2021年度儀器分析題庫

ー、判斷題［原子吸取］X1.原子吸取分光光度法是依照測得積分吸取進行定量。XX2.在原子吸取分光光度法中,只有被測元素共振線波長可作為測定波長。XX3.原子吸取譜線半寬度重要由自然變寬決定。Xノ4.提高原子化溫度可消除化學(xué)干擾。V5.原子吸取法測定血清鈣時,加入EDTA是為了消除化學(xué)干擾。X6.溫度越高,原子吸取譜線半寬度越窄。Xノ7.原子吸取光譜是線狀光譜,而紫外吸取分光光度法是帶狀光譜。X8.原子吸取測定中,基態(tài)原子數(shù)不能代表待測元素總原子數(shù)。Xノ9.火焰原子化法原子化效率只有10%左右。V10.原子吸取分光光度法測定樣品時,采用原則加入法可以有效消除物理干擾。X11.原子吸取分光光度計中單色器在原子化系統(tǒng)之前。V12,原子吸取測定中,基態(tài)原子數(shù)可以代表待測元素總數(shù)。X13.在原子吸取分光光度法中,火焰作用是使基態(tài)原子變成激發(fā)態(tài)原子或離子。ノ14.原子吸取分光光度計中單色器在原子化系統(tǒng)之后。15.在AAS法中可以用持續(xù)光源校正背景吸取,由于被測元素原子蒸氣對持續(xù)光源產(chǎn)生吸取可以忽視不計。16.在原子吸取分光光度法中，可通過峰值吸取測量來擬定待測原子濃度。X17.原子吸取分光光度法中，普通通過測定積分吸取來擬定蒸氣中原子濃度。X18火焰原子吸取光譜法中,吸光物質(zhì)是火焰中各種原子。X19.在儀器分析中,測定敏捷度越高,則檢出限必然越低。V20.原子吸取分光光度法測定樣品時,采用原則加入法可以有效地消除物理干擾及背景干擾。［原子熒光］ノ1.原子熒光分光光度計可不用單色器。VX2.原子熒光發(fā)射強度僅與試樣中待測元素含量關(guān)于,而與激發(fā)光源強度無關(guān)。XJ3.散射干擾不能用提高單色器辨別率辦法來消除。Vノ4.原子熒光光譜法是測定As和Hg國標(biāo)分析辦法。Vノ5.由于背景吸取和散射干擾嚴(yán)重,因此原子熒光分析中還很少采用石墨爐原子化器。V二、單項選取.由原子無規(guī)則熱運動所產(chǎn)生譜線變寬稱為（）A.自然變度B,霍爾茲馬克變寬C.勞倫茨變寬D.多普勒變寬.在原子吸取光譜分析中,若基體試樣影響較大,有難于配制與試樣構(gòu)成相似原則溶液時,為了獲得較好成果,最佳選取何種辦法進行分析A.工作曲線法B,內(nèi)標(biāo)法C.原則加入法D.間接測定法.原子吸取測定期,調(diào)節(jié)燃氣和助燃氣流量以及燃燒器高度目是（）A,控制燃燒速度B.增長燃氣和助燃氣預(yù)混時間C.提高試樣霧化效率D,獲得最高測量敏捷度.采用調(diào)制空心陰極燈重要是為了（）A,延長燈壽命B,克服干擾譜線C,防止光源譜線變寬D.扣除背景吸取.在原子吸取分析中,如燈中有持續(xù)背景發(fā)射，宜采用（）A,減小狹縫B.用純度較高單元素?zé)鬋.另選測定波長D,用化學(xué)辦法分離.用原子吸取法測定血清鈣時加入EDTA是為了消除:A.物理干擾 B,化學(xué)干擾C.光譜干擾 D.背景吸取.由原子壓カ所產(chǎn)生譜線變寬稱為（）A.自然變度B.霍爾茲馬克變寬C.勞倫茨變寬D.涉及B和C8,下述哪種光譜法是基于發(fā)射原理?（B）A.紅外光譜法B.熒光光度法C.分光光度法D.核磁共振波譜法9,在液相色譜法中，提高柱效最有效途徑是（D）A.提高柱溫 B.減小渦流擴散項C.減少流動相流速 D.改進固定相構(gòu)造,減小傳質(zhì)阻カ項.原子化器重要作用是（A）A,將試樣中待測元素轉(zhuǎn)化為氣態(tài)基態(tài)原子B.將試樣中待測元素轉(zhuǎn)化為激發(fā)態(tài)原子C.將試樣中待測元素轉(zhuǎn)化為中性分子D,將試樣中待測元素轉(zhuǎn)化為離子.在原子吸取分光光度計中,當(dāng)前慣用光源是BA.火焰 B.空心陰極燈C,気燈 D.交流電弧.質(zhì)量濃度為0.1Pg/mLMg在某原子吸取光譜儀上測定期,得吸光度為0.178,成果表白該元素在此條件下1%吸取所相應(yīng)特性濃度為CA.0.0000783 B.0.562C.0.00247 D.0.00783.原子吸取光譜分析過程中，被測元素相對原子質(zhì)量愈小，溫度愈高，則譜線熱變寬將(A)A,愈嚴(yán)重B,愈不嚴(yán)重C,基本不變D,不變.