標(biāo)準解讀

《GB/T 12274.1-2012 有質(zhì)量評定的石英晶體振蕩器 第1部分：總規(guī)范》相比于《GB 12274-1990》，主要在以下幾個方面進行了調(diào)整和更新：

  1. 標(biāo)準體系結(jié)構(gòu)的調(diào)整：最顯著的變化是從單一的標(biāo)準轉(zhuǎn)變?yōu)橄盗袠?biāo)準，新標(biāo)準為“第1部分：總規(guī)范”，意味著后續(xù)可能還會有其他部分針對特定類型或應(yīng)用的詳細規(guī)定，這提高了標(biāo)準的適用性和靈活性。

  2. 技術(shù)內(nèi)容的更新：鑒于科技進步和市場需求的變化，新標(biāo)準對石英晶體振蕩器的技術(shù)要求、測試方法及質(zhì)量評定準則進行了修訂和完善，以適應(yīng)更廣泛的現(xiàn)代電子設(shè)備需求。例如，可能包括了更嚴格的頻率穩(wěn)定度、相位噪聲、老化率等性能指標(biāo)，以及增加了對新型振蕩電路設(shè)計的考量。

  3. 質(zhì)量評定體系的改進：新標(biāo)準對質(zhì)量評定程序和標(biāo)準進行了優(yōu)化，旨在提供更為嚴格和全面的質(zhì)量控制指導(dǎo)。這可能涉及到了產(chǎn)品分級、可靠性測試要求的細化，以及引入了更先進的統(tǒng)計過程控制（SPC）方法來確保產(chǎn)品質(zhì)量的一致性與可靠性。

  4. 國際標(biāo)準的接軌：為了促進國際貿(mào)易和技術(shù)交流，新標(biāo)準在制定時參考了國際上的先進標(biāo)準和實踐，增強了與國際標(biāo)準如IEC（國際電工委員會）相關(guān)標(biāo)準的兼容性。這意味著在某些關(guān)鍵參數(shù)和技術(shù)要求上，新標(biāo)準與國際通行標(biāo)準保持一致或相近，便于產(chǎn)品在全球市場上的認可和流通。

  5. 術(shù)語和定義的明確：隨著技術(shù)的發(fā)展，行業(yè)內(nèi)出現(xiàn)了許多新術(shù)語和概念。新標(biāo)準對相關(guān)術(shù)語進行了更新和明確，有助于減少理解歧義，提升行業(yè)內(nèi)外溝通的效率和準確性。

  6. 環(huán)境和安全要求的強化：考慮到環(huán)境保護和用戶安全，新標(biāo)準可能加入了對材料、制造過程及產(chǎn)品使用中環(huán)保和安全性的要求，比如限制有害物質(zhì)的使用、提高產(chǎn)品的電磁兼容性（EMC）等。


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....

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  • 2012-11-05 頒布
  • 2013-02-15 實施
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GB/T 12274.1-2012有質(zhì)量評定的石英晶體振蕩器第1部分：總規(guī)范_第1頁
GB/T 12274.1-2012有質(zhì)量評定的石英晶體振蕩器第1部分：總規(guī)范_第2頁
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文檔簡介

ICS31140

L21.

中華人民共和國國家標(biāo)準

GB/T122741—2012

代替.

GB12274—1990

有質(zhì)量評定的石英晶體振蕩器

第1部分總規(guī)范

:

Quartzcrystalcontrolledoscillatorsofassessedquality—

Part1Genericsecification

:p

(IEC60679-1:2007,MOD)

2012-11-05發(fā)布2013-02-15實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準化管理委員會

GB/T122741—2012

.

目次

前言…………………………

Ⅰ

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

術(shù)語定義和一般信息……………………

3、3

質(zhì)量評定程序……………

412

試驗和測量程序…………………………

515

附錄規(guī)范性附錄邏輯電平驅(qū)動的負載電路………

A()57

附錄規(guī)范性附錄閂鎖試驗…………

B()60

附錄資料性附錄靜電放電敏感度的分級…………

C()61

附錄資料性附錄本部分與技術(shù)性差異及其原因…………

D()IEC60679-1:200762

參考文獻……………………

63

GB/T122741—2012

.

