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文檔簡介

實驗四移位寄存器實驗一、實驗?zāi)康?/p>

1、掌握移位寄存器邏輯功能及測試方法;2、掌握集成移位寄存器的一般應(yīng)用.二、實驗原理(１)寄存器

寄存器用于寄存一組二進制（０，１）代碼。觸發(fā)器一般都可以構(gòu)成寄存器。寄存器是由具有存儲功能的觸發(fā)器組合起來構(gòu)成的。一個觸發(fā)器可以存儲1位二進制代碼，存放n位二進制代碼的寄存器，需用n個觸發(fā)器來構(gòu)成。

（2)移位寄存器

移位寄存器能使其中所儲存的二進制數(shù),在移位脈沖的作用下左右移動。按功能可分為左、右移移位寄存器雙向移位寄存器；根據(jù)移位寄存器存取信息的方式可分為：串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四種形式。Q0Q1Q2Q3并行輸出(3)移位寄存器型計數(shù)器

1.環(huán)行計數(shù)器2.扭環(huán)行計數(shù)器3.能自啟動的扭環(huán)行計數(shù)器D0=Q1Q2+Q3=Q1Q2Q3100001000010000100001000110011100001001101111111

000010001100111000010011011111110010100101001010010110110110

1101B、移位寄存器聯(lián)接C、移位寄存器雙向應(yīng)用

把移位寄存器的高、低位輸出分別反饋到它的串行左、右輸入端，就可以進行雙向循環(huán)移位，如下圖所示，把輸出端Q3和右移串行輸入端SR相連接，把輸出端Q0和左移串行輸入端SL相連接，設(shè)初始狀態(tài)D0D1D2D3＝1000。S1S0為11時，則在時鐘脈沖作用下1000置入Q0Q1Q2Q3；S1S0為01時，在其后時鐘脈沖作用下將依次變?yōu)?100→0010→0001→1000→……；S1S0為10時，將依次變?yōu)?001→0010→0100→1000→……；S1S0為00時電路為保持狀態(tài)。該電路可作為雙向順序脈沖發(fā)生器。四、實驗內(nèi)容

1、測試74LS194邏輯功能按圖6－4接線：、輸入端分別接邏輯電平開關(guān)，輸出接邏輯電平顯示器。CP端接單次脈沖源。按表6－3分別測試清除、送數(shù)、右移、左移、保持功能，觀察寄存器輸出狀態(tài)并記錄。2、寄存器的雙向移位實驗按圖6－3接線，CP用連續(xù)脈沖源（約100Hz）、

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