空心陰極燈重要操作參數(shù)是(A)A.燈電流B.燈電壓C.陰極溫度D.內(nèi)充氣體壓カ.在原子吸取分析法中，被測定元素敏捷度、精確度在很大限度上取決于:CA.空心陰極燈B,火焰C.原子化系統(tǒng)D.分光系統(tǒng).原子吸取法中,溶液黏度引起干擾屬于(B)A.光譜干擾B.物理干擾 C.電離干擾 D.化學(xué)干擾.若原子吸取定量辦法為原則加入法時，不能消除了下列哪種干擾?(D)A,分子吸取B.背景吸取C,光散射D.基體干擾.若原子吸取定量辦法為原則加入法時,具備特點有(D)A.消除基體干擾B.不能消除背景吸取C.加入原則溶液中元素濃度應(yīng)與試樣中被測元素濃度接近D.以上都是.在原子吸取分析中，如懷疑存在化學(xué)干擾,采用下列某些補救辦法,指出哪種辦法是不恰當(dāng)(D)A,加入釋放劑B.加入保護劑C.加入飽和劑D.變化光譜通帶.在火焰原子吸取分析中，分析敏捷度低,研究發(fā)現(xiàn)是在火焰中有氧化物粒子形成,于是采用下面某些辦法,指出哪種辦法是不恰當(dāng)(A)A,提高火焰溫度B.加入保護劑C.變化助燃比使成為富燃火焰D.預(yù)先分離干擾物質(zhì).在原子吸取分析中,如懷疑存在化學(xué)干擾，例如采用下列某些補救辦法(D)A.加入釋放劑B.加入保護劑C.加入飽和劑D.都可以.在原子吸取分析中,下列哪種火焰構(gòu)成溫度最高?(C)A,空氣-乙快B?空氣-煤氣C.笑氣ー乙快D.氧氣ー氫氣.在原子吸取分析中,當(dāng)溶液提高速度較低時,普通在溶液中混入表面張カ小、密度小有機溶劑,其目是(B)A.使火焰容易燃燒B.提高霧化效率C.增長溶液粘度D.增長溶液提高量.在原子吸取分析中，過大燈電流除了產(chǎn)生光譜干擾外,還使發(fā)射共振線譜線輪廓變寬，這種變寬屬于(C)A.自然變寬B.壓カ變寬C.場致變寬D.多普勒變寬(熱變寬).在原子吸取分析中,如懷疑存在化學(xué)干擾,例如采用下列某些補救辦法(C)A.加入釋放劑B.化學(xué)分離 C.A和B都可以 D.都不行.在原子吸取分析中，由于某元素含量太高，已進行了恰當(dāng)稀釋,但由于濃度高,測量成果仍偏離校正曲線，要變化這種狀況，下列哪種辦法也許是最有效(A)A,將分析線改用非共振線B.繼續(xù)稀釋到能測量為止C.變化原則系列濃度D.縮小讀數(shù)標(biāo)尺.在原子吸取分析理論中，用峰值吸取代替積分吸取基本條件之一是(A)A.光源發(fā)射線半寬度要比吸取線半寬度小得多B.光源發(fā)射線半寬度要與吸取線半寬度相稱C,吸取線半寬度要比光源發(fā)射線半寬度小得多D.單色器能辨別岀發(fā)射譜線,即單色器必耍有很高辨別率.在原子吸取法中,可以導(dǎo)致譜線峰值產(chǎn)生位移和輪廓不對稱變寬應(yīng)是(B)A.熱變寬B.壓カ變寬C,自吸變寬D.場致變寬29,在原子吸取分析中,普通分析線是共振線,由于普通共振線敏捷度高,如Hg共振線185.0nm比Hg共振線253.7nn!敏捷度大50倍，但實際在測汞時總是使用253.7nm作分析線,其因素是(D)A.汞蒸氣有毒不能使用185.OnmB.汞蒸氣濃度太大不必使用敏捷度高共振線C.Hgl85.0nm線被大氣和火焰氣體強烈吸取D,汞空心陰極燈發(fā)射!85.0nm線強度太弱.原子吸取光譜是(D)A,分子振動、轉(zhuǎn)動能級躍遷時對光選取吸取產(chǎn)生B.基態(tài)原子吸取了特性輻射躍遷到激發(fā)態(tài)后又回到基態(tài)時所產(chǎn)生C.分子電子吸取特性輻射后躍遷到激發(fā)態(tài)所產(chǎn)生D1基態(tài)原子吸取特性輻射后躍遷到激發(fā)態(tài)所產(chǎn)生.欲分析165?360nm波譜區(qū)原子吸取光譜,應(yīng)選用光源為(C)A.鋁燈B..能斯特?zé)鬋.空心陰極燈D.笊燈.原子吸取光譜需要光源是(B)A.單色光B.銳線光源C.白光D.可見光.在原子吸取分析中,采用原則加入法可以消除(A)A,基體效應(yīng)影響B(tài),光譜背景影響C.其他譜線干擾D.電離效應(yīng).在原子吸取法中,原子化器分子吸取屬于(C)A.光譜線重疊干擾B.化學(xué)干擾C.背景干擾D,物理干擾.原子吸取法測定鈣時，加入EDTA是為了消除下述哪種物質(zhì)干擾?(B)A.鹽酸B.磷酸C.鈉D.鎂.