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文檔簡介
1、缺陷模式和影響分析FMEA:缺陷模式式和影響響分析FMEA是一種用用于檢查查潛在的的缺陷并并防止其其發(fā)生的的系統(tǒng)工工具。它它可增強(qiáng)強(qiáng)工程技技術(shù)人員員預(yù)測問問題的能能力并提提供排序序和優(yōu)先先系統(tǒng),從而可可以確定定絕大多多數(shù)缺陷陷模式。FMEA常用于過過程或產(chǎn)產(chǎn)品設(shè)計計的初始始階段。腦力激蕩蕩法被用用于確定定潛在的的缺陷模模式、缺缺陷原因因及其嚴(yán)嚴(yán)重度及及其發(fā)生生可能性性。在六六西格瑪瑪系統(tǒng)中中,F(xiàn)MEA也被用于于確定缺缺陷模式式。主要要關(guān)心缺缺陷原因因及其發(fā)發(fā)生的可可能性。因為有有實際數(shù)數(shù)據(jù),因因此不需需依賴腦腦力激蕩蕩法。FMEA用于在缺缺陷降低低項目中中進(jìn)行任任務(wù)管理理時也是是一個有有價值的
2、的工具。FMEAFMEA的定義1.認(rèn)可和評評估潛在的缺缺陷模式式及其原原因與設(shè)設(shè)計及制制造新產(chǎn)產(chǎn)品或升升級現(xiàn)有有產(chǎn)品的的關(guān)系。2.確定用于消除除和降低低潛在缺缺陷發(fā)生生機(jī)會的的行動。3.文件化過程。FMEA是一種系系統(tǒng)化的的設(shè)計評評估系統(tǒng)統(tǒng),其目目標(biāo)為:完成一個個確定功功能時的的缺陷不希望發(fā)發(fā)生的事事件錯誤的應(yīng)應(yīng)用缺陷模式式可能是是 .黑帶使用用FMEA來:確定前臺臺缺陷模模式并評評估其其其影響的的嚴(yán)重度度。確定關(guān)鍵鍵特性或或重要特特性。對潛在的的設(shè)計和和過程缺缺陷進(jìn)行行排序。幫助工程程技術(shù)人人員聚焦焦于產(chǎn)品品和過程程的關(guān)鍵鍵問題并并防止問問題復(fù)發(fā)發(fā)。減少產(chǎn)品品開發(fā)周周期及成成本。背景開發(fā)于1
3、960s早期,美美國宇航航局在APOLLO進(jìn)行登月計劃劃時所開開發(fā)。1970s早期被美美國海軍軍采用。1880s末,汽汽車工業(yè)業(yè)實施FMEA并開始要要求其供供應(yīng)商也也實施它它。降低低成本為為主要驅(qū)驅(qū)動力。1980s開始被推推廣使用用。NASA使用FMEA在APOLLO登月計劃劃中確定定單點缺缺陷。他們發(fā)現(xiàn)現(xiàn)了多少少缺陷?420因此我們們也存在在問題!!FMEA的類型系統(tǒng)設(shè)計過程系統(tǒng)FMEA用于在早早期概念念和設(shè)計計階段分分析系統(tǒng)統(tǒng)及子系系統(tǒng)存在在的問題題設(shè)計FMEA用于在生生產(chǎn)前對對產(chǎn)品進(jìn)進(jìn)行分析析過程FMEA分析制造造、裝配配及管理理過程何時開始始實施FMEA?用你已掌掌握的資資源盡力做到到
4、最好!盡可能早早的實施施指引:何時開始始?當(dāng)新系統(tǒng)統(tǒng)、產(chǎn)品品、工藝藝開始設(shè)設(shè)計時。當(dāng)現(xiàn)存設(shè)設(shè)計或工工藝開始始變更時時。當(dāng)已有設(shè)設(shè)計或工工藝將被被用于新新的產(chǎn)品品或生產(chǎn)產(chǎn)環(huán)境時時。在解決一一個問題題,防止止該問題題重復(fù)發(fā)發(fā)生時。開始與結(jié)結(jié)束過程FMEA表格過程缺陷陷模式潛在缺陷陷模式是是過程無無法實現(xiàn)現(xiàn)其預(yù)期期功能的的方式。.某項操作作的缺陷陷模式可可能為后后續(xù)操作作(下游游操作)缺陷的的原因、或先前前的操作作(上游游操作)缺陷的的影響結(jié)結(jié)果。缺陷模式式EFFECT先前的操操作CAUSE后續(xù)的操操作過程原因因過程FMEA考慮將過過程變異異歸因于于:作業(yè)員設(shè)置機(jī)器方法環(huán)境測量當(dāng)前的控控制評估在目目
