晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)_第1頁
晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)_第2頁
晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)_第3頁
晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)_第4頁
晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)_第5頁
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第三節(jié)晶體結(jié)構(gòu)缺陷

ImperfectionsincrystalsW樣品的場(chǎng)離子(Fieldion)顯微分析照片晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第1頁!學(xué)習(xí)內(nèi)容1、點(diǎn)缺陷2、固溶體3、非化學(xué)計(jì)量化合物4、固溶體的研究方法5、線缺陷(位錯(cuò))晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第2頁!NowWhatDoYouSee?VacancyInterstitial晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第3頁!缺陷種類Imperfections,Defects1、點(diǎn)缺陷(Pointdefects):最簡(jiǎn)單的晶體缺陷,在結(jié)點(diǎn)上或鄰近的微觀區(qū)域內(nèi)偏離晶體結(jié)構(gòu)的正常排列。在空間三維方向上的尺寸都很小,約為一個(gè)、幾個(gè)原子間距,又稱零維缺陷。包括空位、間隙原子、雜質(zhì)、溶質(zhì)原子等。2、線缺陷(Lineardefects):在一個(gè)方向上的缺陷擴(kuò)展很大,其它兩個(gè)方向上尺寸很小,也稱為一維缺陷。主要為位錯(cuò)。3、面缺陷(Interfacialdefects):在兩個(gè)方向上的缺陷擴(kuò)展很大,其它一個(gè)方向上尺寸很小,也稱為二維缺陷。包括晶界、相界、孿晶界、堆垛層錯(cuò)等。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第4頁!1熱缺陷種類肖特基(Schottky)空位:原子遷移到晶體表面或內(nèi)表面的正常結(jié)點(diǎn)位置,使晶體內(nèi)部留下空位。弗倫克爾(Frenkel)缺陷:在晶體中形成數(shù)目相等的空位和間隙原子。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第5頁!缺陷濃度無論是弗倫克耳缺陷還是肖特基缺陷濃度均為下式:C=ns/N==exp[-E/(2kT)]影響缺陷濃度的主要因素:溫度和缺陷形成能。例如:NaCl晶體重形成間隙質(zhì)點(diǎn)能量為11.22~12.98×10-19J,而形成一個(gè)肖特基缺陷的能量只需3.20×10-19J。所以在NaCl晶體中,肖特基缺陷要比弗倫克耳缺陷多得多。注意:(1)在晶體中兩種缺陷往往同時(shí)存在,只不過一種為主。(2)缺陷形成能的數(shù)據(jù)由實(shí)驗(yàn)結(jié)果得到,因此數(shù)據(jù)不全。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第6頁!錯(cuò)位原子間隙雜質(zhì)原子間隙陽離子 X M X M X M X M X X M M X L X M X M X M X

M X M X M X M X M X M X M X X M M X M X M X M X M X M X M X MMIXM陽離子空位陰離子空位晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第7頁!5.取代離子:當(dāng)外來雜質(zhì)L進(jìn)入MX晶體的主晶格位置時(shí),成為取代離子,若占據(jù)M的位置則表示為L(zhǎng)M,若進(jìn)入間隙位置則表示為L(zhǎng)i,若取代負(fù)離子位置,則表示為L(zhǎng)X。6.自由電子(electron)與電子空穴(hole)分別用e,和h·來表示。其中右上標(biāo)中的一撇“'”代表一個(gè)單位負(fù)電荷,一個(gè)圓點(diǎn)“·”代表一個(gè)單位正電荷。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第8頁!【例】NaCl晶體中可能出現(xiàn)的點(diǎn)缺陷:Na+格點(diǎn)位置的空位,表示為。由于Na+的缺失,該空位缺陷的有效電荷數(shù)是0(+1)=1,所以上標(biāo)是一小撇。Cl格點(diǎn)位置的空位,表示為。Cl的缺失而出現(xiàn)的空位缺陷的有效電荷數(shù)是0(1)=+1,所以上標(biāo)是一小圓點(diǎn)。Na+處于間隙位置,表示為。缺陷的有效電荷就是Na+所帶的+1價(jià)電荷,所以上標(biāo)是一小圓點(diǎn)。9晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第9頁!8.締合中心電性相反的缺陷距離接近到一定程度時(shí),在庫侖力作用下會(huì)締合成一組或一群,產(chǎn)生一個(gè)締合中心,VM和VX發(fā)生締合,記為(VMVX)。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第10頁!固溶體、化合物和混合物比較