可以消除原子吸取法中物理干擾辦法是(D)A.加入釋放劑B.加入保護劑C.扣除背景D.采用原則加入法.在原子吸取法中,可以導(dǎo)致中心頻率無位移,兩側(cè)對稱變寬,但K0值減小,對吸取系數(shù)積分值無影響變寬應(yīng)是(A)A,熱變寬B.壓カ變寬C.自吸變寬D.場致變寬.原子吸取法測定易形成難離解氧化物元素鋁時，需采用火焰為(B)A,乙塊ー空氣B,乙快一笑氣C,氧氣-空氣D.氧氣ー氧氣.原子吸取光譜分析中，乙煥是(C)A.燃氣一助燃氣B.載氣C.燃氣D.助燃氣.原子吸取光譜法測定試樣中鉀元素含量,普通需加入適量鈉鹽,這里鈉鹽被稱為(C)A.釋放劑B.緩沖劑C.消電離劑D.保護劑.空心陰極燈內(nèi)充氣體是(D)A,大量空氣B.大量氣或氣等惰性氣體B,少量空氣D,少量氣或氮等惰性氣體.在石墨爐原子化器中，應(yīng)采用下列哪種氣體作為保護氣(D)A,乙快B，氧化亞氮C.氫D.氫.在火焰原子吸取光譜法中,測定下述哪種元素需采用乙煉ー氧化亞氮火焰(D)A.鈉B.留C.鉀D.鎂.在原子吸取光譜法中,火焰原子化器與石墨爐原子化器相比較,應(yīng)當(dāng)是（C）A.敏捷度要高,檢出限卻低B,敏捷度要高,檢出限也低C.敏捷度要低,檢出限卻髙D.敏捷度要低,檢出限也低.原子吸取分光光度計中慣用檢測器是（〇A,光電池B,光電管C,光電倍增管D,感光板.幾種慣用光源中,產(chǎn)生自吸現(xiàn)象最小是（B）A,交流電弧B.等離子體光源C.直流電弧D.火花光源.發(fā)射光譜分析中,應(yīng)用光譜載體重要目是（D）A.預(yù)富集分析試樣B.以便于試樣引入C.稀釋分析組分濃度D,增長分析元素譜線強度.帶狀光譜是由下列哪ー種狀況產(chǎn)生?（A）A.熾熱固體B,受激分子C.受激原子D.單原子離子.在氣相色譜分析中，用于定性分析參數(shù)是（A）A.保存時間 B.峰面積 C.半峰寬 D.都不是.原子發(fā)射光譜是由下列哪種躍遷產(chǎn)生?（D）A.輻射能使氣態(tài)原子外層電子激發(fā)B.輻射能使氣態(tài)原子內(nèi)層電子激發(fā)C.電熱能使氣態(tài)原子內(nèi)層電子激發(fā)D.電熱能使氣態(tài)原子外層電子激發(fā).攝譜法原子光譜定量分析是依照下列哪種關(guān)系建立（I一光強，N協(xié)一基態(tài)原子數(shù)， AS一分析線對黑度差,cー濃度，I一分析線強度，AS-黑度）（B）A.I—N* B.S-Ige C.I-Ige D.S-IgN基.發(fā)射光譜定量分析選用“分析線對”應(yīng)是這樣ー對線（C）A,波長不一定接近，但激發(fā)電位要相近B.波長要接近，激發(fā)電位可以不接近C.波長和激發(fā)電位都應(yīng)接近D.波長和激發(fā)電位都不一定接近.以光柵作單色器色散元件,光柵面上單位距離內(nèi)刻痕線越少,則（D）A,光譜色散率變大,辨別率增髙B,光譜色散率變大,辨別率減少C,光譜色散率變小,辨別率增高D.光譜色散率變小,辨別率亦減少.用發(fā)射光譜進行定性分析時,作為譜線波長比較標(biāo)尺元素是（C）A.鈉B.碳C.鐵D.硅.測量光譜線黑度可以用（D）A.比色計B.比長計C.測微光度計D.攝譜儀.原子發(fā)射光譜分光光度計與原子熒光光度計不同部件是（A）A,光源B.原子化器C.單色器D,檢測器.原子發(fā)射光譜與原子吸取光譜產(chǎn)生共同點在于（C）A.輻射能使氣態(tài)原子內(nèi)層電子產(chǎn)生躍遷B.基態(tài)原子對共振線吸取C.氣態(tài)原子外層電子產(chǎn)生躍遷D.激發(fā)態(tài)原子產(chǎn)生輻射.下面哪些光源規(guī)定試樣為溶液,并經(jīng)噴霧成氣溶膠后引入光源激發(fā)（A）A,火焰B.輝光放電C.激光微探針D,交流電弧.發(fā)射光譜分析中,具備低干擾、高精度、高敏捷度和寬線性范疇激發(fā)光源是（D）A,直流電弧B.低壓交流電弧C.電火花D.髙頻電感耦合等離子體.采用攝譜法光譜定量分析,測得譜線加背景黑度為,背景黑度為8,對的扣除背景辦法應(yīng)是（D）A.Saw-S? B.以背景黑度ふ為零,測量譜線黑度C.譜線附近背景黑度相似,則不必扣除背景D.通過乳劑特性曲線,查出與Sa.”及Sb相相應(yīng)la?及h,然后用"?-K扣除背景.