射線照相質量影響因素正規(guī)版資料

射線照相質量(zhìliàng)影響因素第一頁，共58頁。是非題1.影像顆粒度完全取決于膠片乳劑層中鹵化銀微粒尺寸的大小(dàxiǎo)。（×）2.像質計靈敏度1.5%，就×意味著尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被查出。（×）3.使用較低能量射線可得到較高的主因對比度。（√）第二頁，共58頁。4.射線照相時，若千伏(qiānfú)值提高，將會使膠片對比度降低。（×）5.一般來說，對厚度差較大的工件，應使用較高能量射線透照，其目的是降低對比度，增大寬容度。（√）第三頁，共58頁。6.增大曝光量可提高主因對比度。（×）7.射線照相主因對比度與入射線的能量有關，與強度無關。（√）8.用增大射源到膠片(jiāopiàn)距離的辦法可降低射線照相固有不清晰度。（×）第四頁，共58頁。9.減小幾何不清晰度的途徑之一，就是使膠片盡可能地靠近工件。（√）10.利用陽極側射線(shèxiàn)照相所得到的底片的幾何不清晰度比陰極側好。（√）第五頁，共58頁。11.膠片的顆粒越粗，則引起的幾何不清晰度就越大。（×）12.使用(shǐyòng)γ射線源可以消除幾何不清晰度。（×）13.增加源到膠片的距離可以減小幾何不清晰度，但同時會引起固有不清晰度增大。（×）第六頁，共58頁。14.膠片成像的顆粒性會隨著射線能量的提高而變差。（√）15.對比度、清晰度、顆粒度是決定射線照相靈敏度的三個主要因素。（√）16.膠片對比度和主因對比度均與工件厚度變化引起的黑度(hēidù)差有關。（×）第七頁，共58頁。17.使用較低能量的射線可提高主因對比度，但同時會降低膠片(jiāopiàn)對比度。（×）18.膠片(jiāopiàn)的粒度越大，固有不清晰度也就越大。（×）第八頁，共58頁。19.顯影不足或過度，會影響底片對比度，但不會影響顆粒度。（×）20.可以采取增大焦距的辦法使尺寸較大(jiàodà)的源的照相幾何不清晰度與尺寸較小的源完全一樣。（√）第九頁，共58頁。21.散射線只影響主因對比度，不影響膠片對比度。（√）22.底片黑度(hēidù)只影響膠片對比度，與主因對比度無關。（√）第十頁，共58頁。23.射線的能量同時影響照相(zhàoxiàng)的對比度、清晰度、顆粒度。（√）24.透照有余高的焊縫時，所選擇的“最佳黑度”就是指能保證焊縫部位和母材部位得到相同像質計靈敏度顯示的黑度值。（√）第十一頁，共58頁。25.底片黑度只影響對比度，不影響清晰度。（√）26.固有不清晰度是由于使溴化銀感光的電子在乳劑層中有一定的穿越行程(xíngchéng)而造成的。（√）27.底片能夠記錄的影像細節(jié)的最小尺寸取決于顆粒度。（√）第十二頁，共58頁。選擇題1.從可檢出最小缺陷的意義上說，射線照相靈敏度取決于（D）A.底片成像顆粒(kēlì)度B.底片上缺陷圖像不清晰度C.底片上缺陷圖像對比度D.以上都是2.射線底片上兩個不同區(qū)域之間的黑度差叫做（B）A.主因反差B.底片反差C.清晰度D.膠片反差第十三頁，共58頁。3.影響(yǐngxiǎng)主因對比度的是（D）A.射線的波長B.散射線C.工件的厚度差D.以上都是4.射線底片上缺陷輪廓鮮明的程度叫做（C）A.