無損檢測超聲波檢測二級(UT)試題庫帶答案

無損檢測超聲波檢測二級(UT)試題庫帶答案無損檢測超聲波檢測二級(UT)試題庫帶答案無損檢測超聲波檢測二級(UT)試題庫帶答案無損檢測超聲波檢測二級(UT)試題庫帶答案編制僅供參考審核批準(zhǔn)生效日期地址：電話：傳真:郵編:無損檢測超聲波試題(UT二級)一、是非題受迫振動(dòng)的頻率等于策動(dòng)力的頻率。√波只能在彈性介質(zhì)中產(chǎn)生和傳播。×（應(yīng)該是機(jī)械波）由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波動(dòng)頻率等于振動(dòng)頻率?！逃捎跈C(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波長等于振幅?！羵髀暯橘|(zhì)的彈性模量越大，密度越小，聲速就越高?！滩牧辖M織不均勻會(huì)影響聲速，所以對鑄鐵材料超聲波探傷和測厚必須注意這一問題。√一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而增大。×由端角反射率試驗(yàn)結(jié)果推斷，使用K≥的探頭探測單面焊焊縫根部未焊透缺陷，靈敏度較低，可能造成漏檢?！坛暡〝U(kuò)散衰減的大小與介質(zhì)無關(guān)?！坛暡ǖ念l率越高，傳播速度越快。×介質(zhì)能傳播橫波和表面波的必要條件是介質(zhì)具有切變彈性模量。√頻率相同的縱波，在水中的波長大于在鋼中的波長?！良热凰茉谒?zhèn)鞑ィ敲闯暠砻娌ㄒ材苎匾后w表面?zhèn)鞑?。×因?yàn)槌暡ㄊ怯蓹C(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度?！寥绮馁|(zhì)相同，細(xì)鋼棒(直徑<λ=與鋼鍛件中的聲速相同。×（C細(xì)鋼棒＝（E/ρ）?）在同種固體材料中，縱、橫渡聲速之比為常數(shù)。√水的溫度升高時(shí)，超聲波在水中的傳播速度亦隨著增加。×幾乎所有的液體（水除外），其聲速都隨溫度的升高而減小?！滩ǖ寞B加原理說明，幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時(shí)，都可以合成一個(gè)波繼續(xù)傳播?！两橘|(zhì)中形成駐波時(shí)，相鄰兩波節(jié)或波腹之間的距離是一個(gè)波長。×（應(yīng)是λ/4；相鄰兩節(jié)點(diǎn)或波腹間的距離為λ/2）具有一定能量的聲束，在鋁中要比在鋼中傳播的更遠(yuǎn)?！滩牧现袘?yīng)力會(huì)影響超聲波傳播速度，在拉應(yīng)力時(shí)聲速減小，在壓應(yīng)力時(shí)聲速增大，根據(jù)這一特性，可用超聲波測量材料的內(nèi)應(yīng)力?！滩牧系穆曌杩乖酱螅暡▊鞑r(shí)衰減越大?！粒ǔ煞幢龋┢矫娌ù怪比肷涞浇缑嫔?，入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和?！疗矫娌ù怪比肷涞浇缑嫔希肷淠芰康扔谕干淠芰颗c反射能量之和。√超聲波的擴(kuò)散衰減與波型，聲程和傳聲介質(zhì)、晶粒度有關(guān)。×對同一材料而言，橫波的衰減系數(shù)比縱波大得多?！探缑嫔先肷渎暿恼凵浣堑扔诜瓷浣?。×當(dāng)聲束以一定角度入射到不同介質(zhì)的界面上，會(huì)發(fā)生波形轉(zhuǎn)換?！淘谕还腆w材料中，傳播縱、橫波時(shí)聲阻抗不一樣?！蹋╖＝ρ·C）聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學(xué)特性的重要參數(shù)，溫度變化對材料的聲阻抗無任何影響。×超聲波垂直入射到平界面時(shí)，聲強(qiáng)反射率與聲強(qiáng)透射率之和等于1?！坛暡ù怪比肷涞疆愘|(zhì)界面時(shí)，界面一側(cè)的總聲壓等于另一側(cè)的總聲壓。√超聲波垂直入射到Z2>Zl的界面時(shí)，聲壓透過率大于1，說明界面有增強(qiáng)聲壓的作用?！脸暡ù怪比肷涞疆愘|(zhì)界時(shí)，聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)透射率在數(shù)值上相等?！坛暡ù怪比肷鋾r(shí)，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗差愈小，聲壓往復(fù)透射率愈低。×當(dāng)鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時(shí)，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加?！蹋晧悍瓷渎室搽S頻率增加而增加）超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的反射角等于折射角?！脸暡▋A斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的折射角總大于入射角。超聲波以10o角入射至水／鋼界面時(shí)，反射角等于10o。√超聲波入射至鋼／水界面時(shí)，第一臨界角約為o。×（水/鋼界面時(shí)，aⅠ＝o；鋼/水界面不存在第一臨界角一說，因?yàn)闄M波不在水中傳播）第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第一臨界角?！寥绻袡C(jī)玻璃／鋁界面的第一臨界角大于有機(jī)玻璃／鋼界面第一臨界角，則前者的第二臨界角也一定大于后者。×（鋁的縱波速度>鋼的縱波速度，鋁的橫波速度<鋼的橫波速度）只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為固體介質(zhì)時(shí)，才會(huì)有第三臨界角?！虣M波斜入射至鋼，空氣界面時(shí)，入射角在30o左右時(shí)，橫波聲壓反射率最低。√超聲波入射到C1<C2的凹曲面時(shí)，其透過波發(fā)散?！粒ň劢梗┏暡ㄈ肷涞紺1>C2的凸曲面時(shí)，其透過波集聚。√以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機(jī)玻璃／水界面為凹曲面?！粒ㄋ劢固筋^就是利用平面波入射到C1>C2的凸曲面上）介質(zhì)的聲阻抗愈大，引起的超聲波的衰減愈嚴(yán)重。×（成反比）聚焦探頭輻射的聲波，在材質(zhì)中的衰減小?！粒ㄋp大，因?yàn)榫劢固筋^有涉及發(fā)散波）超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對聲波的吸收作用?！脸暺矫娌ú淮嬖诓馁|(zhì)衰減?！粒ú淮嬖跀U(kuò)散衰減）超聲波頻率越高，近場區(qū)的長度也就越大。√（個(gè)人感覺答案有錯(cuò)，沒有前提無法對比）對同一個(gè)直探頭來說，在鋼中的近場長度比在水中的近場長度大。×聚焦探頭的焦距應(yīng)小于近場長度。√探頭頻率越高，聲束擴(kuò)散角越小?！坛暡ㄌ絺膶?shí)際聲場中的聲束軸線上不存在聲壓為零的點(diǎn)?！搪暿赶蛐圆粌H與頻率有關(guān)，而且與波型有關(guān)。√超聲波的波長越長，聲束擴(kuò)散角就越大，發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力也就越強(qiáng)。×因?yàn)槌暡〞?huì)擴(kuò)散衰減，所以檢測應(yīng)盡可能在其近場區(qū)進(jìn)行?！烈?yàn)榻鼒鰠^(qū)內(nèi)有多個(gè)聲壓變?yōu)榱愕狞c(diǎn)，所以探傷時(shí)近場區(qū)缺陷往往會(huì)漏檢。×如超聲波頻率不變，晶片面積越大，超聲波的近場長度越短。×面積相同，頻率相同的圓晶片和方晶片，超聲場的近場長度一樣長?！堂娣e相同，頻率相同的到晶片和方晶片，其聲束指向角亦相同。×超聲場的近場長度愈短，聲束指向性愈好?！谅暡ㄝ椛涞某暡ǖ哪芰恐饕性谥髀暿鴥?nèi)?！搪暡ㄝ椛涞某暡ǎ偸窃诼暿行妮S線上的聲壓為最高?！粒ń鼒鰠^(qū)內(nèi)軸線上的聲壓不一定最高）探傷采用低頻是為了改善聲束指向性，提高探傷靈敏度。×（應(yīng)是提高頻率）超聲場中不同橫截面上的聲壓分布規(guī)律是一致的。×（近場區(qū)與遠(yuǎn)場區(qū)各橫截面上聲壓分布不同）在超聲場的未擴(kuò)散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波看成平面波，平均聲壓不隨距離增加而改變。√斜角探傷橫波聲場中假想聲源的面積大于實(shí)際聲源面積?！令l率和晶片尺寸相同時(shí)，橫波聲束指向性比縱波好?！虉A晶片斜探頭的上指向角小于下指向角?！寥缧碧筋^入射點(diǎn)到晶片的距離不變，入射點(diǎn)到假想聲源的距離隨入射角的增加而減小。√200mm處Φ4長橫孔的回波聲壓比100mm處Φ2長橫孔的回波聲壓低。√球孔的回波聲壓隨距離的變化規(guī)律與平底孔相同?！掏暢汤硐氪笃矫媾c平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提高而減小。√軸類工件外圓徑向探傷時(shí)，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平面相同。√對空心圓柱體在內(nèi)孔探傷時(shí)，曲底面回波聲壓比同聲程大平面低?！脸暡ㄌ絺校l(fā)射超聲波是利用正壓電效應(yīng)，接收超聲波是利用逆壓電效應(yīng)?！猎鲆鎙00dB就是信號強(qiáng)度放大100倍?！粒ㄕ{(diào)節(jié)增益作用是改變接收放大器的放大倍數(shù)）與鋯鈦酸鉛相比，石英作為壓電材料性能穩(wěn)定、機(jī)電耦合系數(shù)高、壓電轉(zhuǎn)換能量損失小等優(yōu)點(diǎn)。