標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 10558-1989 感光材料均方根顆粒度測定方法》作為中國的一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了測定感光材料（如膠片、相紙等）圖像質(zhì)量的一個(gè)重要指標(biāo)——均方根顆粒度的具體方法。此標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)說明了測試條件、測試步驟以及數(shù)據(jù)處理方式，旨在為行業(yè)內(nèi)提供統(tǒng)一的測試標(biāo)準(zhǔn)，以確保不同廠家生產(chǎn)的感光材料質(zhì)量可比性。

然而，您提供的對(duì)比項(xiàng)似乎不完整，沒有明確指出與哪個(gè)具體的標(biāo)準(zhǔn)或版本進(jìn)行比較。因此，直接列舉相對(duì)于某個(gè)未知標(biāo)準(zhǔn)的具體變更內(nèi)容是不可能的。但可以一般性地說明，當(dāng)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)被更新或替代時(shí)，常見的變更可能包括：

  1. 測試方法的技術(shù)改進(jìn)：新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)引入更精確或更高效的測量技術(shù)，以適應(yīng)科技進(jìn)步或行業(yè)發(fā)展的需求。
  2. 術(shù)語和定義的修訂：為了與國際標(biāo)準(zhǔn)接軌或更準(zhǔn)確地反映當(dāng)前技術(shù)狀態(tài)，標(biāo)準(zhǔn)中的專業(yè)術(shù)語和定義可能會(huì)被更新或補(bǔ)充。
  3. 測試條件的調(diào)整：根據(jù)新材料、新工藝的應(yīng)用情況，測試環(huán)境、樣品準(zhǔn)備等方面的條件要求可能會(huì)有所變化。
  4. 數(shù)據(jù)處理和計(jì)算公式的優(yōu)化：為了提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性，數(shù)據(jù)處理方法和計(jì)算公式可能會(huì)被修訂。
  5. 適用范圍的擴(kuò)展或限定：新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)擴(kuò)大或縮小適用的感光材料類型，以更好地匹配市場和技術(shù)的實(shí)際情況。
  6. 標(biāo)準(zhǔn)化引用文件的更新：引用的其他標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范可能會(huì)被最新版本替換，以保證標(biāo)準(zhǔn)體系的一致性和先進(jìn)性。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1989-03-22 頒布
  • 1989-12-01 實(shí)施
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UDC771.531.01G80中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB10558-89感光材料均方根顆粒度測定方法Methodformeasuringtheroot-meansquare（RMS）granularityofphotographicmaterials/processcombination1989-03-22發(fā)布1989-12-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)感光材料均方根顆粒度測定方法GB10558-89Methodformeasuringtheroot-meansquare(RMS)granularityofphotographicmaterials/processcombination主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用測微密度計(jì)掃描方法求取照相材料的均方根（RMS)顆杜度的測試方法。其目的在于提供一個(gè)正確測量的基本要求-強(qiáng)光系統(tǒng)、、密度測量系統(tǒng)的基本參數(shù)及要求、樣品制備、測量方法及結(jié)果表示等內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于透明支持體的黑白和彩色連續(xù)調(diào)感光材料。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于反射材料（各類相紙）和在支持體兩面涂乳劑（如X射線膠片）的感光材料。2定義2.1顆拉性觀察者對(duì)于照相影像中本來應(yīng)為無結(jié)構(gòu)的部位在心理上產(chǎn)生的隨機(jī)不均勻性感覺定義為顆粒性，因此顆粒性是一個(gè)必須采用心理物理方法來測量的主觀量。2.2顆粒度顆粒度表征經(jīng)均勻曦光和沖洗加工的照相層中空間密度的波動(dòng)特性，用空間密度標(biāo)準(zhǔn)差（D）表方法原理在適當(dāng)?shù)挠^察條件下，按上述定義測城的顆拉度值與主觀感覺的顆粒性大小有良好的相關(guān)性。顆粒性是一個(gè)主觀量，必須用心理物理學(xué)方法來測定，既費(fèi)時(shí)，精度也差。因此，采用客觀物理量RMS顆粒度來表示感光材料的顆粒性。RMS顆拉度以o（D）表示?！ぁぁぁぃ?）式中：D-在位置i處的涂層密度;涂層的均密度；測量點(diǎn)數(shù)，4儀器、設(shè)備4.11噪光裝置能制備出一系列不同密度的、均勻的、其本身不引進(jìn)顆粒結(jié)構(gòu)、能滿足感光測試條件的曝光裝置均可。4.2測量儀器4.2.1測

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