5、標(biāo)離開開生產(chǎn)區(qū)區(qū)域并出出貨給客客戶前檢檢出缺陷陷的能力力。防止缺陷陷漏掉的的所有控控制能力力。SPC過程能力力Gage R&R抽樣檢驗和測測試試驗設(shè)計計測量的類類型嚴(yán)重度(SEVERITY)衡量該缺缺陷對本本系統(tǒng)、上一級級系統(tǒng)及及最終用用戶的影影響。發(fā)生概率率(OCCURRENCE)衡量特定定的原因因發(fā)生并并導(dǎo)致特特定缺陷陷出現(xiàn)的的可能性性。檢測可能能性(DETECTION)衡量現(xiàn)有有/提議議的控制制方法檢檢測出缺缺陷模式式的能力力。有三個典典型的測測量項目目:風(fēng)險優(yōu)先先數(shù)RPN=O xSx D(發(fā)生概率率)Occurrence x(嚴(yán)重度)Severityx(檢測可能能性)Detection
6、RPN的缺點A84396B48396同樣的結(jié)結(jié)果缺陷模式式嚴(yán)重度發(fā)生概率率有效性RPN行動優(yōu)先先級優(yōu)先級RPN范圍A 200BCD100-19926-991-25適時管理理并且由產(chǎn)品團(tuán)團(tuán)隊運用用并且其結(jié)果被被文件化化在以下時時候FMEA最有效:如何用好好?新技術(shù)運運用方法或產(chǎn)產(chǎn)品等發(fā)發(fā)生變化化存在慢性性不良問問題需進(jìn)行嚴(yán)嚴(yán)格的作作業(yè)控制制需進(jìn)行嚴(yán)嚴(yán)格的變變異控制制在以下時時候選擇擇設(shè)計或或過程FMEA .FMEA步驟制造工程師采購人員員過程作業(yè)業(yè)員過程知識識先期經(jīng)驗驗過去的問問題慢性不良良可靠性工程師過程功能能,潛潛在缺陷陷模式影響、原原因、當(dāng)當(dāng)前的控控制行動優(yōu)先先級削減和降降低缺陷陷模式的的
7、行動擔(dān)保及保保證基本步驟驟1.制制定戰(zhàn)略略ST91260ADRIVEBASE SUBSYSTEM&FIRMWARECOVERMEDIADISC PACKFINALARMARMSUBARMCOILBOBBINROT. ARMSP.FLEXSPINDLESTATORROTORHDAASSEMBLYBASE DECKRECIRFILTERBREATH. FILTERLABELSPCBASSEMBLYDISC CLAMPBAL. WTSPACERSMAGASSYLATCHARMSUBARMSUBBASE DECKDAMPERSEALMOTORPOLES,POLE SPACER必須建立立團(tuán)隊來來評估FM
8、EA的應(yīng)用。應(yīng)用范范圍列在在圖中,團(tuán)隊需需在以下下原則的指導(dǎo)下下展開工工作:-建立策策略聚焦焦于新技技術(shù)、過過去的問問題、新新的或重重新設(shè)計計的元件件上。從從產(chǎn)品(設(shè)計)和過程兩方面面來考慮慮-準(zhǔn)備設(shè)設(shè)計和過過程FMEA為選擇的的元件或或組件- 確定定功能、潛在缺缺陷模式式、影響響、原因因及計劃劃的驗證證活動(既有的的和計劃劃的)- 推薦薦的糾正正行動最高優(yōu)先先權(quán)第二優(yōu)先先權(quán)第三優(yōu)先先權(quán)1.確確定策略略2.評審設(shè)計計/過程程影響原因基本步驟驟基本步驟驟1.確確定戰(zhàn)略略2.評審設(shè)計計/過程程3.列出功能能清單1.確確定戰(zhàn)略略2.評審設(shè)計計/過程程3.列出功能能清單4.通過腦力力激蕩法法確定潛潛在