×與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高?！淌褂镁劢雇哥R能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測范圍。√點(diǎn)聚焦探頭比線聚焦探頭靈敏度高。√雙晶探頭只能用于縱波檢測?！罛型顯示能夠展現(xiàn)工件內(nèi)缺陷的埋藏深度?！藽型顯示能展現(xiàn)工件中缺陷的長度和寬度，但不能展現(xiàn)深度?！掏ㄓ肁VG曲線采用的距離是以近場長度為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格的探頭?！淘谕ㄓ肁VG曲線上，可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸。×A型顯示探傷儀，利用DGS曲線板可直觀顯示缺陷的當(dāng)量大小和缺陷深度?！屉姶懦暡ㄌ筋^的優(yōu)點(diǎn)之一是換能效率高，靈敏度高?！炼嗤ǖ捞絺麅x是由多個(gè)或多對探頭同時(shí)工作的探傷儀。×（應(yīng)是交替工作）探傷儀中的發(fā)射電路亦稱為觸發(fā)電路。×（同步電路又稱觸發(fā)電路）探傷儀中的發(fā)射電路亦可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)。√探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路?！粒⊕呙桦娐酚址Q時(shí)基電路，用來產(chǎn)生鋸齒波電壓施加到示波管水平偏轉(zhuǎn)板上，產(chǎn)生一條水平掃描時(shí)基線）探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻的阻值愈大，發(fā)射強(qiáng)度愈弱。×（改變阻尼是調(diào)節(jié)發(fā)射脈沖的電壓幅度和脈沖寬度，阻值越大，發(fā)射強(qiáng)度越強(qiáng)，發(fā)射聲能越多，分辨力越小。）調(diào)節(jié)探傷儀“深度細(xì)調(diào)”旋鈕時(shí)，可連續(xù)改變掃描線掃描速度。√（從而使熒光屏上回波間距大幅度地壓縮或擴(kuò)展）調(diào)節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時(shí)，抑制越大，儀器動(dòng)態(tài)范圍越大。×調(diào)節(jié)探傷儀“延遲”旋鈕時(shí)，掃描線上回波信號間的距離也將隨之改變?！敛煌瑝弘娋w材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同。√不同壓電材料的頻率常數(shù)不一樣，因此用不同壓電材料制作的探頭其標(biāo)稱頻率才能相同?！翂弘娋膲弘姂?yīng)變常數(shù)(d33)大，則說明該晶片接收性能好?！粒▔弘姂?yīng)變常數(shù)d33大，發(fā)射性能好，發(fā)射靈敏度高）壓電晶片的壓電電壓常數(shù)（g33）大，剛說明該晶片接收性能好。√（則接收靈敏度就高）探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機(jī)械品質(zhì)因素Qm，減少機(jī)械能損耗?！粒游諌K是為了減小機(jī)械品質(zhì)因素，Qm小就表示損耗大，脈沖寬度小，分辨率高）工件表面比較租糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。×斜探頭楔塊前部和上部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失?！粒康氖菫榱藴p少雜波）由于水中只能傳插縱波，所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波探傷?！岭p晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn)復(fù)蓋區(qū)愈大?！劣袡C(jī)玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭，透鏡曲率半徑愈大，焦距愈大?！汤肐IW試塊上Φ50mm孔與兩側(cè)面的距離，僅能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。√當(dāng)斜探頭對準(zhǔn)IIW2試塊上R5曲面時(shí)，熒光屏上的多次反射回波是等距離的?！林行那胁鄣陌雸A試塊，其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn)。√與IIW試塊相比CSK-IA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭分辨力。√調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕，將會(huì)改變儀器的水平線性?！粒ㄕ{(diào)節(jié)水平旋鈕只是使掃描線連掃描線上的回波一起左右移動(dòng)一段距離，但不改變回波間距，故也不會(huì)改變水平線性）測定儀器的“動(dòng)態(tài)范圈”時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”、“深度補(bǔ)償”旋鈕置于“關(guān)”的位置。√盲區(qū)與始波寬度是同一概念。×（盲區(qū)是指從檢測面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離，盲區(qū)的大小與儀器的阻塞時(shí)間和始脈沖寬度有關(guān)）測定組合靈敏度時(shí)，可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電噪聲電平≤l0%，再進(jìn)行測試?！翜y定“始波寬度”對，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大?！粒`敏度應(yīng)調(diào)到標(biāo)準(zhǔn)“0”點(diǎn)）為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些?！淘跀?shù)字化智能超聲波探傷儀中，脈沖重復(fù)頻率又稱為采樣頻率。×雙晶探頭主要用于近表面缺陷的探測?！虦囟葘π碧筋^折射角有影響，當(dāng)溫度升高對，折射角將變大?！倘涨笆褂米顝V泛的測厚儀是共振式測厚儀?！粒☉?yīng)是脈沖反射式測厚儀）在鋼中折射角為60。的斜探頭，用于探測鋁時(shí)，其折射角將變大?！粒ㄐ碧筋^在鋼中折射角為橫波折射角，鋁的橫波折射角比鋼的小）“發(fā)射脈沖寬度”就是指發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間。√軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。√脈沖反射式和穿透式探傷，使用的探頭是同一類型的?！粒ù┩甘教絺奶筋^發(fā)射的是連續(xù)波）聲束指向角較小且聲柬截面較窄的探頭稱作窄脈沖探頭?！猎谝航綑z測中，返回探頭的聲能還不到最初值的1%。√垂直探傷時(shí)探傷面的粗糙度對反射波高的影響比斜角探傷嚴(yán)重。√超聲脈沖通過材料后，其中心頻率將變低。√串列法探傷適用于檢查垂直于探測面的平面缺陷。√“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好?！粒`敏度太高雜波多）所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。×（原因是重復(fù)頻率過高）當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。×（當(dāng)量法適用于面積小于截面的缺陷尺寸評定）半波高度法用來測量小于聲束截面的缺陷的尺寸。×串列式雙探頭法探傷即為穿透法．×厚焊縫采用串列法掃查時(shí)，如焊縫余高磨平，則不存在死區(qū)?！粒ㄉ舷卤砻娑即嬖诿^(qū)）曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好?！虒?shí)際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低?！粒梢圆捎酶鼡Q探頭方法來鑒別探頭雜波）采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸。√只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均大于聲束截面時(shí)，才能采用測長法確定缺陷長度?！粒y長法適用于面積大于聲束截面或長度大于聲束截面直徑的缺陷的評定）絕對靈敏度法測量缺陷指示長度時(shí)，測長靈敏度高，測得的缺陷長度大?！坍?dāng)工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時(shí)，將使超聲被的傳播速度及方向發(fā)生變化。√超聲波傾斜入射至缺陷表面時(shí)，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高?！龄摪逄絺麜r(shí)，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷。×（還可根據(jù)底波衰減情況來判定缺陷）當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時(shí)，由于缺陷多次反射波互相干涉容易出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”?！