主因對比度B.顆粒度C.清晰度D.膠片對比度第十四頁，共58頁。5.幾何不清晰度也可以稱為（D）A.固有不清晰度B幾何放大C.照相失真D.半影6.射線透照的幾何不清晰度（C）A.與工件厚度(hòudù)成正比，與焦點尺寸成反比B.與工件厚度(hòudù)成反比，與焦點尺寸成反比C.與焦點尺寸成正比，與焦距成反比D.與焦點尺寸成反比，與焦距成正比第十五頁，共58頁。7.決定細節(jié)在射線底片上可記錄最小尺寸的是（C）A．對比度B.不清晰度C.顆粒度D.以上都是8.射線底片的顆粒性是由什么因素造成的（D）A.影像(yǐnɡxiànɡ)顆粒或顆粒團塊的不均與分布B.底片單位面積上顆粒數(shù)的統(tǒng)計變化C.顆粒團塊的重重疊疊D.以上都是第十六頁，共58頁。9.下列四種因素中，不能減小幾何不清晰度的因素是（C）A.射源到膠片的距離B.膠片到工件的距離C.射源的強度D.射源的尺寸10.減小幾何不清晰度的方法是（C）A.選用焦點較大的射源B.使用感光(gǎnguāng)速度較快的膠片C.增大射源到膠片的距離D.增大工件到膠片的距離第十七頁，共58頁。11.固有不清晰度與下列哪一因素有關（D）A.源尺寸(chǐcun)B.膠片感光度C.膠片粒度D.射線能量12.為了提高透照底片的清晰度，選擇焦距時，應該考慮的因素是（D）A.射源的尺寸(chǐcun)，射源的強度，膠片類型B.工件厚度，膠片類型，射源類型C.射源強度，膠片類型，增感屏類型D.射源尺寸(chǐcun)，幾何不清晰度，工件厚度第十八頁，共58頁。13.下列四種因素中對底片的清晰度無任何影響的是（D）A.射源的焦點尺寸B.增感屏的類型C.射線的能量D.底片的黑度14.在射線照相中，使缺陷影象發(fā)生畸變最重要的原因是（D）A.射源尺寸B.射源到缺陷的距離C.缺陷到膠片的距離D.缺陷相對(xiāngduì)于射源和膠片的位置和方向第十九頁，共58頁。15.下面關于幾何修正系數(shù)σ的敘述，那一條是錯誤(cuòwù)的（D）A.當缺陷尺寸小于射源尺寸時，才需要引入σ對底片對比度進行修正B.σ值越小，幾何條件對底片對比度的影響越大C.為提高σ而改變透照位置，常用的方法是增大焦距D.為提高底片對比度，應盡量采用σ>1的透射布置第二十頁，共58頁。16.透照有余高的焊縫時，為使像質計金屬絲在焊縫和母材部位得到相同顯示，應（A）A.根據(jù)(gēnjù)焊縫的余高X選擇合適的射線能量B.盡量選擇較高能量射線C.盡量選擇較低能量射線D.以上都不對第二十一頁，共58頁。因此底片上偏向陽極一側的Ug值小，偏向陰極一側的Ug值大、可選用G值更高的微粒膠片；與工件厚度(hòudù)成反比，與焦點尺寸成反比無論縱縫、環(huán)縫，Ug值在任何部位都相同，不發(fā)生變化但高G值的微粒膠片感光速度往往較慢，需要增大曝光時間(shíjiān)，提高黑度也需要增加曝光時間(shíjiān)，此外，黑度的提高會增大最小可見對比度ΔD，對靈敏度產(chǎn)生不利影響。（2）L2/L1變化引起Ug值變化：透照縱縫時，被檢區(qū)域各部位(bùwèi)L2/L1不變，Ug值不變，而透照環(huán)縫時，被檢區(qū)域各部位(bùwèi)的L/L值都比中心部位(bùwèi)要大，因此端部的Ug值也會增大。