GB/T 1218-2018深度千分尺

ICS1704030

J42..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T1218—2018

代替

GB/T1218—2004

深度千分尺

Depthmicrometer

2018-05-14發(fā)布2018-12-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T1218—2018

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)代替深度千分尺本標(biāo)準(zhǔn)與相比除編輯性修改

GB/T1218—2004《》。GB/T1218—2004,

外主要技術(shù)變化如下

,:

修改了標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍增加了量程的檔次刪除了分度值的規(guī)格品種見第章

———,,0.002mm(1,

年版的第章

20041);

重新定義了有關(guān)術(shù)語增加了零值誤差等術(shù)語和定義見第章年版的第章

———,“”(3,20043);

修改了深度千分尺的型式定義見年版的

———(4.1,20044.1);

修改了深度千分尺的基本參數(shù)見年版的

———(4.2,20044.2);

修改了對深度千分尺外觀的要求見年版的

———(5.1,20045.1);

增加了對深度千分尺相互作用的要求見

———(5.2);

修改了底板測桿的材料硬度粗糙度要求刪除了可鍛鑄鐵材料增加了校對器的材料硬

———、、、,,、

度粗糙度要求見年版的

、(5.3、5.7,20045.2.1、5.6);

修改并增加了對深度千分尺各種裝置的要求見年版的

———(5.5,20045.4、5.5);

修改了底板平面度的要求見年版的

———(5.7.3,20045.6.3);

修改了示值最大允許誤差的內(nèi)容和檢定要求見年版的

———(5.9,20045.9);

增加了校對器的要求見

———(5.10);

增加了檢驗(yàn)條件的要求見第章

———(6);

增加了檢驗(yàn)方法的內(nèi)容補(bǔ)充了外觀相互作用各種裝置的檢驗(yàn)等項(xiàng)目的檢查方法見第章

———,、、(7);

增加了測桿平測量面對底板測量面平行度的檢驗(yàn)方法見

———(7.6.3);

修改了示值誤差的檢驗(yàn)方法見年版的

———(7.8,20046.2)。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國量具量儀標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC132)。

本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位桂林量具刃具有限責(zé)任公司

:。

本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位成都工具研究所有限公司蘇州麥克龍測量技術(shù)有限公司成都成量工具集

:、、

團(tuán)有限公司哈爾濱量具刃具集團(tuán)責(zé)任有限公司桂林廣陸數(shù)字測控有限公司國家量儀產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督

、、、

檢驗(yàn)中心廣西壯族自治區(qū)計(jì)量檢測研究院遼寧省計(jì)量科學(xué)研究院

、、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人趙偉榮魏改紅陳瑜黃曉賓羅衛(wèi)兵王晶董中新梁玉紅胡曉萍姚興宇

:、、、、、、、、、。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T1218—1975、GB/T1218—1987、GB/T1218—2004。

Ⅰ

GB/T1218—2018

深度千分尺

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了深度千分尺不包括電子數(shù)顯深度千分尺的術(shù)語和定義﹑型式與基本參數(shù)﹑要求

()、

檢驗(yàn)條件檢驗(yàn)方法標(biāo)志與包裝

、、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于分度值為測微頭量程為測量范圍

0.01mm、0.005mm、0.001mm,25mm、50mm,

上限至的標(biāo)尺讀數(shù)和數(shù)字讀數(shù)深度千分尺不包括電子數(shù)顯深度千分尺

300mm()。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

外徑千分尺

GB/T1216—2018

產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范極限與配合第部分標(biāo)準(zhǔn)公差等級和孔軸

GB/T1800.2—2009(GPS)2:、

極限偏差表

幾何量測量器具術(shù)語基本術(shù)語

GB/T17163—2008

幾何量測量器具術(shù)語產(chǎn)品術(shù)語

GB/T17164—2008

產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范工件與測量設(shè)備的測量檢驗(yàn)第部分按

GB/T18779.1—2002(GPS)1:

規(guī)范檢驗(yàn)合格或不合格的判定規(guī)則

產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范測量設(shè)備通用概念和要求

GB/T24634—2009(GPS)GPS

3術(shù)語和定義

和界定的以及下列術(shù)語和定義適用

GB/T17163—2008、GB/T17164—2008GB/T24634—2009

于本文件

。

31

.

深度千分尺depthmicrometer

利用螺旋副原理對底板測量面與測桿測量面間分隔的距離進(jìn)行讀數(shù)的深度測量器具