粒ǔ暡}沖相對于薄層較窄時(shí)，薄層兩側(cè)的各次反射波、透射波互不干涉，當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時(shí)同理）厚鋼板探傷中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說明缺陷的尺寸一定較大?！梯^薄鋼板采用底波多次法探傷時(shí)，如出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”，說明鋼板中缺陷尺寸一定很大?！翉?fù)合鋼扳探傷時(shí)，可從母材一側(cè)探傷，也可從復(fù)合材料一側(cè)探傷?！逃冒宀ǚㄌ綔y厚度5mm以下薄鋼板時(shí)，不僅能檢出內(nèi)部缺陷，同時(shí)能檢出表面缺陷?！啼摴芩劢狗ㄌ絺麜r(shí)，不宜采用線聚焦探頭探測較短缺陷。√采用水浸聚焦探頭檢驗(yàn)鋼管時(shí)，聲透鏡的中心部分厚度應(yīng)為k／2的整數(shù)倍?！啼摴茏魇止そ佑|法周向探傷時(shí)，應(yīng)從順、逆時(shí)針兩個(gè)方向各探傷一次?！啼摴芩絺麜r(shí)，水中加入適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗，改善透聲性。×（為了增強(qiáng)水對鋼管表面的潤濕作用）鋼管水浸探傷時(shí)，如鋼管中無缺陷，熒光屏上只有始波和界面波。√用斜探頭對大口徑鋼管作接觸法周向探傷時(shí)，其跨距比同厚度平板大?！虒S類鍛件探傷，一般來說以縱波直探頭從徑向探測效果最佳。√使用斜探頭對軸類鍛件作圓柱面軸向探測時(shí)，探頭應(yīng)采用正反兩個(gè)方向掃查?！虒︼炐五懠捎弥碧筋^作徑向探測是最佳的探傷方法。×調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的底波法，其含義是鍛件掃查過程中依據(jù)底波變化情況評定鍛件質(zhì)量等級?！粒☉?yīng)是根據(jù)缺陷回波情況評定質(zhì)量等級）鍛件探傷中，如缺陷引起底波明顯下降或消失時(shí)，說明鍛件中存在較嚴(yán)重的缺陷。√鍛件探傷時(shí)，如缺陷被探傷人員判定為白點(diǎn)．則應(yīng)按密集缺陷評定鍛件等級?！凌T鋼件超聲波探傷，一般以縱波直探頭為主。√焊縫橫波探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波輻一般很高?！毯缚p橫波探傷時(shí)，如采用直射法，可不考慮結(jié)構(gòu)反射，變型波等干擾同波的影響。×采用雙探頭串列法掃查焊縫時(shí)，位于焊縫深度方向任何部位的缺陷，其反射波均出現(xiàn)在熒光屏上同一位置。√焊縫探傷所用斜探頭，當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時(shí)，其K值將變小?！毯缚p橫波探傷時(shí)常采用液態(tài)耦合劑，說明橫渡可以通過液態(tài)介質(zhì)薄層?！廉?dāng)焊縫中的缺陷與聲束成一定角度時(shí)，探測頻率較高時(shí)，缺陷回波不易被探頭接收?！陶}沖聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)是能量集中，穿透力強(qiáng)，所以適合于奧氏體鋼焊縫檢測?！粒ň劢固筋^的優(yōu)點(diǎn)是聲束細(xì)，靈敏度高，信噪比高）一股不采用從堆焊層一側(cè)探測的方法檢測堆焊層缺陷?！啼X焊縫探傷應(yīng)選用較高頻率的橫波專用斜探頭?！塘芽p探傷中，裂紋的回波比較尖銳，探頭轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，波很快消失?！炼?、選擇題以下關(guān)于諧振動(dòng)的敘述-哪一條是錯(cuò)誤的（A）A、諧振動(dòng)就是質(zhì)點(diǎn)在作勻速圓周運(yùn)動(dòng)。B、任何復(fù)雜振動(dòng)都可視為多個(gè)諧振動(dòng)的合成C、在諧振動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在位移最大處受力最大，速度為零。D、在諧振動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在平衡位置速度最大，受力為零。以下關(guān)于阻尼振動(dòng)的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（D）A、阻尼使振動(dòng)物體的能量逐漸減小。B、阻尼使振動(dòng)物體的振幅逐漸減小。C、阻尼使振動(dòng)物體的運(yùn)動(dòng)速率逐漸減小。D、阻尼使振動(dòng)周期逐漸變長．超聲波是頻率超出入耳聽覺的彈性機(jī)械波，其頻率范圍約為：（A）A、高于2萬赫芝B、1—10MHzC、高于200HzD、～15MHz在金屬材料的超聲波探傷中，使用最多的頻率范圍是：（C）A、10～25MHzB、l～10001KHzC、1～5MHzD大于20000MHz機(jī)械波的波速取決于（D）A、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的速度B、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振幅C、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)頻率D、彈性介質(zhì)的特性在同種固體材料中，縱波聲速CL．橫渡聲速Cs,表面波聲速Cn之間的關(guān)系是：（C）A、CR>Cs>CLB、Cs>CL>CRC、CL>Cs>CRD、以上都不對在下列不同類型超聲波中，哪種渡的傳播速度隨頻率的不同而改變（B）A、表面波B、板波C、疏密波（縱波）D、剪切波（橫波）超聲波入射到異質(zhì)界面時(shí)，可能發(fā)生（D）A、反射B、折射C、波型轉(zhuǎn)換D、以上都是超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與（D）有關(guān)。A、介質(zhì)的彈性B介質(zhì)的密度C、超聲波波型D、以上全部在同一固體材料中，縱、橫渡聲速之比，與材料的（C）有關(guān)A、密度B、彈性模量C、泊松比D、以上全部質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向垂直于波的傳播方向的波是（B）A、縱波B、橫波C、表面波D、蘭姆波在流體中可傳插：（A）A、縱波B、橫波C、縱波、橫波及表面波D、切變波超聲縱波、橫波和表面波速度主要取決于：（C）A、頻率B、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性模量和密度D、以上都不全面，須視具體情況而定板波的速度主要取決于：（D）A、頻率B、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性和質(zhì)量D、以上都不全面，須視具體情況定鋼中超聲波縱波聲速為590000cm/s，若頻率為10MHz則其波長為：（C）A、59mmB、C、D、下面哪種超聲波的波長最短（A）A、水中傳播的2MHz縱波B、鋼中傳播的橫波C、鋼中傳播的5MHz縱波D、鋼中傳播的2MHz表面波一般認(rèn)為表面波作用于物體的深度大約為（C）A、半個(gè)波長B、一個(gè)波長C、兩個(gè)波長D、個(gè)波長鋼中表面波的能量大約在距表面多深的距離會(huì)降低到原來的1/25。（B）A、五個(gè)波長B、一個(gè)波長C、1/10波長D、波長脈沖反射法超聲波探傷主要利用超聲波傳播過程中的（B）A、散射特性B、反射特性C、透射特性D、擴(kuò)散特性超聲波在彈性介質(zhì)中傳播時(shí)有（D）A、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和質(zhì)點(diǎn)移動(dòng)B、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和振動(dòng)傳遞C、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和能量傳播D、B和C超聲波在彈性介質(zhì)中的速度是（B）A、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的速度B、聲能的傳播速度C、波長和傳播時(shí)間的乘積D、以上都不是若頻率一定，下列哪種波型在固體彈性介質(zhì)中傳播的波長最短：（D）A、剪切波B、壓縮波C、橫渡D、瑞利表面波（表面波）材料的聲速和密度的乘積稱為聲阻抗，它將影響超聲波（B）A、在傳播時(shí)的材質(zhì)衰減B、從一個(gè)介質(zhì)到達(dá)另一個(gè)介質(zhì)時(shí)在界面上的反射和透射C、在傳播時(shí)的散射D、擴(kuò)散角大小聲阻抗是：（C）A、超聲振動(dòng)的參數(shù)B、界面的參數(shù)C、傳聲介質(zhì)的參數(shù)D、以上都不對當(dāng)超聲縱波由水垂直射向鋼時(shí)，其透射系數(shù)大于1，這意味著：（D）A、能量守恒定律在這里不起作用B、透射能量大于入射能量C、A與B都對D、以上都不對當(dāng)超聲縱波由鋼垂直射向水時(shí)，其反射系數(shù)小于0，這意味著：（B）A、透射能量大于入射能量B、反射超聲波振動(dòng)相位與入射聲波互成180。