標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 12085.1-1989 是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),其全稱為《光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 術(shù)語、試驗(yàn)范圍》。這項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)主要針對(duì)光學(xué)領(lǐng)域及其相關(guān)儀器設(shè)備,在進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)時(shí)所使用的專業(yè)術(shù)語定義及試驗(yàn)涵蓋的范圍進(jìn)行了規(guī)范。

標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容概覽:

  1. 術(shù)語定義:標(biāo)準(zhǔn)首先明確了在光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)中涉及的一系列專業(yè)術(shù)語,確保行業(yè)內(nèi)對(duì)于試驗(yàn)條件、測(cè)試方法、評(píng)價(jià)指標(biāo)等有統(tǒng)一的理解和表述。這些術(shù)語覆蓋了溫度、濕度、氣壓、振動(dòng)、沖擊等多種環(huán)境因素,以及對(duì)光學(xué)性能影響的描述。

  2. 試驗(yàn)范圍:規(guī)定了光學(xué)和光學(xué)儀器在不同使用環(huán)境下應(yīng)進(jìn)行的測(cè)試類型和條件,旨在評(píng)估這些設(shè)備在預(yù)期工作環(huán)境或極端條件下的性能穩(wěn)定性和可靠性。試驗(yàn)范圍廣泛,包括但不限于:

    • 氣候試驗(yàn):如高溫、低溫、濕熱、溫度循環(huán)等,以模擬不同地理區(qū)域或季節(jié)變換對(duì)光學(xué)儀器的影響。
    • 機(jī)械試驗(yàn):涵蓋振動(dòng)、沖擊、跌落等,檢驗(yàn)儀器在運(yùn)輸、安裝及使用過程中的機(jī)械耐受性。
    • 氣密性與密封性試驗(yàn):評(píng)估光學(xué)系統(tǒng)對(duì)灰塵、濕氣等外界污染物的防護(hù)能力。
    • 輻射試驗(yàn):如紫外線、紅外線照射,考察材料老化、性能退化情況。

目的與意義:

該標(biāo)準(zhǔn)的制定旨在為光學(xué)和光學(xué)儀器的制造商、檢測(cè)機(jī)構(gòu)及用戶等提供一套統(tǒng)一的試驗(yàn)方法和評(píng)價(jià)準(zhǔn)則,確保產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和應(yīng)用過程中能夠滿足預(yù)定的環(huán)境適應(yīng)性要求。通過遵循這些標(biāo)準(zhǔn),可以有效提升產(chǎn)品質(zhì)量,減少因環(huán)境因素引起的故障率,同時(shí)促進(jìn)國(guó)內(nèi)外貿(mào)易中的技術(shù)交流與合作。

應(yīng)用指導(dǎo):


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  • 1989-12-29 頒布
  • 1990-08-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 12085.1-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法術(shù)語、試驗(yàn)范圍_第1頁
GB/T 12085.1-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法術(shù)語、試驗(yàn)范圍_第2頁
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UDC681.7.08N30中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB12085.1-89光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法術(shù)語、試驗(yàn)范圍Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Definitions.extentoftesting1989-12-29發(fā)布1990-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法GB12085·1-89術(shù)語、試驗(yàn)范圍Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Definitions,extentoftesting1主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)方法的術(shù)語、試驗(yàn)程序、環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記及試驗(yàn)范圍,本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程名詞術(shù)語3術(shù)語3.1環(huán)境試驗(yàn)?zāi)M試樣在裝配、財(cái)存運(yùn)輸和使用期間承受氣候、力學(xué)、、生物和化學(xué)的環(huán)境影響的試驗(yàn)。3.2光學(xué)儀器應(yīng)用光學(xué)原理達(dá)到觀察、瀏量、記錄和分析等目的,由光學(xué)系統(tǒng)和其他系統(tǒng)(機(jī)、電、算)所組成的儀器。3.3光學(xué)部件光學(xué)系統(tǒng)中由光學(xué)零件按某種要求組合而成,,并在該系統(tǒng)的功能上有一定的獨(dú)立作用的組成部分。3.光學(xué)零件對(duì)對(duì)光起反射、折射、衍射、偏振、濾光和分色等作用的零件。,一般由一件或一種材料組成的最小單元。3.5代表性樣品僅幾何形狀與所代表的零件不同的一塊光學(xué)或金屬材料3.6試驗(yàn)樣品被試驗(yàn)的光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件或它們的代表性樣品,簡(jiǎn)稱試樣。3.7試驗(yàn)測(cè)定和評(píng)價(jià)各種參數(shù)對(duì)試樣基本特性的影響。3.8條件試驗(yàn)試樣暴露在一種試驗(yàn)環(huán)境下,以便確定這種條件對(duì)試樣的影響。條件試驗(yàn)分外部影響(例如:所采用的方法和嚴(yán)酷程度)和內(nèi)部影響(例如:位移或溫度變化)。3.8.1條件試驗(yàn)方法試樣在暴露期間受到的單一或綜合環(huán)境影響的過程。例如:“沖擊”或“濕熱”。3.8.2嚴(yán)酷等級(jí)嚴(yán)酷等級(jí)是一種參數(shù),包括試驗(yàn)的各個(gè)單獨(dú)量值。例

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