2007年度特種設備無損檢測RT

（參考答案）成績：題號題型分值扣分閱卷人簽章是非題30二選擇題30三問答題30四計算題10總計1002007年6月18日北京全國特種設備無損檢測人員資格考核委員會一、是非題（對者畫“O”,錯者畫“X”，每題1.5分，共計30分）TOC\o"1-5"\h\z當一個原子增加一個質子時，仍可保持元素的種類不變。（）對不同種類的放射性同位素，高活度的同位素總是比低活度的同位素具有更高的輻射水平。（）射線通過材料后，其強度的9/10被吸收，該厚度即稱作1/10價層。（）由于光電效應、康普頓效應和電子對效應的截面都隨入射光子能量hv和吸收物質的原子序數(shù)Z而變化，因此衰減系數(shù)p也隨入射光子能量hv和吸收物質的原子序數(shù)Z而變化。（）工業(yè)用X射線機對X射線管進行冷卻，一般有輻射散熱、沖油冷卻和旋轉陽極自然冷卻三種方式。（）機械零件損壞和機體破碎是Y射線探傷設備發(fā)生故障的主要原因。（）對非增感型膠片而言，由于其“曝光過渡區(qū)”在黑度非常高的區(qū)段，所以一般不在膠片的特性曲線上描繪。（）對同一材料制成的金屬增感屏，其增感系數(shù)隨能量的增加而增大，因此Co60的增感系數(shù)要高于Ir192的增感系數(shù)。（）平板孔型像質計、階梯孔型像質計的擺放位置一般不會影響像質計靈敏度的指示值。（）射線照相顆粒性隨射線能量的提高而增大隨曝光量和底片黑度的增大而減小。（）增大曝光量可以提高信噪比，這是因為疊加作用使信號幅度的增大速度快于噪聲。（）提高主因對比度有利于提高梯噪比。（）W與缺陷寬度W的比值大小決定了缺陷是否有本影，當時/W>1時，缺陷本影消失。（）當幾何不清晰度Ug減小到與所使用射線能量下的固有不清晰度Ui數(shù)值相同時，所使用的焦距稱為優(yōu)化焦距Fopt。（）所謂射線透照等效系數(shù)，是指達到相同射線吸收效果（或者說獲得相同底片黑度）的基準材料厚度To與被檢材料厚度Tm之比。（）在工件和膠片暗盒之間加濾板是消除邊蝕散射的有效措施之一。（）在一次透照范圍內，試件的最大厚度與最小厚度之比大于1.4時，可認為該TOC\o"1-5"\h\z試件屬于大厚度比試件。（）底片上出現(xiàn)“顯影斑紋”是由于顯影時間過長造成的。（）用輻射權重因子修正的平均吸收劑量稱之為有效劑量。（）能準確地確定缺陷的位置和性質是X射線層析照相（X-CT）技術的主要特點。（）二、選擇題（將唯一正確答案的序號填入括號內，每題2分，共計30分）下面是對X射線產生效率的敘述，正確的是（）A、X射線產生效率與管電流和靶材料的原子序數(shù)成正比。B、X射線產生效率與管電壓和靶材料的原子序數(shù)成正比。C、X射線產生效率與管電流成正比，與靶材料的原子序數(shù)成反比。D、X射線產生效率與管電壓成正比，與靶材料的原子序數(shù)成反比。下面是光電效應、康普頓效應、電子對效應對射線照相質量產生不同影響的敘述，錯誤的是（）。A、光電效應引起的吸收有利于提高照相對比度B、電子對效應引起的吸收有利于提高照相對比度C、康普頓效應產生的散射線會降低照相對比度D、康普頓效應、電子對效應產生的散射線均會降低照相對比度在管電壓、管電流和冷卻條件相同的條件下，所產生射線的質較硬、照射率較大的線路是（）。A、半波整流B、全波整流C、倍壓整流D、全波倍壓恒直流4.下列」哪一因素不會明顯影響膠片的梯度（）A、射線的能量B、膠片的類型C、底片的黑度D、顯影的條件5.膠片梯噪比最高的黑度范圍是（A、黑度4.0附近的區(qū)域C、黑度2.0附近的區(qū)域）B、黑度3.0附近的區(qū)域D、黑度1.0附近的區(qū)域6.底片上黑度的隨機起伏稱為（A、對比度B、清晰度）。C、噪聲D、背景強度顆粒的隨機性表現(xiàn)在（）。A、射線源發(fā)出的光量子到達膠片的空間分布是隨機的B、感光銀鹽顆粒大小和分布不均勻性是隨機的C、膠片乳劑層對光子吸收是隨機的D、以上都是裂紋的檢出率與像質計靈敏度對應關系不佳，是因為（）。A、兩者截面形狀不同B、兩者橫向尺寸有較大差異C、前者有方向性而后者沒有D、以上都是TOC\o"1-5"\h\z點狀小缺陷對比度主要取決于（）。A、小缺陷高度B、小缺陷截面積C、小缺陷體積D、以上都不是用置于透照區(qū)中心附近的鉑——鎢雙絲透度計可以從射線底片上測出一定管電壓下的（）。