C、超聲波無法透入水中D、以上都不對垂直入射于異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓和透射聲壓：（C）A、與界面二邊材料的聲速有關(guān)B、與界面二邊材料的密度有關(guān)C、與界面二邊材料的聲阻抗有關(guān)D、與入射聲波波型有關(guān)在液浸探傷中，哪種波會(huì)迅速衰減：（C）（衰減系數(shù)與波速、密度成反比，頻率的平方成正比）A、縱波B、橫波C、表面波D、切變波超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí)，將發(fā)生（B）A、只繞射，無反射B、既反射又繞射C、只反射無繞射D、以上都可能在同一固體介質(zhì)中，當(dāng)分別傳播縱、橫波時(shí)，它的聲阻抗將是（C）A、一樣B、傳播橫波時(shí)大C、傳播縱波時(shí)大D、無法確定超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，反射波與透過波聲能的分配比例取決于（C）A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速B、界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)C、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗D、以上全部在同一界面上，聲強(qiáng)透過率T與聲壓反射率r之間的關(guān)系是（B）A、T=r2B、T=1-r2C、T=1+rD、T=1-r在同一界面上聲強(qiáng)反射率R與聲強(qiáng)透過率T之間的關(guān)系是（D）A、R+T=1B、T=1-RC、R=1-TD、以上全對超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時(shí)，其傳播方向的改變主要取決于（B）A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗B、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速C、界面兩側(cè)介質(zhì)衰減系數(shù)D、以上全部傾斜入射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓與透射聲壓與哪一因素有關(guān)（D）A、反射波波型B、入射角度C、界面兩側(cè)的聲阻抗D、以上都是縱波垂直入射水浸法超聲波探傷，若工件底面全反射，計(jì)算底面回波聲壓公式：（）T=4Z1Z2/(Z1+Z2)2一般地說，如果頻率相同，則在粗晶材料中穿透能力最強(qiáng)的振動(dòng)波型為（B）A、表面波B、縱波C、橫波D、三種波型的穿透力相同不同振動(dòng)頻率，而在鋼中有最高聲速的波型是：（A）（在同一介質(zhì)中，波速與頻率無關(guān)）A、的縱波B、的橫波C、10MHz的爬波D、5MHz的表面波在水／鋼界面上，水中入射角為17o，在鋼中傳播的主要振動(dòng)波型為（C答案為什么不是B呢）A、表面波B、橫波C、縱波D、B和C當(dāng)超聲縱波由有機(jī)玻璃以入射角15o射向鋼界面時(shí)，可能存在（D）A、反射縱波B、反射橫波C、折射縱波和折射橫渡D、以上都有如果將用于鋼的K2探頭去探測鋁（CFe=s,CAl=s)則K值會(huì)（B）。A、大于2B、小于2C、仍等于2D、還需其它參數(shù)才能確定如果超聲縱波由水以20o入射到鋼界面，則在鋼中橫波折射角為（A）。A、約48oB、約24oC、39oD以上都不對第一臨界角是：（C）A、折射縱波等于90o時(shí)的橫波入射角B、折射橫渡等于90o時(shí)的縱波入射角C、折射縱波等于90o時(shí)的縱波入射角D、入射縱波接近口0o時(shí)的折射角第二臨界角是：（B）A、折射縱波等于90o時(shí)的橫波入射角B、折射橫波等于90o時(shí)的縱波入射角C、折射縱波等于90o時(shí)的縱波入射角D、入射縱波接近90o對的折射角要在工件中得到純橫波，探頭入射角α必須：（C）A、大于第二臨界角B、大于第一臨界角C、在第一、第二臨界角之間D、小于第二臨界角一般均要求斜探頭楔塊材料的縱波速度小于被檢材料的縱波聲速，因?yàn)橹挥羞@樣才有可能：（A）A、在工件中得到純橫波B、得到良好的聲束指C、實(shí)現(xiàn)聲束聚焦D、減少近場區(qū)的影響縱波以20。入射角自水入射至鋼中，下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的（D）橫波不能在水中傳播用入射角為52。的斜探頭探測方鋼，下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的（D）直探頭縱波探測具有傾斜底面的鍛鋼件，下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的（B）第一介質(zhì)為有機(jī)玻璃(CL=2700m/s)，第二介質(zhì)為銅(CL=4700m/s;Cs=2300m/s),則第Ⅱ臨界角為（B）用4MHz鋼質(zhì)保護(hù)膜直探頭經(jīng)甘油耦合后，對鋼試件進(jìn)行探測，若要得到最佳透聲效果，其耦臺(tái)層厚度為（甘油CL=1920m／s）（D）A、B、C、D、用直探頭以水為透聲楔塊使鋼板對接焊縫中得到橫檢測，此時(shí)探頭聲束軸線相對于探測面的傾角范圍為：（B）A、o～oB、o～oC、o～oD、不受限制有一不銹鋼復(fù)合鋼板，不銹鋼復(fù)合層聲阻抗Z1，基體鋼板聲阻抗Z2，今從鋼板一側(cè)以直探頭直接接觸法探測，則界面上聲壓透射率公式為：（C）由材質(zhì)衰減引起的超聲波減弱db數(shù)等于：（A）A、衰減系數(shù)與聲程的乘積B、衰減系數(shù)與深度的乘積C、e-μs（μ為衰減系數(shù)，s為聲程）D以上都不對超聲波（活塞波）在非均勻介質(zhì)中傳播，引起聲能衰減的原因是：（D）A、介質(zhì)對超聲波的吸收B、介質(zhì)對超聲波的散射C、聲束擴(kuò)散D、以上全部斜探頭直接接觸法探測鋼板焊縫時(shí)，其橫波：（D）A、在有機(jī)玻璃斜楔塊中產(chǎn)生B、從晶片上直接產(chǎn)生C、在有機(jī)玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生D、在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生制作凹曲面的聚焦透鏡時(shí)，若透鏡材料聲速為C1，第二透聲介質(zhì)聲速為C2，則兩者材料應(yīng)滿足如下關(guān)系：（A）A、C1>C2B、C1<C2C、CI=C2D、Z1=Z2當(dāng)聚焦探頭聲透鏡的曲率半徑增大時(shí)，透鏡焦距將：（A）A、增大B、不變C、減小D以上都不對平面波在曲界面上透過情況，正確的圖是：（B）以下關(guān)于板波性質(zhì)的敘述，哪條是錯(cuò)誤的（D）A、按振動(dòng)方向分，板波可分為SH波和蘭姆波，探傷常用的是蘭姆波B、板渡聲速不僅與介質(zhì)特性有關(guān)，而且與板厚、頻率有關(guān)C、板波聲速包括相速度和群速度兩個(gè)參數(shù)D、實(shí)際探傷應(yīng)用時(shí)，只考慮相速度．無須考慮群速度由材料晶粒粗大而引起的衰減屬于（B）A、擴(kuò)散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是與超聲頻率無關(guān)的衰減方式是(A)（擴(kuò)散衰減只與波振面的形狀有關(guān)）A、擴(kuò)散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是下面有關(guān)材料衰減的敘述，哪句話是錯(cuò)誤的；（D）A、橫渡衰減比縱波嚴(yán)重B、衰減系數(shù)一般隨材料的溫度上升而增大C、當(dāng)晶粒度大于波長1/10時(shí)對探傷有顯著影響D、提高增益可完全克服衰減對探傷的影響波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長的函數(shù)并且隨（B）A、頻率增加，晶片直徑減小而減小B、頻率或晶片直徑減小而增大C、頻率或晶片直徑減小而減小D、頻率增加，晶片直徑減小而增大晶片直徑D=20mm的直探頭，在鋼中測得其零幅射角為10o，該探頭探測頻率約為：（D）A、B、5MHzC、4MHzD、2MHz直徑中12mm晶片5MHz直探頭在鋼中的指向角是：（C）A、°B、°C、°D、°Φ14mm，直探頭在鋼中近場區(qū)為：（B）A、27mmB、21mmC、38mmD、以上都不對上題探頭的非擴(kuò)散區(qū)長度約為：（A）A、35mmB、63mmC、45mmD、以上都不對在非擴(kuò)散區(qū)內(nèi)大平底距聲源距離增大l倍，其回波減弱（D）A、6dbB、12dbC、3dbD、0db利用球面波聲壓公式（P=PoπD2／4λ）得到的規(guī)則反射體反射聲壓公式應(yīng)用條件是：（D）A、S≥2N近似正確B、S≥3N基本正確C、S≥6N正確D、以上都對在超聲探頭遠(yuǎn)場區(qū)中：（B）A、聲束邊緣聲壓較大B、聲束中心聲壓最大C、聲束邊緣與中心強(qiáng)度一樣D、聲壓與聲束寬度成正比活塞波聲場，聲束軸線上最后一個(gè)聲壓極大值到聲源的距離稱為（A）A、近場長度B、未擴(kuò)散區(qū)C、主聲束D、超聲場下列直探頭，在鋼中指向性最好的是（C）A、B、3P14ZC、4P20ZD、5P14Z下面有關(guān)擴(kuò)散角的敘述-哪一條是錯(cuò)誤的（B）A、用第一零輻射角表示B、為指向角的一半C、與指向角相同D、是主聲束輻射錐角之半超聲場的未擴(kuò)散區(qū)長度（C）A、約等于近場長度B、約等于近場長度倍C、約為近場長度倍D、約等于近場長度3倍遠(yuǎn)場范圍的超聲波可視為（C）A、平面波B、柱面波C、球面波D、以上都不對在探測條件相同的情況下面積比