測(cè)零件放在儀器工作臺(tái) 4 上，被測(cè)表面向下對(duì)著物鏡頭，接通電源。（2）將手柄 13 轉(zhuǎn)至箭頭朝上的位置，以切斷通向參考鏡9的光線。然后將手柄 13（ 3）轉(zhuǎn)動(dòng)調(diào)焦旋鈕 11，使目鏡內(nèi)觀察到被測(cè)表面的清晰加工痕跡影像， 轉(zhuǎn)至箭頭水平指向的方向，再微調(diào)調(diào)焦旋鈕11，視場(chǎng)內(nèi)即

18、出現(xiàn)干涉條紋。23mm 左右。（ 4）繞自身軸線旋轉(zhuǎn)手柄 12，調(diào)節(jié)干涉條紋寬度，使之在目鏡視場(chǎng)內(nèi)為 再將手柄 12 繞光軸旋轉(zhuǎn)，調(diào)節(jié)干涉條紋方向，使之垂直于加工痕跡。（5）旋轉(zhuǎn)目鏡測(cè)微器，使十字線的水平線與干涉條紋輪廓中線平行。干涉條紋的間隔 寬度 b 應(yīng)取三個(gè)不同位置的平均值。Rz，則輪廓最大高度（6）在同一干涉條紋上測(cè)量最高點(diǎn)與最低點(diǎn)的值，讀數(shù)之差為RzRzb2其中 的值，應(yīng)根據(jù)選用光色不同，以及干涉顯微鏡的說明書確定。（ 7）在評(píng)定長(zhǎng)度內(nèi)，依次測(cè)量五個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)的Rz,并求出平均值作為測(cè)得值，若不超出允許值，則可判斷該表面的粗糙度合格。實(shí)驗(yàn)三 齒輪測(cè)量一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康牧私鈨x器工作原理和使用

19、方法。熟悉齒輪精度指標(biāo)。二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容1. 用基節(jié)儀測(cè)量基圓齒距偏差。用偏擺檢查儀測(cè)量徑向跳動(dòng)。用齒厚卡尺測(cè)量齒輪分度圓上齒厚偏差。用公法線千分尺測(cè)量齒輪公法線長(zhǎng)度偏差。三、用基節(jié)儀測(cè)量基圓齒距偏差1. 基節(jié)儀 手動(dòng)式基節(jié)儀的外形結(jié)構(gòu)如圖 13（ a）所示，該儀器上有兩個(gè)測(cè)頭一個(gè)為固定量爪3，另一個(gè)為活動(dòng)量爪 5，兩個(gè)測(cè)頭與齒輪兩相鄰齒廓相切?；顒?dòng)量爪5 的另端經(jīng)過杠桿系統(tǒng)與固定在儀器上端的指示表 6 相連。所以量爪 5 的位移在指示表上即可讀出。固 定量爪 3 可用螺桿 1 調(diào)整。儀器上的支腳 4 起支承作用它與固定量爪 3 在同一個(gè)部件 上，可使兩個(gè)測(cè)頭在測(cè)量時(shí)位置穩(wěn)定，旋轉(zhuǎn)螺桿 8 能使定

20、位頭移動(dòng)?；?jié)儀測(cè)量范圍為 模數(shù) m=1 16mm。指示表分度值 i1 m，示值范圍為 0.05mm。測(cè)量原理 基圓齒距偏差是指實(shí)際基節(jié)與公稱基節(jié)之差。 此基節(jié)不在基圓柱上測(cè)量， 而是在摹圓柱 的切平面上測(cè)量。 實(shí)際基節(jié)是指基圓柱切平面與兩相鄰?fù)瑐?cè)齒面相交線之間的法向距離。 公 稱基節(jié)在數(shù)值上等于基圓柱上的弧齒距Pb。測(cè)量基圓齒距偏差的原理如圖 13（ b）所示。 測(cè)量方法為相對(duì)測(cè)量法。用等于公稱基節(jié)的組合量塊來校準(zhǔn)，測(cè)頭3 和 5 的工作面均向齒輪，與相鄰的齒面接觸時(shí)兩測(cè)頭之間的距離表示實(shí)際基節(jié)， 。實(shí)測(cè)與校準(zhǔn)兩次在指示表上讀數(shù)之 差即為基節(jié)偏差。測(cè)量步驟（ 1）計(jì)算基節(jié)的理論值 Pbmco