清晰度D.第二十三頁，共58頁。射線透照的幾何不清晰度（C）顆粒度D.主因反差B.影響(yǐngxiǎng)主因對比度的是（D）第三十九頁，共58頁。（×）ΔT：局部(júbù)區(qū)域透射厚度差；4、答：由于不同區(qū)域射線強度存在差異所產(chǎn)生的對比度稱為主因對比度，其數(shù)學表達式為：17.以下哪一個參數(shù)不被認為是影響裂紋檢出的關鍵參數(shù)（A）A.長度LB.開口寬度WC.自身高度dD.裂紋與射線(shèxiàn)角度θ18.透照板厚一定且有余高的焊縫，散射比隨有效能量的提高而（B）A.增大B.減小C.不變D.不一定第二十二頁，共58頁。19.用單壁外透法透照同一筒體時，如不考慮(kǎolǜ)焦點投影尺寸的變化，焊縫Ug與環(huán)縫Ug的區(qū)別是：在一張底片的不同部位（A）A.縱縫Ug值各處都一樣，而環(huán)縫Ug值隨部位而變化B.環(huán)縫Ug值各處都一樣，而縱縫Ug值隨部位而變化C.無論縱縫、環(huán)縫，Ug值在任何部位都相同，不發(fā)生變化D.以上都不是。第二十三頁，共58頁。20.用置于透照區(qū)中心附近的鉑——鎢雙絲透度計可以(kěyǐ)從射線底片上測出一定管電壓下的（C）A.吸收系數(shù)B.散射因子C.固有不清晰度D.形狀修正系數(shù)21.下列哪一因素的變化不會改變射線照相的主因對比度（D）A.試件的材質B.射線的能譜C.散射線的分布D.毫安分或居里分第二十四頁，共58頁。22.下列哪一因素對照相底片顆粒性無明顯影響？（B）A.顯影程度B.使用鉛增感屏C.射線穿透力D.使用熒光增感屏23.工件中靠近射源一側的缺陷圖像，在下列哪種情況(qíngkuàng)下清晰度最差？（C）A.焦距增大B.焦點尺寸減小C.工件厚度增大D.膠片與工件距離減小第二十五頁，共58頁。式中：I：透過試件到達膠片的射線強度；（×）Ug=dfL2/L1式中：df：射源尺寸；由于非增感型膠片G值和黑度成正比，也可通過提高底片黑度增大G值。缺陷相對(xiāngduì)于射源和膠片的位置和方向影像顆粒度完全取決于膠片乳劑層中鹵化銀微粒尺寸的大小(dàxiǎo)。使用較低能量射線可得到較高的主因對比度。第五十一頁，共58頁。下列哪一因素對照相底片顆粒性無明顯影響？（B）答：幾何不清晰度Ug=0.L1=4×54/0.肉眼所觀察到的顆粒團實際上是許多顆粒交互重跌生成的影像。射源的尺寸(chǐcun)，射源的強度，膠片類型第三十九頁，共58頁。射源尺寸B.射源強度，膠片類型，增感屏類型24.下列哪一參數(shù)不是影響小缺陷射線照相清晰度和對比度的共同因素？（B）A.焦點或射源尺寸B.黑度C.焦距(jiāojù)D.射線線質25.決定缺陷在射線透照方向上可檢出最小厚度差的因素是（A）A.對比度B.不清晰度C.顆粒度D.以上都不是第二十六頁，共58頁。26.膠片(jiāopiàn)與增感屏貼合不緊，會明顯影響射線照相的（B）A.對比度B.不清晰度C.顆粒度D.以上都不是第二十七頁，共58頁。問答題：1、什么是射線照相靈敏度？絕對靈敏度和相對靈敏度的概念又是什么？2、簡述像質計靈敏度和自然(zìrán)缺陷靈敏度的區(qū)別和聯(lián)系？第二十八頁，共58頁。3、什么是影響射線照相影像質量的三要素？