為2的兩個(gè)平底孔，其反射波高相差（A）A、6dBB、12dBC、9dBD、3dB在探測條件相同的情況下，孔徑比為4兩個(gè)球形人工缺陷，其反射波高相差（B）A、6dBB、l2dBC、24dBD、8dB在探測條件相同的情況下，直徑比為2的兩個(gè)實(shí)心圓柱體，其曲底面同波相差（C）A、12dBB、9dBC、6dBD、3dB；外徑為D，內(nèi)徑為d的實(shí)心圓柱體，以相同的靈敏度在內(nèi)壁和外圓探測，如忽略耦合差異，則底波高度比為（D）同直徑的平底孔在球面波聲場中距聲源距離增大1倍則回波減弱：（B）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db同直徑的長橫孔在球面波聲場中距離聲源距離增大1倍回波減弱（答案是A，但是覺得應(yīng)該是D）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db在球面波聲場中B平底距聲源距離增大1倍回波減弱：（A）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db對于柱面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：（D）A、增大6dbB、減小6dbC、增大3dbD、減小3db對于球面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：（B）A、增大6dbB、減小6dbC、增大3dbD、減小3db比Φ3mm平底孔回波小7db的同聲程平底孔直徑是：（B）A、Φ1mmB、Φ2mmC、Φ4mmD、Φ比Φ3mm長橫孔反射小7db的同聲程長橫孔直徑是（A）A、ΦB、Φ1mmC、Φ2mmD、Φ以下敘述中哪一條不是聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)（C）A、靈敏度高B、橫向分辨率高C、縱向分辨高D、探測粗晶材料時(shí)信噪比高以下敘述中，哪一條不是聚焦探頭的缺點(diǎn)（C）A、聲束細(xì)，每次掃查探測區(qū)域小，效率低B、每只探頭僅適宜探測某一深度范圍缺陷，通用性差C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差，聲束不能完全匯聚一點(diǎn)D、以上都是A型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：（C）A、缺陷的性質(zhì)和大小B、缺陷的形狀和取向C、缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)問D、以上都是A型掃描顯示，“盲區(qū)”是指：（C）A、近場區(qū)B、聲束擴(kuò)散角以外區(qū)域C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時(shí)間D、以上均是A型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示：（A）A、超聲回波的幅度大小B、缺陷的位置C、被探材料的厚度D、超聲傳播時(shí)間A型掃描顯示中，水平基線代表：（C）A、超聲回波的幅度大小B、探頭移動(dòng)距離C、聲波傳播時(shí)間D、缺陷尺寸大小脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做（C）A、發(fā)射電路B、掃描電路C、同步電路D、顯示電路脈沖反射超聲波探傷儀中，產(chǎn)生時(shí)基線的電路單元叫做（A）A、掃描電路B、觸發(fā)電路C、同步電路D、發(fā)射電路發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通?？蛇_(dá)（A）A、幾百伏到上千伏B、幾十伏C、幾伏D、1伏發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間叫：（A）A、始脈沖寬度B、脈沖周期C、脈沖振幅D、以上都不是探頭上標(biāo)的是指：（B）A、重復(fù)頻率B、工作頻率C、觸發(fā)脈沖頻率D、以上都不對影響儀器靈敏度的旋紐有：（D）A、發(fā)射強(qiáng)度和增益旋紐B、衰減器和抑制C、深度補(bǔ)償D、以上都是儀器水平線性的好壞直接影響：（C）A、缺陷性質(zhì)判斷B、缺陷大小判斷C、缺陷的精確定位D、以上都對儀器的垂直線性好壞會(huì)影響：（A）A、缺陷的當(dāng)量比較B、AVG曲線面板的使用C、缺陷的定位D、以上都對接收電路中，放大器輸入端接收的同波電壓約有（D）A、幾百伏B、100V左右C、10V左右D、～1V同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為（B）A、l—2個(gè)B、數(shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè)C、與工作頻率相同D、以上都不對調(diào)節(jié)儀器面板上的“抑制”旋鈕會(huì)影響探傷儀的（D）A、垂直線性B、動(dòng)態(tài)范圍C、靈敏度D、以上全部放大器的不飽和信號高度與缺陷面積成比例的范圍叫做放放大器的（B）A、靈敏度范圍B、線性范圍C、分辨力范圍D、選擇性范圍單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋海–）A、近場干擾B、材質(zhì)衰減C、盲區(qū)D、折射同步電路的同步脈沖控制是指：（D）A、發(fā)射電路在單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)B、掃描電站每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)C、探頭晶片在單位時(shí)間內(nèi)向工件重復(fù)幅射超聲波次數(shù)D、以上全部都是表示探傷儀與探頭組合性能的指標(biāo)有：（B）A、水平線性、垂直線性、衰減器精度B、靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場分辨力C、動(dòng)態(tài)范圍、頻帶寬度、探測寬度D、垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率使儀器得到滿幅顯示時(shí)Y軸偏轉(zhuǎn)板工作電壓為80V，現(xiàn)晶片接收到的缺陷信號電壓為40mv，若要使此缺陷以50%垂直幅度顯示，儀器放大器應(yīng)有多大增益量（C）A、74dBB、66dBC、60dBD、80dB脈沖反射式超聲波探傷儀同步脈沖的重復(fù)頻率決定著：（C）A、掃描長度B、掃描速度C、單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)D、鋸齒波電壓幅度壓電晶片的基頻是：（A）A、晶片厚度的函數(shù)B、施加的脈沖寬度的函數(shù)C、放大器放大特性的函數(shù)D、以上都不對探頭的分辨力：（B）（頻帶寬度大，則脈沖越窄，分辨力越好）A、與探頭晶片直徑成正比B、與頻帶寬度成正比C、與脈沖重復(fù)頻率成正比D、以上都不對當(dāng)激勵(lì)探頭的脈沖幅度增大時(shí)：（B）A、儀器分辨力提高B、儀器分辨力降低，但超聲強(qiáng)度增大C、聲波穿透力降低D對試驗(yàn)無影響探頭晶片背面加上阻尼塊會(huì)導(dǎo)致：（D）（Qm值降低，盲區(qū)減?。〢、Qm值降低．靈敏度提高B、Qm值增大，分辨力提高C、Qm值增大，盲區(qū)增大D、Qm值降低，分辨力提高為了從換能器獲得最高靈敏度：（C）A、應(yīng)減小阻尼塊B、應(yīng)使用大直徑晶片C、應(yīng)使壓電晶片在它的共振基頻上激勵(lì)D、換能器頻帶寬度應(yīng)盡可能大超聲試驗(yàn)系統(tǒng)的靈敏度：（A）A、取決于探頭高頻脈沖發(fā)生器和放大器B、取決于同步脈沖發(fā)生器C、取決于換能器機(jī)械阻尼D、隨分辨力提高而提高換能器尺寸不變而頻率提高時(shí)：（C）A、橫向分辨力降低B、聲束擴(kuò)散角增大C、近場長度增大D、指向性變鈍一般探傷時(shí)不使用深度補(bǔ)償是因?yàn)樗鼤?huì)：（B）A、影響缺陷的精確定位B、影響AVG曲線或當(dāng)量定量法的使用C、導(dǎo)致小缺陷漏撿D、以上都不對晶片共振波長是晶片厚度的（A）A、2倍B、1/2倍C、l倍D、4倍已知PZT-4的頻率常數(shù)是2000m/s，的PZT-4晶片厚度約為：（A）（N＝t×f0）A、B、C、D、在毛面或曲面工件上作直探頭探傷時(shí)，應(yīng)使用：（B）A、硬保護(hù)膜直探頭B、軟保護(hù)膜直探頭C、大尺寸直探頭D、高頻直探頭目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是：（C）A、石英B鈦酸鋇C、鋯鈦酸鉛D硫酸鋰聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是：（A）A、探測近表面缺陷B、精確測定缺陷長度C、精確測定缺陷高度D、用于表面缺陷探傷超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料：（C）A、導(dǎo)電材料B磁致伸縮材料C、壓電材料D磁性材料下面哪種材料最適宜做高溫探頭：（D）A、石英B、硫酸鋰C、鍺鈦酸鉛D、鈮酸鋰下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭：（C）A、石英B鋯鈦酸鉛C、偏鈮酸鉛D、鈦酸鋇下列壓電晶體中哪一種作高頻探頭較為適宜（B）A、鈦酸鋇(CL=5470m/s)B、鈮酸鋰（CL=7400m/s）C、PZT（CL=4400m/s）D、鈦酸鉛(CL=4200m/S)表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是（C）A、壓電電壓常數(shù)g33B、機(jī)電耦合系數(shù)KC、壓電應(yīng)變常數(shù)d33D、以上全部以下關(guān)于爬波探頭的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（B）A、爬波探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫渡斜探頭類似B、當(dāng)縱波入射角大于或等于第二臨界角時(shí)，在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波(應(yīng)是以第一臨界角附近的角度)C、爬波用于探測表層缺陷D、爬波探測的深度范圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)。