下面幾種慣用激發(fā)光源中,分析敏捷度最高是（D）A,直流電弧B.交流電弧C.電火花D,高頻電感耦合等離子體.下面幾種慣用激發(fā)光源中，最穩(wěn)定是（D）A,直流電弧B,交流電弧C.電火花D,高頻電感耦合等離子體.下面幾種慣用激發(fā)光源中，分析線性范疇最大是（D）A.直流電弧B.交流電弧C.電火花D.高頻電感耦合等離子體.下面幾種慣用激發(fā)光源中,背景最小是（D）A,直流電弧B,交流電弧C.電火花D.高頻電感耦合等離子體.下面幾種慣用激發(fā)光源中,激發(fā)溫度最高是（D）A,直流電弧B,交流電弧C.電火花D.高頻電感耦合等離子體.原子發(fā)射光譜儀中光源作用是（A）A,提供足夠能量使試樣蒸發(fā)、原子化/離子化、激發(fā)B.提供足夠能量使試樣灰化C.將試樣中雜質(zhì)除去,消除干擾D.得到特定波長和強度銳線光譜.低壓交流電弧光源合用發(fā)射光譜定量分析重要因素是（C）A,激發(fā)溫度高B.蒸發(fā)溫度高C.穩(wěn)定性好D.激發(fā)原子線多.發(fā)射光譜法定量分析用測微光度計,其檢測器是（B）A,暗箱B.感光板C.硒光電池D.光電倍增管.發(fā)射光譜攝譜儀檢測器是（B）A,暗箱B.感光板C.硒光電池D.光電倍增管.當(dāng)濃度較高時進行原子發(fā)射光譜分析,其工作曲線（lg/-lgc）形狀為（B）A,直線下部向上彎曲B.直線上部向下彎曲C,直線下部向下彎曲D.直線上部向上彎曲.對原子發(fā)射光譜法比對原子熒光光譜法影響更嚴(yán)重因素是（C）A,粒子濃度B.雜散光C.非光譜線干擾D.光譜線干擾.在進行發(fā)射光譜定性分析時,要闡明有某元素存在,必要（C）A,它所有譜線均要浮現(xiàn)B.只要找到2?3條譜線C.只要找到2?3條敏捷線D.只要找到1條敏捷線.下列哪種原子熒光是反斯托克斯熒光（A）A.鋁原子吸取359.35nm,發(fā)射357.87nmB.鉛原子吸取283.31nm,發(fā)射283.31nmC.鉛原子吸取283.31nm,發(fā)射405.78nmD.駝原子吸取377.55nm,發(fā)射535.05nm.與原子吸取法相比，原子熒光法使用光源是（D）A.必要與原子吸取法光源相似B.一定需要銳線光源C.一定需要持續(xù)光源D.不一定需要銳線光源.在原子熒光法中,多數(shù)狀況下使用是（D）A.階躍熒光B.直躍熒光C.敏化熒光D.共振熒光.階躍線熒光波長（B）A,不不大于所吸取輻射波長B.不大于所吸取輻射波長C.等于所吸取輻射波長D.正比于所吸取輻射波長.指出下列哪種說法有錯誤（B）A.原子熒光法中，共振熒光發(fā)射波長與光源激發(fā)波長相似B.與分子熒光法同樣,原子共振熒光發(fā)射波長比光源激發(fā)波長長c.原子熒光法中,熒光光譜較簡樸,不需要高辨別率分光計D,與分子熒光法同樣,原子熒光強度在低濃度范疇內(nèi)與熒光物質(zhì)濃度成正比.原子熒光量子效率是指(0A.激發(fā)態(tài)原子數(shù)與基態(tài)原子數(shù)之比B.入射總光強與吸取后光強之比C.單位時間發(fā)射光子數(shù)與單位時間吸取激發(fā)光光子數(shù)之比D,原子化器中離子濃度與原子濃度之比.在如下說法中,對的是(B)A,原子熒光分析法是測量受激基態(tài)分子而產(chǎn)生原子熒光辦法B.原子熒光分析屬于光激發(fā)C,原子熒光分析屬于熱激發(fā)D,原子熒光分析屬于高能粒子互相碰撞而獲得能量被激發(fā).原子熒光是氣態(tài)自由原子吸取光源特性輻射后，原子(A)躍遷到較高能級,然后又躍遷返回基態(tài)或較低能級,同步發(fā)射出與激發(fā)波長相似或不同發(fā)射A,外層電子B,內(nèi)層電子C,原子核D,都不是.原子熒光波長與激發(fā)光波長相比(D)A,相似B.較長C,短D.涉及A、B和C.關(guān)于原子熒光下列說法對的是(D)A,原子熒光光譜是光致發(fā)光B.不遵循波爾茲曼定律C.譜線簡樸D.不屬于二次發(fā)光.共振熒光波長(C)A,不不大于所吸取輻射波長B.不大于所吸取輻射波長C.等于所吸取輻射波長D.正比于所吸取輻射波長.激發(fā)態(tài)原子直接躍遷到高于基態(tài)亞穩(wěn)態(tài)時所發(fā)射熒光是(B)A.階躍熒光B.直躍熒光C.敏化熒光D.共振熒光.激發(fā)態(tài)原子先以非輻射形式去活化方式回到較低激發(fā)態(tài),再以輻射形式去活化回到基態(tài)而發(fā)射熒光是(A)A.階躍熒光B,直躍熒光C.敏化熒光D.共振熒光.在原子熒光分析法中，激發(fā)原子發(fā)射出與吸取共振線相似波長熒光是(D)A.階躍熒光B.直躍熒光C,敏化熒光D.共振熒光

