GB/T 12085.1-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法術(shù)語、試驗范圍

UDC681.7.08N30中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB12085.1-89光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法術(shù)語、試驗范圍Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Definitions.extentoftesting1989-12-29發(fā)布1990-08-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法GB12085·1-89術(shù)語、試驗范圍Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Definitions,extentoftesting1主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了環(huán)境試驗方法的術(shù)語、試驗程序、環(huán)境試驗標(biāo)記及試驗范圍，本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術(shù)語3術(shù)語3.1環(huán)境試驗?zāi)M試樣在裝配、財存運輸和使用期間承受氣候、力學(xué)、、生物和化學(xué)的環(huán)境影響的試驗。3.2光學(xué)儀器應(yīng)用光學(xué)原理達到觀察、瀏量、記錄和分析等目的，由光學(xué)系統(tǒng)和其他系統(tǒng)（機、電、算）所組成的儀器。3.3光學(xué)部件光學(xué)系統(tǒng)中由光學(xué)零件按某種要求組合而成，，并在該系統(tǒng)的功能上有一定的獨立作用的組成部分。3.光學(xué)零件對對光起反射、折射、衍射、偏振、濾光和分色等作用的零件。，一般由一件或一種材料組成的最小單元。3.5代表性樣品僅幾何形狀與所代表的零件不同的一塊光學(xué)或金屬材料3.6試驗樣品被試驗的光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件或它們的代表性樣品，簡稱試樣。3.7試驗測定和評價各種參數(shù)對試樣基本特性的影響。3.8條件試驗試樣暴露在一種試驗環(huán)境下，以便確定這種條件對試樣的影響。條件試驗分外部影響（例如：所采用的方法和嚴(yán)酷程度）和內(nèi)部影響（例如：位移或溫度變化)。3.8.1條件試驗方法試樣在暴露期間受到的單一或綜合環(huán)境影響的過程。例如：“沖擊”或“濕熱”。3.8.2嚴(yán)酷等級嚴(yán)酷等級是一種參數(shù)，包括試驗的各個單獨量值。例