前言

有質(zhì)量評定的石英晶體振蕩器分為以下幾個部分

GB/T12274《》:

第部分總規(guī)范

———1:;

第部分使用指南

———2:;

第部分分規(guī)范能力批準

———3:;

第部分空白詳細規(guī)范能力批準

———3-1:;

第部分分規(guī)范鑒定批準

———4:;

第部分空白詳細規(guī)范鑒定批準

———4-1:。

本部分為的第部分

GB/T122741。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替有質(zhì)量評定的石英晶體振蕩器第部分總規(guī)范與

GB12274—1990《1:》,GB12274—

相比主要變化如下

1990,:

增加了條術(shù)語和定義

———34;

根據(jù)電子元器件質(zhì)量認證的通用規(guī)定全面規(guī)定了質(zhì)量評定程序的細則

———,;

增加了條電性能測量方法個機械和環(huán)境試驗項目耐久性試驗方法

———25、9、;

增加了附錄附錄附錄和附錄

———A、B、CD。

本部分使用重新起草法修改采用石英晶體振蕩器第部分總規(guī)范

IEC60679-1:2007《1:》。

本部分與相比存在技術(shù)性差異這些差異涉及的條款已通過在其外側(cè)頁邊空白

IEC60679-1:2007,

位置的垂直單線進行了標(biāo)示附錄中給出了相應(yīng)技術(shù)性差異及其原因的一覽表

(|)。D。

本部分還作了下列編輯性修改

:

規(guī)范性引用文件和中刪除了和

———3.2.39ANSIT1.105.03、ANSIT1.101、TelcordiaGR-253

ETSIEN300462。

將第章的優(yōu)先順序調(diào)至第章

———2“”3。

圖中直線線條的位置有偏移將其修正到正確位置

———2,。

圖右上方補畫ff段的抖動允差線

———83~4。

調(diào)幅頻率響應(yīng)中總失真的計算公式改為放在調(diào)幅失真中

———5.5.22.4“”5.5.22.3“”。

用公制線徑代替英制線規(guī)

———。

本部分用環(huán)境試驗國家標(biāo)準代替對應(yīng)的它們在本部分的引用中無技

———GB/T2423IEC60068,

術(shù)性差異

。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國頻率控制和選擇用壓電器件標(biāo)準化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC182)。

本部分起草單位中國電子元件行業(yè)協(xié)會壓電晶體分會中國電子技術(shù)標(biāo)準化研究所

:、。

本部分主要起草人章怡姜連生李曉英

:、、。

本部分所代替規(guī)范的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB12274—1990。

Ⅰ

GB/T122741—2012

.

有質(zhì)量評定的石英晶體振蕩器

第1部分總規(guī)范

:

1范圍

的本部分規(guī)定了采用能力批準程序或鑒定批準程序評定質(zhì)量的石英晶體振蕩器的試

GB/T12274

驗方法和通用性要求

。

本部分適用于采用能力批準程序或鑒定批準程序評定質(zhì)量的石英晶體振蕩器

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗概述和指南

GB/T2421.1—2008(IEC60068-1:1988,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗低溫

GB/T2423.1—20082:A:(IEC60068-2-

1:2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗高溫

GB/T2423.2—20082:B:(IEC60068-2-

2:2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法恒定濕熱試驗

GB/T2423.3—20062:Cab:

(IEC60068-2-78:2001,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程第部分試驗方法試驗交變濕熱

GB/T2423.4—20082:Db

循環(huán)

(12h+12h)(IEC60068-2-30:2005,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分試驗方法試驗和導(dǎo)則沖擊

GB/T2423.5—1995:Ea:(idt

IEC60068-2-27:1987)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分試驗方法試驗和導(dǎo)則碰撞

GB/T2423.6—1995:Eb:(idt

IEC60068-2-29:1987)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分試驗方法試驗自由跌落

GB/T2423.8—1995:Ed:(idt

IEC60068-2-32:1990)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗振動正弦

GB/T2423.10—20082:Fc:()

(IEC60068-2-6:1995,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗和導(dǎo)則穩(wěn)態(tài)加速

GB/T2423.15—20082

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