.原子吸取譜線寬度重要決定于(C )?A.自然變寬B,多普勒變寬和自然變寬c.多普勒變寬和壓カ變寬D,場致變寬.原子吸取光譜法中,測得吸光度為(B)〇A.溶液對光源輻射峰值吸取B.待測元素基態(tài)原子對光源輻射峰值吸取C.基態(tài)原子對光源輻射峰值吸取D.待測元素基態(tài)原子對光源輻射積分吸取.石墨爐原子吸取法火焰法相比,其長處是AA.敏捷度高 B,重現(xiàn)性好C.分析速度快 D.背景吸取小.下述光源中,可用作原子吸取光譜測定光源有(A)。A,空心陰極燈 B.氫燈C.鋁燈 D.都可以.用原子吸取法測定血清鈣時加入EDTA是為了消除(B)〇A.物理干擾 B.化學(xué)干擾C.光譜干擾 D.背景吸取.原子吸取法中，溶液黏度引起干擾屬于(B).A.光譜干擾 B.物理干擾C.電離干擾 D.化學(xué)干擾原子吸取普遍采用檢測器是(C)〇A.硒光電池 B.光電管C.光電倍增管 D.紫外光度檢測器.原子吸取分光光度法中可消除基體干擾定量辦法是(B)。A.原則曲線法A.原則曲線法C.內(nèi)標(biāo)法B.原則加入法D.外標(biāo)法.原子吸取分光光度法中,吸光度與（B）濃度成正比。A.基態(tài)分子B.基態(tài)原子C.激發(fā)態(tài)分子D.激發(fā)態(tài)原子.在原子吸取分光光度法測定食品中鈣時,加入2%偶溶液是為消除（A）〇A.化學(xué)干擾 B,電離干擾C.背景干擾 D1物理干擾.在原子吸取分析中,下列哪種火焰構(gòu)成溫度最高?C）A.空氣-乙快B.空氣-煤氣C.笑氣ー乙快D,氧氣ー氫氣.欲分析165?360nm波譜區(qū)原子吸取光譜,應(yīng)選用光源為（C）A.鋁燈B.能斯特?zé)鬋.空心陰極燈D.笊燈.由原子無規(guī)則熱運動所產(chǎn)生譜線變寬稱為:（D）A,自然變度B.斯塔克變寬C.勞倫茨變寬D.多普勒變寬.在原子吸取分析法中,被測定元素敏捷度、精確度在很大限度上取決于（C）A.空心陰極燈B.火焰C.原子化系統(tǒng)D.分光系統(tǒng).原子吸取光譜法中物理干擾可用下述哪ー種辦法消除:（C）A.釋放劑;B.保護劑;C.原則加入法;D.扣除背景;三、多項選取LBE2.BCD3.ABCD4.BCD5.BCD6.CE7.ACDE.原子吸取分光光度法中,消除物理干擾慣用辦法是（）A.加入釋放劑和保護劑 B,采用原則加人法 C.使用高溫火焰D.采用內(nèi)標(biāo)法 E,配制與待測樣品構(gòu)成相似原則樣品.適合用原則加入法進行測定是（）A,消除背景吸取 B.消除基體干擾 C.測定樣品回收率D.純物質(zhì)中極微量元素 E.減少譜線重疊干擾.原子吸取分光光度法測定過程中干擾重要有（）A.光譜干擾 B.物理干擾 C1化學(xué)干擾D.電離干擾 E.溶劑干擾.原子吸取分光光度法用原則曲線法測定元素時應(yīng)注意（）A.選取共振吸取線 B.空白液應(yīng)與試劑有相似構(gòu)成C.選取石英槽 D.應(yīng)使原則液吸光度在0.2~0.8之間E,光源、噴霧、火焰、單色器通帶、檢測器等儀器和操作條件在整個操作過程中應(yīng)保持恒定5.原子吸取分光光度法中重要定量分析辦法有（）A.比例法B.原則加入法C.內(nèi)標(biāo)法D.原則曲線法E.示差分析法6.下列屬于線光源是（）A.氫燈B.鴇燈C.Nernst燈D.金屬蒸氣燈E.空心陰極燈7.如下各項中,不屬于原子吸取光譜線多普勒變寬產(chǎn)生因素是（A,原子在激發(fā)態(tài)時所停留時間 B.原子熱運動C,原子電離作用 D.外部電場對原子影響E,原子與其她原子或分子碰撞ー、判斷題ノ1.原電池是一種化學(xué)能轉(zhuǎn)變成電能裝置。X2.玻璃電極在蒸儲水中充分浸泡可使它不對稱電位降到零。X3.玻璃電極不是離子選取性電極。X4.玻璃電極在pH值不不大于9溶液中,由于對鈉離子響應(yīng)而導(dǎo)致測得pH值偏高。X5.離子選取性電極電位隨溶液中離子濃度升高而增大。X6.直接電位法用氟電極測定氟離子時,由于0H干擾，溶液酸度越大越好。