(以AO溶質(zhì)溶解在B2O3溶劑中為例)固溶體化合物混合物形成方式反應(yīng)式化學(xué)組成混合尺度結(jié)構(gòu)相組成摻雜溶解B2-xAxO3-x/2原子(離子)尺度與B2O3相同均勻單相化學(xué)反應(yīng)AO+B2O3=AB2O4AB2O4原子(離子)尺度AB2O4型結(jié)構(gòu)單相機(jī)械混合AO+B2O3均勻混合AO+B2O3晶體顆粒態(tài)AO結(jié)構(gòu)+B2O3結(jié)構(gòu)兩相有界面晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第11頁!二、置換固溶體A、形成置換固溶體的條件:(1)離子尺寸因素原因:相互替代的離子尺寸愈相近,則固溶體越穩(wěn)定。注意:這是形成連續(xù)固溶體的必要條件,而不是充分必要條件。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第12頁!3、MgO-FeO晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第13頁!3、電價(jià)因素只有離子價(jià)相同或復(fù)合替代離子價(jià)總和相同時(shí),才可以形成連續(xù)置換固溶體。Ca2++Al3+=Na++Si4+在硅酸鹽晶體中,常發(fā)生復(fù)合離子的等價(jià)置換,如Na++Si4+=Ca2++Al3+,使鈣長(zhǎng)石Ca[Al2Si2O6]和鈉長(zhǎng)石Na[AlSi3O8]能形成連續(xù)固溶體。又如,Ca2+=2Na+,Ba2+=2K+常出現(xiàn)在沸石礦物中。4、電負(fù)性電負(fù)性相近的組分易形成固溶體(<0.4),差別較大的組分易生成化合物。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第14頁!(二)、注意事項(xiàng)

以上幾個(gè)影響因素,并不是同時(shí)起作用,在某些條件下,有的因素會(huì)起主要因素,有的會(huì)不起主要作用。

例如:rSi4+=0.26埃,rAl3+=0.39埃,相差達(dá)45%以上,電價(jià)又不同,但Si—O、Al—O鍵性接近,鍵長(zhǎng)亦接近,仍能形成固溶體,在鋁硅酸鹽中,常見Al3+置換Si4+形成置換固溶體的現(xiàn)象。

晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第15頁!三、間隙型固溶體

形成間隙型固溶體的條件

填隙式固溶體的固溶度仍然取決于離子尺寸、離子價(jià)、電負(fù)性,結(jié)構(gòu)等因素。1雜質(zhì)質(zhì)點(diǎn)大小即添加的原子愈小,易形成固溶體,反之亦然。2

晶體(基質(zhì))結(jié)構(gòu)離子尺寸是與晶體結(jié)構(gòu)的關(guān)系密切相關(guān)的,在一定程度上來說,結(jié)構(gòu)中間隙的大小起了決定性的作用。一般晶體中空隙愈大,結(jié)構(gòu)愈疏松,易形成固溶體。沸石>ThO2>TiO2>MgO晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第16頁!間隙型固溶體

原子半徑:H:0.046nmB:0.097nmC:0.077nmN:0.071nm2.5.2填隙型固溶體金屬和非金屬元素H,B,C,N等形成的固溶體一般都是間隙式的