4、什么叫主因對比度？什么叫膠片對比度？它們與射線照相對比度的關系(guānxì)如何？第二十九頁，共58頁。5、就像質計金屬絲的底片對比度公式討論提高對比度的主要途徑，并說明通過這些途徑提高對比度可能會帶來什么缺點？6、何謂固有不清晰度？7、固有不清晰度大小與哪些因素(yīnsù)有關？8、何謂幾何不清晰度？其主要影響因素(yīnsù)有哪些？第三十頁，共58頁。9、實際照相中，底片上各點的值是否變化？有何規(guī)律？10、試述和關系以及(yǐjí)對照相質量的影響。11、試述底片影響顆粒度及影響因素。第三十一頁，共58頁。12、采用(cǎiyòng)源在外的透照方式比源在內透照方式更有利于內壁表面裂紋的檢出，這一說法是否正確，為什么？13、在底片黑度，像質計靈敏度符合要求的情況下，哪些缺陷仍會漏檢？第三十二頁，共58頁。參考答案：1、答：射線(shèxiàn)照相靈敏度是評價射線(shèxiàn)照相質量的最重要的指標，從定量方面來說，是指在射線(shèxiàn)底片上可以觀察到的最小缺陷尺寸或最小細節(jié)尺寸；從定性方面來說，是指發(fā)現(xiàn)和識別細小影像的難易程度。絕對靈敏度是指在射線(shèxiàn)照相底片上所能發(fā)現(xiàn)的沿射線(shèxiàn)穿透方向上的最小缺陷尺寸。相對靈敏度是指該最小缺陷尺寸與射線(shèxiàn)透照厚度的百分比。第三十三頁，共58頁。2、答：為便于定量評價射線照相靈敏度，常用與被檢工件或焊縫的厚度有一定百分比關系的人工結構(jiégòu)，如金屬絲、孔、槽等組合所謂透度計，又稱為像質計，作為底片影像質量的監(jiān)測工具，由此得到的靈敏度稱為像質計靈敏度。

第三十四頁，共58頁。自然缺陷靈敏度是指在射線照相底片上所能發(fā)現(xiàn)(fāxiàn)的工件中的最小缺陷尺寸。像質計靈敏度不等于自然缺陷靈敏度，因為自然缺陷靈敏度是缺陷的形狀系數(shù)、吸收系數(shù)和三維位置的函數(shù)；但像質計靈敏度的提高，表示底片像質水平也相應提高，因而也能間接地反映出射線照相相對最小自然缺陷檢出能力的提高。第三十五頁，共58頁。3、答：影響射線(shèxiàn)照相影像質量的三個要素是：對比度、清晰度、顆粒度。射線(shèxiàn)照相對比度定義為射線(shèxiàn)照相底片上某一小區(qū)域和相鄰區(qū)域的黑度差。射線(shèxiàn)照相清晰度定義為射線(shèxiàn)照相底片上的黑度變化過渡區(qū)域的寬度。用來定量描述清晰度的是“不清晰度”。射線(shèxiàn)照相顆粒度是根據(jù)測微光密度計測出的數(shù)據(jù)，按一定方法求出的所謂底片黑度漲落的客觀量值。第三十六頁，共58頁。4、答：由于不同區(qū)域射線強度存在差異所產(chǎn)生的對比度稱為主因對比度，其數(shù)學表達式為：ΔI/I=μ(ΔT)/(1+n)式中：I：透過試件到達膠片的射線強度；ΔI：局部(júbù)區(qū)域射線強度增量；μ：射線的吸收系數(shù)；ΔT：局部(júbù)區(qū)域透射厚度差；n：散射比。由上式可以看出，主因對比度取決于透照厚度差、射線的質以及散射比。第三十七頁，共58頁。