ノ7.電位法可用于有色、渾濁或是黏度較大溶液測定。.電位分析法中,液接電位經(jīng)常難以精確計算和測量,在實際工作中采用原則加入法進行扣除。X.采用直接電位法測定期,測量相對誤差與測試儀器精度關(guān)于,而與離子價態(tài)無關(guān)。X.pH玻璃電極只對溶液中H離子產(chǎn)生Nernst響應(yīng)。X.采用直接電位法測定期，由于電位與溫度關(guān)于，故規(guī)定原則溶液與樣品溶液溫度一致。V.離子選取電極構(gòu)造必要有敏感膜、內(nèi)參比溶液和內(nèi)參比電極。X.用直接電位法測量時，必要采用總離子強度調(diào)節(jié)劑來控制溶液離子強度。X.玻璃電極使用前需要活化，普通在蒸儲水中浸泡24以上。Vは用氟離子選取性電極測定F時,由于重要干擾來源于OH,因此試液酸度逸大，測得成果越精確。X［伏安法］.極譜分析法定量根據(jù)是極限擴散電流與滴汞電極表面被測離子濃度成正比。X.在極譜分析中,極譜圖反映了擴散電流與被測離子濃度關(guān)系。X.典型極譜法亦稱直流極譜法。V.完全濃差極化是極譜分析基本。V.由于滴汞電極面積很小,電解時電流密度大,很容易發(fā)生濃差極化。V.極譜分析可以在酸性溶液中測定大多數(shù)金屬離子,是由于氫在滴汞電極上有較大超電位。V.極譜分析法中殘存電流產(chǎn)生重要因素是溶液中微量雜質(zhì)在工作電極上發(fā)生電解。X.在加入支持電解質(zhì)、極大抑制劑和除氧劑后，極譜分析中極限電流就是擴散電流X.溶出伏安法具備較高敏捷度，是由于將大體積試液中被測物質(zhì)富集到微小體積電極上，使?jié)舛仍龃?迅速溶出時,則電流大大增長。V.電極反映產(chǎn)物常以汞齊或難溶化合物形式被富集。V.溶出都是以極化電壓以一定速度由正電位向負電位方向線性變化。X.在溶出伏安法中,增長電位掃描速度可以在一定限度上提高測定敏捷度。V.如果用陽極溶出伏安法同步測定幾種離子,要以富集電位最負離子為準(zhǔn)來選取富集電位。V.溶出伏安法溶出峰電流重要與富集到工作電極上被測物質(zhì)量關(guān)于,與溶出階段施加電位掃描速度無關(guān)。X.溶出伏安法實驗裝置與典型極譜法比較，重要是使用工作電極不同。V.陽極溶出伏安法溶出時工作電極發(fā)生氧化反映，陰極溶出伏安法溶出時工作電極發(fā)生還原反映。V.溶出伏安法在富集階段和溶出階段都要進行攪拌。X.陽極溶出伏安法用于測定陽離子含量，陰極溶出伏安法用于測定陰離子含量。X.溶出伏安法采用三電極測試系統(tǒng)，是為了保證電解富集時工作電極電位定X.溶出伏安法是依照富集階段電流ー電壓曲線進行定量分析。X.電位溶出法是在溶出伏安法基本上發(fā)展起來,同樣分為富集和溶出兩步,其中富集與溶出伏安法完全相似,但溶出方式、測量辦法和定性定量根據(jù)不同。V.溶出伏安法用溶出峰電流定量分析,而電位溶出法用于定量參數(shù)是溶出時間。V.電位溶出法由于要測定被測離子電極電位，因而采用離子選取性電極作為工作電極。X.電位溶出法在進行多組分同步測定期,富集到工作電極上被測物質(zhì)按其電極電位高低逐個溶出V二、單項選取.在直接電位法中批示電極，其電位與被測離子活度關(guān)系為BA,無關(guān) B.符合能斯特公式C,成線性關(guān)系 D.成正比.M,|M,n，|I Mク在上述電池圖解表達式中，規(guī)定左邊電極為（C）A.正極 B,參比電極C.負極D.陽極.玻璃膜鈉離子選取電極對鉀離子電位選取性系數(shù)為0.002I這意味著電極對鈉離子敏感為鉀離子倍數(shù)是（）A.0.002倍B.500倍C.倍D.5000倍.鉀離子選取電極選取性系數(shù)為&ボ1.8X10",當(dāng)用該電極測濃度為LOX10%為/LK;濃度為!.0X102moi/LMg溶液時,由Mg引起K'測定誤差為（C）A.0.00018%B.134%C.1.8%D.3.6%.運用選取性系數(shù)可以預(yù)計干擾離子帶來誤差,若K,j=0.05,干擾離子濃度為0.Imol/L,被測離子濃度為0.2mol/L,其百分誤差為（i、j均為一價離子） （A）A.2.5B.5C.10D.20.玻璃膜鈉離子選取電極對氫離子電位選取性系數(shù)為!00,當(dāng)鈉電極用于測定IXlOlol/LNa.