17Chapter2StructureofMaterials晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第17頁!三固溶體類型的實(shí)驗(yàn)判別對(duì)于金屬氧化物系統(tǒng),最可靠而簡(jiǎn)便的方法是寫出生成不同類型固溶體的缺陷反應(yīng)方程,根據(jù)缺陷方程計(jì)算出雜質(zhì)濃度與固溶體密度的關(guān)系,并畫出曲線,然后把這些數(shù)據(jù)與實(shí)驗(yàn)值相比較,哪種類型與實(shí)驗(yàn)相符合即是什么類型。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第18頁!二、缺陷反應(yīng)表示法

對(duì)于雜質(zhì)缺陷而言,缺陷反應(yīng)方程式的一般式:

晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第19頁!(1)位置關(guān)系:在化合物MaXb中,無論是否存在缺陷,其正負(fù)離子位置數(shù)(即格點(diǎn)數(shù))的之比始終是一個(gè)常數(shù)a/b,即:M的格點(diǎn)數(shù)/X的格點(diǎn)數(shù)a/b。如NaCl結(jié)構(gòu)中,正負(fù)離子格點(diǎn)數(shù)之比為1/1,Al2O3中則為2/3。格點(diǎn)即陣點(diǎn),亦即理想晶體中原子(或離子)所處的位置晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第20頁!缺陷方程的寫法(1)高價(jià)置換低價(jià)陽離子出現(xiàn)空位陰離子進(jìn)入間隙(2)低價(jià)置換高價(jià)陰離子出現(xiàn)空位陽離子進(jìn)入間隙(3)等價(jià)置換晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第21頁!例2:寫出CaCl2溶解在KCl中的缺陷反應(yīng)式3種可能性:Ca2+取代K+,Cl-進(jìn)入Cl-晶格位置:Ca2+取代K+,Cl-進(jìn)入間隙位置:Ca2+進(jìn)入間隙位置,Cl-占據(jù)晶格位置:22Chapter2StructureofMaterials晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第22頁!3、

固溶體形式判定例1

以添加了0.15molCaO的ZrO2固溶體為例。置換式固溶體:化學(xué)式CaxZrl~xO2-x即Ca0.15Zr0.85O1.85ZrO2屬立方晶系,螢石結(jié)構(gòu),Z=4,晶胞中有Ca2+、Zr4+、O2-三種質(zhì)點(diǎn)。

x射線衍射分析晶胞常數(shù)a=5.131埃,晶胞體積V=a3=135.1×10-24cm3

晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第23頁!例2MgO屬NaCl型結(jié)構(gòu),若有0.03molAl2O3摻雜到MgO中,試寫出兩種缺陷反應(yīng)方程式及固溶式,并計(jì)算MgO摻雜后的密度變化,根據(jù)計(jì)算結(jié)果判斷缺陷方程的合理性。(原子量如下:Al:26.98,Mg:24.31,O:16:00)晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第24頁!說明:由于間隙固溶體的形成容易導(dǎo)致結(jié)構(gòu)的不穩(wěn)定,且在MgO晶體中,所有的八面體空隙都被占據(jù),僅剩下四面體空隙可供利用,因此Al3+離子若想進(jìn)入,只有占據(jù)四面體空隙,這是比較難于實(shí)現(xiàn)的。

而空位形成

是比較容易的,因此置換型是比較合理的。

晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第25頁!把x=0.2帶入得固溶式為:填隙型:Ca0.8Y0.2F2.2空位型:Ca0.7Y0.2F2由于CaF2是面心立方密堆,有4個(gè)分子固密度分別為:Ρ間隙與實(shí)測(cè)值更接近,所以形成間隙固溶體晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第26頁!2、陽離子間隙型(n型)金屬離子過剩,形成間隙離子如ZnO在Zn蒸汽中造成Zn2+離子過剩。ZnO是白色的,產(chǎn)生缺陷后變?yōu)辄S色,類似的還有ZnS。在紫外線下發(fā)出強(qiáng)烈的熒光。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第27頁!分析U3O8是UO3和U2O5的混合物晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第28頁!五、線缺陷LinearDefects