窄脈沖探頭和普通探頭相比（D）A、Q值較小B、靈敏度較低C、頻帶較寬D、以上全部采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí)，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1，欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦，選用平凹透鏡的條件是（C）A、Zl>Z2B、C1<C2C、C1>C2D、Z1<Zz探頭軟保護(hù)膜和硬保護(hù)膜相比，突出優(yōu)點(diǎn)是（C）A、透聲性能好B、材質(zhì)衰減小C、有利消除耦合差異D、以上全部以下哪一條，不屬于數(shù)字化智能超聲波探傷儀的優(yōu)點(diǎn)（B）A、檢測精度高，定位定量準(zhǔn)確B、頻帶寬，脈沖窄C、可記錄存貯信號D、儀器有計(jì)算和自檢功能以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)（A）A、探測范圍大B、盲區(qū)小C、工件中近場長度小D、雜波少以下哪一條，不屬于雙晶探頭的性能指標(biāo)（D）A、工作頻率B、晶片尺寸C、探測深度D、近場長度斜探頭前沿長度和K值測定的兒種方法中，哪種方法精度最高：（A）A、半圓試塊和橫孔法B、雙孔法C、直角邊法D、不一定，須視具體情況而定超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的能力稱為（D）A、檢測靈敏度B、時(shí)基線性C、垂直線性D、分辨力用以標(biāo)定或測試超聲探傷系統(tǒng)的，含有模擬缺陷的人工反射體的金屬塊叫（C）A、晶體準(zhǔn)直器B、測角器C、參考試塊D、工件對超聲探傷試塊材質(zhì)的基本要求是：（D）A、其聲速與被探工件聲速基本一致B、材料中沒有超過Φ2mm平底孔當(dāng)量的缺陷C、材料衰減不太大且均勻D、以上都是CSK-IIA試塊上的Φl×6橫孔，在超聲遠(yuǎn)場．其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與（D）相同。（平底孔、短橫孔、球孔孔徑一定時(shí)，聲壓變化隨距離變化一致）A、k值孔B、平底孔C、球孔D、以上B和C采用什么超聲探傷技術(shù)不能測出缺陷深度（D）A、直探頭探傷法B、脈沖反射法C、斜探頭探傷法D、穿透法超聲檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用（D）A、較低頻探頭B、較粘的耦合劑C、軟保護(hù)膜探頭D、以上都對超聲檢驗(yàn)中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（C）A、曲面探傷時(shí)可減少耦合損失B、可減少材質(zhì)衰減損失C、輻射聲能大且能量集中D、以上全部探傷時(shí)采用較高的探測頻率，可有利于（D）A、發(fā)現(xiàn)較小的缺陷B、區(qū)分開相鄰的缺陷C、改善聲束指向性D、以上全部工件表面形狀不同時(shí)耦合效果不一樣，下面的說法中，哪點(diǎn)是正確的（A）A、平面效果最好B、凹曲面居中C、凸曲面效果最差D、以上全部缺陷反射聲能的大小，取決于（D）A、缺陷的尺寸B、缺陷的類型C、缺陷的形狀和取向D、以上全部聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時(shí)，缺陷表面粗糙度對缺陷反射波高的影響是：（C）A、反射波高隨粗糙度的增大而增加B、無影響C、反射波高隨粗糙度的增大而下降D、以上A和C都可能如果聲波在耦合介質(zhì)中波長為λ，為使透聲效果好，耦合層厚度為（D）A、λ/4的奇數(shù)倍B、λ/2整數(shù)倍C、小于λ/4且很薄D、以上B和C表面波探傷時(shí)，儀器熒光屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（B）A、缺陷深度B、缺陷至探頭前沿距離C、缺陷聲程D、以上都可以探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測時(shí)，如儀器用平試塊按深度1：1調(diào)掃描，下面哪種說法正確（A）A、缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示值B、顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長C、顯示值與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減小D、以上都正確采用底波高度法（F/B百分比法）對缺陷定量時(shí)，下面哪種說法正確（B）A、F/B相同，缺陷當(dāng)量相同B該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸C、適于對尺寸較小的缺陷定量D、適于對密集性缺陷的定量在頻率一定和材料相同情況下，橫波對小缺陷探測靈敏度高于縱波的原因是：（C）A、橫波質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕莘瓷溆欣鸅、橫渡探傷雜波少C、橫波波長短（靈敏度＝λ/2）D、橫波指向性好采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時(shí)，可獲得較好的穿透能力：（A）A、B、C、5MHzD、l0MHz（頻率越大，衰減越大，穿透能力就越?。┰谟?MHzΦl0晶片的直探頭作水浸探傷時(shí)，水層厚度為20mm，此時(shí)在鋼工件中的近場區(qū)長度還有：（C）（N'＝N2－LC1/C2）A、B、C、D、以上都不對使用半波高度法測定小于聲束直徑的缺陷尺寸時(shí)，所測的結(jié)果：（B）A、小于實(shí)際尺寸B、接近聲束寬度（測長法適用于面積大于聲束面或長度大于聲束面直徑的缺陷）C、稍大于實(shí)際尺寸D、等于晶片尺寸棱邊再生波主要被用于測定：（D）A、缺陷的長度B、缺陷的性質(zhì)C、缺陷的位置D、缺陷的高度從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質(zhì)信息。超聲探傷對缺陷的定性是通過下列方法來進(jìn)行：（D）A、精確對缺陷定位B、精確測定缺陷形狀C、測定缺陷的動(dòng)態(tài)波形D、以上方法須同時(shí)使用單斜探頭探傷時(shí)，在近區(qū)有幅度波動(dòng)較快，探頭移動(dòng)時(shí)水平位置不變的回波，它們可能是：（B）A、來自工件表面的雜波B、來自探頭的噪聲C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合劑噪聲確定脈沖在時(shí)基線上的位置應(yīng)根據(jù)：（B）A、脈沖波峰B、脈沖前沿C、脈沖后沿D、以上都可以用實(shí)測折射角71°的探頭探測板厚為25mm的對接焊縫，熒光屏上最適當(dāng)?shù)穆暢虦y定范圍是：（D）A、l00mmB、125mmC、l50mmD、200mm用IIW2調(diào)整時(shí)間軸，當(dāng)探頭對準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)，示波屏上的回波位置（聲程調(diào)試）應(yīng)在；（B）能使K2斜探頭得到圖示深度l：1調(diào)節(jié)波形的鋼半圓試塊半徑R為（C）（d＝R/(1+K2）?A、50mmB、60mmC、67mmD、40mm（波圖水平刻度少個(gè)0，應(yīng)為30，90）在厚焊縫斜探頭探傷時(shí)，一般宜使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線（B）A、水平定能法B、深度定位法C、聲程定位法D、一次波法在中薄板焊縫斜探頭探傷時(shí)，宜使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線（A）A、水平定位法B、深度定位法C、聲程定位法D、二次被法對圓柱形簡體環(huán)縫探測時(shí)的缺陷定位應(yīng)：（A）（當(dāng)采用橫波斜探頭檢測圓柱曲面時(shí)，若沿軸向檢測，缺陷定位A、按平板對接焊縫方法B、作曲面定位修正與平面相同；若沿周向檢測，缺陷定位則與平面不同，作曲面修正）C、使用特殊探頭D、視具體情況而定采用各種方法在探測球形封頭上焊縫中的橫向缺陷時(shí)，缺陷定位應(yīng)：（B）A、按平板對接焊縫方法B、作曲面修正C、使用特殊探頭D、視具體情況決定是否采用曲面修正在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)，缺陷的實(shí)際深度比按平扳探傷時(shí)所得