21、s ，根據(jù)計(jì)算值選取量塊或組合量塊，然后將組合好的量塊放在調(diào)零器上，如圖 14 所示。（2）調(diào)整儀器零位，先轉(zhuǎn)動(dòng)表殼將表的指針調(diào)至指針偏轉(zhuǎn)范圍的中心，再將儀器置于調(diào)零 器的校對(duì)塊上，松開儀器（圖 13 所示）背面的鎖緊螺釘，擰動(dòng)螺桿1，使固定量爪 3 的測(cè)量面與校對(duì)塊 10（圖 14 所示）的 A 面貼合，活動(dòng)量爪 5 與校對(duì)塊 12 的 B 面貼合，調(diào)節(jié)螺 桿 1 使指示表指針處于零位附近。 最后轉(zhuǎn)動(dòng)表盤的微調(diào)螺釘或表殼使指針精確指向零。 此時(shí) 量爪 3 與 5 之間的距離為基圓齒距的理論值。（3）將儀器定位爪 4 和固定量爪 3 跨放在被測(cè)齒廓上， 借以保持測(cè)量時(shí)量爪的位置穩(wěn)定性。 活動(dòng)量

22、爪與相鄰齒的同側(cè)齒面接觸， 左右擺動(dòng)儀器， 指針順時(shí)針轉(zhuǎn)到最低點(diǎn)時(shí)讀數(shù)， 即為實(shí) 際基圓齒距偏差值。（4）沿圓周均布的 n 個(gè)齒的左右齒廓分別測(cè)量左、右基節(jié)偏差。取所有讀數(shù)中絕對(duì)值最大 的數(shù)作為被測(cè)齒輪的基圓齒距偏差f pb。圖 13 基節(jié)儀測(cè)量基節(jié)圖 14 基節(jié)儀調(diào)零器四、用偏擺檢查儀測(cè)量徑向跳動(dòng)1. 偏擺檢查儀圖 15 為偏擺檢查儀的外形圖。被測(cè)齒輪與心軸一起裝在兩頂針之間，兩頂針架裝在滑臺(tái) 4 上。轉(zhuǎn)動(dòng)手輪 1，可使滑板作縱向移動(dòng)。扳動(dòng)提升手柄13，可使指示表放下進(jìn)入齒槽或抬起退出齒槽。 該儀器可測(cè)模數(shù)為 0.35mm 的齒輪。 為了測(cè)量各種不同模數(shù) 的齒輪、儀器備有不同直徑的球形測(cè)量頭

23、。圖 15 齒輪跳動(dòng)檢查儀2. 測(cè)量原理 徑向跳動(dòng)誤差是指在齒輪一轉(zhuǎn)范國(guó)內(nèi)， 測(cè)頭在齒槽內(nèi)或輪齒上， 于齒高中部雙面接 觸，測(cè)頭相對(duì)于齒輪軸線的最大變動(dòng)量。如圖 16 所示。為了使側(cè)頭球面在被測(cè)齒輪的 分度圓附近與齒面接觸，球形測(cè)頭的直徑dp、應(yīng)按下式選取 dp=1.68m 。式中， m 為齒輪模數(shù) （mm） 。圖 16 測(cè)量原理測(cè)量步驟（1）選擇合適的測(cè)頭，使之能夠在齒高中部與齒面雙面接觸，也可用輔助測(cè)量的小圓 柱代替。（2）調(diào)整好儀器，將被測(cè)齒輪安裝在檢驗(yàn)心軸上，頂在兩頂尖間，使其既能靈活轉(zhuǎn)動(dòng) 又無軸向竄動(dòng)。（3）任選一齒槽調(diào)零，同時(shí)使千分表的小指針指在量程中段。（4）順時(shí)針撥動(dòng)被測(cè)齒輪，

24、依次將測(cè)頭（球形、圓柱形、砧形）置于每個(gè)齒槽內(nèi)，在 示值穩(wěn)定后讀數(shù)，逐齒測(cè)量一圈，記下千分表讀數(shù)，最大數(shù)與最小數(shù)之差即為Fr 。10 五、用齒厚卡尺測(cè)量齒輪分度圓上齒厚偏差1. 齒厚卡尺圖 17 所示為測(cè)量齒厚偏差的齒厚游標(biāo)卡尺。它由兩套互相垂直的游標(biāo)尺組成。垂直游標(biāo)卡尺用來控制測(cè)量部位 （分度圓至齒頂圓 ）的弦齒高；水平游標(biāo)卡尺用來測(cè)量分度圓弦齒 厚。齒厚游標(biāo)卡尺的讀數(shù)原理和讀數(shù)方法與普通游標(biāo)卡尺相同，分度值i 0.02mm，測(cè)量范圍為模數(shù) ml 18mm。圖 17 齒輪游標(biāo)卡尺2測(cè)量原理 齒厚偏差是指在分度圓柱面上， 法向齒厚的實(shí)際值與公稱值之差。 用齒厚游標(biāo)卡尺測(cè)量 齒厚偏差。測(cè)量時(shí)，是以齒頂圓為基準(zhǔn)，一定要注意，垂直游標(biāo)卡尺應(yīng)