標準解讀

《GB/T 12085.10-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗》相比于《GB/T 12085.10-1989 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 綜合振動(正弦)與高溫、低溫》有以下幾點主要變化：

  1. 標準名稱結構調整：2010版標準在名稱中明確指出了“第10部分”，這表明該標準被納入了一個更廣泛的系列標準體系中，便于用戶識別和引用特定部分的內容，而1989版未體現(xiàn)這種系列化分類。

  2. 標準內容更新：依據技術進步和行業(yè)發(fā)展，2010版標準可能對振動試驗和溫度試驗的具體參數、測試方法、設備要求等方面進行了修訂或增補，以更準確地反映當前光學和光學儀器在實際使用環(huán)境中可能遇到的挑戰(zhàn)，確保試驗結果的準確性和可比性。

  3. 試驗程序細化：新版本標準可能對振動與溫度綜合試驗的實施步驟進行了更加詳細的規(guī)定，包括試驗順序、穩(wěn)定時間、數據記錄方法等，旨在提高試驗的可重復性和標準化水平。

  4. 安全與環(huán)保要求：隨著對安全生產和環(huán)境保護意識的增強，2010版標準可能加入了關于試驗過程中的安全操作指導和環(huán)保要求，確保試驗活動符合現(xiàn)代法律法規(guī)及行業(yè)最佳實踐。

  5. 國際接軌：新版標準在制定時可能會參考更多的國際標準或先進國家的標準，使得中國國內的試驗方法與國際標準相協(xié)調，便于國際貿易和技術交流。

  6. 術語和定義：為了提升標準的清晰度和一致性，2010版可能對相關專業(yè)術語進行了更新或補充，確保與國際通行術語保持一致，減少理解上的歧義。

  7. 合規(guī)性與適用范圍：更新后的標準可能根據光學和光學儀器的新發(fā)展，調整了適用的產品類型或增加了新的測試類別，確保標準的廣泛適用性和前瞻性。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 12085.22-2022
  • 2011-01-14 頒布
  • 2011-05-01 實施
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GB/T 12085.10-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗_第1頁
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文檔簡介

ICS37.020N30中華人民共和國國家標準GB/T12085.10—2010代替GB/T12085.10-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第10部分:振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Part10：Combinedsinusoidalvibrationanddryheatorcold(ISO9022-10:1998.MOD)2011-01-14發(fā)布2011-05-01實施中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會

中華人民共和國國家標準光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗GB/T12085.10-2010中國標準出版社出版發(fā)行北京復興門外三里河北街16號郵政編碼：100045網址：服務熱線：010-685220062011年6月第一版書號：155066·1-42752版權專有侵權必究

GB/T12085.10—2010前GB/T12085《光學和光學儀器環(huán)境試驗方法》分為以下16個部分：-第1部分：術語、試驗范圍：第2部分：低溫、高溫、濕熱;-第3部分：機械作用力；第4部分：鹽霧；-第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗;第6部分：砂塵;第第7部分：滿水、淋雨：第8部分：高壓、低壓、浸沒；第9部分：太陽輻射；第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗第11部分：長霉；第第12部分：污染；-第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗：-第14部分：露、霜、冰；第15部分：寬帶隨機振動(數字控制)與高溫、低溫綜合試驗：-第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗本部分為GB/T12085的第10部分。本部分修改采用ISO9022-10:1998《光學和光學儀器環(huán)環(huán)境試驗方法第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗》。本部分與ISO9022-10:1998的主要差異如下：-刪除國際標準的序言和前言：根據ISO9022-10第1章及我國標準用語習慣作了重新編寫；“國際標準本部分"一詞改為"本部分"。本部分代替GB/T12085.10-1989《光學和光學儀器環(huán)境試驗方法綜合振動(正弦)與高溫、低溫》.與GB/T12085.10—1989的主要差異為：修修改了標準名稱：-修改了變量溫差的計量單位：合并了范圍與試驗目的：增加了試驗條件中的引用標準依據：條件試驗中懸置段加編號，合并原版本表1、表2,將附錄八放入標準正文；修改、增加了條件試驗方法的工作狀態(tài)和嚴酷等級.修改相應的參數：增加了試驗程序的總則：-增加了環(huán)境試驗的標記名稱，修改了相應標準號的編寫。本部分由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本部分由全國光學和光子學標準化技術委員會（SAC/TC103)歸口本部分起草單位：上海理工大學、寧波永新光學股份有限公司。

GB/T12085.10—2010本部分主要起草人:馮瓊輝、章慧賢、曾麗珠、葉慧.本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T12085.10-1989。

GB/T12085.10-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第10部分:振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗1范圍本部分規(guī)定了振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。本部分適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。本試驗目的是研究試樣的光學、熱學、化學和電氣等性能受振動(正弦)與高溫、低溫的影響時的變化程度2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T12085的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內容)或修訂版均不適用于本部分.然而.鼓勵根據本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T2423.35電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗(GB/T2423.35—2005,1EC60068-2-50:1983.IDT）GB/T2423.36電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗（GB/T2423.36-2005,IEC60068-2-51:1983.IDT）GB/T2423.43電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法振動、沖擊和類似動力學試驗樣品的安裝（GB/T2423.43-2008.IEC60068-2-47:2005IDT）（B/T2424.22電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度(低溫、高溫)和振動(正弦)綜合試驗導則（GB/T2424.22-1986.eqvIEC60068-2-53:1984）GB/T12085.1光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第1部分：術語、試驗范圍(GB/T12085.1-2010.1SO9022-1:1994.MOD)GB/T12085.2光學和光學儀器環(huán)境試驗方法、第2部分：低溫、高溫、濕熱(GB/T12085.2-2010.1SO9022-2:2002.MOD)GB/T12085.3光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第3部分：機械作用力（GB/T12085.3-2010.1SO9022-3：1998.MOD)3試驗條件在綜合作用力條件下對暴露的試樣進行的測試，要比任何一種單一環(huán)境條件試驗更為嚴酷表1與表3中規(guī)定的溫度值選自GB/T12085.2,條件試驗方法10和11。試驗應按G

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