讀數(shù)：（B）A、大B、小C、相同D、以上都可能在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷，所得缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)的讀數(shù)（A）A、大B、小C、相同D、以上都可艟在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)，實(shí)際的缺陷前沿距離比按平扳探傷時(shí)所得讀數(shù)（A）A、大B、小C、相同D、以上都可能在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷時(shí)，實(shí)際的缺陷前沿距離比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)（B）A、大B、小C、相同D、以上都可能為保證易于探出垂直于焊縫表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探頭探傷應(yīng)選用（B）A、小K值探頭B、大K值探頭C、較保護(hù)膜探頭D、高頻探頭在鍛件直探頭探傷時(shí)可能定不準(zhǔn)近側(cè)面缺陷的位置，其原因是：（A）A、側(cè)面反射波帶來干涉B、探頭太大，無法移至邊緣C、頻率太高D、以上都不是在斜探頭厚焊縫探傷時(shí)，為提高缺陷定位精度可采取措施是：（D）A、提高探頭聲束指向性B、校準(zhǔn)儀器掃描線性C、提高探頭前沿長度和K值測定精度D、以上都對當(dāng)量大的缺陷實(shí)際尺寸：（A）A、一定大B不一定大C、一定不大D等于當(dāng)量尺寸當(dāng)量小的缺陷實(shí)際尺寸：（B）A、一定小B、不—定小C、一定不小D、等于當(dāng)量尺寸在超聲探傷時(shí)，如果聲束指向不與平面缺陷垂直，則缺陷尺寸一定時(shí)，缺陷表面越平滑反射回波越：（B）（缺陷波高與缺陷波的指向性有關(guān)，缺陷表面光滑與否，對反射指向性無影響）D、大B、小C不影響D、不一定當(dāng)聲束指向不與平面缺陷垂直時(shí)，在一定范圍內(nèi)，缺陷尺寸越大，其反射回波強(qiáng)度越：（B）A、大B、小C、無影響D、不一定4.38焊縫探傷中一般不宜選用較高頻率是因?yàn)轭l率越高（D）A、探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強(qiáng)，缺陷方向不利就不易探出B、裂紋表面不光潔對回波強(qiáng)度影響越大C、雜波太多D、AB都對厚度為600mm的鋁試件，用直探頭測得一回波的傳播時(shí)間為l65μs若縱波在鋁中聲速為6300m/S則此回波是（C）A、底面回波B、底面二次回波C、缺陷回波D、遲到回波直探頭縱波探傷時(shí)，工件上下表面不平行會(huì)產(chǎn)生：（A）A、底面回波降低或消失B、底面回波正常C、底面回波變寬D、底面回波變窄直探頭探測厚100mm和400mm的兩平底面鍛件，若后者探測面粗糙，與前者耦合差為5db，材質(zhì)衰減均為／mm（雙程），今將前者底面回波調(diào)至滿幅(100%)高，則后者的底面回波應(yīng)是滿幅度的：（C）（20lg100/x=5+(400-100)+20lg100/400）A、40%B、20%C、10%D、5%厚度均為400mm，但材質(zhì)衰減不同的兩個(gè)鍛件，采用各自底面校正400／Φ2靈敏度進(jìn)行分別探測，現(xiàn)兩個(gè)鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷，且回波高度和缺陷聲程均相同，則：（B）A、兩個(gè)缺陷當(dāng)量相同B、材質(zhì)衰減大的鍛件中缺陷當(dāng)量小C、材質(zhì)衰減小的鍛件中缺陷當(dāng)量小D、以上都不對在脈沖反射法探傷中可根據(jù)什么判斷缺陷的存在（D）A、缺陷回波B、底波或參考回波的減弱或消失C、接收探頭接收到的能量的減弱D、AB都對在直接接觸法直探頭探傷時(shí)，底波消失的原因是：（D）A、耦合不良B、存在與聲束不垂直的平面缺陷C、存住與始脈沖不能分開的近表面缺陷D、以上都是在直探頭探傷時(shí)，發(fā)現(xiàn)缺陷回波不高，但底波降低較大，則該缺陷可能是：（C）A、與表面成較大角度的平面缺陷B、反射條件很差的密集缺陷C、AB都對D、AB都不對影響直接接觸法耦合損耗的原因有：（D）A、耦合層厚度，超聲波在耦合介質(zhì)中的波長及耦合介質(zhì)聲阻抗B、探頭接除面介質(zhì)聲阻抗C、工件被探測面材料聲阻抗D、以上都對被檢工件晶粒粗大，通常會(huì)引起：（D）A、草狀回波增多B、信噪比下降C、底波次數(shù)減少D、以上全部為減少凹面探傷時(shí)的耦合損耗，通常采用以下方法：（D）A、使用高聲阻抗耦合劑B、使用軟保護(hù)膜探頭C、使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸D、以上都可以在平整光潔表面上作直探頭探傷時(shí)宜使用硬保護(hù)膜探頭，因?yàn)檫@樣：（B）A、雖然耦合損耗大，但有利于減小工件中噪聲B、脈沖窄，探測靈敏度高C、探頭與儀器匹配較好D、以上都對應(yīng)用有人工反射體的參考試塊主要目的是：（A）A、作為探測時(shí)的校準(zhǔn)基準(zhǔn)，并為評價(jià)工件中缺陷嚴(yán)重程度提供依據(jù)B、為探傷人員提供一種確定缺陷實(shí)際尺寸的工具C、為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證D、提供一個(gè)能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體下面哪種參考反射體與入射聲束角度無關(guān)：（C）A、平底孔B、平行于探測面且垂直于聲束的平底槽C、平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔D、平行于探測面且垂直于聲束的V型缺口測定材質(zhì)衰減時(shí)所得結(jié)果除材料本身衰減外，還包括：（D）A、聲束擴(kuò)散損失B、耦合損耗C、工件幾何形狀影響D、以上都是沿細(xì)長工件軸向探傷時(shí)，遲到波聲程△x的計(jì)算公式是：（D）換能器尺寸不變而頻率提高時(shí)：(D應(yīng)選C吧)A、橫向分辨力降低B、聲束擴(kuò)散角增大C、近場區(qū)增大D、指向性變鈍在確定缺陷當(dāng)量時(shí)，通常在獲得缺陷的最高回波時(shí)加以測定，這是因?yàn)椋海―）A、只有當(dāng)聲束投射到整個(gè)缺陷反射面上才能得到反射回波最大值B、只有當(dāng)聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C、只有當(dāng)聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D、人為地將缺陷信號的最高回波規(guī)定為測定基準(zhǔn)考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒牵―）A、被檢工件厚度太大B、工件底面與探測面不平行C、耦合劑有較大聲能損耗D、工件與試塊材質(zhì)，表面光潔度有差異探測粗糙表面的工件時(shí)，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用：（C）A、聲阻抗小且粘度大的耦合劑B、聲阻抗小且粘度小的耦合劑C、聲阻抗大且粘度大的耦合劑D、以上都不是超聲容易探測到的缺陷尺寸一般不小于：（A）A、波長的一半B、一個(gè)波長C、四分之一波長D、若干個(gè)波長與探測面垂直的內(nèi)部平滑缺陷，最有效的探測方法是：（C）A、單斜探頭法B、單直探頭法C、雙斜探頭前后串列法D、分割式雙直探頭法探測距離均為100mm的底面，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測時(shí)，下列哪種底面回波最高。（C）A、與探測面平行的大平底面B、R200的凹圓柱底面C、R200的凹球底面D、R200的凸圓柱底面鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“林狀波”時(shí)，是由于（B）A、工件中有大面積傾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部下面有關(guān)“幻象波”的敘述哪點(diǎn)是不正確的（C）A、幻象回波通常在鍛件探傷中出現(xiàn)B、幻象波會(huì)在掃描線上連續(xù)移動(dòng)C、幻想波只可能出現(xiàn)在一次底波前D、降低復(fù)重頻率，可消除幻象波下面有關(guān)61°反射波的說法，哪一點(diǎn)是錯(cuò)誤的（C）A、產(chǎn)生61°反射時(shí)，縱波入射角與橫渡反射角之和為90°B、產(chǎn)生61°反射時(shí)，縱波入射角為61°橫波反射角為29°。C、產(chǎn)生6l°反射時(shí)，橫渡入射角為29。，縱波反射角為61°D、產(chǎn)生61°反射時(shí)，其聲程是恒定的長軸類鍛件從端面作軸向探測時(shí)，容易出現(xiàn)的非缺陷回波是（D）A、三角反射波B、61°反射波C、輪廓回波D、遲到波方形鍛件垂直法探傷時(shí)，熒光屏上出現(xiàn)一游動(dòng)缺陷回波，其波幅較低但底波降低很大。