超聲波檢測(cè)中對(duì)缺陷高度的測(cè)定

超聲波測(cè)量缺陷高度的探討內(nèi)容摘要：

王云昌本文論述了壓力容器不同程度地存在著裂紋類缺陷，斷裂力學(xué)研究證明，帶有尖銳（如裂紋1013289.3%。因而對(duì)裂紋的檢驗(yàn)和監(jiān)控顯得極為重要。主題詞：超聲波測(cè)量缺陷高度正文：缺陷高度的超聲檢測(cè)方法6db法6db真實(shí)長(zhǎng)度。這種方法可以用來(lái)測(cè)高，但是誤差較大。表面波延時(shí)法缺陷表面過(guò)于粗糙也會(huì)造成誤差增大。端點(diǎn)衍射波法但是衍射波的強(qiáng)度很弱難發(fā)現(xiàn)，所以用衍射波測(cè)量裂紋高度有較大的難度。端點(diǎn)反射波法入射波入射到裂紋的端點(diǎn)，有一部分將沿著原路反射，稱為端點(diǎn)反射回波如圖1端點(diǎn)反射波法的應(yīng)用現(xiàn)狀是一種同高比較法因此其準(zhǔn)確度與儀器線性、試塊精度和操作工藝有很大的關(guān)系。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的應(yīng)用，將回波信號(hào)數(shù)字化能得到回波聲程的精確量值。通過(guò)相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型能得到包括垂直高度在內(nèi)的各種數(shù)值，這是本文研究的主題。數(shù)字信號(hào)處理端點(diǎn)回波聲程測(cè)量裂紋自身高度方法的研究數(shù)字處理端點(diǎn)回波聲程的原理和應(yīng)用常規(guī)超聲檢測(cè)對(duì)回波聲程的測(cè)定是通過(guò)屏幕上回原因，測(cè)定的聲程值誤差很大。數(shù)字信號(hào)處理端點(diǎn)回波聲程(w)是通過(guò)計(jì)算機(jī)A/D轉(zhuǎn)換，將回波的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，根據(jù)聲速和樣點(diǎn)數(shù)精確計(jì)算得到的。不同狀態(tài)裂紋自身高度的計(jì)算方法垂直表面開(kāi)口裂紋2h，w1、w2，βT，則：h=（w2-w1）×cosβ=（w2-w1）×（T/w2）=（1-w1/w2）×T （1）不用β值，表面開(kāi)口裂紋自身高度用（1）式計(jì)算可得到較高的精度。垂直表面的內(nèi)部裂紋如圖3（圖，A，一次波聲程分別為W1和W2，則其自身高度h為：h=（w2-w1）×cosβ （2）如果上端點(diǎn)是由一次波探測(cè)到，而下端點(diǎn)是由二次波探測(cè)到（如圖3BL2L2cosβT/cosβ；則：W2=L2-2×（L2-（T/cosβ） （3）傾斜的內(nèi)部裂紋如圖4（圖，A，一次波聲程分別為W1和W2，則其自身高度h為：hˊ=（w2-w1）×cosβ （4）如果上端點(diǎn)是由一次波探測(cè)到而下端點(diǎn)是由二次波探測(cè)（如圖4且工件厚度為，那么總聲程L2中一次波聲程為總聲程L2中二次波聲程為則：W2=L2-2×（L2-（T/cosβ） （5）hˊ=（w2-w1）×cosβ利用公式（1）--（5）進(jìn)行聲程的數(shù)字化處理，為提高h(yuǎn)的測(cè)量精度，工件厚度T和探頭K值必須精確測(cè)量。15#試塊焊縫根部裂紋表面開(kāi)口狀態(tài)十分復(fù)雜底部反射波很雜，操作者較難正確判斷缺陷波，故造成較大的操作誤差。結(jié)束語(yǔ)（垂直高度測(cè)量精度是非常有效的。具有原理簡(jiǎn)單、測(cè)量重復(fù)性好、操作方便快捷和實(shí)用性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。對(duì)于自身（直2mm（裂紋類（平均絕對(duì)誤差1mm有頻譜分析、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理和報(bào)告編輯功能（將另文發(fā)表；試驗(yàn)研究表明探頭質(zhì)量對(duì)檢測(cè)精度有一定的影響[2]；利用超聲信號(hào)分析系統(tǒng)，可以擴(kuò)