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文檔簡介
1、管制圖(不良率管制圖)理論計(jì)算不良率管制圖之統(tǒng)計(jì)理論基礎(chǔ)為二項(xiàng)分配,假設(shè)制程處于穩(wěn)定狀態(tài),制程中不符合規(guī)格的機(jī)率為必而且連續(xù)生產(chǎn)之各單位是獨(dú)立的,因此每一生產(chǎn)的單位能夠看成是白努利隨機(jī)變量,其參數(shù)為p。假如隨機(jī)抽取n個樣本,D是樣本中之不合格品數(shù),則D屬于二項(xiàng)分配,其參數(shù)為n及p亦即PD=x= x=0, 1, 2, , n隨機(jī)變量D的平均數(shù)與變異數(shù)分不為np及np(1-p)。樣本不良率之定義為:樣本中不合格品數(shù)目D與樣本大小n之比值隨機(jī)變數(shù)的分配從二項(xiàng)分配得知,因此的平均數(shù)與變異數(shù)分不是p假設(shè)y為量測品質(zhì)特性之樣本統(tǒng)計(jì)量,y之平均數(shù)為y,標(biāo)準(zhǔn)差為y,則蘇華特管制圖的一般型式為:UCLyky中心
2、線yLCL=yky使用條件由于不良率管制圖要緊管制制程不合格率必因此也稱為p管制圖,此管制圖盡管是用來管制產(chǎn)品之不合格率,但并非適用于所有之不合格率數(shù)據(jù)。在使用不良率管制圖時,要滿足下列條件發(fā)生一件不合格品之機(jī)率為固定。 前、后產(chǎn)品為獨(dú)立。假如一件產(chǎn)品為不合格品之機(jī)率,是依照前面產(chǎn)品是否為不合格品來決定,則不適合使用p管制圖。 假如不合格品有群聚現(xiàn)象時,也不適用p管制圖。此問題通常是發(fā)生在產(chǎn)品是以組或群之方式制造。例如在制造橡膠產(chǎn)品之化學(xué)制程中,假如烤箱之溫度設(shè)定不正確,則當(dāng)時所生產(chǎn)之整批產(chǎn)品將具有相當(dāng)高之不合格率。假如一產(chǎn)品被發(fā)覺為不合格,則同批之其它產(chǎn)品也將為不合格。 實(shí)際使用可能之情形不
3、良率p已知 假設(shè)不良率p已知,或p值由治理人員決定,則不良率管制圖的參數(shù)計(jì)算如下:UCLp中心線pLCLpp管制圖之實(shí)施步驟包括抽取n個樣本,計(jì)算樣本不良率,并將點(diǎn)在圖上,只要在管制界限內(nèi),且不存在系統(tǒng)性、非隨機(jī)性的變化,則可認(rèn)為在水準(zhǔn)p下,制程處于管制內(nèi)(in control)。假設(shè)有任一點(diǎn)超出管制界限,或者存在非隨機(jī)性變化的情形,則表示制程的不良率已改變且制程不在管制內(nèi)(out of control)。不良率p不知 若制程不良率p未知,則p值需從觀測數(shù)據(jù)中可能。一般的程序是初步選取m組樣本為n的樣本,通常m為20或25,假設(shè)第I組樣本含有Di個不合格品,則不良率為:i1, 2, m全體樣本
4、之平均不良率為統(tǒng)計(jì)量為不良率p的可能值。p管制圖中心線及管制界限之計(jì)算為:UCL中心線pLCL以上所得的管制界限稱為試用管制界限(trial control limits),它可先試用于最初的m組樣本,來決定制程正否在管制內(nèi)。為了測試過去制程在管制內(nèi)的假設(shè),我們可先將m組樣本之不良率分不繪在管制圖上,然后分析這些點(diǎn)所顯示的結(jié)果。若所有的點(diǎn)均在試用管制界限內(nèi)且不存有系統(tǒng)性的模型 則表示過去制程正在管制內(nèi),試用管制界限能夠延用于目前或以后的制程。假設(shè)有一點(diǎn)或更多點(diǎn)超出試用管制界限,則顯示過去的制程并非在管制內(nèi)現(xiàn)在必須修正試用管制界限。其作法是檢查每一個超出管制界限的點(diǎn)找出其非機(jī)遇緣故,然后將這些點(diǎn)
5、舍棄,重新按相同之方法算出管制界限并檢查在圖上的點(diǎn)正否超出新的管制界限或存有非隨機(jī)性的模型。若有點(diǎn)超出。新的管制界限外,則須再修正管制界限,直到所有的點(diǎn)均在管制內(nèi)?,F(xiàn)在的管制界限才能延用于目前或以后的制程。實(shí)例 【例】某除草機(jī)制造商以p管制圖管制除草機(jī)在發(fā)動時是否正常。該公司每天抽取40部做試驗(yàn),第一個月之?dāng)?shù)據(jù)如下表所示,試建立試用管制界限。日期不合格品數(shù)日期不合格品數(shù)日期不合格品數(shù)日期不合格品數(shù)147113719023831422013190153213421011632225311217262124188【解】由于每天抽樣之樣本數(shù)均相同,因此不合格率之平均值能夠利用下式計(jì)算:0.0648管