時，要滿足測定相對誤差不大于1%,則試液pH應(yīng)當(dāng)控制在不不大于（D）A.3B.5C.7D.9.離子選取電極電位選取性系數(shù)可用于（B）A.預(yù)計電極檢測限B.預(yù)計共存離子干擾限度C.校正辦法誤差D.計算電極響應(yīng)斜率.電位法,用離子選取電極原則加入法進行定量分析時，對加入原則溶液規(guī)定為DA.體積要大,其濃度要高B.體積要小,其濃度要低C.體積要大,其濃度要低D.體積要小,其濃度要高.鈉離子選取性電極對鉀選取性系數(shù)為0.002,電極對鈉離子敏感性為鉀離子（C）A.0.002倍 B.200倍C.500倍D.5000倍.pH玻璃電極產(chǎn)生鈉差現(xiàn)象是由于（B）A.玻璃膜在強堿性溶液中被腐蝕 B.強堿溶液中Na,濃度太高C.強堿溶液中0H中和了玻璃膜上H'D.大量0H占據(jù)了膜上互換點位.pH玻璃電極產(chǎn)生不對稱電位來源于AA.內(nèi)外玻璃膜表面特性不同 B.內(nèi)外溶液中H.濃度不同C.內(nèi)外溶液H,活度系數(shù)不同 D,內(nèi)外參比電極不同樣.“鹽橋”作用是消除（B）。A.不對稱電位 B.液接電位 C.接觸電位D.相間電位.已知待測水樣pH大概為8左右，定位溶液最佳選（C）A.PH4和PH6B.pH2和pH6C.pH6和pH9D.pH4和pH9.測定超純水pH值時,pH值讀數(shù)飄移因素（A）A.受溶解氣體影響B(tài).儀器自身讀數(shù)誤差C.儀器預(yù)熱時間不夠D.玻璃電極老化.經(jīng)常不用pH電極在使用前應(yīng)活化（C）A.20分鐘B,半小時C.一晝夜D.八小時.pH玻璃電極在使用前一定要在水中浸泡24小時,目在于（B）A,清洗電極B.活化電極C,校正電極D.除去沾污雜質(zhì).在實際測定溶液pH時,都用原則緩沖溶液來校正電極,目是減小（C）A.不對稱電位B,液接電位C.不對稱電位和液接電位D.溫度影響.用pH玻璃電極測定pH約為12堿性試液,測得pH比實際值（B）A.大B.小C,兩者相等D.難以擬定.A離子選取電極電位選取系數(shù)除“越小,表達（A）A.B干擾離子干擾越小 B.B干擾離子干擾越大C.不能擬定 D.不能用此電極測定A離子.離子選取電極測量所產(chǎn)生濃度相對誤差（〇A.只與離子價數(shù)關(guān)于 B.只與測量電位關(guān)于C.與離子價數(shù)和濃度關(guān)于D.與離子價數(shù)和測量電位關(guān)于:而與測量體積和離子濃度無關(guān).氨氣敏電極電極電位（A）A.隨試液中NH:或氣體試樣中N七增長而減小 B.與A相反C.與試液酸度無關(guān) D.表達式只合用于NH;試液.氟離子選取電極在使用前需用低濃度氟溶液浸泡數(shù)小時,其目（B）A.清洗電極B.檢查電極好壞B.活化電極D.檢查離子計能否使用.pH玻璃電極產(chǎn)生酸誤差因素是（C）A.玻璃電極在強酸溶液中被腐蝕B.H’度髙,它占據(jù)了大量互換點位,pH值偏低C.一與ル0形成出〇、成果ビ減少,pH增高D,都不對.電位法測定期,溶液攪拌目（A）A.縮短電極建立電位平衡時間B.加速離子擴散,減小濃差極化C.讓更多咼子到電極上進行氧化還原反映D.破壞雙電層構(gòu)造建立.離子選取電極內(nèi)參比溶液構(gòu)成要考慮到(〇A,有敏感膜響應(yīng)離子B.有能與內(nèi)參比電極形成穩(wěn)定電位離子C.A和B都要考慮D,能導(dǎo)電電解質(zhì)溶液.玻璃電極活化是為了(B)A.清洗電極表面B.減少不對稱電位C.更好地形成水化層D.減少液接電位.在電位分析中測量化學(xué)電池參數(shù)是(B)A.電池端電壓 B.電池電動勢C.電池〃與，變化 D.電池〃?降.運用選取性系數(shù)可以預(yù)計干擾離子帶來誤差,若,干擾離子活度為0.Imol/L,被測離子活度為0.Imol/L,其百分誤差為(B)A.2.5B.5.0C.10D.2029.經(jīng)常使用pH電極在使用前應(yīng)用下列哪種溶液活化(A)A.純水 B.0.Imol/LKCl溶液C.pH4溶液 D.0.Imol/LHCl溶液.pH玻璃電極在使用前需要活化,其目是(D)A.去除雜質(zhì)B.定位C.復(fù)定位D.在玻璃泡外表面形成水合硅膠層，減小不對稱電位.測水樣pH值時,飽和甘汞電極是(C)A.工作電極B,批示電極C.參比電極D.