標準解讀

GB/T 12085.10-1989 是一項中國國家標準，專注于光學和光學儀器在特定環(huán)境條件下的試驗方法。本標準詳細規(guī)定了對光學及光學儀器進行綜合振動（正弦波形式）與極端溫度（高溫、低溫）共同作用下性能測試的具體要求和程序。下面是該標準主要內(nèi)容的概述：

標準適用范圍

此標準適用于評估光學和光學儀器在模擬的實際使用或運輸過程中可能遇到的綜合環(huán)境條件下，如同時經(jīng)受振動與溫度變化時的性能穩(wěn)定性和可靠性。

環(huán)境試驗條件

  • 振動試驗：采用正弦波振動，規(guī)定了振動頻率范圍、振幅以及試驗持續(xù)時間等參數(shù)。振動試驗旨在模擬設(shè)備在運輸或工作過程中可能遭遇的各種振動場景。
  • 溫度試驗：涵蓋了高溫和低溫兩個方面，規(guī)定了具體的溫度范圍、升降溫速率及保持時間，用以檢驗設(shè)備在極端溫度條件下的功能和結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。

試驗設(shè)備與設(shè)置

標準對用于執(zhí)行試驗的振動臺和溫控箱等設(shè)備有具體要求，包括它們的性能指標、控制精度及安全措施，確保試驗結(jié)果的準確性和可重復性。

試樣準備與安裝

詳細說明了試樣的選擇、預(yù)處理步驟及在試驗裝置上的正確安裝方法，確保試驗結(jié)果能夠真實反映產(chǎn)品在實際應(yīng)用中的表現(xiàn)。

試驗程序

闡述了綜合振動與溫度試驗的執(zhí)行順序，通常包括預(yù)處理、溫度循環(huán)與振動同時進行的階段，以及試驗后的檢查和數(shù)據(jù)記錄方法。

評價準則

提供了評估試樣在試驗后性能變化的準則，包括光學性能下降、機械結(jié)構(gòu)受損或其他預(yù)定的失效判據(jù)，幫助判斷產(chǎn)品是否滿足設(shè)計要求和預(yù)期的環(huán)境適應(yīng)性。

數(shù)據(jù)分析與報告

要求對收集到的數(shù)據(jù)進行系統(tǒng)分析，形成試驗報告，報告中應(yīng)包含試驗條件、過程、觀察結(jié)果及結(jié)論，為產(chǎn)品的改進和質(zhì)量控制提供依據(jù)。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 12085.10-2010
  • 1989-12-29 頒布
  • 1990-08-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 12085.10-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法綜合振動(正弦)與高溫、低溫_第1頁
GB/T 12085.10-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法綜合振動(正弦)與高溫、低溫_第2頁
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文檔簡介

DC681.7.08N30中華人民共和國國家標準GB12085.10—89光學和光學儀器環(huán)境試驗方法綜合振動(正弦)與高溫、低溫Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Combinedsinusodalvibration,dryhear,cold1989-12-29發(fā)布1990-08-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準光學和光學儀器環(huán)境試驗方法GB12085·10-89與高溫、綜合振動I（正弦)低溫Opticsandopticalinstruments-Enyironmentaltestmethods-Combinedsinusoidallvibration,dryhear，cold主要內(nèi)容與適用范圍本標準規(guī)定了綜合振動（正弦））與高溫或低溫試驗的試驗條件、：條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。本標準適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。2試驗?zāi)康难芯吭嚇拥墓鈱W、熱學、力學、化學和電學等性能在高溫或低溫下受到振動（正弦）影響的變化程度。3引用標準GB12085.1光學和光學儀器環(huán)境試驗方法術(shù)語、試驗范圍GB12085.2光學和光學儀器環(huán)境試驗方法：低溫、高溫、濕熱GB12085.3：光學和光學儀器、環(huán)境試驗方法機械作用力GB2423.5電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Ea：沖擊試驗方法GB2423.6電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Eb；碰撞試驗方法GB2423.8電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Ed：自由跌落試驗方法GB2423.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Fe：振動（正弦）試驗方法GB2423.15電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Ga：恒加速度試驗方法GB2423.35電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Z/AF·：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗方法GB2423.36電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Z／BFc；散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗方法GB2424.222電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度（低溫、高溫）和振動（正弦）綜合試驗早川試驗條件本標準采用的自由落體加速度q為9.81m/s2。試樣進行綜合機械作用力條件下的試驗要比前述的任一種環(huán)境條件試驗更嚴酷。溫度值從表1和表4中選擇，試樣的夾具應(yīng)隔熱。若試樣裝在

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