6、制界限為UCL=0.6480.1816LCL=0.6480.052由于LCL0并無意義,因此我們將LCL設(shè)為0其p管制圖如下管制圖發(fā)生特異值之緣故特異值(freaks):某個觀測值明顯的與其它值不同??赡苁?工具設(shè)置錯誤后立即改進(jìn) 測量錯誤 繪制錯誤 操作錯誤 設(shè)備故障等 管制圖發(fā)生周期變化之緣故周期變化(cycles): 在一個短區(qū)間,數(shù)據(jù)會以某種模式重復(fù)??赡苁?季節(jié)性因素阻礙如氣溫與濕度等 固定設(shè)備已磨損的位置或紋路 操作員疲勞 電壓變化 工作輪調(diào)等 管制圖發(fā)生平均值改變之緣故平均值改變(shift in level):平均值明顯不在中心線附近可能是 夾具 制程方法 制程技術(shù) 引進(jìn)新原料
7、 操作員技術(shù)更熟練 改變設(shè)備維修打算 引進(jìn)制程管制 標(biāo)準(zhǔn)變化 管制圖發(fā)生趨勢之緣故趨勢(trends):管制圖中的點(diǎn)逐漸上升或下降可能是 某些零件逐漸松動或磨耗 多種原料混合使用 工具與夾治具逐漸磨損 操作員學(xué)習(xí)中 維修技術(shù)不良 制造現(xiàn)場之環(huán)境臟亂 管制圖發(fā)生混合之緣故混合(mixtures):觀測值都落在離中心線專門遠(yuǎn)的地點(diǎn),而且交錯地分散可能是 兩種以上的原料操作員機(jī)器測量工具生產(chǎn)方法交錯使管制圖發(fā)生規(guī)則性變化之緣故規(guī)則性變化(systematic variable):管制圖中的點(diǎn)一上一下有秩序的出現(xiàn)可能是 抽樣行為呈有規(guī)則性變化 有規(guī)則性的從不同母體中抽樣 管制圖發(fā)生分層之緣故分層(st
8、ratification):是一種穩(wěn)定的混合型,通常是靠近中心線或管制界限可能是兩種以上 原料 操作員 機(jī)器測量工具 生產(chǎn)方法交錯使用 管制圖發(fā)生不穩(wěn)定之緣故不穩(wěn)定(instability):出現(xiàn)不平常的大波動可能是 大規(guī)模機(jī)器重新調(diào)整 夾治具位置不正確 不同批的原料混合使用 與操作員機(jī)器測試儀器原料有關(guān) 非隨機(jī)抽樣 np(不良數(shù)管制圖)管制圖參數(shù)計(jì)算不良數(shù)管制圖是管制制程中不合格產(chǎn)品數(shù)目,此管制圖亦稱為np管制圖,其參數(shù)計(jì)算為UCL = 中心線 = nLCL =假如p未知,則以來可能p值。p管制圖與np管制圖之比較在應(yīng)用上,假如每一樣本之大小均相等,則以使用np管制圖較p管制圖為容易(在數(shù)據(jù)
9、收集時,我們通常記錄n個樣本中之不合格品數(shù),若使用np管制圖,則可直接將不良數(shù)繪在圖上,不需將不良數(shù)除以樣本大小小以求得不合格率P)。為幸免同一工廠內(nèi)使用p和np兩種管制圖所造成之困擾,有些學(xué)者建議統(tǒng)一使用p管制圖,因?yàn)閜管制圖適用于樣本大小固定或樣本大小變動時。實(shí)例【例】: 假設(shè)不合格率之平均值為=0.255,n=45,試計(jì)算np管制圖之參數(shù)?!窘狻浚篣CL = 20.25LCL =2.7在np管制圖中,圖上所描繪之點(diǎn)代表樣本中之不合格品之?dāng)?shù)目,而不合格品數(shù)必須為整數(shù)。因此樣本之不合格品數(shù)介于3至20間(含3及20),則制程可視為在管制內(nèi)。c管制圖(缺點(diǎn)數(shù)管制圖)理論計(jì)算 所謂不合格品是指一
10、件物品無法符合一項(xiàng)或多項(xiàng)之規(guī)格要求。任何不符合規(guī)格之處,稱為一個不合格點(diǎn)(nonconformity)或缺點(diǎn)(defect)。依照不合格點(diǎn)之嚴(yán)峻性,我們可能將具有許多不含格點(diǎn)之物品視為合格品。換句話講,具有不合格點(diǎn)之物品,不一定為不合格品。C管制圖是為了管制一個檢驗(yàn)單位之總不合格點(diǎn)數(shù)。在每一樣本中出現(xiàn)不合格點(diǎn)之機(jī)率,服從卜瓦松分配的假設(shè)下。每個樣本出現(xiàn)的缺點(diǎn)數(shù)是參數(shù)為的Poisson分配,。, x = 1,2,X即缺點(diǎn)數(shù)的隨機(jī)變量,因?yàn)閄設(shè)為Poisson分配,故其平均值與變異數(shù)都為。假如管制圖上下限以3為準(zhǔn),且已知,則管制圖的計(jì)算如下:UCL = 中心線 = LCL = 使用條件 因?yàn)閏管制