膠片對比度就是膠片梯度，用膠片平均(píngjūn)反差系數(shù)定量表示，數(shù)學式為：G=ΔD/ΔlgE式中：G：膠片平均(píngjūn)反差系數(shù)；ΔD：底片黑度差；ΔlgE：曝光量對數(shù)值的增量。影響膠片對比度的因素有：膠片類型、底片黑度、顯影條件。射線照相底片對比度是主因對比度和膠片對比度的綜合結果，主因對比度是構成底片對比度的根本因素，膠片對比度可以看作是主因對比度的放大系數(shù)。第三十八頁，共58頁。5、答：像質計金屬絲底片對比度公式：ΔD=0.434Gd(1+n)提高對比度主要途徑和由此帶來的缺點:1、增大v值。在保證穿透力的前提下，盡量采用能量較低的射線，但這樣會使曝光時間(shíjiān)增加。2、增大G值。可選用G值更高的微粒膠片；由于非增感型膠片G值和黑度成正比，也可通過提高底片黑度增大G值。但高G值的微粒膠片感光速度往往較慢，需要增大曝光時間(shíjiān)，提高黑度也需要增加曝光時間(shíjiān)，此外，黑度的提高會增大最小可見對比度ΔD，對靈敏度產(chǎn)生不利影響。第三十九頁，共58頁。3、提高F值?？蛇x擇焦點尺寸大小的射源，或增大焦距，這樣做也會使曝光(bàoguāng)時間延長。4、減小N值。要減小散射線，就要使用鉛窗口與鉛屏蔽，這些也將降低工作效率，使曝光(bàoguāng)時間延長。第四十頁，共58頁。6、答：當射線穿過膠片時，會在乳劑層中激發(fā)出電子，這些電子具有一定動能，會向各個方向飛散，并能使途經(jīng)的鹵化(lǔhuà)銀晶體感光，其結果使得試件輪廓或缺陷在底片上的影像產(chǎn)生一個黑度過渡區(qū)，造成影像模糊，這個過渡區(qū)稱為固有不清晰度Ui。第四十一頁，共58頁。7、答：固有不清晰度Ui值受以下因素影響：（1）射線的質。透照射線的光子能量(néngliàng)越高，激發(fā)的電子在乳劑層中的行程就越長，固有不清晰度也就越大。（2）增感屏。據(jù)文獻報道：在中低能量(néngliàng)射線照相中，使用鉛增感屏的底片的固有不清晰度大于不使用鉛增感屏的底片；增感屏厚度增加也會引起固有不清晰度增大；在γ射線和高能量(néngliàng)X射線照相中，使用銅屏、鉭屏、鎢屏、鋼屏的固有不清晰度均小于鉛屏。

第四十二頁，共58頁。（3）屏——片貼緊程度(chéngdù)。透照時，如暗盒內增感屏和膠片貼合不緊，留有間隙，會使固有不清晰度增大。固有不清晰度與膠片的類型和粒度無關，與暗室處理條件無關。第四十三頁，共58頁。8、答：由于射線源具有一定尺寸，所以照相時工件表面輪廓或工件中的缺陷在底片上的影像邊緣會產(chǎn)生一定的寬度的半影；此半影寬度就是幾何不清晰度Ug，Ug的最大值Ug發(fā)生在遠離(yuǎnlí)膠片的工件表面。Ug的計算式:Ug=df×b/(F-b)；Ug=dfL2/L1式中：df：射源尺寸；F：焦距；b：缺陷至膠片距離；L1：焦點至工件表面距離；L2：工件表面至膠片距離。由以上公式可知，Ug值與射源尺寸和缺陷位置或工件表面至膠片距離成正比，與射源至工件表面距離成反比。第四十四頁，共58頁。9、答：實際照相中，底片上不同部位影像的Ug值是不同的，但為了簡化(jiǎnhuà)計算，便于應用，有關技術標準僅以透照中心部位的最大Ug值作為控制指標。對不同部位Ug值的變化忽略不計。底片上不同部位的Ug值變化規(guī)律如下：