位錯(cuò)Dislocation

線缺陷即位錯(cuò)。晶體中的原子發(fā)生了有規(guī)律的錯(cuò)排現(xiàn)象。

特點(diǎn):原子發(fā)生錯(cuò)排的范圍在一維方向上很大,是一個(gè)直徑為3~5個(gè)原子間距,長(zhǎng)數(shù)百個(gè)原子間距以上的管狀原子畸變區(qū)。

重要性:對(duì)金屬強(qiáng)度、塑性變形、擴(kuò)散和相變等有顯著影響。基本類型:刃型位錯(cuò)和螺型位錯(cuò)鈦合金(Titaniumalloy)中的位錯(cuò)。TEM51450x晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第29頁!刃型位錯(cuò)(edgedislocation)的特點(diǎn)刃型位錯(cuò)線為已滑移區(qū)和未滑移區(qū)的分界線,它不一定是直線;

若額外半原子面位于晶體的上半部,則此處的位錯(cuò)線稱為正刃型位錯(cuò)(┴),反之,則稱為負(fù)刃型位錯(cuò)(┬)?;泼媸峭瑫r(shí)包括位錯(cuò)線和滑移矢量的平面,刃型位錯(cuò)的位錯(cuò)線和滑移矢量互相垂直,一個(gè)刃型位錯(cuò)所構(gòu)成的滑移平面只有一個(gè);畸變區(qū)的原子平均能量較大,但只是一個(gè)有幾個(gè)原子間距寬、狹長(zhǎng)的管道。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第30頁!螺旋型位錯(cuò)(screwdislocation)的特點(diǎn)無額外半原子面,原子錯(cuò)排呈軸對(duì)稱;位錯(cuò)線附近原子旋轉(zhuǎn)方向不同,分右旋和左旋螺型位錯(cuò);

位錯(cuò)線與滑移矢量平行,因此一定是直線;位錯(cuò)線的移動(dòng)方向與晶體滑移方向互相垂直;螺型位錯(cuò)周圍的點(diǎn)陣發(fā)生彈性畸變,只有切應(yīng)變,無正應(yīng)變。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第31頁!一點(diǎn)缺陷PointDefects分類:1)晶格位置缺陷(熱缺陷)正常位置上的結(jié)點(diǎn)未出現(xiàn)原子,形成空位,本來不該有的地方出現(xiàn)了原子,稱為填隙原子。形成原因:熱起伏(主要是溫度變化)2)組成缺陷(雜質(zhì)缺陷)外來雜質(zhì)進(jìn)入晶格中。形成原因:雜質(zhì)引起3)電子缺陷(非化學(xué)計(jì)量化合物)晶體中某些個(gè)別電子處于激發(fā)態(tài),離開原來位置形成自由電子形成原因:氣氛熱缺陷雜質(zhì)缺陷晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第32頁!兩種缺陷特點(diǎn):(1)兩種離子半徑相差不大時(shí)形成肖特基缺陷,相差加大時(shí)形成弗倫克耳缺陷。(2)弗倫克耳缺陷體積不變,肖特基缺陷體積變大。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第33頁!2.點(diǎn)缺陷的表示方法本節(jié)介紹以下內(nèi)容:一、點(diǎn)缺陷的符號(hào)表征:Kroger-Vink符號(hào)二、缺陷反應(yīng)方程式的寫法晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第34頁!一、點(diǎn)缺陷的符號(hào)表征:Kroger-Vink符號(hào)以MX型化合物為例:1.正常結(jié)點(diǎn)的離子:用MM和XX表示。2.空位(vacancy)用V來表示,符號(hào)中的右下標(biāo)表示缺陷所在位置,VM含義即M原子位置是空的。3.間隙原子(interstitial)亦稱為填隙原子,用Mi、Xi來表示,其含義為M、X原子位于晶格間隙位置。4.錯(cuò)位原子錯(cuò)位原子用MX、XM等表示,MX的含義是M原子占據(jù)X原子的位置。XM表示X原子占據(jù)M原子的位置。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第35頁!7.帶電缺陷