該缺陷取向可能是（C）A、平行且靠近探測面B、與聲束方向平行C、與探測面成較大角度D、平行且靠近底面缺陷反射聲壓的大小取決于：（D）A、缺陷反射面大小B、缺陷性質(zhì)C、缺陷取向D、以上全部鋼板缺陷的主要分布方向是：（A）A、平行于或基本平行于鋼板表面B、垂直于鋼板表面C、分布方向無傾向性D、以上都可能鋼板超聲波探傷主要應(yīng)采用：（A）A、縱波直探頭B、表面波探頭C、順波直探頭D、聚焦探頭下面關(guān)于鋼板探傷的敘述，哪一條是正確的：（A）A、若出現(xiàn)缺陷波的多次反射，缺陷尺寸一定很大B、無底波時(shí)，說明鋼板無缺陷C、鋼板中不允許存在的缺陷尺寸應(yīng)采用當(dāng)量法測定（常用測長法測定指示長度和面積）D、鋼板探傷應(yīng)盡量采用低頻率鋼板厚為30mm，用水浸法探傷，當(dāng)水層厚度為l5mm時(shí)，則第三次底面回波顯示于（B）A、二次界面回波之前B、二次界面回波之后C、一次界面回波之前D、不一定復(fù)合材料探傷，由于兩介質(zhì)聲阻抗不同，在界面處有回波出現(xiàn)，為了檢查復(fù)合層結(jié)合質(zhì)量，下面哪條敘述是正確的：（C）A、兩介質(zhì)聲阻抗接近，界面回波小，不易檢查B、兩介質(zhì)聲阻抗接近，界面回波大，容易檢查C、兩介質(zhì)聲阻抗差別大，界面回波大，不易檢查D、兩介質(zhì)聲阻抗差別大，界面回波小，容易檢查探測厚度為18mm的鋼板，在探傷波形上出現(xiàn)了“疊加效應(yīng)”，問哪一種說法是正確的：（B）A、同大于20mm的厚鋼板一樣，按F1評價(jià)缺陷B、因?yàn)榘搴裥∮?0mm，按F2評價(jià)缺陷C、按最大缺陷回波評價(jià)缺陷D、必須降低靈敏度重新探傷探測T=28mm的鋼板，熒光屏上出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”的波形，下面哪種評定缺陷的方法是正確的（A）A、接缺陷第一次回波(Fl)評定缺陷B、按缺陷第二次回波(F2)評定缺陷C、按缺陷多次回波中最大值評定缺陷D、以上都可以下面有關(guān)“疊加效應(yīng)”的敘述中，哪點(diǎn)是正確的（C）A、疊加效應(yīng)是波型轉(zhuǎn)換時(shí)產(chǎn)生的現(xiàn)象B、疊加效應(yīng)是幻象波的一種C、疊加效應(yīng)是鋼板底波多次反射時(shí)可看到的現(xiàn)象D、疊加效應(yīng)是探傷頻率過高而引起的帶堆焊層工件中的缺陷有：（D）A、堆焊金屬中的缺陷B、堆焊層與母材間的脫層C、堆焊層下母材熱影響區(qū)的再熱裂紋D、以上三種都有用水浸聚焦探頭局部水浸法檢驗(yàn)鋼板時(shí)，聲束進(jìn)入工件后將（B）A、因折射而發(fā)散B、進(jìn)一步集聚C、保持原聚焦?fàn)顩rD、以上都能無縫鋼管缺陷分布的方向有；（D）A、平行于鋼管軸線的徑向分布B、垂直于鋼管軸線的徑向分布C、平行于鋼管表面的層狀分布D、以上都可能小口徑鋼管超探時(shí)探頭布置方向?yàn)椋海–）A、使超聲沿周向射入工件以探測縱向缺陷B、使超聲沿軸向射入工件以探測橫向缺陷C、以上二者都有D、以上二者都沒有小口徑無縫鋼管探傷中多用聚焦探頭，其主要目的是：（A）A、克服表面曲率引起超聲散焦B、提高探傷效率C、提高探傷靈敏度D、以上都對鋼管原材料超探試樣中的參考反射體是：（C）A、橫孔B、平底孔C、槽D、豎孔管材橫波接觸法探傷時(shí)，入射角的允許范圍與哪一因素有關(guān)（D）A、探頭楔塊中的縱波聲速B、管材中的縱橫波聲速C、管子的規(guī)格D、以上全部管材周向斜角探傷與板材斜角探傷顯著不同的地方是（C）A、內(nèi)表面入射角等于折射角B、內(nèi)表面入射角小于折射角C、內(nèi)表面入射角大于折射角D、以上都可能管材水漫法探傷中，偏心距x與入射角α的關(guān)系是（sina=X/R）。（rR為管材的內(nèi)外半徑）管材自動(dòng)探傷設(shè)備中，探頭與管材相對運(yùn)動(dòng)的形式是（D）A、探頭旋轉(zhuǎn)，管材直線前進(jìn)B、探頭靜止，管材螺旋前進(jìn)C、管材旋轉(zhuǎn)，探頭直線移動(dòng)D、以上均可下面有關(guān)鋼管水浸探傷的敘述中，哪點(diǎn)是錯(cuò)誤的（C）A、使用水浸式縱波探頭B、探頭偏離管材中心線C、無缺陷時(shí)，熒光屏上只顯示始波和l～2次底波D、水層距離應(yīng)大于鋼中一次波聲程的1／2鋼管水浸聚焦法探傷中，下面有關(guān)點(diǎn)聚焦方法的敘述中，哪條是錯(cuò)誤的（B）A、對短缺陷有較高探測靈敏度B、聚焦方法一般采用圓柱面聲透鏡C、缺陷長度達(dá)到一定尺寸后（即超過焦距長度時(shí)），回波幅度不隨長度而變化D、探傷速度較慢鋼管水浸聚焦法探傷時(shí)，下面有關(guān)線聚焦方式的敘述中，哪條是正確的（D）A、探傷速度輕快B、回波幅度隨缺陷長度增大而增高C、聚焦方法一般采用圓柱面透鏡或瓦片型晶片D、以上全部使用聚焦探頭對管材探傷，如聚焦點(diǎn)未調(diào)到與聲束中心線相垂直的管半徑上，且偏差較大距離，則會(huì)引起（B）A、盲區(qū)增大B、在管中折射發(fā)散C、多種波型傳播D、同波脈沖變寬鍛件的鍛造過程包括：（A）A、加熱形變，成型和冷卻B、加熱，形變C、形變，成型D、以上都不全面鍛件缺陷包括：（D）A、原材料缺陷B、鍛造缺陷C、熱處理缺陷D、以上都有鍛件中的粗大晶?？赡芤穑海―）A、底波降低或消失B、噪聲或雜波增大C、超聲嚴(yán)重衰減D、以上都有鍛件中的白點(diǎn)是在鍛造過程中哪個(gè)階段形成：（D）A、加熱B、形變C、成型D、冷卻軸類鍛件最主要探測方向是：（B）A、軸向直探頭探傷B、徑向直探頭探傷C、斜探頭外圓面軸向探傷D、斜探頭外圓面周向探傷餅類鍛件最主要探測方向是：（A）A、直探頭端面探傷B、直探頭翻面探傷C、斜探頭端面探傷D、斜探頭側(cè)面探傷筒形鍛件最主要探測方向是：（A）A、直探頭端面和外圓面探傷B、直探頭外圓面軸向探傷C、斜探頭外四面周向探傷D、以上都是鍛件中非金屬夾雜物的取向最可能的是：（C）A、與主軸線平行B、與鍛造方向一致C、與鍛件金屬流線一致D、與鍛件金屬流線垂直超聲波經(jīng)液體進(jìn)入具有彎曲表面工件時(shí)，聲束在工件內(nèi)將會(huì)產(chǎn)生：（C）A、與液體中相同的聲束傳播B、不受零件幾何形狀的影響C、凹圓弧面聲波將收斂，凸圓弧面聲波將發(fā)散D、與C的情況相反鍛鋼件探測靈敏度的校正方式是：（D）A、沒有特定的方式B、采用底波方式C、采用試塊方式D、采用底波方式和試塊方式以工件底面作為靈敏度校正基準(zhǔn)，可以：（D）A、不考慮探測面的耦合差補(bǔ)償B、不考慮材質(zhì)衰減差補(bǔ)償C、不必使用校正試塊D、以上都是在使用直探頭做鍛件探傷時(shí)，如用400mm深底波調(diào)整Φ3mm平底孔靈敏度，底波調(diào)整后應(yīng)提高多少db探傷（晶片直徑D=14mm）（A）A、B、C、50dbD、在直探頭探傷，用探頭，調(diào)節(jié)鍛件200mm底波于熒光屏水平基線滿量度10。如果改用5MHz直探頭，儀器所有旋紐保持不變，則200mm底波出現(xiàn)在（C）A、刻度5處B、越出熒光屏外C、仍在刻度10處D、須視具體情況而定化學(xué)成份相同，厚度相同，以下哪一類工件超聲波衰減最大（D）A、鋼板B、鋼管C、鍛鋼件D、鑄鋼件通用AVG曲線的通用性表現(xiàn)在可適用于：（C）A、不同的探測頻率B、不同的晶片尺寸C、不同示波屏尺寸的A型探傷儀D、以上都是大型鑄件應(yīng)用超聲波探傷檢查的主要困難是：（D）A、組織不均勻B、晶粒非常粗C、表面非常粗糙D、以上都對鍛鋼件大平底面與探測面不平行時(shí)，會(huì)產(chǎn)生：（A）A、無底面回波或底面回波降低B、難以發(fā)現(xiàn)平行探測面的缺陷C、聲波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影響利用試塊法校正探傷靈敏度的優(yōu)點(diǎn)是：（B）A、校正方法簡單B、對大于3N和小于3N的鍛件都適用C、可以克服探傷面形狀對靈敏度的影響D、不必考慮材質(zhì)差異下列哪種方法可增大超聲波在粗晶材料中的穿透能力：（B）A、用直徑較大的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)B、在細(xì)化晶粒的熱處理后檢驗(yàn)C、將接觸法探傷改為液浸法探傷D、將縱波探傷改為橫波探傷以下有關(guān)鍛件白點(diǎn)缺陷的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（A）A、白點(diǎn)是一種非金屬夾雜物B、白點(diǎn)通常發(fā)生在鍛件中心部位C、白點(diǎn)的回波清晰尖銳往往有多個(gè)波峰同時(shí)出現(xiàn)D、一旦判斷是白點(diǎn)缺陷，該鍛件即為不合格在鍛件探傷中當(dāng)使用底面多次回波計(jì)算衰減系數(shù)時(shí)應(yīng)注意一次底面回波聲（C）A、大于非擴(kuò)散區(qū)B、大于近場區(qū)C、大于3倍近場區(qū)D、無甚要求鍛件超聲波探傷時(shí)機(jī)應(yīng)選樣（B）A、熱處理前孔槽臺(tái)階加工前B、熱處理后孔曹臺(tái)階加工前C、熱處理前孔槽臺(tái)階加工后D、熱處理孔槽臺(tái)階加工后鋼鍛件探傷中，超聲波的衰減主要取決于（B）A、材料的表面狀態(tài)B、材料晶粒度的影響C、材料的幾何形狀D、材料對聲波的吸收下面有關(guān)用試塊法調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的敘述中，哪點(diǎn)是正確的。（D）A、對厚薄鍛件都適用B、對平面和曲面鍛件都適用C、應(yīng)作耦合及衰減差補(bǔ)償D、以上全部用底波法調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度時(shí)，下面有關(guān)缺陷定量的敘述中哪點(diǎn)是錯(cuò)誤的（D）A、可不考慮探傷耦合差補(bǔ)償B、缺陷定量可采用計(jì)算法或曲線法C、可不使用試塊D、