第四十五頁，共58頁。（1）焦點尺寸變化引起Ug值變化：由于X射線管的結構原因，沿射線管軸向不同位置焦點投影尺寸是變化的。陽極側焦點小，陰極側焦點大。因此底片上偏向陽極一側的Ug值小，偏向陰極一側的Ug值大、（2）L2/L1變化引起Ug值變化：透照縱縫時，被檢區(qū)域各部位(bùwèi)L2/L1不變，Ug值不變，而透照環(huán)縫時，被檢區(qū)域各部位(bùwèi)的L/L值都比中心部位(bùwèi)要大，因此端部的Ug值也會增大。第四十六頁，共58頁。10、答：可簡要歸納為以下幾點：（1）射線照相中，通常主要考慮的事幾何不清晰度Ug值和固有不清晰度Ui，兩者共同作用形成總的不清晰度U，比較廣泛的表達U、Ug、Ui的關系式是：U2=Ug2+Ui2（2）由于U是Ug和Ui的綜合結果(jiēguǒ)，提高清晰度效果顯著的方法是設法減小Ug和Ui中較大的一個，而不是較小的一個。例如，當Ui值遠小于Ug值時，再進一步減小Ui值，以期望減小U，其效果是不顯著的。

第四十七頁，共58頁。（3）在X射線(shèxiàn)照相中，Ui值很小，影響照相清晰度的決定因素是Ug值。（4）在Co60，Cs137及Ir192γ射線(shèxiàn)照相中，Ui值較大，對照相清晰度有顯著影響，為提高清晰度，宜盡量減小Ug，使之不超過Ui值?？紤]提高對細小裂紋的檢出率宜選擇Ug=Ui的條件，必要時可取Ug=Ui/2的透照幾何條件。第四十八頁，共58頁。11、答：底片影像是由許多形狀大小不一的顆粒組成的，人們觀察影像時在感覺上產(chǎn)生的不均一或不均勻的印象稱為顆粒性，用儀器測定由各影像不均勻引起的透射光強變化，其測定結果稱為顆粒度。由于顆粒大小事隨機分布的，目前較通過的方法是用直徑24微米(wēimǐ)的掃描孔測定顆粒度。肉眼所觀察到的顆粒團實際上是許多顆粒交互重跌生成的影像。影像顆粒與膠片鹵化銀顆粒是不同的概念影像顆粒度大小取決于以下因素：膠片鹵化銀粒度、曝光光子能量和顯影條件。第四十九頁，共58頁。12、答：采用源在外的透照方式比源在內的透照方式更有利于內壁表面裂紋的檢出，這一說法是正確的，在試驗和實際工作中均已得到驗證，從理論上分析也是有道理的。當源在內透照時，膠片貼在工件表面，由幾何不清晰度公式Ug=b/(F-b)可知，裂紋影像存在一定的幾何不清晰度，此外，由于裂紋的開口尺寸(chǐcun)W大大小于焦點尺寸(chǐcun)，幾何修正系數(shù)大大小于1，照相幾何條件（焦距F、缺陷到膠片距離b）會對裂紋影像對比度產(chǎn)生影響，使對比度下降，從而使缺陷檢出率降低。而當源在外透照時，膠片貼在工件內表面，此時膠片與內表面裂紋的距離b值最小裂紋影像的幾何不清晰度最小，對比度也最高，所以缺陷檢出率高。第五十頁，共58頁。13、答：（1）小缺陷。如果小缺陷的影像尺寸小于不清晰度尺寸，影像對比度小于最小可見(kějiàn)對比度，便不能識別。因此對一定的透照條件，存在著一個可檢出缺陷臨界尺寸，小于臨界尺寸的缺陷便不能檢出；例如：小氣孔、夾雜、微裂紋、白點等。

第五十一頁，共58頁。（2）與照射方向不平行的平面型缺陷。平面型缺陷具有方向性，當缺陷平面與射線之間夾角過大，會使對比度減低，甚至在底片上不產(chǎn)生影像(yǐn