在NaCl晶體中,取出一個(gè)Na+離子,會(huì)在原來的位置上留下一個(gè)電子e',寫成VNa',即代表Na+離子空位,帶一個(gè)單位負(fù)電荷。

同理,Cl-離子空位記為VCl·

,帶一個(gè)單位正電荷。即:VNa'=VNa+e',VCl·

=VCl+h·。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第36頁!其它帶電缺陷:

1)CaCl2加入NaCl晶體時(shí),若Ca2+離子位于Na+離子位置上,其缺陷符號(hào)為CaNa·

,此符號(hào)含義為Ca2+離子占據(jù)Na+離子位置,帶有一個(gè)單位正電荷。缺陷的有效電荷為(+2)(+1)=+1。如果Ca2+進(jìn)入間隙位置,則這種間隙式雜質(zhì)缺陷表示為。2)CaZr,,表示Ca2+離子占據(jù)Zr4+離子位置,此缺陷帶有二個(gè)單位負(fù)電荷。其余的缺陷VM、VX、Mi、Xi等都可以加上對(duì)應(yīng)于原陣點(diǎn)位置的有效電荷來表示相應(yīng)的帶電缺陷。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第37頁!二固溶體(雜質(zhì)缺陷)一、固溶體的概念和分類定義:兩種或兩種以上的組分,在固態(tài)條件下相互溶解形成的。組分高的稱為溶劑,組分含量低的稱為溶質(zhì)。固溶體即固體溶液。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第38頁!固溶體的分類1、按溶質(zhì)和溶劑來劃分連續(xù)固溶體:溶質(zhì)和溶劑可以按任意比例互相固溶不連續(xù)固溶體:溶質(zhì)只能以一定的比例和限度溶解于溶劑中。2、按照溶質(zhì)在溶劑中所占的位置來劃分置換固溶體:溶質(zhì)置換了正常位置上的質(zhì)點(diǎn)間隙固溶體:溶質(zhì)質(zhì)點(diǎn)進(jìn)入溶劑晶體結(jié)構(gòu)間隙位置,成為間隙質(zhì)點(diǎn)。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第39頁!舉例:1、MgO-NiO2、MgO-CaO晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第40頁!2、晶體類型相同類型的晶體才可以形成連續(xù)固溶體例:Al2O3-Cr2O3(剛玉型)Mg2SiO4-Fe2SiO4(鎂橄欖石型)ThO2-UO2(CaF2型)MgO-FeO(NaCl型)可以形成連續(xù)置換固溶體CaO和ZrO2不能形成連續(xù)固溶體,但可以形成有限固溶體晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第41頁!5、溫度和壓力溫度升高有利于固溶體的形成例:鉀長(zhǎng)石和鈉長(zhǎng)石高溫下可以混溶,溫度降低時(shí)脫溶,形成條紋長(zhǎng)石。ΔH=ΔU+PΔV晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第42頁!B、置換固溶體的組分缺陷產(chǎn)生原因:不等價(jià)置換舉例:氧化鈣穩(wěn)定氧化鋯富鋁尖晶石:晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第43頁!解釋:MgO:氧八面體間隙都已被Mg離子占滿,只有氧四面體間隙是空的。TiO2:有二分之一的八面體空隙是空的;CaF2:氟離子作簡(jiǎn)單立方排列,而正離子Ca2+只占據(jù)了有立方體空隙的一半,在晶胞中有一個(gè)較大的間隙位置。沸石:網(wǎng)狀結(jié)構(gòu),具有隧道型空隙,間隙就更大。對(duì)于同樣的外來雜質(zhì)原子,可以預(yù)料形成填隙式固溶體的可能性或固溶度大小的順序?qū)⑹欠惺?gt;螢石>TiO2>MgO.實(shí)驗(yàn)證明是符合的。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第44頁!3