都不是.pH玻璃電極內(nèi)參比電極是(B)A.甘汞電極 B.銀一氯化銀電極 C.鉗電極D.銀電極.原則甘汞電極外玻璃管中裝是(A)A.1.Omol/LKCl溶液B.0.Imol/LKCl溶液C.0.Imol/LHC!溶液D.純水.飽和甘汞電極外玻璃管中裝是(A)A.0.Imol/LKCl溶液B.Imol/LKCl溶液C.飽和KC!溶液 D.純水.測水樣pH值時，所用復(fù)合電極涉及(B)A.玻璃電極和甘汞電極 B.pH玻璃電極和飽和甘汞電極C,玻璃電極和銀ー氯化銀電極D.pH電極和銀一氯化銀電極.下列說法錯誤是(A)A.溶液pH值與溶液電動勢無關(guān)B.在室溫條件下,電動勢差值每變化0.059V,溶液pH值也相應(yīng)變化ー種pH單位C.pH值電位法可測到O.OlpH單位D.溶液pH值與溫度關(guān)于.“鹽橋”作用是消除(B).A.不對稱電位 B.液接電位 C,接觸電位D,相間電位.離子選取性電極選取性重要由下列哪項決定(C)A.干擾離子 B,溫度C.敏感膜材料性質(zhì)D,溶液pH.參比電極作用是(B)。A.保持離子強度一致B,提供原則電極電位C.調(diào)節(jié)適當(dāng)pH范疇D,消除干擾.離子選取性電極選取性系數(shù)可用于預(yù)計(B)A.辦法檢測限 B.共存離子干擾限度C.電極斜率 D.辦法線性范疇.鈉離子選取性電極對鉀選取性系數(shù)為0.002,電極對鈉離子敏感性為鉀離子(C)A.0.002倍B.200倍C.500倍D.5000倍.“鹽橋”作用是消除(B)。A,不對稱電位 B.液接電位 C.電極電位D.相間電位.用電位法測定溶液pH值時,電極系統(tǒng)由玻璃電極與飽和甘汞電極構(gòu)成,其中玻璃電極是作為測量溶液中氫離子活度(濃度)(C)?A.金屬電極B,參比電極C.批示電極D.電解電極.pH玻璃電極響應(yīng)機理與膜電位產(chǎn)生是由:(〇A.氫離子在玻璃膜表面還原而傳遞電子B.氫離子進入玻璃膜晶格缺陷而形成雙電層構(gòu)造C.氫離子在玻璃膜表面進行離子互換和擴散而形成雙電層構(gòu)造D.鈉離子在玻璃膜中移動而形成雙電層構(gòu)造.測定水中微量ド，應(yīng)選用哪種分析辦法?(C)A.重量分析法 B,滴定分析法C.電位分析法D.光度分析法.用氟離子選取性膜電極測定F時,重要干擾離子是(C)A.其他鹵素離子 B.NO3-C.OH"D.SO廠.pH玻璃電極內(nèi)參比電極是(B)。A.原則氫電極 B,銀ー氯化銀電極 C.甘汞電極D.銀電極.普通pH玻璃電極合用測量pH范疇是(B).A.〇?7B.1~9C.0-13.5D.7—13.5.同廠家生產(chǎn)同型號兩支pH玻離電極,也許不相似指標(biāo)是(C).A,合用測量范疇不同 B.合用測量溫度不同C.不對稱電位不同 D.用法不同.pH玻離電極不對稱電位產(chǎn)生因素是(A)?A.內(nèi)、外玻璃膜表面構(gòu)造和性能不完全相似B.內(nèi)、外溶液中H+濃度不完全相似C.玻璃膜內(nèi)、外緩沖溶液不完全相似D.玻璃膜內(nèi)、外參比電極不同.對于氯離子選取性電極,下列說法對的是(B)A.電極電位與溶液中其他離子濃度無關(guān)B.電極電位隨溶液中氯離子活度增高而下降C.電極電位隨溶液中氯離子活度增高而上升D.電極電位隨溶液中氯離子濃度增高而上升.使用離子選取性電極測定關(guān)于離子濃度時，在原則溶液和樣品溶液中加入T1SAB目是(D)A.提高測定精密度B.增大響應(yīng)線性范疇C.提高離子響應(yīng)速度D.維持溶液具備相似活度系數(shù).在電位分析法中“鹽橋”作用是消除(B)。A.不對稱電位B.液接電位 C.接觸電位D,相間電位.溶液中氫離子活度負對數(shù)DA.吸光度 B.熔點C.旋光度 D.酸度E,密度.表達溶液酸度用DA.[a]DtB.RC.aD.pHE.T.電位分析法測量電化學(xué)參數(shù)是(D)。A.電流B.電導(dǎo)C.電量D.電位.用酸度計測定溶液pH值，測定前應(yīng)用pH值與供試液接近一種原則緩沖液,調(diào)節(jié)儀器旋鈕,使儀器pH示值一原則緩沖液pH值一致,此操作環(huán)節(jié)為C

A.調(diào)節(jié)零點 B,校正溫度C.調(diào)節(jié)斜率 D.定位.測定溶液pH值時,用作批示電極為AA,玻璃電極 B.甘汞電極 C?石墨