11、圖在卜瓦松分配的假設(shè)下,有幾項(xiàng)條件必須符合:在產(chǎn)品出現(xiàn)不合格點(diǎn)之機(jī)會(位置)要相當(dāng)大,而每一特定位置發(fā)生不合格點(diǎn)之機(jī)率專門小且固定。 每一樣本發(fā)生不合格點(diǎn)之機(jī)會(范圍)要相同。 不合格點(diǎn)之發(fā)生需為獨(dú)立,亦即產(chǎn)品上某一部分發(fā)生不合格點(diǎn)不阻礙其它不合格點(diǎn)之出現(xiàn)。 實(shí)際使用可能之情形 假如未 知,的不偏可能值為平均每樣本上的缺點(diǎn)數(shù),UCL = 中心線 = LCL = 實(shí)例 【例】:下表是某汽車工廠生產(chǎn)之車門不合格點(diǎn)數(shù)記錄,每組樣本大小為100,試建立管制圖。樣組不合格點(diǎn)數(shù)樣組不合格點(diǎn)數(shù)1514728154341694917115121810671967820981221229212213107238
12、11122410126257139【解】:此25組樣本共含236個缺點(diǎn),因此c之可能值為9.44試用管制界限為UCL = 18.66中心線 = 9.44LCL = 0.22依此25組樣本繪制下面管制圖其中樣本9及21均超出管制界限,因此必須診斷樣本9及21之異常緣故。若異常緣故已排除后,則可將樣本9及21之?dāng)?shù)據(jù)刪除,并重新計(jì)算管制界限,新的不合格點(diǎn)數(shù)之平均值為c=193/23=8.39。修正后之管制界限為UCL = 17.08中心線 = 8.39LCL = 0.0修正后管制圖如下u管制圖(單位不合格數(shù)管制圖)理論計(jì)算 假如每一樣本之檢驗(yàn)單位不同(不同之件數(shù)、面積),則無法滿足每一樣本出現(xiàn)不合格
13、點(diǎn)之機(jī)會范圍相同之要求。傳統(tǒng)c管制圖只能顯示每一樣本之不合格點(diǎn)之總數(shù),并無法正確反應(yīng)不合格點(diǎn)數(shù)之變化,我們必須有一標(biāo)準(zhǔn)之量測單位來定義不合格點(diǎn)出現(xiàn)之機(jī)會范圍。u管制圖即是為了解決上述問題之一可行方法。u管制圖可用來管制單位不合格點(diǎn)數(shù)。若在樣本為n個檢驗(yàn)單位中發(fā)覺有c各不合格點(diǎn),則單位不合格點(diǎn)數(shù)為管制圖之參數(shù)為UCL中心線LCL使用條件 c管制圖系假設(shè)樣本為一檢驗(yàn)單位,但有些情況下樣本大小并不剛好等于一檢驗(yàn)單位,通常是依照作業(yè)及數(shù)據(jù)收集之方便性來決定。有時我們可能會為了增加發(fā)覺不合格點(diǎn)之機(jī)會,而采納數(shù)個檢驗(yàn)單位當(dāng)做是一個樣本。因此u管制圖為n個獨(dú)立之卜瓦松隨機(jī)變量之線性組合,故仍可視為卜瓦松,也
14、就符合卜瓦松分配假設(shè),其使用條件與c管制圖相同。實(shí)際使用可能之情形 為從過去數(shù)據(jù)所可能之單位不合格點(diǎn)數(shù)之平均值,以上所求得之管制圖可當(dāng)做是試用管制界限(trial control limits)。實(shí)例 【例】:某打字行以每千個字中之錯誤,來衡量其打字員的品質(zhì)。該打字行記錄某位打字員每天所完成之打字中的錯誤,其數(shù)據(jù)如下表所示。計(jì)算試用管制界限。日期份數(shù)行數(shù)錯誤數(shù)目樣本大小每檢驗(yàn)單位之不合格數(shù)1157236327.2364.4223332147506257.5063.3306693106221246.2213.8579014115670235.674.0564375126714306.7144.4682756147213217.2132.911417104568274.5685.910683883954163.9544.0465359127293277.2933.7021810104627244.6275.18694611136435186.4352.79720312187406347.4064.5908721373746233.7466.139883日期份數(shù)行數(shù)錯誤數(shù)目樣本大小每檢驗(yàn)單位之不合格數(shù)1496217156.2172.4127391565101175.1013.332681655663375.6636.5336391765889295.889
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