TDR測試簡介課件

TDR測試儀簡介

TDR工作原理TDR儀器在電線電纜測量中的應用TDR儀器使用時的注意事項

第一部分TDR工作原理TDR儀器的基本構(gòu)成TDR系統(tǒng)主要由階躍信號源及高速采樣頭組成；

其中,階躍信號源的上升時間決定分辨阻抗不連續(xù)點的能力；高速采樣頭決定阻抗變化位置的準確性。如何計算阻抗值

從以上公式可知，由于入射電壓為已知，故只要測量出反射點的電壓值，就可計算出反射系數(shù)ρ值；而儀器的輸出阻抗Z0一般都是已知,這樣就可以計算出反射點的阻抗值Z值。如何計算阻抗變化點的位置TDR可測量出反射點的傳輸延時，由傳輸延時值可計算出反射點的位置：V=信號在介質(zhì)中的傳輸速度

T=TDR儀器上讀取到的延時值

C=光速

ε=介質(zhì)常數(shù)TDR經(jīng)典的三個模型1.開路(OPEN)模型TDR經(jīng)典的三個模型3.匹配負載(Load)模型反射系統(tǒng)與時間變化示意圖TDR測量阻抗不連續(xù)點示意圖TDR儀器時域傳模式原理TDT=TimeDomainTransmission原理:信號通過近端采樣頭發(fā)出信號，利用另外一個采樣頭在遠端獲取并測量電壓脈沖值；TDT與TDR最大的區(qū)別是：其一，TDT必須采用兩個采樣頭；其二，TDT信號走過的路徑是TDR信號的一半；

第二部分

TDR在電線電纜測量中的應用TDR測量內(nèi)容特性阻抗(Impedance)延時(Delay)延時差(Skew)串音(Crosstalk)上升時間(Rise-Time)特性阻抗(Impedance)1.差模阻抗(DifferentialModeImpedance)

2.共模阻抗(CommonModeImpedance)

Delay是電信號從發(fā)送端到測量端所用的時間

可采用TDR及TDT兩種模式進行測試

DUTInOutDelay延時(Delay)Skew是指信號在不同傳輸鏈路間的延時差異，分為對間延時差（Inter-PairSkew)和對內(nèi)延時差(Intra-PairSkew)。可采用TDR及TDT兩種模式測試。

DUTDelayInOutInOutSkew延時差(Skew)RiseTime一般是指信號上升沿10%~90%區(qū)間的時間值。采用TDT模式進行測試.RiseTime上升時間(Rise-Time)0190%10%影響測試結(jié)果的因素諸多因素會影響到測試結(jié)果：TDR系統(tǒng)的上升時間，采樣頭的性能，連接線與測試治具的性能，鏈路中的多重反射和測試中使用的參考阻抗精度等等.TDR測量時應注意的問題選擇測試類型上升時間的設置靜電及TDR模塊的保護TDR測試類型的設置1.選擇TDR或TDT模式;2.設置差分或其他模式

;3.設置合適的上升時間(Rise-Time);4.有效的校驗方式及方法；*實線為理想值，虛線為實測值TDR儀器中上升時間的意義1.一般情況下，我們希望TDR系統(tǒng)有一個非常快的上升時間以提供更好的測試分辨率，但在某些特定的情況下，極快的上升時間會給出誤導性結(jié)果；2.國際標準規(guī)范中都會明確測試時所需的上升時間；如USB3.0200ps；DP130ps；HDMI200ps等等.3.不同的儀器供應商都有不同的方法來設置上升時間；設置合適的上升時間靜電及TDR模塊的保護1.靜電產(chǎn)生的原因

1)移動物品時會產(chǎn)生靜電；2)摩擦物品時會產(chǎn)生靜電；

*人體可以儲存高達35000V的靜電;

靜電及TDR模塊的保護1.靜電產(chǎn)生的原因

1)移動物品時會產(chǎn)生靜電；2)摩擦物品時會產(chǎn)生靜電；

*人體可以儲存高達35000V的靜電;

EOS=ExtendedOverStress增強式過載低電壓EOS現(xiàn)象對TDR模塊的損壞TDR采樣頭損壞前后對比靜電及TDR模塊的保護1.正規(guī)可靠的測試室設計；2.合理有效的接地；3.實驗室合適的溫度和濕度；4.合理有效的等離子風機；5.靜電只能有效的預防而無法完全消除；

1.由于TDR采樣頭無保護電路,故輸入電壓僅僅3V就可超出其設計極限，從而損壞采樣頭，而大多數(shù)靜電都已大大超出在此范圍;2.TDR測試平臺上人員及物品的移動都會產(chǎn)生大量的靜電;3.靜電保護可以有效地減少高電壓靜電的出現(xiàn)，但仍會殘余部分靜電，而此類無法完全釋放的靜電又很容易累積,從而