9、的缺缺陷模式式功能缺陷模式基本步驟驟1.確確定戰(zhàn)略略2.評審設(shè)計計/過程程3.列出功能能清單4.通過腦力力激蕩法法確定潛潛在的缺缺陷模式式5.組織潛在在的缺陷陷模式topictopic親和圖基本步驟驟1.確確定戰(zhàn)略略2.評審設(shè)計計/過程程3.列出功能能清單4.通過腦力力激蕩法法確定潛潛在的缺缺陷模式式5.組織潛在在的缺陷陷模式6.分析潛在在缺陷模模式基本步驟驟PRODUCT:FMEA NO.PROCESS/OPERATION:PAGEOFDESIGN (OR PROCESS) FMEAPLANNING REFERENCE:DATE:BY:Oklahoma CityPOTENTIALPOTENT
10、IALSPOTENTIALOCURRENTDRPNACTIONCORRECTIVERESPONSIBILITYACTIONRESULTINGFUNCTIONFAILURE MODEEFFECTS OFCAUSE(S) OFCONTROLSPRIORITYACTION& DATE DUETAKENFAILUREFAILURESODRPNDETECTIONOCCURRENCESEVERITYRPN = S x O x D1.確確定戰(zhàn)略略2.評審設(shè)計計/過程程3.列出功能能清單4.通過腦力力激蕩法法確定潛潛在的缺缺陷模式式5.組織潛在在的缺陷陷模式6.分析潛在在缺陷模模式7.建立風(fēng)險險優(yōu)先級級關(guān)鍵的
11、少少數(shù)次要的多多數(shù)基本步驟驟1.確確定戰(zhàn)略略2.評審設(shè)計計/過程程3.列出功能能清單4.通過腦力力激蕩法法確定潛潛在的缺缺陷模式式5.組織潛在在的缺陷陷模式6.分析潛在在缺陷模模式7.建立風(fēng)險險優(yōu)先級級8.采取行動動降低風(fēng)風(fēng)險基本步驟驟1.確確定戰(zhàn)略略2.評審設(shè)計計/過程程3.列出功能能清單4.通過腦力力激蕩法法確定潛潛在的缺缺陷模式式5.組織潛在在的缺陷陷模式6.分析潛在在缺陷模模式7.建立風(fēng)險險優(yōu)先級級8.采取行動動降低風(fēng)風(fēng)險9.計算改善善后的RPNs基本步驟驟1.確確定戰(zhàn)略略2.評審設(shè)計計/過程程3.列出功能能清單4.通過腦力力激蕩法法確定潛潛在的缺缺陷模式式5.組織潛在在的缺陷陷模式6
12、.分析潛在在缺陷模模式7.建立風(fēng)險險優(yōu)先級級8.采取行動動降低風(fēng)風(fēng)險9.計算改善善后的RPNs10.跟進(jìn)基本步驟驟行動設(shè)計或過過程必須須基于FMEA研究結(jié)果果進(jìn)行改改善。一個良好好開發(fā)的的FMEA,如果沒有有有效的的糾正行行動其價價值將大大打折扣扣。FMEA的要素缺陷模式式造成過程程不能滿滿足可測測量的需需求的任任何情形形。影響假定一個個缺陷發(fā)發(fā)生了,描述其其影響,分別列列出其對對下游操操作及最最終用戶戶的每個個主要影影響。嚴(yán)重度使使用一個個等級來來評估影影響的嚴(yán)嚴(yán)重程度度。其中中10代表最嚴(yán)嚴(yán)重,1代表最最不嚴(yán)重重.原因列出特定定缺陷模模式的所所有原因因和潛在在原因。發(fā)生可能能性為一個排排序,用用等級表表示缺陷陷發(fā)
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