A、吸收系數(shù)B、散射因子C、固有不清晰度。、形狀修正系數(shù)下面哪一條不是管子一管板角接焊縫射線照相的特殊措施？（）A、必須采用特制的微小焦點放射源B、為防止邊蝕散射，同時使被檢區(qū)域曝光均勻，必須使用補償塊。C、應采用濾波板進一步減少散射線。D、在保證底片黑度的前提下，盡量縮短曝光時間。TOC\o"1-5"\h\z下面哪一現(xiàn)象不是由于顯影液pH值增大而引起的？（）入、灰霧度減小B、顆粒變粗命反差增大D、顯影時間加快影響輻射損傷的主要因素是（）。A、輻射性質B、照射方式C、機體的生理狀態(tài)C、以上均是下面哪一條不是數(shù)字平板直接成像技術（DR）的優(yōu)點？（）A、檢測速度和效率大大高于膠片和CR技術B、成像板與膠片一樣，有不同的規(guī)格，能夠分割和彎曲。C、成像區(qū)均勻，沒有邊緣幾何變形D、空間分辨率和靈敏度比圖像增強器射線實時成像系統(tǒng)高得多下面哪一條不是X射線機的年度檢定內容？（）A、焦點的測試B、曝光曲線的校驗C、X光管真空度的測量D、整機絕緣電阻的測試三、問答題（每題5分，共計30分）什么是線質硬化現(xiàn)象？答：多色射線在穿透被穿透物質的過程中，能量較低的射線分量強度衰減多而能量較高的射線分量強度衰減的相對少，這樣透射射線的平均能量將高于初始的平均能量，此過程被稱為多色射線穿透物質過程的線質硬化現(xiàn)象。簡述Y射線照像時射線源送出和收回時的注意事項?答：(1)應快速輕搖，直到搖不動為止。嚴禁使勁猛搖，造成軟軸移位，齒輪打滑。只要發(fā)現(xiàn)移動手柄有困難，就應反向搖動手柄把源收回到屏蔽容器中；然后用Y劑量率儀檢測工作場所，確信放射源回到儲存位置后，再檢查控制纜和輸源管的彎曲半徑是否太小，校正后再往外送源。試述影響裂紋檢出率的主要因素？答：(1)透照角度。；(2)裂紋的開口寬度W;(3)透照的幾何條件；(4)裂紋截面的形狀；(5)透照厚度；(6)射線源的種類；(7)膠片的類型。簡述△Dm.與底片黑度、顆粒度、金屬絲影像寬度的關系答：(1)^Dmin隨底片黑度的增加而增大，且金屬絲寬度越小△Dmin的增大程度越顯著。(2)^Dmin與金屬絲影像寬度的關系是：在影像寬度較大時^Dmin不隨寬度的變化而變化，但在影像寬度較小時，△Dmin隨寬度的減小而增大，當?shù)灼诙仍礁邥r，增大的比例越大。(3)顆粒度對ADmin的影響是：對寬度相同的金屬絲影像來說，顆粒度細的膠片與增感屏組合后得到的△Dmin，要比顆粒度粗的好。底片上焊接形狀缺陷的影像和表面損傷的影像在評片時應如何正確識別?答：（1）評片人員應仔細了解試件的結構和焊接接頭的形式；（2）評片人員應熟悉不同焊接方法和焊接位置的焊縫成形特點；（3）應注意焊縫外觀的檢查結果并掌握試件的表面質量狀況；（4）根據(jù)其位置、形狀、表面結晶形態(tài)以及影像輪廓清晰度特征來加以分析。與膠片照相技術相比，數(shù)字化射線成像技術有哪些優(yōu)點？答：（1）檢測過程容易實現(xiàn)自動化。（2）工作效率高，成像質量好。（3）數(shù)字圖像的處理、存儲、傳輸、提取、觀察應用十分方便。四、計算題（共計10分）對某平板工件進行透照拍片時，測得有缺陷部位的照射率比無缺陷部位的照射率高30%，假設在底片黑度范圍內膠片的Y值為3,求有缺陷部位與無缺陷部位的黑度差？（4分）解：-E一一一AD=D—D=y-lg-E^=3-lg1.3=0.341答：有缺陷部位與無缺陷部位黑度差AD=0.34

假定使用的膠片特性曲線如右圖所示，按探傷工藝卡規(guī)定透照焊縫時母材的最大黑度為3.0,而技術標準允許的最大黑度為3.5。若其他條件不變，焦距用650mm時焦距測定誤差為±15mm,問在這種情況下母材黑度是否會超過3.5?又最大黑度不超過3.5的焦距變化極限值是多少？(6分)解：根據(jù)膠片特性曲線，黑度3.5與3.0的曝光量之比E35=102.17—2.11=1148，實際E3.0透照時有焦距誤差，焦距近，射線照射量大，當焦距為650-15=635mm時，曝光量增加到原來的6502=1.047倍＜1.1486352母材黑度不會超過3.5最大黑度不超過3.5的焦距變化極限值F1imF2——=1.148F21zmF.=607(mm)答：該情況