電價(jià)因素外來雜質(zhì)原子進(jìn)人間隙時(shí),必然引起晶體結(jié)構(gòu)中電價(jià)的不平衡,這時(shí)可以通過生成空位,產(chǎn)生部分取代或離子的價(jià)態(tài)變化來保持電價(jià)平衡。例如YF3加入到CaF2中:

當(dāng)F-進(jìn)入間隙時(shí),產(chǎn)生負(fù)電荷,由Y3+進(jìn)入Ca2+位置來保持位置關(guān)系和電價(jià)的平衡。間隙式固溶體的生成,—般都使晶格常數(shù)增大,增加到一定的程度,使固溶體變成不穩(wěn)定而離解,所以填隙型固溶體不可能是連續(xù)的固溶體。晶體中間隙是有限的,容納雜質(zhì)質(zhì)點(diǎn)的能力≤10%。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第45頁!1、理論密度計(jì)算計(jì)算方法:1)先寫出可能的缺陷反應(yīng)方程式;2)根據(jù)缺陷反應(yīng)方程式寫出固溶體可能的化學(xué)式由此可見,固溶體化學(xué)式的寫法至關(guān)重要3)由化學(xué)式可知晶胞中有幾種質(zhì)點(diǎn),計(jì)算出晶胞中i質(zhì)點(diǎn)的質(zhì)量:據(jù)此,計(jì)算出晶胞質(zhì)量g:晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第46頁!1.寫缺陷反應(yīng)方程式應(yīng)遵循的原則與一般的化學(xué)反應(yīng)相類似,書寫缺陷反應(yīng)方程式時(shí),應(yīng)該遵循下列基本原則:(1)位置關(guān)系(2)質(zhì)量平衡(3)電中性晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第47頁!(2)質(zhì)量平衡:與化學(xué)反應(yīng)方程式相同,缺陷反應(yīng)方程式兩邊的質(zhì)量應(yīng)該相等。需要注意的是缺陷符號(hào)的右下標(biāo)表示缺陷所在的位置,對(duì)質(zhì)量平衡無影響。(3)電中性:電中性要求缺陷反應(yīng)方程式兩邊的有效電荷數(shù)必須相等。晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第48頁!例1·寫出NaF加入YF3中的缺陷反應(yīng)方程式反應(yīng)方程式(1):反應(yīng)方程式(2):哪一個(gè)正確?晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第49頁!

例3、以CaO加入到ZrO2中為例,以1mol為基準(zhǔn),摻入xmolCaO。形成置換式固溶體:

xxx則化學(xué)式為:CaxZrl~xO2-x形成間隙式固溶體:

2yyy則化學(xué)式為:Ca2yZr1-yO2x、y為待定參數(shù),可根據(jù)實(shí)際摻入量確定。電中性檢驗(yàn):2×(2Y)+4×(1-y)-2×2=0電中性檢驗(yàn):2x+4(1-x)-2(2-x)=0晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第50頁!間隙式固溶體:化學(xué)式Ca2yZr1-yO2間隙式固溶體化學(xué)式為Ca0.15Zr0.925O2★

ρ實(shí)測(cè)=5.477g/cm3∴可判斷生成的是置換型固溶體。

晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第51頁!注意進(jìn)行電中性檢驗(yàn)晶體的結(jié)構(gòu)缺陷精簡(jiǎn)共59頁,您現(xiàn)在瀏覽的是第52頁!例3、用0.2molYF3加入CaF2中形成固溶體,實(shí)驗(yàn)測(cè)得固體的晶胞參數(shù)a0=0.55nm,測(cè)得固溶體密

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